EIA-364-86 - 360文档中心

EIA-364-20A电子连接器耐电压测试方法

电子连接器的耐电压测试方法公告EIA工程标准和出版物是为服务于公众利益而制定的,它是为了消除生产者和购买者之间的误解,促进产品的交流和提高,并帮助购买者在最短时间内挑选到他所需要的满意的产品﹒该标准的提出会促使EIA的成员在生产和销售产品时遵循该标准﹐而它也可以由国内外非EIA成员自愿使用﹒对于推荐标准和出版物中采用的文章﹑材料﹑方法﹐EIA在选取时未考虑其专利内容,故在此过程中EIA对任何专利所有者不承担责任﹐对任何采用该标准的机构也不承担责任﹒电子工业协会（EIA）工程部出版2001年华盛顿D.C.20006，N.W.Eye大街。

测试方法#20A电子连接器耐电压测试方法(摘自EIA建议标准NO.1555,是在EIA P-5.1工作组组织下提出。

)注﹔此TP-20A曾作为TP-20颁布于EIA建议标准RS-364中。

1.0TP-20A耐电压2.0目的这种测试程序的目的是介绍一种测试方法来确定电子连接器在额定电压内的安全运作性能，以及能够承受由于转换、掁荡和其它类似现象所引起的瞬间过载。

3.0 综述测试包括特定时间内﹐在连接器相互绝缘部分或是在绝缘部分与地之间，采用一个高于额定电压的电压值。

此标准化的目的是确定耐压值为连接器损坏电压最小值的75%。

并建议连接器的正常工作电压为承受电压值的1/3﹒这种测试经常被错误地认为是一种击穿电压或绝缘强度的测试。

导致绝绿破损或测量电冕并非此测试的本意。

它用来决定绝缘材料和组件部份间隙是否合适。

当一个连接器在这些方面不够完善时﹐实施电压测试将导致不正常放电或者情况恶化。

不正常放电伴随闪光(表面放电)﹑火花(空气放电)或破损(击孔放电)。

许多因素不同程度影响气体和固体的不导电行为，例如大气温度﹑气压﹑环境和电极形式﹑频率和波形﹑操作速率和测试电压的持续时间﹑样品的几何形式﹑机械压力和以前的测试纪录。

