通信系统误码测试
数字通信原理实验指导书
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通信系统误码测试
一．实验目的
1．学习误码仪使用方法
2．学习通信系统误码率测试方法
二．实验仪器
1．RZ8621D 实验箱1台
2．20MHz 双踪示波器1台
3．误码仪一台（推荐误码仪型号为RZ88521）
三．实验电路连接及误码仪简介
误码率是数字通信系统重要的质量指标，误码仪发数据和收数据通常是位于通信系统中发信端与收信端，并且两端之间信号无论经过各式各样的变换或传输，但对这两个测试端点而言信号应呈现“透明”状态。这是选择测试点必须考虑的。本实验箱误码率的测试点可选为：FSK 调制输入与FSK 解调输出；PSK 调制输入与PSK 调制输出；AMI/HDB3码编码输入与译码输出等。使用误码仪另一主要因素是如何选择时钟，一般有内时钟和外时钟，用实验箱实验时，外时钟可接实验箱时钟，或将收发时钟接在一起。若被测系统有时延，则收时钟应接在接收端的时钟提取输出。下面我们给出FSK 、PSK 误码测试方框图。
S03
误码仪测试
时钟输出S04
误码仪测试
数据输入FSK/PSK 系统误 码 仪发数据发时钟收时钟收数据
外时钟TP910/TP705或TP707
10-1外时钟同步误码测试连接方框图
10-2 内时钟同步误码测试连接方框图
四．实验内容及步骤
（一）FSK 外时钟同步误码测试
1．打开实验箱右侧电源开关，电源指示灯亮。
测试误码率的简单装置
测试误码率的简单装置 按照传统，数字接收机的接收质量是用BER（误码率）来表示的。这一数值与在给定的周期内接收到的错误码成比例。一般来说，你可在实验室里 测量BER，方法是把一个被伪随机码调制的RF 信号加到被测接收机。本文设计实例提出一种使用单纯方波的代替方法。这种方法也许并不优于常用技术， 但由于它不需要复杂的同步，实现起来简便，测量结果可靠。不可否认的是， 方波信号并不能真正代表正常使用中接收机收到的数据（图1）。调制射频载波的方波被移相，为的是把接收机的延迟考虑在内。一个“异或”门在每个位转 移处――一般在数据位宽度10% 的地方产生一个采样脉冲。这个采样脉冲对 接收器产生的原始数据进行采样，从而提供干净的数据。图1，这一时序图说明了一个种简单的BER 测试仪的工作原理。理解这一技术的关键是要记住：一个由两个连续的“1”或“0”组成的位串表示一个错误。实现一个 1 位延迟的 D 触发器能检测到这种错误。图 2 ，BER 测试仪使用一个采用OOK（通/断键控）调制的信号发生器。你可以将错误脉冲显示在示波器上，或者用一个频率计数器来进行计数。图 2 示出了一个典型的测试设置。你要按规定的数据速率对RF 发生器进行调制。要注意的是，一个500Hz 方波等效于1kbps 波特率。调制信号和接收到的数据都送入BER 测试板。你可调整采样信号，使之靠近数据脉冲接收末端。在许多数字接收机中，这种安排 相当好地近似于一个相关接收机。错误脉冲显示在示波器上。举例来说，如果 你希望调节RF 电平，以获得1/100 的BER，那你就要降低加到接收机的RF 电平，在一次100 ms 的扫描中平均看到每次扫描有一个错误脉冲。图3，简单BER 测试仪使用了一个可调移相器和一个差分器。在图 3 中，IC1 和电位器P1 构成一个基本的可调移相器。R2 提供滞后，R1、C1 和IC2 构成一
基于FPGA的高速误码测试系统设计.doc
1.系统组成原理 数字通信系统的误码测试一般有近端测试和远端测试2种方式，如图1 (a)、(b)所 7J\o (a)近端测试(单向)方式图 (b)远端测试(环路)方式图 图1数字通信系统的误码测试 图1中误码测试发送部分与误码测试接收部分为误码测试系统的基本组成。木文设计的误码测试发送和接收系统图分别如图2和图3所示。 时钟信号发生器—?码型产生与选择Tp吴码插入控制f输出接口电路 图2误码测试发送系统 图(3)误码测试接收系统 误码测试发送部分主要由时钟信号发生器、伪随机码和人工?码发生器、误码插入发生器
以及接曰电路组成它可以输出各种不同序列长度的伪随机码（从（2”7-1广（2'23-1）bit）和16bit的人工码，以满足ITU-T对不同速率的PCM系统所规定的不同测试用的序列长度。它具有“0”码插入功能,并能发出带有10^3^10^-6误码率的数据，可用于检测被测设备和系统的承受能力和检测告警功能等。接口电路用来实现输出CM 1码、HDB3 码、NRZ码和RZ码等码型，以适应符合ITU-T要求的被测电路的各种不同接口码型。输出码型经被测信道或被测设备后，由误码测试接收部分接收，接收部分可产生一个与发送部分码发生器产生的图像完全相同的且严格同步的码型，并以此为标准，在比特比较器中与输入的图案进行逐比特比较。被测 设备产生的任何一个错误比特，都会被检出误码，并送误码计数器显示。 2.伪随机序列发生与自校验误码插入 误码测试系统的工作码流是伪随机序列。印序列具有B好的伪随机噪声性质，是在通信工程中被广泛应用的伪随机序列之一，本系统采用m序列发生器产生伪随机序列。图4为『7的伪随机序列发生器结构。伪随机序列发生器在2. 048MHz时钟信号的作用下产生序列长度为2^7-1=127的伪随机序列。 伪随机序列发生器部分VHDL源程序如下：library ieee; use ieee. std logic 1164. al;1 entitympsn7is port (elk: in std logic; load: in stdlogic; Q: out std logic); endmpsn7; architecture one ofmpsn7is signal cO, cl, c2, c3, c4, c5, c6, c7: std logic； begin process (elk, load) begin if (elk' eventand elk二'1! ) then if (load='1! ) then c7<=z (T ;
