成像测井比较
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② 辅助测量：f=64KHz，探测范围很浅，用来校正由井 眼对方位电阻率产生的影响。
ARI的测量原理
资料应用
①薄层分析； ②裂缝地层评价； ③识别非均质地层； ④计算地层倾角； ⑤提供更准确的地层电阻率； ⑥评价井眼剖面； ⑦水平井评价
薄层分析
裂缝地层评价
识别非均质地层
计算地层倾角
特点
① 8个极板，192个钮扣状小电极，电极与极板之间绝 缘。（测量原理类似于侧向测井）
② 纽扣电极与极板发射同相电流，二者电压相等； ③ 保持极板电位恒定，由于地层的非均质性，引起流
向井壁地层电流的变化； ④ 通过不同颜色显示不同电阻率值，获得地层的微电
阻率成像图。
FMI的测量原理
资料应用
① 岩性识别 ② 帮助岩心定位和描述； ③ 裂缝识别和评价； ④ 高分辨率薄层评价； ⑤ 确定地层倾角及倾斜方位； ⑥ 地层层内结构分析和地质构造解释。
3、阵列感应成像测井
仪器简介
HDIL，英文全称是High Definition Induction Log ，即高分辨率阵列感应测井仪。
测量原理
① 跟常规感应测井原理类似，1个发射线圈，7组接收线 圈，8个工作频率。
② 测量R信号及X信号共有112个直接测量信号，采用软 件聚焦技术，获得具有相同垂直分辨率（1,2,4ft） ，不同探测深度（10,20,30,60,90，120in）的电阻 率曲线。经处理可得电阻率径向变化的图像。
裂缝识别和评价 高分辨率薄层评价
确定地层倾角及倾 斜方位
帮助岩心定位和描述
6
特点
① 探测特性：纵向分辨率达0.2in，但探测深度很浅，受地层厚度（比仪器分辨率小 的地层特征只能表示成一个分辨率单位）、岩性、孔隙结构和泥质含量、冲洗带 的流体性质、井壁不规则的影响；
② 井壁覆盖率一般达不到100%； ③ 适用条件：盐水泥浆，井眼规则的裸眼井。 ④ 图像要进行速度校正、归一化处理、标准化处理（静态标准化和动态标准化）； ⑤ 三种测量模块：全井眼模块（8个极板）、4极板模块（4个极板）、倾角模块（8
利用不同径向探测深度电阻率 曲线幅度差异识别流体性质
利用高的垂向分辨率特性进行 薄层评价
特点
① 有较高的纵向分辨率和较深的径向探测深度； ② 探测深度不同，纵向分辨率不同，受钻井液的影响不同，需要进行
环境校正； ③ 高分辨率阵列感应（HDIL）测井属交流电测井，测量时会发生趋肤
效应。阵列感应的测量值受趋肤效应影响的程度主要受地层电导率 值和测井仪器工作频率的控制。
ARI 方位电阻率
FMI 微电阻率扫描
分辨率
地层微电阻率 方位电阻率成 高分辨率阵列 数字井周成像
扫描成像仪 像仪（ARI） 感应测井仪 仪（CBIL）
（FMI）
（HDIL）
0.2in
8in
1ft、2ft、4ft
0.2in
探测深度 图像特征
1in—2in
介于深浅双侧向 之间
10in 、20in 30in 、60in 90in 、120in
泥浆粘度太大，换能器转动阻力太大，扫描不均匀； ④ 在大斜度井眼中，必须保持良好的居中测量，否则将影响仪器转动及成像
质量。 ⑤ 声电成像测井的差别：电成像的井壁覆盖率稍差，但由于岩石的电阻抗差
异大于声阻抗差异，因此在两者分辨率相同的情况下，电成像的分辨能力 更好。
CBIL 超声成像
HDIL 阵列感应
资料应用
① 1维反演电阻率成像； ② 利用深探测电阻率数值评价流体性质； ③ 利用高的垂向分辨率特性进行薄层评价; ④ 利用不同径向探测深度电阻率曲线幅度差异识别流体性质。