00-EIA-364系列标准

EIA-364系列标准EIA-CB18 固體的鉭式電容器儲存期限EIA-364-E 電子連接器/ 插座測試過程包括環境類別EIA-364-01B 加速度電子連接的測試過程EIA-364-02C 空氣滲漏電子連接的測試過程EIA-364-03B 高度浸入電子連接的測試過程EIA-364-05B 接觸插入，釋放，移動迫使電子連接的測試過程EIA-364-06C 接觸電阻電子連接的測試過程EIA-364-07C 與軸向的Concentricity電子連接的測試過程聯繫EIA-364-08B 捲曲抗拉的力量電子連接的測試過程EIA-364-09C 耐久性電子連接和接觸的測試過程EIA-364-10E 流動的浸入電子連接和插座的測試過程EIA-364-11B 電阻到溶劑電子連接和插座的測試過程EIA-364-13D Mating和Unmating 力量電子連接的測試過程EIA-364-14B 臭氧暴露電子連接的測試過程EIA-364-17B 有或沒有電負荷電子連接和插座的測試過程的溫度生命EIA-364-18B 接线盒和插座的外观与尺寸检查的测试流程EIA-364-20D 禁得住電壓電子連接，插座和同軸的接觸的測試過程EIA-364-21D 絕緣電阻電子連接，插座和同軸的接觸的測試過程EIA-364-22B 類比生命電子連接的測試過程EIA-364-23C 低的水準接觸電阻電子連接和插座的測試過程EIA-364-24B 維修使電子連接的測試過程變老EIA-364-25C 探查損壞電子連接的測試過程EIA-364-26B 鹽水霧電子連接器，接觸和插座的測試過程EIA-364-27B 機械震動(指定的脈搏)電子連接的測試過程EIA-364-28D 振動電子連接和插座的測試過程EIA-364-29C 接觸保留電子連接的測試過程EIA-364-31B 濕度電子連接和插座的測試過程EIA-364-32D 熱震(溫度週期變化)電子連接和插座的測試過程EIA-364-35B 插入保留電子連接的測試過程EIA-364-36B DETERMINATION OF GAS-TIGHT CHARACTERISTICS TEST PROCEDURE FOR ELECTRICAL CONNECTORS, AND OR CONTACT SYSTEMSEIA-364-37B 接觸約會和分離力量電子連接的測試過程EIA-364-38B 電報拔電子連接的測試過程EIA-364-39B 電子連接器，接觸和插座的液壓靜力測試過程EIA-364-40B 壓壞電子連接的測試過程EIA-364-41C 電報在電子連接的測試過程屈曲EIA-364-42B 影響電子連接的測試過程EIA-364-45A 防火牆火焰電子連接的測試過程EIA-364-46BEIA-364-48AEIA-364-50AEIA-364-53B 氮的Adic 蒸汽測試，金完成電子連接和插座的測試過程EIA-364-54A 有磁性的滲透性電子連接器，接觸和插座的測試過程EIA-364-56D 為了焊接熱電子連接和插座的測試過程的電阻EIA-364-66A EMI 保護效力電子連接的測試過程EIA-364-70BEIA-364-71B 焊接燈芯(波焊接技術)測試過程適合電子連接器和插座EIA-364-75EIA-364-81A 燃燒特性電子連接器住房，連接器會議和插座的測試過程EIA-364-82A 塑膠電子連接和插座住房的測試過程的Corrosivity EIA-364-83 殼牌公司轟炸和轟炸在艙壁測試過程抵抗適合電動汽車連接器EIA-364-89AEIA-364-90 串音比率電子連接，插座，電纜組件的測試過程或者相互連接系統EIA-364 91A 灰塵電子連接和插座的測試過程EIA-364-95 充分的鋪席子和鋪席子穩定電子連接的測試過程EIA-364-99 規格位置和保留電子連接的測試過程EIA-364-100 標明永久為電子連接和插座的測試過程EIA-364-101 Attentuation電子連接器，插座，電報會議或者相互聯繫系統的測試過程EIA 364-102 上升時間墮落電子連接器，插座，電報會議或者相互聯繫系統的測試過程EIA-364-103 傳播延遲電子連接器，插座，電報會議或者相互聯繫系統的測試過程EIA-364 104A 可燃性電子連接的測試過程EIA-364-105A 高度低溫電子連接的測試過程EIA-364-106 駐波比率(SWR)電子連接的測試過程EIA-364-107 眼睛圖案和在電子連接器，插座，電報會議或者相互聯繫系統的測試過程感到緊張EIA-364-108 阻抗，反射系數，返回損失，並且VSWR在時間和頻率領土電子連接器，電報會議或者相互聯繫系統的測試過程測量EIA-364 1000.01 評價電子連接器的性能的環境考試方法學和插座在生意辦公室應用方面使用EIA-364-109 環電感測量電子連接(1 nH 10 nH)的測試過程EIA-364-110。

EIA-364_List

环境环境
EIA-364-82 EIA-364-91 EIA-364-89
A A A
Corrosivity of Plastics Dust Space Application
塑料腐蚀性灰尘
A B 1988 A A 1989 1990 1998 1996 1996 1997 1997 1997 1999 1997 1997 R2006 C B E R2006 01 A A B 2006 B B B B B C F B B B A 1993 B D 1987 A A C 1997 2002 A
Rev. E C 2003 D D C A 1990 1983 A A A 1989 B 1999 1996 1995 2000 R2006 1999 2000 2000 2000 2000 B A B B B C A E A 1988 B A D C F C B C C B E B
简称 Abbr. Introduction EIA-364规范介绍 CR 接触电阻 Loop inductance 电感(回路) DWV 耐电压 IR 绝缘电阻 LLCR 接触电阻 Capacitance 电容 Inductance 电感 Ice Resistance 低温阻抗 Magnetic 磁导率 Current 电流 EMI 电磁屏蔽 Inductance 微电感 Temp. Rise vs Current 温升与电流 Shell and Bulkhead Resistance Nanosecond Event Detection Residual Magnetism Attenuation 衰减 Rise time 爬升时间 Propagation Delay 传播延迟 SWR 驻波比 Eye and Jitter 眼图和抖动 Impedance, RL, VSWR 阻抗,反射损耗,电压驻波比 Crosstalk 串音 Acceleration 加速度 Normal Force 正向力插拔力 Contact axial concentricity 接触轴心度 Crimp tensile strength 拉力 Durability 耐久 Restricted entry 束口 Mating and Unmating Force 匹配 Contact Strength 接触强度 Stripping force 抗剥离力 Visual 文文字外观尺寸 Torsional insert retention 扭转插入保持力 Probe Damage 探针损伤 Mechanical Shock 机械冲击 Vibration 振动 Contact retention 接触保持力 Insert Retention 插入保持 Contact Engagement and Sparation Force Cable pull-out 电缆拔拉 Crush 挤压 Flexing 摇摆 Impact 摔落冲击