数字通道误码性能测试方法
数字通道误码性能测试方法 授课时间： 授课人：房 磊 一、环回法 （一）测试仪表：误码仪。 （二）测试原理图见图一。 （三）测试方法：数字通道误码性能测试一般采用环回法，环回测试是通过误码仪自发自收，对传输性能进行高准确性的测试方法；测试前按图一进行连接，由B 端站在DDF 架上将与A 端站对开的、相同速率的数字通道进行环回，A 端站在DDF 架上将与B 端站对开的、相同速率的数字通道上挂接误码仪，设定好测试时间，便可以对数字通道误码性能进行测试。 二、对测法 （一）测试仪表：误码仪。 （二）测试原理图见图二。 A 站 B 站 环 回 图一 数字通道误码性能环回法测试原理图
（三）测试方法：处理数字通道误码障碍时，可以采用对测法来确定数字通道误码产生的方向。对测法是将A端站的误码仪和B端站的误码仪，通过被测数字通道相互配合，按照规定的编码规则和伪随机序列码长，发送信号。测试前按图二的方式连接好A、B两站的误码仪，设定好测试时间，A端站接收、校验B端站发送过来的信号，B端站接收、校验A端站发送过来的信号，便可以确定误码产生方向。 A站B站 图二数字通道误码性能对测法测试原理图 三、在线测试法 （一）测试仪表：误码仪。 （二）测试原理图见图三。 （三）测试方法：在线测试是在不中断业务的情况下，对电口误码性能进行监测。在线测试时按图三方式连接好误码仪，用高阻旁接的方式跨接在电口上，通过识别、校验信号传输流中的某些固定码元，对传输性能做出定性的分析。在线测试接线见图三。
A站B站 图三数字通道误码性能在线测试法测试原理图 附： 数字段：数字段由两个相邻数字配线架之间用来传送一种规定速率的数字信号的全部装置构成。 数字通道：数字通道是指一个或多个数字段串接所构成的链路。
高速串行总线的常用测试码型
高速串行总线的常用测试码型本文讨论了高速串行链路中常用的测试码型伪随机码流的原理，以及不同的测试码型对物理层测试结果的影响。 高速串行总线的常用测试码型 在当今的电信和计算机产品上，相比传统的并行总线，电路中的串行总线越来越多，速率越来越快。比如通信产品中的10GBase-KR、CPRI2代，计算机中的PCIeGen2、SATA6G，存储产品中的SAS6G、FC8.5G，这些串行总线都陆续的跨过了5Gbps。由于速率比较高，使得串行总线上的相关的收发器芯片(SERDES)、连接器、单板、背板的设计面临着越来越多的挑战。对于这些高速串行总线的物理层测试，测试码型的选用至关重要，在很多串行总线的规范中对测试码型有严格的要求。本文将对此进行探讨。 首先，串行总线的物理层测试通常分为发射机测试和接收机测试，又称为TX测试和RX测试。发射机测试通常包括眼图、抖动、信号波形、幅度、上升下降时间等测试项目，接收机测试通常包括误码率、抖动容限、接收机灵敏度等测试项目。对于眼图测试、误码率和抖动容限测试，最常用的测试码是伪随机码(PseudoRandomBinarySequence，简称PRBS)，主要有PRBS7、PRBS15、PRBS23和PRBS31。除了PRBS以外，K28.5、1010、CJPAT等码型在很多串行总线的物理层测试中都很常用，特别是计算机上的串行标准(比如SATA、USB3.0、SAS)的测试码型有所不同，在本文中主要讨论最常用的测试码型——PRBS。 PRBS的实现方法 顾名思义，PRBS是伪随机码流，在其码流中包括了所有可能出现的比特组合，而且其出现的概率是相同的。PRBS信号是由PRBS码型发生器生成的。PRBS发生器通常是由线性反馈移位寄存器(LinearFeedbackShiftRegister，简称LFSR)和异或电路组成。如下图1所示为最简单的PRBS3的码型发生器，其多项式为X3+X2+1，即寄存器的第3位与第2位做异或(XOR)的逻辑运算后返回到寄存器的第1位，寄存器的第3位X3同时也是PRBS3发生器的输出。 图1：PRBS3码型发生器原理 在表格1中显示了PRBS3的n个周期的时钟后输出n个比特的码流。X1/X2/X3分别是3个比特移位寄存器的低位到高位，输出位是X3，初始状态为X1/X2/X3=1/1/1，如表格第1行所示。
电子产品测试方法
1、测试方法基础 1.1、测试的目的目标确定 1.2、工程计算测试基础 1.3、设计审查基础 1.4、模拟实验 1.5、电子仿真 1.6、基于SFC分析的系统测试用例设计方法 2、设计输入条件调查表 2.1、环境条件应力组成 2.2、操作者应力 2.3、关联设备影响要素 3、失效机理和失效模式和解决方法 3.1、常见故障现象 3.2、故障现象对应的失效机理和失效模式 3.3、建立基于失效机理预防的一致性测试审查 3.3.1、设计输出文件审查 3.3.2、采购审查 3.3.3、入检库房现场审查 3.3.4、生产工艺审查 3.3.5、现场服务维修审查 3.4、常见问题解决方法 4、测试用例（事例） 4.1、环境条件测试项目及测试用例 温度与热、湿度、气压、电磁环境、环境条件变化率等测试项目及测试用例 4.2、安全性测试项目和测试方法 安规测试项目和测试用例 气、液、电混合布局安规测试用例 4.3、可靠性测试项目与测试用例设计 模拟用户现场测试、边缘极限条件组合测试、HALT综合测试、异常操作测试 过渡过程测试、突发干扰测试 4.4、部件与独立分系统测试项目及测试用例 机械、电气、嵌入式软件模块测试项目、测试仪器、测试用例 4.5、可生产性测试项目及测试用例 可生产性评估指标、可生产性测试项目、可生产性测试用例 4.6、随机文件审查 随机文件和标识审查 包装、运输、存贮项目及效果验证的测试用例 5、可维修性测试 5.1、可维修性的分级 5.2、可维修性级别对应的测试点 5.3、可维修性测试项目及测试用例 5.4、测试与评价方法 6、可使用性测试 6.1、易用性测试项目（人体工学、使用方便、易接受、舒适、高效，防错） 6.2、应用人员测试项目及测试用例（生理、心理、素质、紧急情况处理、输入输出条件组合） 7、嵌入式软件测试 7.1、静态测试方法 7.2、动态黑盒测试 7.3、动态白盒测试
