国内外集成电路二次筛选实验数据及分析
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万方数据
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绿色质量工程
序号生产厂家型号品种数送筛样品数量合格数合格率１ＡＤ６５２４２５１７２９８７％
２ＡＤＭ２２５０２４９９９．６％
３ＡＰＥＸ３８８５７２８８２．３％
４ＡＴＭＥＴ２１２１１０１８３５％
５ＣＹＰＲＥＳＳ２６９３６８１９８．３％
６ＦＡＩＲＣＨＩＬＤ７１３０８０１３０６５９９９％
７ＦＣＳ１５０５０１００．０％
８ｌＤＴ５２６５０２６２３９９０％
９ｌＮＴＥＲＰｏＩＮＴ１７８７２９２．３％
１０ＩＮＴＥＲＳＩＬ５１３９８１３６４９７．６％
１１ＬＡＴＴｌＣＥ２４２００４１４２９８．６％
１２Ｍ×ＩＡＭ１３８８５３８５５７９６７％
１３ＭＩＣＲｏＳＥＭｌ１５５０５４７９９．５％
１４ＭＳＣ１１００１００１００．０％
１５ＮＳ１７２２４９４２２１７２９８．６％
１６ＱＰＸ３１４２５１４０３９８．５％
１７ＳＡＴＣｏＮ２１７００１６２２９５．４％
１８ＳＧ２１０００９９２９９２％
１９Ｔｌ４６３２７１３３２２５９９８．６％
２０ＴｏＳＨｌＢＡ５１６３０１６２８９９．９％
２１北器五厂１５１４０１１１８１８４．３％
２２天水华天１
５∞４７４９４．８％
合计１４２１０１０１３９９１８２９８２％
表２样品中各生产厂家的产品型号品种数、样品数及合格率明细表
出１６８８只失效器件，不合格率最高的前三位工序分别为常温初测、ＰＩＮＤ和密封性检查，它们分别占４２．８％、３０．５％和１２．８％。样品器件不合格品按工序分布图见图１。
图１不合格样品器件按筛选工序分布图１．２．４样品不合格器件失效模式情况
所有器件在整个筛选流程中失效模式简单分为如下几种，从数量大小依次排列为：功能失效、内部有多余物（ＰＩＮＤ）、参数超差、漏气、外观缺陷。样品不合格器件失效模式分布见图２。
图２样品器件失效＇ｔ奠＝－－－ｔ分布图
２００８第０９期团 万方数据
万方数据
国内外集成电路二次筛选实验数据及分析
作者：钟越红， Zhong Yue-hong
作者单位：湖北航天技术研究院计量测试技术研究所,湖北孝感,432000
刊名：
电子质量
英文刊名：ELECTRONICS QUALITY
年，卷(期)：2008(9)
被引用次数：1次
1.白涛.金成日.张春雷核电厂仪控设备研制中元器件筛选问题的讨论[期刊论文]-自动化博览 2013(4)
引用本文格式：钟越红.Zhong Yue-hong国内外集成电路二次筛选实验数据及分析[期刊论文]-电子质量 2008(9)