EIA-364-20A

電子連接器的耐電壓測試方法公告EIA工程標准和出版物是為服務於公眾利益而制定的,它是為了消除生產者和購買者之間的誤解,促進產品的交流和提高,並幫助購買者在最短時間內挑選到他所需要的滿意的產品﹒該標準的提出會促使EIA的成員在生產和銷售產品時遵循該標準﹐而它也可以由國內外非EIA成員自愿使用﹒對于推荐標准和出版物中采用的文章﹑材料﹑方法﹐EIA在選取時未考慮其專利內容,故在此過程中EIA對任何專利所有者不承擔責任﹐對任何采用該標準的機構也不承擔責任﹒電子工業協會（EIA）工程部出版2001年華盛頓D.C.20006，N.W. Eye大街。

測試方法#20A電子連接器耐電壓測試方法(摘自EIA建議標准NO.1555,是在EIA P-5.1工作組組織下提出。

)注﹕此TP-20A曾作為TP-20頒佈於EIA建議標准RS-364中。

1.0 TP-20A耐電壓2.0 目的這种測試程序的目的是介紹一种測試方法來確定電子連接器在額定電壓內的安全運作性能，以及能夠承受由於轉換、掁蕩和其它類似現象所引起的瞬間過載。

3.0 綜述測試包括特定時間內﹐在連接器相互絕緣部分或是在絕緣部分与地之間，采用一個高于額定電壓的電壓值。

此標準化的目的是確定耐壓值為連接器損壞電壓最小值的75%。

並建議連接器的正常工作電壓為承受電壓值的1/3﹒這种測試經常被錯誤地認為是一种擊穿電壓或絕緣強度的測試。

導致絕綠破損或測量電冕並非此測試的本意。

它用來決定絕緣材料和元件部份間隙是否合适。

當一個連接器在這些方面不夠完善時﹐實施電壓測試將導致不正常放電或者情況惡化。

不正常放電伴隨閃光(表面放電)﹑火花(空气放電)或破損(擊孔放電)。

許多因素不同程度影響氣體和固體的不導電行為，例如大氣溫度﹑氣壓﹑環境和電極形式﹑頻率和波形﹑操作速率和測試電壓的持續時間﹑樣品的幾何形式﹑機械壓力和以前的測試紀錄。

#EIA-364-20A电子连接器耐电压测试方法

电子连接器的耐电压测试方法公告EIA工程标准和出版物是为服务于公众利益而制定的,它是为了消除生产者和购买者之间的误解,促进产品的交流和提高,并帮助购买者在最短时间内挑选到他所需要的满意的产品﹒该标准的提出会促使EIA的成员在生产和销售产品时遵循该标准﹐而它也可以由国内外非EIA成员自愿使用﹒对于推荐标准和出版物中采用的文章﹑材料﹑方法﹐EIA在选取时未考虑其专利内容,故在此过程中EIA对任何专利所有者不承担责任﹐对任何采用该标准的机构也不承担责任﹒电子工业协会（EIA）工程部出版2001年华盛顿D.C.20006，N.W.Eye大街。