测试误码比说明
HFTA-010.0：物理层性能：测试误码比(BER) 本文最早发表于2004年9月的Lightwave Magazine, “Explaining those BER testing mysteries”。 所有数字通信系统物理层的根本功能是以最快的速度，在介质(例如，铜缆、光纤，以及自由空间等)上尽可能正确无误地传送数据。因此，对物理层性能的两类基本测量包括数据被传送的速率(数据速率)，以及数据到达信宿时的完整性。数据完整性的主要测量标准是误码比，即BER。 本文回顾电信和数据通信协议最普遍的BER要求，简要介绍用于测试BER性能的设备，以及怎样在测试时间和BER置信度上达到平衡。 1. BER规范 数字通信系统的BER可以定义为任意比特通过系统传输后，接收时出现错误的概率，例如，发送“1”，接收到的却是“0”，反之亦然。在实际测试中，系统传输一定数量的比特，对接收到的错误比特进行计数，从而测量BER。接收到的错误比特数与传输的比特总数之比便是BER。随着传输比特总数的增加，BER估算精度也随之提高。极限情况下，发送的比特数接近无限时，BER 是对真实误码概率的最佳估算。 在某些材料中，BER是指误码率，而不是误码比。真实系统中出现的大部分错误比特主要来自随机噪声，因此，它是随机出现的，而不是均匀分布的概率。BER是通过对错误比特和传送比特之比进行估算而得到的。出于这些原因，使用“比”来代替“率”更准确一些。 系统中被传输比特的不同排列顺序(例如，数据码型)，会导致出现不同的误码数量。例如，含有长串连续同样数字(CID)的码型低频分量很大，可能会超出系统通带范围，导致信号出现确定性抖动和其他失真。这些与码型有关的效应会增大或者减小误码出现的概率。这意味着当使用不同的数据码型来测试BER时，有可能获得不同的结果。码型相关效应的详细分析已经超出了本文的讨论范围，但是应对BER规范和测试结果与数据码型有关这一现象有足够的重视。 大部分数字通信协议要求BER性能要达到两个级别之一。SONET等电信协议使用较长的伪随机码，一般要求BER是每1010个比特出现一个误码(即，BER = 1/1010 = 10-10)。而光纤通道和以太网等数据通信协议通常使用较短的码型，要求BER优于10-12。在某些情况下，系统规范要求BER 达到10-16，甚至更低。 需要指出的是，BER实际上是统计平均值，因此，它在足够多的比特情况下才有意义。例如，在一组1010比特之内可能会出现一个以上的误码，但是当传送的比特总数远远大于1010时，仍然会满足10-10 BER规范。在后续的比特流中，如果每1010个比特误码数少于1个，就可能出现这种情况。或者，在一组1010比特中没有误码，而在后续比特流中误码较多，仍有可能达不到10-10标准。考虑到这些例子，很明显，规定BER优于10-10的系统必须传送远远多于1010比特的数据来进行测试，才能得到精确、可重复的测量结果。一个自然而又常见的问题是“我需要在系统中传送多少比特才能说明BER是可信的？”第三节给出了这一问题的答案。 2. 设备和过程 BER测试的传统方法使用码型发生器和误码探测仪(图1)。
电子产品可靠性测试规范
产品可靠性测试规范 1．目的 本文制定产品可靠性测试的要求和方法,确保产品符合可靠性的质量 要求。 2．范围 本文件适用本公司所有产品。 3．内容 3.1 实验顺序 除客户特殊要求外，试验样品进行试验时，一般按下表的顺序进行： 3.2实验条件 3.2.1 实验条件：
3.2.2 试验机台误差： a.温度误差：高温为+/-2℃，低温为+/-3℃. b.振动振幅误差：+/-15%. c.振动频率误差：+/-1Hz. 3.2.3 落地试验标准 3.2.3.1 落地试验应以箱体四角八边六面（任一面底部相连之四角、与此四角相连之八边， 六面为前、后、左、右、上、下这六个面）按规定高度垂直落下的方式进行。 重量高度 0~10kg以内75cm 10~20kg以内60 cm 20kg以上53 cm 3.2.3.2 注意事项： 5.2.3.2.1 箱内样品及包材在每个步骤后进行外观与功能性检验。 5.2.3.2.2 跌落表面为木板。 3.2.4 推、拉力试验方法和标准 3.2. 4.1、目的：为了评定正常生产加工下焊锡与焊盘或焊盘与基材的粘结质量。 3.2. 4.2、DIP类产品，需把元件用剪钳剪去只留下元件脚部分（要求留下部分 可以自由通过元件孔），且须把该焊盘与所连接的导线分开，然后固定 在制具上用拉力机以垂直于试样的力拉线脚（如下图），直到锡点或焊 盘拉脱为止，然后即可在拉力计上读数。 拉力方向 焊锡 焊盘
（图1） 3.2. 4.3、SMT类产品，片式元件用推力计以如下图所示方向推元件。推至元件或焊盘脱落后在推 拉力计上读数。并把结果记录在报告上。 三极管推力方向如下图所示，推至元件或焊盘脱落后在推拉力计上读数，并记录。 3.2. 4.4、压焊类产品，夹住排线（FFC或FPC）以如下图所示方向做拉力，拉至FFC或FPC 断或焊锡与焊盘脱离（锡点脱离）或焊盘与基材脱离（起铜皮），把结果记录在报告 上。 3.2. 4.5、产品元器件抽样需含盖全面规格尺寸。产品各抗推、拉力标准为;
10G.2.5G.155M,2M误码测试
