集成电路的现状与发展趋势

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集成电路的现状与发展趋势

1、国内外技术现状及发展趋势

目前,以集成电路为核心的电子信息产业超过了以汽车、石油、钢铁为代表的传统工业成为第一大产业,成为改造和拉动传统产业迈向数字时代的强大引擎和雄厚基石。1999年全球集成电路的销售额为1250亿美元,而以集成电路为核心的电子信息产业的世界贸易总

额约占世界GNP的3%,现代经济发展的数据表明,每l~2元的集成电路产值,带动了10元左右电子工业产值的形成,进而带动了100元GDP的增长。目前,发达国家国民经济总产值增长部分的65%与集成电路相关;美国国防预算中的电子含量已占据了半壁江山(2001年为43.6%)。预计未来10年内,世界集成电路销售额将以年平均15%的速度增长,2010年将达到6000~8000亿美元。作为当今世界经济竞争的焦点,拥有自主版权的集成电路已曰益成为

经济发展的命脉、社会进步的基础、国际竞争的筹码和国家安全的保障。

集成电路的集成度和产品性能每18个月增加一倍。据专家预测,今后20年左右,集成电路技术及其产品仍将遵循这一规律发展。集成电路最重要的生产过程包括:开发EDA(电子设计自动化)工具,利用EDA进行集成电路设计,根据设计结果在硅圆片上加工芯片(主要流程为薄膜制造、曝光和刻蚀),对加工完毕的芯片进行测试,为芯片进行封装,最后经

应用开发将其装备到整机系统上与最终消费者见面。 20世纪80年代中期我国集成电路的

加工水平为5微米,其后,经历了3、1、0.8、0.5、0.35微米的发展,目前达到了0.18微米的水平,而当前国际水平为0.09微米(90纳米),我国与之相差约为2-3代。

(1)设计工具与设计方法。随着集成电路复杂程度的不断提高,单个芯片容纳器件的

数量急剧增加,其设计工具也由最初的手工绘制转为计算机辅助设计(CAD),相应的设计工具根据市场需求迅速发展,出现了专门的EDA工具供应商。目前,EDA主要市场份额为美国的Cadence、Synopsys和Mentor等少数企业所垄断。中国华大集成电路设计中心是国内

唯一一家EDA开发和产品供应商。

由于整机系统不断向轻、薄、小的方向发展,集成电路结构也由简单功能转向具备更多

和更为复杂的功能,如彩电由5片机到3片机直到现在的单片机,手机用集成电路也经历了

由多片到单片的变化。目前,SoC作为系统级集成电路,能在单一硅芯片上实现信号采集、

转换、存储、处理和I/O等功能,将数字电路、存储器、MPU、MCU、DSP等集成在一块芯片上实现一个完整系统的功能。它的制造主要涉及深亚微米技术,特殊电路的工艺兼容技术,

设计方法的研究,嵌入式IP核设计技术,测试策略和可测性技术,软硬件协同设计技术和

安全保密技术。SoC以IP复用为基础,把已有优化的子系统甚至系统级模块纳入到新的系

统设计之中,实现了集成电路设计能力的第4次飞跃。

(2)制造工艺与相关设备。集成电路加工制造是一项与专用设备密切相关的技术,俗

称“一代设备,一代工艺,一代产品”。在集成电路制造技术中,最关键的是薄膜生成技术

和光刻技术。光刻技术的主要设备是曝光机和刻蚀机,目前在130nm的节点是以193nmDUV (Deep Ultraviolet Lithography)或是以光学延展的248nmDUV为主要技术,而在l00nm 的节点上则有多种选择:157nm DIJV、光学延展的193nm DLV和NGL.在70nm的节点则使用光学延展的157nm DIJV技术或者选择NGL技术。到了35nm的节点范围以下,将是NGL所主宰的时代,需要在EUV和EPL之间做出选择。此外,作为新一代的光刻技术,X射线和离子投影光刻技术也在研究之中。

(3)测试。由于系统芯片(SoC)的测试成本几乎占芯片成本的一半,因此未来集成电

路测试面临的最大挑战是如何降低测试成本。结构测试和内置自测试可大大缩短测试开发时

间和降低测试费用。另一种降低测试成本的测试方式是采用基于故障的测试。在广泛采用将不同的IP核集成在一起的情况下,还需解决时钟异步测试问题。另一个要解决的问题是提

高模拟电路的测试速度。

(4)封装。电子产品向便携式/小型化、网络化和多媒体化方向发展的市场需求对电路

组装技术提出了苛刻需求,集成电路封装技术正在朝以下方向发展:

①裸芯片技术。主要有COB(ChipOI1Board)技术和Flip Chip(倒装片)技术两种形式。

②微组装技术。是在高密度多层互连基板上,采用微焊接和封装工艺组装各种微型化片

式元器件和半导体集成电路芯片,形成高密度、高速度、高可靠的三维立体机构的高级微电

子组件的技术,其代表产品为多芯片组件(MCM)。

③圆片级封装。其主要特征是:器件的外引出端和包封体是在已经过前工序的硅圆片上

完成,然后将这类圆片直接切割分离成单个独立器件。

④无焊内建层(Bumpless Build-Up Layer, BBLIL)技术。该技术能使CPIJ内集成的晶体管数量达到10亿个,并且在高达20GHz的主频下运行,从而使CPU达到每秒1亿次的运算速度。此外,BBUL封装技术还能在同一封装中支持多个处理器,因此服务器的处理器

可以在一个封装中有2个内核,从而比独立封装的双处理器获得更高的运算速度。此外,BBUL 封装技术还能降低CPIJ的电源消耗,进而可减少高频产生的热量。

(5)材料。集成电路的最初材料是锗,而后为硅,一些特种集成电路(如光电器件)

也采用三五族(如砷化镓)或二六族元素(如硫化镉、磷化铟)构成的化合物半导体。由于

硅在电学、物理和经济方面具有不可替代的优越性,故目前硅仍占据集成电路材料的主流地

位。鉴于在同样芯片面积的情况下,硅圆片直径越大,其经济‘性能就越优越,因此硅单晶

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