半导体物理 半导体的光学性质
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c
的物理意义:光在介质中传播距离为 1 时,光的强度
衰减到原来的 1 e 。
➢ 反射率与透射率的关系:
T 1-R
R:反射率 T:透射率
(10.11)
§10.2 本征吸收
一、光在电介质中传播时强度衰减的现象,称 为光吸收
电子吸收光子能量后 将跃迁
(即能量状态改变)
1.不同能带的状态之间; 2.同一能带的不同状态之间; 3.禁带中能级与能带之间。
2.间接禁带半导体中,仍可能发生直接跃迁。Ge吸收谱 的肩形结构的解释,P306,图10.8。
3.重掺杂半导体(如n型),Ef进入导带,低温时,Ef以 下能级被电子占据,价带电子只能跃迁到Ef以上的状态,因而 本征吸收长波限蓝移,即伯斯坦移动(Burstein-Moss效应)。
4.强电场作用下,能带倾斜,小于Eg的光子可通过光子 诱导的隧道效应发生本征跃迁,既本征吸收长波限红移,即弗 朗兹-克尔德什(Franz-Keldysh)效应。
A
矢保持不变,则原来在价带中的状态A的电子
只能跃迁到导带中的状态B。A与B在E(k)曲线
0
k 上位于同一垂线上,因而这种跃迁称为直接跃
迁。在A到B直接跃迁中所吸收光子的能量与图
中垂直距离AB相对应。显然,对应于不同的k,垂直距离各不相
等。即,相当于任何一个k值的不同能量的光子都有可能被吸收,
而吸收的光子最小能量应等于禁带宽度Eg。由此可见,本征吸收
电子、光子和声子共同参与跃迁过程。
能量守恒:h E p E f Ei Eg 动量守恒:h / q k f ki
E
0
S Ef
声子角频率:
:
p
10
13
Hz,E p
p
光子角频率:: 2c / 1015 Hz,E
声子波矢:q: / a 107 cm1
光子波矢:2 / : 104 cm1
所以 E p h,h / q,则有
Eg
0 Ei
000
111
a
Ge的能带
h Eg
间接带间跃迁所涉及的光子能量仍然接近禁带宽度
q k f ki
间接跃迁为一个二级过程(电子与光子作用,电子与声子作 用),因此其发生概率比直接跃迁小得多,相应的吸收系数也 小。
间 1 103 cm1;直 104 106 cm1
吸收系数的理论表达式为:
A
h Eg E p
2
h Eg E p
2
h
exp
2
exp
Ep kT
1
1
exp
Ep kT
0
h Eg E p Eg E p h Eg E p h Eg E p
四、补充
1.直接带隙半导体中,涉及声子发射和吸收的间接跃迁 也可能发生。主要是涉及光学声子,发射声子过程,吸收应发 生在直接跃迁吸收限短波一侧。吸收声子过程发生在吸收限长 波一侧,可使直接跃迁吸收边不是陡峭地下降为零。
二、直接跃迁
电子跃迁要求满足两个守恒:能量守恒,准动量守恒。
电子的跃迁有光子参与,
当电子的初E、kk''末 k态E波kh矢/ 分h别c /为k k和k',光光子子的波动量长为,则
对于典型半导体(假定Eg≈1eV),引起本征吸收的光子波长
为:
0 1.24m
光子波矢为:
k
2 0
5 104 cm1
研究本征吸收的意义:
研究半导体的本征吸收光谱,不仅可以根据吸收限决 定禁带宽度Eg,还有助于了解能带的复杂结构,也可作为 区分直接带隙和间接带隙半导体的重要依据。
原子间距
电子的波矢在Brillioum区中,线度为:2 / a 108 cm1,可见:
光子准动量 电子准动量;所以 k k,即只有光子参与跃
迁时,电子跃迁前后的波矢不变,称为直接跃迁或竖直跃迁。
E
电子吸收光子产生跃迁时波矢保持不变(电子
B
能量增加)。这就是电子跃迁的选择定则。为
Eg h 了满足选择定则,以使电子在跃迁的过程中波
光电效应:光电器件的基础; 光学方法:研究能带结构及特性参数的手段。
➢ 半导体吸收系数:p.293
角频率为 的平面电磁波,沿固体中x方向传播时,电场强度:
E y
E 0
expi
t
nx c
exp
x
c
(10.11)