10G ANT-20 - 性能分析仪 测量开始：11/06/07 17:27:40 测量结束：11/06/07 17:42:40 分配：100.00000 % SES 阈值：1E-003 B/s DM 阈值：1E-006 MUX 因子：关闭 G.821: FAS 140 计数比例 ----------------------------------------- ES 0 0.00000 % EFS 900 100.00000 % SES 0 0.00000 % DM 0 0.00000 % UAS 0 0.00000 % 结论接受 路径分配 100.00000 %
2．5G Tester : LI ANT-20 - 性能分析仪 测量开始：09/18/07 13:37:39 测量结束：09/18/07 13:52:39 分配：100.00000 % SES 阈值：1E-003 B/s DM 阈值：1E-006 MUX 因子：关闭 G.821: FAS 140 计数比例 ----------------------------------------- ES 0 0.00000 % EFS 900 100.00000 % SES 0 0.00000 % DM 0 0.00000 % UAS 0 0.00000 % 结论接受 路径分配 100.00000 %
155M ANT-20 - 性能分析仪 测量开始：09/18/07 13:37:39 测量结束：09/18/07 13:52:39 分配：100.00000 % SES 阈值：1E-003 B/s DM 阈值：1E-006 MUX 因子：关闭 G.821: FAS 140 计数比例 ----------------------------------------- ES 0 0.00000 % EFS 900 100.00000 % SES 0 0.00000 % DM 0 0.00000 % UAS 0 0.00000 % 结论接受 路径分配 100.00000 %
电子产品需做的常见20种检测认证
电子产品需做的常见20种检测认证 现在世界上无论是何种行业，所使用的电子家电产品都通过了各种各样的安全认证。为什么要有安全认证呢？这也是各厂家对自己产品的一种安全承诺，有关辐射的，有关电气安全的，有关人身安全的等等。 你的显示器还有你的电脑电源(POWER)上是是否有好多标识呢？如果没有，可要小心了，那些产品是没有安全保障的。面对种种认证及其标示，你都明白是什么意思吗？这里就简单介绍一些电脑资讯行业里最常见的安全认证，希望对大家在以后的硬件采购会有所帮助。 1、CCC产品认证- 中国强制认证 中国强制性产品认证于2002年5月1日起实施，认证标志的名称为“中国强制认证”(英文China Compulsory Certification的缩写“CCC”)。对列入国家质量监督检验检疫总局和国家认证认可监督管理委员会发布的《第一批实施强制性产品认证的产品目录》中的产品实施强制性的检测和审核。 凡列入目录内的产品未获得指定机构认证的，未按规定标贴认证标志，一律不得出厂、进口、销售和在经营服务场所使用。中国强制认证标志实施以后，将逐步取代原实行的“长城”标志和“CCIB”标志。原有的“长城”标志和“CCIB”标志自2003年5月1日起废止。 2、CCEE产品认证- 现已废止 CCEE的认证标志--长城标志中国电工产品认证委员会(CCEE)于一九八四年成立，英文名称为China Commission for Conformity Certification of Electrical Equipment(以下简称CCEE)，是代表中国参加国际电工委员会电工产品安全认证组织(IECEE)的唯一机构，是中国电工产品领域的国家认证组织，CCEE下设有电工设备、电子产品、家用电器、照明设备四个分委员会。现已废止。 3、CCIB认证- CCIB是中国国家进出口商品检验局(China Commodity Inspection Bureau)的英文字头缩写。进口商品安全质量许可制度是国家进出口商品检验局(简称SACI)对进口商品实施的安全认证制度，凡列入SACI进口安全质量许可制度目录内的商品，必须通过产品安全型式试验及工厂生产与检测条件审查，合格后，加贴CCIB商检安全标志，方允许向我国出口、销售。常见于正宗的进口设备，电器上。现已废止。 4、CE认证–欧洲安全合格标志 CE标志的使用现在越来越多，加贴CE标志的商品表示其符合安全、卫生、环保和消费者保护等一系列欧洲指令所要表达的要求。CE代表欧洲统一(CONFORMITE EUROPEENNE)。CE只限于产品不危及人类、动物和货品的安全方面的基本安全要求，而不是一般质量要求，一般指令要求是标准的任务。 产品符合相关指令有关主要要求，就能加附CE标志，而不按有关标准对一般质量的规定裁定能否使用CE标志。因此准确的含义是：CE 标志是安全合格标志而非质量合格标志。 5、CQC产品自愿认证 CQC机构名称为中国质量认证中心，现中国强制认证CCC认证由其承担。获得CQC产品认证证书，加贴CQC 产品认证标志，就意味着该产品被国家级认证机构认证为安全的、符合国家响应的质量标准。
高速ADC DAC测试原理及测试方法