1维反演电阻率成像
利用深探测电阻率数值 评价流体性质
油10.85/102吨，水1.8/0方 油2.92/34.8吨，水5.34/131方
成像测井比较
目录
1、地层微电阻率扫描成像测井 2、方位电阻率成像测井 3、阵列感应成像测井 4、井壁声波反射成像测井 5、随钻电阻率成像测井
1.地层微电阻率扫描成像测井
仪器简介
FMI，英文全称是Fullbore Formation Micro-Imager， 即全井眼地层微电阻率成像仪。
测量原理
标准的分辨率成像(SRI)
超高分辨率成像(UHRI) 接近FMI质量的随钻成像
资料应用
① 实时地质导向和地层评估（地层倾角、高电阻率地层）； ② 裂缝系统和构造分析（识别裂缝、地层、倾角和断层）； ③ 薄层分析（重新认识原来漏解释的储量）； ④ 钻井优化（优化钻井参数）。
特点
① 可以得到多个探测深度标准电阻率成像和多个探测深度聚焦侧向电阻率； ② 可以得到涡形电流电阻率(非方向性）； ③ 可以降低电缆测井的成本和风险，随钻获取高分辨率成像； ④ 可以得到实时钻井动态参数。
谢谢！
4、井壁声波反射成像测井
仪器简介
CBIL，全称是Circumferential Borehole Imager Log ，即数字井周成像仪。
测量原理
① 两个球面聚焦换能器,直径分别是1.5in和 2.0in、主频为500 KHz和250 KHz；
② 探头每秒绕井轴旋转6周，每旋转1周向井壁发 射250次声脉冲。
③ 记录回波幅度和时间，对井壁地层和套管进行 成像分析。（裸眼井和套管井均适用）
资料应用
裸眼井： ① 识别裂缝、确定裂缝产状及发育方向； ② 地层界面识别； ③ 确定井眼几何形状和仪器偏心状况； ④ 描述沉积特征─层状层理、交错层理、冲蚀、结核、沉积韵律。 套管井： ① 检查套管变形，确定套管变形位置。 ② 检查射孔井段，确定射孔孔眼位置。 ③ 检查筛管内壁和厚度。
井壁
四条竖状的白色 成像模糊，图像 侵入引起井壁周 图像分辨率高
条带
清晰度较低 围图像颜色变化
5、随钻电阻率成像测井
仪器简介
MicroScope，即高分辨率随钻侧向电阻率成像仪。
工作方式
① 标准的分辨率成像(SRI) 2个电阻率纽扣 ② 超高分辨率成像(UHRI) 多纽扣设计
MicroScope仪器图
个纽扣电极）。
2、方位电阻率成像测井
仪器简介
ARI，英文全称是Azimuthally Resistivity Imager ， 即方位电阻率成像仪。
测量原理
① A2中部均匀安装12个方位电极，发射定向电流（工 作频率35Hz）；调节方位电极与环状监督电极之间 的电位差，使方位电极等电位；测量方位电极相对 于参考电极的电位，计算得到方位电阻率。
① 同时测量多个参数，得到5条径向Leabharlann Baidu测深度不同的电阻率曲线（探测深 度分别为10、20、30、60和90英寸）；
② 方位电阻率成像的分辨率比声波成像和微电阻率扫描成像的要低，因为 方位电阻率成像对井壁以外的特征反应很灵敏，而对井壁附近的特征反 应不灵敏 ；
③ 方位侧向测井的探测深度处于深浅侧向之间，分层能力优于双侧向； ④ 对仪器偏心和井眼不规则反映灵敏，辅助测量解决此问题； ⑤ 费用较高。
识别裂缝、确定裂缝产状及发育方向
描述沉积特征（层理产状）
检查筛管内壁和厚度
确定井眼几何形状 和仪器偏心状况
特点
① 工作频率越高，光斑越小，但会导致功率减小，降低信号幅度； ② 探测特性：纵向分辨率等于换能器每旋转一周仪器提升的距离，最高可达