测试方法#20A电子连接器耐电压测试方法(摘自EIA建议标准NO.1555,是在EIA P-5.1工作组组织下提出。

)注﹕此TP-20A曾作为TP-20颁布于EIA建议标准RS-364中。

1.0TP-20A耐电压2.0目的这种测试程序的目的是介绍一种测试方法来确定电子连接器在额定电压内的安全运作性能，以及能够承受由于转换、掁荡和其它类似现象所引起的瞬间过载。

3.0 综述测试包括特定时间内﹐在连接器相互绝缘部分或是在绝缘部分与地之间，采用一个高于额定电压的电压值。

此标准化的目的是确定耐压值为连接器损坏电压最小值的75%。

并建议连接器的正常工作电压为承受电压值的1/3﹒这种测试经常被错误地认为是一种击穿电压或绝缘强度的测试。

导致绝绿破损或测量电冕并非此测试的本意。

它用来决定绝缘材料和组件部份间隙是否合适。

当一个连接器在这些方面不够完善时﹐实施电压测试将导致不正常放电或者情况恶化。

不正常放电伴随闪光(表面放电)﹑火花(空气放电)或破损(击孔放电)。

许多因素不同程度影响气体和固体的不导电行为，例如大气温度﹑气压﹑环境和电极形式﹑频率和波形﹑操作速率和测试电压的持续时间﹑样品的几何形式﹑机械压力和以前的测试纪录。

连接器可靠性测试项目介绍

连接器可靠性测试项目介绍连接器是将一个回路上的两个导体桥接起来，使得电流或者讯号可以从一个导体流向另一个导体的导体设备。

连接器形式和结构是千变万化的，随着应用对象、频率、功率、应用环境等不同，有各种不同形式的连接器。

连接器做可靠性测试项目有插拔力测试、耐久性测试、绝缘电阻测试、振动测试、机械冲击测试、冷热冲击测试、混合气体腐蚀测试等。

连接器可靠性测试方法：1、插拔力测试参考标准：EIA-364-13目的：验证连接器的插拔力是否符合产品规格要求；原理：将连接器按规定速率进行完全插合或拔出，记录相应的力值。

2、耐久性测试参考标准：EIA-364-09目的：评估反复插拔对连接器的影响，模拟实际使用中连接器的插拔状况。

原理：按照规定速率连续插拔连接器直至达到规定次数。

3、绝缘电阻测试参考标准：EIA-364-21目的：验证连接器的绝缘性能是否符合电路设计的要求或经受高温，潮湿等环境应力时，其阻值是否符合有关技术条件的规定。

原理：在连接器的绝缘部分施加电压，从而使绝缘部分的表面或内部产生漏电流而呈现出来的电阻值。

4、耐电压测试参考标准：EIA-364-20目的：验证连接器在额定电压下是否能安全工作，能否耐受过电位的能力，从而评定连接器绝缘材料或绝缘间隙是否合适原理：在连接器接触件与接触件之间，接触件与外壳之间施加规定电压并保持规定时间，观察样品是否有击穿或放电现象。

5、接触电阻测试参考标准：EIA-364-06/EIA-364-23目的：验证电流流经接触件的接触表面时产生的电阻值原理：通过对连接器通规定电流，测量连接器两端电压降从而得出电阻值6、振动测试：参考标准：EIA-364-28目的：验证振动对电连接器及其组件性能的影响。