高速ADC/DAC测试原理及测试方法 随着数字信号处理技术和数字电路工作速度的提高，以及对于系统灵敏度等要求的不断提高，对于高速、高精度的ADC、DAC的指标都提出了很高的要求。比如在移动通信、图像采集等应用领域中，一方面要求ADC有比较高的采样率以采集高带宽的输入信号，另一方面又要有比较高的位数以分辨细微的变化。因此，保证ADC/DAC在高速采样情况下的精度是一个很关键的问题。 ADC/DAC芯片的性能测试是由芯片生产厂家完成的，需要借助昂贵的半导体测试仪器，但是对于板级和系统级的设计人员来说，更重要的是如何验证芯片在板级或系统级应用上的真正性能指标。 一、ADC的主要参数 ADC的主要指标分为静态指标和动态指标2大类。静态指标主要有： ?Differential Non-Linearity (DNL) ?Integral Non-Linearity (INL) ?Offset Error ?Full Scale Gain Error 动态指标主要有： ?Total harmonic distortion (THD) ?Signal-to-noise plus distortion (SINAD) ?Effective Number of Bits (ENOB) ?Signal-to-noise ratio (SNR) ?Spurious free dynamic range (SFDR) 二、ADC的测试方案 要进行ADC这些众多指标的验证，基本的方法是给ADC的输入端输入一个理想的信号，然后对ADC转换以后的数据进行采集和分析，因此，ADC的性能测试需要多台仪器的配合并用软件对测试结果进行分析。下图是一个典型的ADC测试方案：
误码率测试仪
误码率测试仪 误码率测试仪2011-04-25 16：11：42阅读0评论0字号：大中小订阅 BitAlyzer?BA系列官方网站主要特点和优点 支持最高1.6Gb/s数据码型发生/误码检测，快速、精确地对数据通信系统进行参数测试 PRBS或者8Mb长度用户自定义码型可以灵活的调试和验证任何数字信号 内建极精确的时钟源 可调节幅度、偏置、逻辑阈值和端接等参数，为接收机测试提供灵活多样的信号激励 差分或单端IO确保满足所有通信总线标准 BitAlyzer?误码分析快速理解被测系统的误码率极限、评估确定性和随机性误码，详细的码型相关误码分析，进行突发(Burst)分析以及无误码时间间隔分析等 自动化眼图测量和快速眼图模板测试提供了对被测系统快速的信号完整性分析 ANSI标准的抖动测量(RJ、DJ和TJ)，能够测量BER在10-12时的TJ和RJ 支持Q因子分析，揭示眼高和BER之间的关系 BER轮廓揭示眼图和BER的关系，可以将轮廓导出为眼图模板 内建的前向误码纠错(Forward Error Correction)可以仿真通信系统FEC 设计的性能 误码定位及分析(Error Maping)揭示信号出现误码的位置和原因
主要应用 半导体性能参数验证 进行眼图模板、BER和抖动测试 卫星通信系统功能测试 无线通信系统功能测试 光线系统或模块测试 前向误码纠错(Forward Error Correction)评估 超群的性能、快速深入分析被测系统 BitAlyzer?系列误码率测试仪是当前工业界应对信号完整性挑战和BER问 题最佳的解决方案，面向用户提供对复杂电子和通信系统验证、参数测试以及 调试和测试。 整个产品系列拥有超乎想象的数据发生和分析功能，而且操作非常的直观、简单，帮助用户加快日复一日的工作任务。集合了最完善的分析功能与便捷的 操作与一体，最大化的帮助用户得到被测系统的信息。 简单的用户界面 上图是BA1500和BA1600界面的起始页。在右边的一列按钮引导用户选择 不同的功能模块，观测不同的视图，进行详细的配置等。支持触摸屏操作。 BA1500和BA1600有着在所有误码仪中最先进的用户界面系统。界面上直 观的分布着仪器的控制按钮和状态参数。通过起始页开始，用户能够快速的学 习如何使用仪器。非常方便的帮助系统，可以连接到Internet，支持e-mail 和网络打印。
误码测试
第五部分误码测试 5、1 误码特性 一、基本概念： 差错（Error误码）：在数字通信中，发送和接收序列的任何不一致都叫差错，在我国习惯上把差错称为误码。 比特差错(Bit Error)：发送和接收序列中对应的单个数字不一致就是比特差错，G.821建议中所用的术语“误码”就是指比特差错。 块差错(Block Error)：将一组码看成是一个整体，在其中有一个或多个比特差错，则称块差错。G.826建议中所用的术语“误块”就是指块差错。 误码秒(ES)：在一秒时间周期有一个或多个比特差错，称为误码秒。 误块秒(ES)：在一秒时间周期有一个或多个误块，称为误块秒。 差错秒(ES)：误码秒和误块秒的统称。 严重误码秒、严重误块秒或严重差错秒(SES)：在误码秒、误块秒或差错秒中，有一部分差错量特别多，定义为SES。 二、误码机理： 1、造成误码的主要内部机理有： ●各种内部噪声源 ●色散引起的码间干扰 ●定位抖动产生的误码
2、外部机理： 主要是由一些具有突发性质的外部脉冲干扰源所引起，诸如外部电磁干扰、静电放电、设备故障、电源瞬态干扰和人为活动等。这些脉冲干扰有可能超过系统固有的高信噪比门限造成突发误码。 5、2 误码性能指标： 1、低于基群速率的数字连接的误码性能 ITU-T G.821建议规范了用于语音业务或用作数据型业务载体信道的N?64kbit/s电路交换数字连接（1≤N≤24或32）的误码性能事件、参数和指标。 G.821定义以下事件： *误码秒（ES）：在一秒时间周期有1个或更多差错比特。 *严重误码秒（SES）：在一秒时间周期的差错比特比≥ 10-3。 G.821定义的误码性能参数有： *误码秒比（ESR）：在一个固定测试时间间隔上的可用时间内，ES与总秒数之比。 *严重误码秒比（SESR）：在一个固定测试时间间隔上的可用 时间内，SES与总秒数之比。 G.821对64kbit/s全程27500km假设参考通道（HRP）端到端连接的性能指标见表1。
电子产品测试项目内容