0.2in，径向探测深度浅，井壁覆盖率100%； ③ 测量结果与泥浆特性有直接关系。泥浆中含气时，对测量造成不良影响；
ARI的测量原理
资料应用
①薄层分析； ②裂缝地层评价； ③识别非均质地层； ④计算地层倾角； ⑤提供更准确的地层电阻率； ⑥评价井眼剖面； ⑦水平井评价
薄层分析
裂缝地层评价
识别非均质地层
计算地层倾角
特点
① 8个极板，192个钮扣状小电极，电极与极板之间绝 缘。（测量原理类似于侧向测井）
② 纽扣电极与极板发射同相电流，二者电压相等； ③ 保持极板电位恒定，由于地层的非均质性，引起流
向井壁地层电流的变化； ④ 通过不同颜色显示不同电阻率值，获得地层的微电
阻率成像图。
FMI的测量原理
资料应用
① 岩性识别 ② 帮助岩心定位和描述； ③ 裂缝识别和评价； ④ 高分辨率薄层评价； ⑤ 确定地层倾角及倾斜方位； ⑥ 地层层内结构分析和地质构造解释。
3、阵列感应成像测井
仪器简介
HDIL，英文全称是High Definition Induction Log ，即高分辨率阵列感应测井仪。
测量原理
① 跟常规感应测井原理类似，1个发射线圈，7组接收线 圈，8个工作频率。
② 测量R信号及X信号共有112个直接测量信号，采用软 件聚焦技术，获得具有相同垂直分辨率（1,2,4ft） ，不同探测深度（10,20,30,60,90，120in）的电阻 率曲线。经处理可得电阻率径向变化的图像。
裂缝识别和评价 高分辨率薄层评价
确定地层倾角及倾 斜方位
帮助岩心定位和描述
6
特点
① 探测特性：纵向分辨率达0.2in，但探测深度很浅，受地层厚度（比仪器分辨率小 的地层特征只能表示成一个分辨率单位）、岩性、孔隙结构和泥质含量、冲洗带 的流体性质、井壁不规则的影响；
② 井壁覆盖率一般达不到100%； ③ 适用条件：盐水泥浆，井眼规则的裸眼井。 ④ 图像要进行速度校正、归一化处理、标准化处理（静态标准化和动态标准化）； ⑤ 三种测量模块：全井眼模块（8个极板）、4极板模块（4个极板）、倾角模块（8
利用不同径向探测深度电阻率 曲线幅度差异识别流体性质
利用高的垂向分辨率特性进行 薄层评价
特点
① 有较高的纵向分辨率和较深的径向探测深度； ② 探测深度不同，纵向分辨率不同，受钻井液的影响不同，需要进行
环境校正； ③ 高分辨率阵列感应（HDIL）测井属交流电测井，测量时会发生趋肤
效应。阵列感应的测量值受趋肤效应影响的程度主要受地层电导率 值和测井仪器工作频率的控制。
ARI 方位电阻率
FMI 微电阻率扫描
分辨率
地层微电阻率 方位电阻率成 高分辨率阵列 数字井周成像
扫描成像仪 像仪（ARI） 感应测井仪 仪（CBIL）
（FMI）
（HDIL）
0.2in
8in
1ft、2ft、4ft
0.2in
探测深度 图像特征
1in—2in
介于深浅双侧向 之间
10in 、20in 30in 、60in 90in 、120in
泥浆粘度太大，换能器转动阻力太大，扫描不均匀； ④ 在大斜度井眼中，必须保持良好的居中测量，否则将影响仪器转动及成像
质量。 ⑤ 声电成像测井的差别：电成像的井壁覆盖率稍差，但由于岩石的电阻抗差
异大于声阻抗差异，因此在两者分辨率相同的情况下，电成像的分辨能力 更好。
CBIL 超声成像
HDIL 阵列感应
资料应用
① 1维反演电阻率成像； ② 利用深探测电阻率数值评价流体性质； ③ 利用高的垂向分辨率特性进行薄层评价; ④ 利用不同径向探测深度电阻率曲线幅度差异识别流体性质。
1维反演电阻率成像
利用深探测电阻率数值 评价流体性质