振动类型：随机振动，正弦振动7、机械冲击测试参考标准：EIA-364-27目的：验证连接器及其组件耐冲击的能力或评定其结构是否牢固；测试波形：半正弦波，方波。

8、冷热冲击测试参考标准：EIA-364-32目的：评估连接器在急速的大温差变化下，对于其功能品质的影响。

EIA-364系列标准

EIA-364系列标准EIA-364系列标准，带目录，总共53个标准，6个压缩包EIA-CB18 固体的钽式电容器储存期限EIA-364 D 电子连接器/ 插座测试过程包括环境类别EIA-364 01B 加速度电子连接的测试过程EIA-364 02C 空气渗漏电子连接的测试过程EIA-364 03B 高度浸入电子连接的测试过程EIA-364 05B 接触插入，释放，移动迫使电子连接的测试过程EIA-364 06B 接触电阻电子连接的测试过程EIA-364 07b 与轴向的Concentricity电子连接的测试过程联系EIA-364 08B 卷曲抗拉的力量电子连接的测试过程EIA-364 09C 耐久性电子连接和接触的测试过程EIA-364 10C 流动的浸入电子连接和插座的测试过程EIA-364 11A 电阻到溶剂电子连接和插座的测试过程EIA-364 13B Mating和Unmating 力量电子连接的测试过程EIA-364 14B 臭氧暴露电子连接的测试过程EIA-364 17B 有或没有电负荷电子连接和插座的测试过程的温度生命EIA-364 20C 禁得住电压电子连接，插座和同轴的接触的测试过程EIA-364 21C 绝缘电阻电子连接，插座和同轴的接触的测试过程EIA-364 22B 类比生命电子连接的测试过程EIA-364 23B 低的水准接触电阻电子连接和插座的测试过程EIA-364 24B 维修使电子连接的测试过程变老EIA-364 25C 探查损坏电子连接的测试过程EIA-364 26B 盐水雾电子连接器，接触和插座的测试过程EIA-364 27B 机械震动(指定的脉搏)电子连接的测试过程EIA-364 28D 振动电子连接和插座的测试过程EIA-364 29B 接触保留电子连接的测试过程EIA-364 31B 湿度电子连接和插座的测试过程EIA-364 32C 热震(温度周期变化)电子连接和插座的测试过程EIA-364 35B 插入保留电子连接的测试过程EIA-364 37B 接触约会和分离力量电子连接的测试过程EIA-364 38B 电报拔电子连接的测试过程EIA-364 39B 电子连接器，接触和插座的液压静力测试过程EIA-364 40B 压坏电子连接的测试过程EIA-364 41C 电报在电子连接的测试过程屈曲EIA-364 42B 影响电子连接的测试过程EIA-364 45A 防火墙火焰电子连接的测试过程EIA-364 53B 氮的Adic 蒸汽测试，金完成电子连接和插座的测试过程EIA-364 54A 有磁性的渗透性电子连接器，接触和插座的测试过程EIA-364 56B 为了焊接热电子连接和插座的测试过程的电阻EIA-364 66A EMI 保护效力电子连接的测试过程EIA-364 71B 焊接灯芯(波焊接技术)测试过程适合电子连接器和插座EIA-364 81A 燃烧特性电子连接器住房，连接器会议和插座的测试过程EIA-364 82A 塑胶电子连接和插座住房的测试过程的Corrosivity EIA 364-83 壳牌公司轰炸和轰炸在舱壁测试过程抵抗适合电动汽车连接器EIA 364-90 串音比率电子连接，插座，电缆组件的测试过程或者相互连接系统EIA-364 91A 灰尘电子连接和插座的测试过程EIA 364-95 充分的铺席子和铺席子稳定电子连接的测试过程EIA 364-99 规格位置和保留电子连接的测试过程EIA 364-100 标明永久为电子连接和插座的测试过程EIA 364-101 Attentuation电子连接器，插座，电报会议或者相互联系系统的测试过程EIA 364-102 上升时间堕落电子连接器，插座，电报会议或者相互联系系统的测试过程EIA 364-103 传播延迟电子连接器，插座，电报会议或者相互联系系统的测试过程EIA-364 104A 可燃性电子连接的测试过程EIA 364-105 高度低温电子连接的测试过程EIA 364-106 驻波比率(SWR)电子连接的测试过程EIA 364-107 眼睛图案和在电子连接器，插座，电报会议或者相互联系系统的测试过程感到紧张EIA 364-108 阻抗，反射系数，返回损失，并且VSWR在时间和频率领土电子连接器，电报会议或者相互联系系统的测试过程测量EIA 364 1000.01 评价电子连接器的性能的环境考试方法学和插座在生意办公室应用方面使用EIA 364-109 环电感测量电子连接(1 nH 10 nH)的测试过程。