1.SPS之用途： 我們先以日常生活中會用到的電器用品來說明，清早起來打開電子式日光燈或電子式檯燈，刷牙時，充電式電動牙刷之充電器，用遙控器打開電視機看新聞，用電磁爐或微波爐加熱早餐，出門搭電梯下樓，進入辦公室時，放眼望去每一種需插電的事務機器，電話、傳真。。。，大致可以說需用到電的產品，就是SMPS的可能用途。所需的規格要求及線路架構則隨使用場所，價格上會有極大差異。 以一般我們選用的電子零件，其溫度範圍就可分為： ●商業用（ 0 ～ 70 ℃） ●工業用 (-25 ～ 125 ℃) ●軍事用 (-40 ～ 125 ℃) 而SPS也會因為使用的周圍環境溫度範圍，而區分不同的等級： ●商業用（ 0 ～ 40 ℃）------ 一般日常生活所接觸到的電器用品，如電腦、影印機所使用者 ●工業用 (-20 ～ 71 ℃) ------ 工業產品所使用的POWER，如SMD機器、CNC機器中的POWER即是 ●軍事用 (-40 ～ 125 ℃) ------ 軍事用途，如飛彈、戰艦、坦克中所用到的POWER 不同的溫度範圍，所選用的零件就不相同，其價格當然也不同 2.Switching Power Supply Building Blocks： 專有名詞解釋： a﹒PWM：Pulse Width Modulator脈波寬度調變器 b﹒CCM：連續模式(一般設計都屬於此模式) c﹒DCM：不連續模式 3.SPS 常用之架構和種類 :
3.1.依輸出 / 輸入使用的電壓高低可分為：（適用於非隔離的環境＊） ＊所謂非隔離的環境：如同下列所提的環境，都是自己形成一個系統，輸入與輸出共地，不會與其他的 系統連線，而且接地良好，不會對使用者有漏電的危險，例如其中所提的系統 輸入都屬於低電壓輸入，而且使用者接觸的機殼都是接地（GROUND），沒有被 電到的危險。 (a).降壓式 (Buck) : 輸入比輸出高 ,例如卡車之車用冰箱中的POWER將24V轉12V Fig. 2-1 (b).升壓式 (Boost) : 輸入比輸出低，例如電擊棒將電池電壓9V升高為1000V Fig. 2-2 (c).降升壓式 (Buck-Boost) : 輸入比輸出低或高 ,例如汽車充電器充筆記型電腦19V電池，而汽車電池 有轎車12V及卡車24V兩種
SDH误码测试
SDH误码测试 一、误码特性 1、基本概念： 差错（Error误码）：在数字通信中，发送和接收序列的任何不一致都叫差错，在我国习惯上把差错称为误码。 比特差错(Bit Error)：发送和接收序列中对应的单个数字不一致就是比特差错，G.821建议中所用的术语“误码”就是指比特差错。 块差错(Block Error)：将一组码看成是一个整体，在其中有一个或多个比特差错，则称块差错。 G.826建议中所用的术语“误块”就是指块差错。 误码秒(ES)：在一秒时间周期有一个或多个比特差错，称为误码秒。 误块秒(ES)：在一秒时间周期有一个或多个误块，称为误块秒。 差错秒(ES)：误码秒和误块秒的统称。 严重误码秒、严重误块秒或严重差错秒(SES)：在误码秒、误块秒或差错秒中，有一部分差错量特别多，定义为SES。 2、误码机理： （1）造成误码的主要内部机理有： *各种内部噪声源 *色散引起的码间干扰 *定位抖动产生的误码 （2）外部机理： 主要是由一些具有突发性质的外部脉冲干扰源所引起，诸如外部电磁干扰、静电放电、设备故障、电源瞬态干扰和人为活动等。这些脉冲干扰有可能超过系统固有的高信噪比门限造成突发误码。 二、误码性能指标： 1、低于基群速率的数字连接的误码性能 ITU-T G.821建议规范了用于语音业务或用作数据型业务载体信道的N?64kbit/s电路交换数 字连接（1≤N≤24或32）的误码性能事件、参数和指标。
G.821定义以下事件： *误码秒（ES）：在一秒时间周期有1个或更多差错比特。 *严重误码秒（SES）：在一秒时间周期的差错比特比≥ 10-3。 G.821定义的误码性能参数有： *误码秒比（ESR）：在一个固定测试时间间隔上的可用时间内，ES与总秒数之比。 *严重误码秒比（SESR）：在一个固定测试时间间隔上的可用时间内，SES与总秒数之比。 G.821对64kbit/s全程27500km假设参考通道（HRP）端到端连接的性能指标见表1。 表1：G.821 全程HRP端到端误码性能指标 各类假设参考数字段（HRDS）的误码性能指标见表2。 表2：G.821 HDRS误码性能指标 2、基群及更高速率的数字通道的误码性能： ITU-T G.826建议规范了运行在基群及基群以上速率的数字通道的误码性能事件、参数和指标。 G.826定义以下事件： *误块（EB）：在1块中有1个或多个差错比特。 *误块秒（ES）：在1秒中有1个或多个误块。
电子产品测试项目内容
.. . 1.SPS之用途： 我們先以日常生活中會用到的電器用品來說明，清早起來打開電子式日光燈或電子式檯燈，刷牙時，充電式電動牙刷之充電器，用遙控器打開電視機看新聞，用電磁爐或微波爐加熱早餐，出門搭電梯下樓，進入辦公室時，放眼望去每一種需插電的事務機器，電話、傳真。。。，大致可以說需用到電的產品，就是SMPS 的可能用途。所需的規格要求及線路架構則隨使用場所，價格上會有極大差異。 以一般我們選用的電子零件，其溫度範圍就可分為： ●商業用（0 ～70 ℃） ●工業用(-25 ～125 ℃) ●軍事用(-40 ～125 ℃) 而SPS也會因為使用的圍環境溫度範圍，而區分不同的等級： ●商業用（0 ～40 ℃）------ 一般日常生活所接觸到的電器用品，如電腦、影印機所使用者 ●工業用(-20 ～71 ℃) ------ 工業產品所使用的POWER，如SMD機器、CNC機器中的POWER即是 ●軍事用(-40 ～125 ℃) ------ 軍事用途，如飛彈、戰艦、坦克中所用到的POWER 不同的溫度範圍，所選用的零件就不相同，其價格當然也不同 2.Switching Power Supply Building Blocks： OUT 專有名詞解釋： a﹒PWM：Pulse Width Modulator脈波寬度調變器 b﹒CCM：連續模式(一般設計都屬於此模式)