油10.85/102吨，水1.8/0方 油2.92/34.8吨，水5.34/131方
成像测井比较
目录
1、地层微电阻率扫描成像测井 2、方位电阻率成像测井 3、阵列感应成像测井 4、井壁声波反射成像测井 5、随钻电阻率成像测井
1.地层微电阻率扫描成像测井
仪器简介
FMI，英文全称是Fullbore Formation Micro-Imager， 即全井眼地层微电阻率成像仪。
测量原理
标准的分辨率成像(SRI)
超高分辨率成像(UHRI) 接近FMI质量的随钻成像
资料应用
① 实时地质导向和地层评估（地层倾角、高电阻率地层）； ② 裂缝系统和构造分析（识别裂缝、地层、倾角和断层）； ③ 薄层分析（重新认识原来漏解释的储量）； ④ 钻井优化（优化钻井参数）。
特点
① 可以得到多个探测深度标准电阻率成像和多个探测深度聚焦侧向电阻率； ② 可以得到涡形电流电阻率(非方向性）； ③ 可以降低电缆测井的成本和风险，随钻获取高分辨率成像； ④ 可以得到实时钻井动态参数。
谢谢！
4、井壁声波反射成像测井
仪器简介
CBIL，全称是Circumferential Borehole Imager Log ，即数字井周成像仪。
测量原理
① 两个球面聚焦换能器,直径分别是1.5in和 2.0in、主频为500 KHz和250 KHz；
② 探头每秒绕井轴旋转6周，每旋转1周向井壁发 射250次声脉冲。
③ 记录回波幅度和时间，对井壁地层和套管进行 成像分析。（裸眼井和套管井均适用）
资料应用
裸眼井： ① 识别裂缝、确定裂缝产状及发育方向； ② 地层界面识别； ③ 确定井眼几何形状和仪器偏心状况； ④ 描述沉积特征─层状层理、交错层理、冲蚀、结核、沉积韵律。 套管井： ① 检查套管变形，确定套管变形位置。 ② 检查射孔井段，确定射孔孔眼位置。 ③ 检查筛管内壁和厚度。
井壁
四条竖状的白色 成像模糊，图像 侵入引起井壁周 图像分辨率高
条带
清晰度较低 围图像颜色变化
5、随钻电阻率成像测井
仪器简介
MicroScope，即高分辨率随钻侧向电阻率成像仪。
工作方式
① 标准的分辨率成像(SRI) 2个电阻率纽扣 ② 超高分辨率成像(UHRI) 多纽扣设计
MicroScope仪器图
个纽扣电极）。
2、方位电阻率成像测井
仪器简介
ARI，英文全称是Azimuthally Resistivity Imager ， 即方位电阻率成像仪。
测量原理
① A2中部均匀安装12个方位电极，发射定向电流（工 作频率35Hz）；调节方位电极与环状监督电极之间 的电位差，使方位电极等电位；测量方位电极相对 于参考电极的电位，计算得到方位电阻率。
① 同时测量多个参数，得到5条径向Leabharlann Baidu测深度不同的电阻率曲线（探测深 度分别为10、20、30、60和90英寸）；
② 方位电阻率成像的分辨率比声波成像和微电阻率扫描成像的要低，因为 方位电阻率成像对井壁以外的特征反应很灵敏，而对井壁附近的特征反 应不灵敏 ；
③ 方位侧向测井的探测深度处于深浅侧向之间，分层能力优于双侧向； ④ 对仪器偏心和井眼不规则反映灵敏，辅助测量解决此问题； ⑤ 费用较高。
识别裂缝、确定裂缝产状及发育方向
描述沉积特征（层理产状）
检查筛管内壁和厚度
确定井眼几何形状 和仪器偏心状况
特点
① 工作频率越高，光斑越小，但会导致功率减小，降低信号幅度； ② 探测特性：纵向分辨率等于换能器每旋转一周仪器提升的距离，最高可达
0.2in，径向探测深度浅，井壁覆盖率100%； ③ 测量结果与泥浆特性有直接关系。泥浆中含气时，对测量造成不良影响；