EIA-364连接器专项测试标准简介

EIA-364-45A
Firewall Flame Test Procedure for Electrical Connectors
EIA-364-46B
MICROSECOND DISCONTINUITY TEST PROCEDURE FOR ELECTRICAL CONNECTORS,CONTACTS AND SOCKETS
Thermal Shock (Temperature Cycling) Test Procedure for Electrical Connectors and Sockets
EIA-364-35B
Insert Retention Test Procedure for Electrical Connectors
EIA-364-90
Crosstalk Ratio Test Procedures for Electrical Connectors, Sockets, Cable Assemblies or Interconnect Systems
EIA-364-91A
Dust Test Procedure for Electrical Connector and Sockets
EIA-364-56C
Resistance to Soldering Heat Test Procedure for Electrical Connectors and Sockets
EIA-364-59A
LOW TEMPERATURE TEST PROCEDURE FOR ELECTRICAL CONNECTORS AND SOCKETS
EIA-364-95
Full Mating and Mating Stability Test Procedures for Electrical Connectors

EIA364&MIL 1344对照表

Page A-1AnnexA Test comparison cross-reference EIA-364, IEC-512 and MIL-STD-1344 (informative)Table A.1 – EIA-364, IEC-512 and MIL-STD-1344 cross-referenceTest EIA-364test procedurenumberIEC 512test procedurenumberMIL-STD-1344test methodnumberAcceleration016a2011 Air leakage0214d (P)1008 Altitude immersion0314e (P)1004 Normal force04None None Contact insertion, release and removalforce0515d2012 Contact resistance062b3004 Contact axial concentricity0716g2001 Crimp tensile strength0816d2003 Durability099a2016 Fluid immersion1019c1016 Resistance to solvents11None None Restricted entry1216b None Mating and unmating forces1313b2013 Ozone exposure14None1007 Contact strength (bend)1516c None Stripping force (wrapped connectors)1616k None Temperature life with or withoutelectrical load17 (*)9b1005 Visual181a None Torsional insert retention1915c None Withstanding voltage204a3001 Insulation resistance213a3003 Simulated life22None1015 Low level contact resistance232a3002 Maintenance aging249d2002 Probe damage2516a2006 Salt spray2611f1001 Mechanical shock (specified pulse)27 (*)6c2004 Vibration28 (*)6d2005 Contact retention29 (*)15a2007Page A-2Table A.1 – EIA-364, IEC-512 and MIL-STD-1344 cross-reference (continued)Test EIA-364test procedurenumberIEC 512test procedurenumberMIL-STD-1344test methodnumberCapacitance3022a None Humidity31 (*)11c and 11m1002 Thermal shock (temperature cycling)32 (*)11d1003 Inductance (100 nH - 100mH)33None None Insert retention3515b2010 Gas tight characteristics36None None Contact engagement and separation force37 (*)13a2014 Cable pull-out3817c2009 Hydrostatic39 (*)None1006 Crush40None2008 Cable flexing41None2017 Impact42 (*)7b2015 Cable clamping (bending moment)4317a None Corona44 (*)4b None Firewall flame4520b1009 Microsecond discontinuity462e None Conductor unwrapping (solderlesswrapped connectors)4716m None Metallic coating thickness48None None Not assigned49Dust (fine sand)5011h None Ice resistance51None None Solderability of contact terminations52 (*)12a None Nitric acid vapor53None1017 Magnetic permeability54None3006 Current cycling559e None Resistance to soldering heat56 (*)12d None Temperature life (with mechanicalloading for connectors with removablecontacts)58None NoneLow temperature5911j None Porosity of contact finishes60None None Terminal strength6216f None Mixed flowing gas6511g None EMI shielding effectiveness6623c (P)3008Page A-3 Table A.1 – EIA-364, IEC-512 and MIL-STD-1344 cross-reference (continued)Test EIA-364test procedurenumberIEC 512test procedurenumberMIL-STD-1344test methodnumberTransmission line reflections67 (P)23d (P)None Actuating mechanism688c None Inductance (10 nH - 100nH)69None None Temperature rise versus current705a and 5b none Solder wicking (wave solder technique)71None2019 Hydrolytic effects72 (P)None None IDC reusability73 (P)None None Corona74 (P)None None Lightning strike75None None Toxicity76 (P)None None Solder cup strength77 (P)None None Cavity-to-cavity leakage bondingintegrity78None NoneInsert bond strength79None None Low frequency shield strength80 (P)None None Combustibility characteristics ofconnector housings81None None Corrosivity of plastics82None None Shell-to-shell and shell-to-bulkheadresistance832f3007 Not assigned84Wear and mechanical damage of contactfinishes85None None Polarizing/coding key overstress8613e None Nanosecond event detection87None None Residual magnetism8824a None Space applications of connectors89None None Crosstalk ratio9025a (P)None Dust91None None Wire bending for insulation displacementcontacts92None NoneRepeated wire connection anddisconnection for insulation displacementcontacts93None NonePage A-4Table A.1 – EIA-364, IEC-512 and MIL-STD-1344 cross-reference (continued)Test EIA-364test procedurenumberIEC 512test procedurenumberMIL-STD-1344test methodnumberTransverse wire extraction force forinsulation displacement contacts94None None Full mating and mating stability95None None Plating hole integrity96 (P)None None Housing panel retention97None None Housing locking mechanism strength98None None Gage location and retention99None2018 Marking permeability100None None Attenuation10125b (P)None Rise time degradation10225c (P)None Propagation delay10325d (P)None Flammability104None1012 Altitude – low temperature105None1011 Standing wave ratio (SWR)106None3005 Eye pattern107None None Impedance, reflection coefficient, returnloss, and VSWR10825e (P)None Inductance (1 nH - 10 nH)109 (P)None None Environmental test methodology forassessing the performance of electricalconnectors and sockets used in businessoffice applications1000.01None NoneNOTES1An asterisks (*) indicates that there are known differences between the EIA and IEC test procedures.2 A (P) indicates that the EIA test procedure has been proposed or is under development.。