.. . c﹒DCM：不連續模式 3.SPS 常用之架構和種類: 3.1.依輸出/ 輸入使用的電壓高低可分為：（適用於非隔離的環境＊） ＊所謂非隔離的環境：如同下列所提的環境，都是自己形成一個系統，輸入與輸出共地，不會與其他的 系統連線，而且接地良好，不會對使用者有漏電的危險，例如其中所提的系統 輸入都屬於低電壓輸入，而且使用者接觸的機殼都是接地（GROUND），沒有 被電到的危險。 (a).降壓式(Buck) : 輸入比輸出高,例如卡車之車用冰箱中的POWER將24V轉12V Fig. 2-1 (b).升壓式(Boost) : 輸入比輸出低，例如電擊棒將電池電壓9V升高為1000V Fig. 2-2 (c).降升壓式(Buck-Boost) : 輸入比輸出低或高,例如汽車充電器充筆記型電腦19V電池，而汽車電池
误码率测试时间的确定
误码率测试时间的确定 近来涉及到误码的测试，参考了一些资料，每每提到测试时间。参考部分资料，加上一小点个人理解，整理如下资料，以与大家交流，如有错误请及时反馈x d t a n @w t d.c o m 。 光纤通信系统或者光纤链路中一般的误码率是很低的，至少要求B E R 为10-9或者更低，即每传输10亿比特信号时有1b i t 的错误或者没有错误。而对于接收机的灵敏度测试则往往要求在10-12的等级上面给出。 由于误码的随机性，并且误码的概率很小（比如10-9），所以测量零星误码的时间是很长的，也不容易测量准确，所以可以说准确评价光传输链路的误码率并不是一件很容易的事情。比如B E R 达到10-12意味着平均传输1012比特才误码一个，对于S T M -1系统而言，相当于平均传输6430秒（1012/155.52M ＝6430秒)也就是差不多2个小时才误码一个比特，这个评价时间是不切实际的。而且只出现一个误码不能说明太多的问题，因为这样的置信度或者说可信度非常低，只有增加测试时间才能增大测试的置信度，但是这更加不切实际，为此，如何计算在给定的置信度下所需要的最少测试时间是很有必要的。 我们先看光系统链路的码元，一般光通信（只针对数字通信，因为模拟通信下不会考虑或者不存在误码率的概念了）用到的比特码就是1和0，要不是0，要不是1，或者说要么是正确码元。要么是错误码元，所以我们可以用二项分布来描述码元发生错误的概率。 在n 比特序列中发生m 比特错误的概率可以用下面的二项式表示： m n m m n P P m n P --???? ??=)1( 其中P 是每比特发生错误的概率，这里已经假定数字序列各比特是相互独立的，任一比特发生错误的事件都是随机的，要么发生错误，要么不发生错误。 按照概率的近似，对于很小的P 值（光通信中即为如此，比如10-9就是很小的值），上面的二项式可以表示成为泊松分布： )*exp(! )*(P n m P n P m m n -= 我们先理解n *P 的意义：n 可以理解为我们传输的比特码，比如155M b /s 、
电子产品环境(机械)测试规范V2.0(2018)
电子产品环境（机械）测试规范 目录 一.目的 (3) 二.概述 (3) 三.适用范围 (3) 1.新产品 (3) 2.变更产品 (3) 四.引用标准和规范 (3) 五.定义 (4) 1.正弦振动 (4) 2.随机振动 (4) 3.冲击 (4) 4.碰撞 (4) 5.跌落 (4) 2
六.样本选取 (4) 七.试验方法 (5) 1.电梯相关、通用变频器、伺服产品 (5) 1.1包装类产品 (5) 1.2.裸机强度试验（电梯专用零部件适用） (6) 1.3.安装振动试验 (6) 2.试验方法-机器人产品 (6) 2.1包装类产品 (6) 2.2安装振动试验 (7) 3试验方法-车载空调变频器 (8) 3.1包装类试验 (8) 3.2裸机振动试验 (8) 八.环境（机械）试验常见缺陷类型 (9) 九.试验流程方法 (9) 十.电梯相关产品测试规范与OTIS51628差异及测试时间统计 (10) 十一.顺序应力试验 (11) 十二.注意事项 (12)
一.目的 环境（机械）测试规范，是研发阶段验证产品机械性能是否满足设计要求的验证活动，通过测试可以发现结构强度、安装、焊接、包装等方面的薄弱点，并通过失效分析、改进、再验证，使产品结构、安装、焊接、包装等方面的性能达到研发预期。 二.概述 本文主要包含随机振动、正弦振动、冲击、碰撞、跌落相关的测试规范。规范覆盖的产品分为电梯相关产品、通用变频器、伺服产品、机器人产品、车载空调变频器。 三.适用范围 1.新产品 新开发产品。 2.变更产品 变更产品，分为产品设计变更和供应商变更，由研发和测试评估是否需要做相关机械试验；重要变更建议做，如结构、装配工艺、PCB厂家、贴片工艺等重要变更。 四.引用标准和规范 ●IEC60721-3-3，国际电工电子参考标准，环境条件分类 ●GB/T12668.2-2002（IEC61800-2-1998），低压交流变频电气传动系统额定值的规 定 ●GBT 16439-2009 交流伺服系统通用技术条件 ●GB/T 4857.1 包装运输包装件试验时各部位的表示方法 ●GB/T 4857.5 包装运输包装件跌落试验方法 ●GB/T 4857.18 包装运输包装件编制性能试验大纲定量数据 ●GB-T 2423.10-2008 电工电子产品环境试验第2部分试验方法试验Fc 振动(正 弦) ●GB-T 2423.08-1995 电工电子产品环境试验第2部分试验方法试验Ed自由跌落 ●GB-T 2423.06-1995 电工电子产品环境试验第2部分试验方法试验Eb和导则碰
电子产品EMC测试项目及相关电路介绍
培训资料