光强: I ( x ) I e( x ) 0
(10.12)
称为吸收系数: =2
形成一个连续吸收带,并具有一个长波吸收限:
0
hc Eg
1.24 Eg
[m]
因而从光吸收的测量,也可求得禁带宽度。
E B
Eg h
A
理论计算可得:在直接跃迁中,对任何k 值的跃迁都是允许的,则吸收系数与光子 能量关系为:
h A h Eg 1/2,h Eg
0,
h Eg
0
k A基本为一常数。
第十章 半导体的光学性质
• 半导体的光学性质是半导体物理性质的最主 要的方面之一。
• 半导体光电效应是各种光电器件的基础。 • 光学方法是研究半导体的能带结构和检测材
料参数的一种重要手段。
第十章 半导体的光学性质
● 10.2 ● 10.3 ● 10.4 ● 10.5 ● 10.6
本征吸收 激子吸收和其它吸收过程 光电导 丹倍效应和光磁效应 光生伏特效应
1、本征吸收:电子由价带向导带的跃迁所引起的光吸收。它 是最重要的吸收,又叫基本吸收。
本征吸收产生电子-空穴对,从而引起光电导。
2、本征吸收限:
h h 0 Eg,
0,0为
本
征吸收限
。cm
1
100 75
0 :引起本征吸收的最低频率限;
50
0:本征吸收长波限
25
0
hc Eg
1.24 Eg
[m]
0 4 8 12 16
( m )
3、吸收谱:
图10.2 InSb的吸收谱
吸收系数与h或的关系
I x I0ex; 为吸收系数,光在介质中传播1 / 长度时,光
强衰减为原来的 1 / e。 4、吸收边:吸收限附近的吸收谱。
吸收曲线在短波段陡峭上升,是半导体吸收谱的一个突出特点, 标志着本征吸收的开始。
5、本征吸收:直接跃迁 间接跃迁
k 0处的跃迁几率不为零的跃迁,称为允许跃迁。
(图10.4,p300)
某些材料,k 0的跃迁几率为零,称为禁戒跃迁,但其它k值处
直接跃迁允许,这时h h Eg 3 2
直接跃迁吸收 系数与光子能
或
2
或 2
量的关系:
(10.42)
直线
2
2
Eg
h
0
外推可确定Eg
Eg
h
三、间接跃迁
间接带隙半导体:Si, Ge, GaP
的物理意义:光在介质中传播距离为 1 时,光的强度
衰减到原来的 1 e 。
➢ 反射率与透射率的关系:
T 1-R
R:反射率 T:透射率
(10.11)
§10.2 本征吸收
一、光在电介质中传播时强度衰减的现象,称 为光吸收
电子吸收光子能量后 将跃迁
(即能量状态改变)
1.不同能带的状态之间; 2.同一能带的不同状态之间; 3.禁带中能级与能带之间。
2.间接禁带半导体中,仍可能发生直接跃迁。Ge吸收谱 的肩形结构的解释,P306,图10.8。
3.重掺杂半导体(如n型),Ef进入导带,低温时,Ef以 下能级被电子占据,价带电子只能跃迁到Ef以上的状态,因而 本征吸收长波限蓝移,即伯斯坦移动(Burstein-Moss效应)。
4.强电场作用下,能带倾斜,小于Eg的光子可通过光子 诱导的隧道效应发生本征跃迁,既本征吸收长波限红移,即弗 朗兹-克尔德什(Franz-Keldysh)效应。
A
矢保持不变,则原来在价带中的状态A的电子
只能跃迁到导带中的状态B。A与B在E(k)曲线
0
k 上位于同一垂线上,因而这种跃迁称为直接跃
迁。在A到B直接跃迁中所吸收光子的能量与图
中垂直距离AB相对应。显然,对应于不同的k,垂直距离各不相
等。即,相当于任何一个k值的不同能量的光子都有可能被吸收,
而吸收的光子最小能量应等于禁带宽度Eg。由此可见,本征吸收
电子、光子和声子共同参与跃迁过程。
能量守恒:h E p E f Ei Eg 动量守恒:h / q k f ki
E
0
S Ef
声子角频率:
:
p
10
13
Hz,E p
p
光子角频率:: 2c / 1015 Hz,E
声子波矢:q: / a 107 cm1
光子波矢:2 / : 104 cm1
所以 E p h,h / q,则有
Eg
0 Ei
000
111
a
Ge的能带
h Eg
间接带间跃迁所涉及的光子能量仍然接近禁带宽度
q k f ki
