第四节、系统鉴定

非均质体可进一步分为： 一轴晶: (+)、(-) 二轴晶: (+)、(-)
一．鉴定内容
1．单偏光下 • 晶形：切面形态，自形度，单体形态，集
合体形态 • 解理：有无解理，等级，组数，夹角测定 • 突起：等级（如何判断） • 颜色多色性：是否有颜色，颜色名称 • 吸收性：颜色深浅，吸收性公式
2．正交镜下
⑷ 选择一个垂直光轴的切面，在锥光镜下确定轴性 测定光性符号。如为有色矿物，在单偏光镜下观察 No或Nm的颜色。
⑸ 选择一个平行光轴或平行光轴面的切面，在正交 偏光镜下测定最高干涉色级序、最大双折率和消光 角的大小。如为有色矿物，观察No、Ne或Ng、Np 等颜色。写出多色性和吸收性公式。
• 系统测定光学性质后，查阅有关资料，定出矿 物名称
第四节
透明造岩矿物及宝石的晶 体光学系统鉴定
透明矿物的晶体光学系统鉴定是指在 不同光路系统的偏光显微镜下，按一 定程序对矿物进行全面系统的光学性 质测定，并加以总结和描述，找出矿 物的鉴定特征，以确定矿物的种属名 称或亚种名称。
透明矿物的晶体光学分类
1、高级晶族： 均质体 2、中级晶族、低级晶族： 非均质体
二．定向切面的用途
★ 需要在定向切面上进行测定的内容： 1、多色性公式、吸收性公式、双折射率
及消光角，需要在平行光轴或光轴面的切 面上测定。
2、光性正负需要在除平行光轴或光轴面 以外的切面上进行。
3、2V大小需要在垂直光轴的切面上测定。
一轴晶矿物
二轴晶矿物
4、系统鉴定程序
(1) 区分均质体 和非均质体
• 最高干涉色：∥OA，∥OAP切面，最大双 折率
• 异常干涉色：少数矿物，绿泥石，绿帘石 • 消光类型及消光角：
平行消光，斜消光，对称消光 消光角 • 延性符号：一向延长矿物 • 双晶：双晶类型
3．锥偏光下
• 均质体和非均质体：看是否有干涉图 • 轴性：一轴晶还是二轴晶 • 光性符号：＋，－ • 2V大小
★ 特殊切面特征：
⑴ 垂直光轴切面特征： ①有色矿物不显 多色性；② 全消光；③ 锥光下显示一轴 晶或二轴晶垂直光轴切面干涉图
⑵ 平行光轴或平行光轴面切面特征：① 多色性最明显；②干涉级序最高；③锥光 下显示平行光轴或光轴面切面干涉图（闪 图）
★系统鉴定的总体原则
统观——对比——综合分析 ——归类——定名
均质体：各个方向 切面全消光，无干 涉图。
非Hale Waihona Puke Baidu质体：仅垂直光 轴切面全消光，有干 涉图。
均质体：⑵在单偏光下观察晶 形、解理、突起等级、颜色、 等。
非均质体：⑵在单偏光下观察晶形、 解理、突起等级、闪突起、颜色、 多色性、测定解理夹角等。
非均质体：
⑶ 在正交偏光镜下观察消光类型、双晶、延性符号 及干涉色级序等。