电子产品EMC测试项目及相关电路介绍 一、电磁兼容现象及基本理论 电磁兼容（Electromagnetic Compatibility——EMC），其定义是：设备或系统在其所处的电磁环境中能正常工作，且不对该环境中任何事物构成不能承受的电磁骚扰的能力。包括两个方面，一是它对同一电磁环境中其它设备的抗干扰能力或称敏感性，二是它对其它产品的电磁骚扰特性。 电磁骚扰（Electromagnetic Disturbance——EMI）定义为“任何可能引起装置、设备或系统性能降低或者对有生命或无生命物质产生损害作用的电磁现象”。电磁骚扰可能是电磁噪声、无用信号或传播媒介自身的变化。（注：一般意义上的“有用的电磁信号或电磁能量”在电磁兼容领域也有可能被认为是电磁骚扰源。） 电磁骚扰的表现形式一般有两种，一是通过导体传播骚扰电压、电流，一是通过空间传播骚扰电磁场。前者称为传导骚扰，后者称为辐射骚扰。例如，电视机的电磁骚扰主要有：对公用电网的无线电骚扰和低频骚扰（如注入谐波电流）、对公用电视天线系统的骚扰、向空间辐射的电磁场等。 抗扰度（Immunity to a Disturbance）定义为“装置、设备或系统面对电磁骚扰不降低运行性能的能力”。电磁敏感性（Electromagnetic Susceptibility——EMS）定义为“在存在电磁骚扰的情况下，装置、设备或系统不能避免性能降低的能力”。实际上，抗扰度与敏感性都反映的是对电磁骚扰的适应能力，仅仅是从不同的角度而言，敏感性高即意味着抗扰度低。对应电磁骚扰的两种表现形式，设备对电磁骚扰的抗扰性也同样分为传导抗扰性和辐射抗扰性。 电磁干扰（Electromagnetic Interference）是指“电磁骚扰引起的设备、传输通道或系统性能的下降”。对比电磁骚扰的定义，可知电磁干扰与之在概念上的区别。存在电磁骚扰但不一定形成电磁干扰，如果骚扰电平较低的话。 电磁骚扰即可能是人为有意识产生的，也可能是人为但无意识产生的，还有可能是自然界固有的，比如雷电、地极磁场、磁铁矿藏、宇宙射电噪声等等。 电磁干扰的产生必然具备三个基本要素：电磁干扰源、敏感设备和电磁能量传播通道。理论上讲，改善其中之一即可防止电磁干扰的产生，实现电磁兼容。但在电磁兼容的实际质量控制工作中，只有对三要素进行综合考虑再对个别项目做重点处理才是经济可行的。
电子产品可靠性测试检验标准
可靠性测试标准 文件版本：V1.0 拟定： 审核： 批准： 日期：
可靠性测试检验标准 一机械测试标准 试验目的：检验产品经受规定严酷等级的随机振动测试 试验设备：振动仪 试验样品：6SETS 试验内容：被测样品不包装，处于通电状态，牢固固定在测试台，试验参数：频率范围5-20Hz，功率频谱度0.96M2/S3；频率范围20-500Hz，功率频谱度0.96M2/S3（20Hz处），其它-3dB/℃T .轴向：三个轴向，持续时间，每方向1小时，共3小时，持续时间结束，取出样机进行测试后检查。 判定标准：通过基本功能测试；外观/结构正常，未见零件松动、裂开异常。 D包装振动测试标准 试验目的：模拟运输过程中振动对产品造成的影响 试验设备：振动测试仪 试验样品：2 carton 试验内容：振动宽度（Vibration width）:2mm/2.8g;扫周率（Sweep Frequency）:10 to 30Hz;方向（Direction）:六个面（x.y.z axis）;测试时间：30分/每个面（30 Minutes per axis），测试完成后检验产品的外观结构及各项功能。 判定标准：通过基本测试，外观/结构正常，未见零件松动异常。 E自由跌落测试标准 试验目的：检验产品在搬运期间由于粗造装卸遭到跌落的适应性 试验设备：跌落实验机 试验样品：6SETS 试验内容：被测产品不包装，不带附件，处于导通状态。从1M的高度（如果LCM面积超过产品表面积的60%，跌落
高度为50CM），初速度为0并自由跌落于光滑混凝土地面上，每面跌落3次，6面共计18次，试验结束，取出样品进行试验后检查。 判定标准：测试后手机基本功能、性能正常，外观、结构正常。马达振动无异常。 F裸机跌落测试标准 试验目的：检验产品在使用生产轻微撞击的性应性 试验设备：水泥地面 试验样品：6SETS 试验内容：产品跌落在水泥地面，跌落高度：85CM。跌落方式：产品的六个面每面跌落1次为一个循环；总共6个循环，方向（Direction）:六个面（x.y.z axis）跌落顺序：左侧面—右侧面---上侧面---下侧面---前侧面----后侧面，每个循环跌落测试后检验产品的外观结构及各项基本功能。全部循环后进行电气性能测试。 判定标准：不允许产品表面有任何程度爆裂，壳离及变形，壳内无杂物，马达振动无异常。 二．存储温度测试标准 A高温贮存试验 试验目的：检验产品在高温环境条件下贮存的适用性 试验设备：恒温恒湿试验箱 试验样品：6SETS 试验内容：被测产品不包装、不通电，以正常位置放入试验箱内，使试验箱温度达到60±2℃，温度稳定后持续16小时，持续期满，立即进行试验后检测。 判定标准：通过基本功能测试；外观和结构正常。 B低温贮存试验 试验目的：检验产品在低温环境条件下贮存的适用性 试验设备：恒温恒湿试验箱 试验样品：6SETS 试验内容：被测产品不包装、不通电，以正常位置放入试验箱内，使试验箱温度达到-20±2℃，温度稳定后持续16小时，持续期满，在正常大气条件下放置2H，放置期满，被测样机进行试验后的检查。 三．高低温测试标准 A低温工作试验 试验目的：检验产品在低温环境条件下使用的适用性 试验设备：恒温恒湿试验箱 试验样品：6SETS 试验内容：被测产品不包装、处于导通状态，以正常位置放入试验箱内，使温度达到-20±3℃,温度稳定后，持续8小时，持续期满，进行产品测试后的检查。 判定标准：通过基本功能测试；外观和结构正常。 B高温工作试验 试验目的：检验产品在高温环境条件下使用的适用性 试验设备：恒温恒湿试验箱 试验样品：6SETS 试验内容：被测产品不包装、处于导通状态，以正常位置放入试验箱内，使温度达到+55±2℃,温度稳定后，持续8小