间接跃迁为一个二级过程(电子与光子作用,电子与声子作 用),因此其发生概率比直接跃迁小得多,相应的吸收系数也 小。
间 1 103 cm1;直 104 106 cm1
吸收系数的理论表达式为:
A
h Eg E p
2
h Eg E p
2
h
exp
2
exp
Ep kT
1
1
exp
Ep kT
0
h Eg E p Eg E p h Eg E p h Eg E p
四、补充
1.直接带隙半导体中,涉及声子发射和吸收的间接跃迁 也可能发生。主要是涉及光学声子,发射声子过程,吸收应发 生在直接跃迁吸收限短波一侧。吸收声子过程发生在吸收限长 波一侧,可使直接跃迁吸收边不是陡峭地下降为零。
二、直接跃迁
电子跃迁要求满足两个守恒:能量守恒,准动量守恒。
电子的跃迁有光子参与,
当电子的初E、kk''末 k态E波kh矢/ 分h别c /为k k和k',光光子子的波动量长为,则
对于典型半导体(假定Eg≈1eV),引起本征吸收的光子波长
为:
0 1.24m
光子波矢为:
k
2 0
5 104 cm1
研究本征吸收的意义:
研究半导体的本征吸收光谱,不仅可以根据吸收限决 定禁带宽度Eg,还有助于了解能带的复杂结构,也可作为 区分直接带隙和间接带隙半导体的重要依据。
原子间距
电子的波矢在Brillioum区中,线度为:2 / a 108 cm1,可见:
光子准动量 电子准动量;所以 k k,即只有光子参与跃
迁时,电子跃迁前后的波矢不变,称为直接跃迁或竖直跃迁。
E
电子吸收光子产生跃迁时波矢保持不变(电子
B
能量增加)。这就是电子跃迁的选择定则。为
Eg h 了满足选择定则,以使电子在跃迁的过程中波
光电效应:光电器件的基础; 光学方法:研究能带结构及特性参数的手段。
➢ 半导体吸收系数:p.293
角频率为 的平面电磁波,沿固体中x方向传播时,电场强度:
E y
E 0
expi
t
nx c
exp
x
c
(10.11)
光强: I ( x ) I e( x ) 0
(10.12)
称为吸收系数: =2
形成一个连续吸收带,并具有一个长波吸收限:
0
hc Eg
1.24 Eg
[m]
因而从光吸收的测量,也可求得禁带宽度。
E B
Eg h
A
理论计算可得:在直接跃迁中,对任何k 值的跃迁都是允许的,则吸收系数与光子 能量关系为:
h A h Eg 1/2,h Eg
0,
h Eg
0
k A基本为一常数。
第十章 半导体的光学性质
• 半导体的光学性质是半导体物理性质的最主 要的方面之一。
• 半导体光电效应是各种光电器件的基础。 • 光学方法是研究半导体的能带结构和检测材
料参数的一种重要手段。
第十章 半导体的光学性质
● 10.2 ● 10.3 ● 10.4 ● 10.5 ● 10.6
本征吸收 激子吸收和其它吸收过程 光电导 丹倍效应和光磁效应 光生伏特效应
1、本征吸收:电子由价带向导带的跃迁所引起的光吸收。它 是最重要的吸收,又叫基本吸收。
本征吸收产生电子-空穴对,从而引起光电导。
2、本征吸收限:
h h 0 Eg,
0,0为
本
征吸收限
。cm
1
100 75
0 :引起本征吸收的最低频率限;
50
0:本征吸收长波限
25
0
hc Eg
1.24 Eg
[m]
0 4 8 12 16
( m )
3、吸收谱:
图10.2 InSb的吸收谱
吸收系数与h或的关系
I x I0ex; 为吸收系数,光在介质中传播1 / 长度时,光
强衰减为原来的 1 / e。 4、吸收边:吸收限附近的吸收谱。
吸收曲线在短波段陡峭上升,是半导体吸收谱的一个突出特点, 标志着本征吸收的开始。
5、本征吸收:直接跃迁 间接跃迁
k 0处的跃迁几率不为零的跃迁,称为允许跃迁。
(图10.4,p300)
某些材料,k 0的跃迁几率为零,称为禁戒跃迁,但其它k值处
直接跃迁允许,这时h h Eg 3 2
直接跃迁吸收 系数与光子能
或
2
或 2
量的关系:
(10.42)
直线
2
2
Eg
h
0
外推可确定Eg
Eg
h
三、间接跃迁
间接带隙半导体:Si, Ge, GaP