EIA-364-C规范介绍

3.溫濕度循環試驗目的：連接器在高溫高濕環境下﹐所產生的反應和受損程度，
與正常條件下測試結果做一比較﹐分析每一項數據﹐ 以確認它們是否在的有效范圍內。
4.蒸氣老化測試目的：是在對電子連接器或插座接點端子軟焊接性的預處理。
5. 溫度循環(熱沖擊)試驗目的:是想知道連接器在高溫及低溫衝擊下，電阻值是多少﹖并盡可能模擬在儲藏﹑運輸及操作的實際情況
壽命效果.。
一
5〃振動試驗測試目的:在決定產品的效果﹐在各種振動及可能在使用過程中遭遇的振動壽命。 6.機械沖擊試驗測試目的：是評估電連接器承受額定機械沖擊程度能力.男中中中中
1.鹽水噴霧試驗目的：當連接器曝露在允滿鹽份的大氣中
所獲得其成分﹑表面﹑結構及電氣的變化。
2.高溫試驗目的：是想知道連接器在經過一段高溫時間后，電氣及機特性的變化。
不同﹐而有不同要求，一般錫鉛表面要求約200g的正向力﹐而鍍金表面則在100g附近，由此正向力會衍生出與接觸阻抗及其它參數的關系.
2.插拔力測試目的：在決定連結器在正常位置下﹐端子插入和拔出所需的力量。
3.保持力測試目的：是在連接器端子拔出時易於從其適當位置移動端子的抵抗力量﹐
4. 插拔耐久性目的：是在評估以連接器經多次配合與分離後﹐是否可達預期的
溫度壽命(高低溫試驗)
接觸電阻分離力
低階接觸電阻
組：1
2
3
4
5
6
備注：樣品數量：第一組樣品4個(2個用于電阻另2個用于斷訊測試) 第二、五測試組2個樣品﹔第六組：依其它規定
接觸電阻與低階接觸電阻的差異：
1.低階接觸電阻測試（ＴＰ－23Ａ）﹐ 主要適用於傳輸訊號用的連接器。
2.接觸電阻測試(TP-6A)則適用於傳輸電力之連接器﹐ 所通之電流高出甚多。

eia 364标准

eia 364标准EIA 364标准是电子元件可靠性测试的重要标准之一，它涵盖了电子元件在不同环境条件下的可靠性测试要求和测试方法。

这一标准的制定旨在保证电子元件在各种应用环境下的稳定性和可靠性，从而确保设备和系统的正常运行。

本文将对EIA 364标准进行详细解读，包括标准的背景、内容要点和实际应用等方面。

首先，EIA 364标准的背景。

EIA 364标准是由美国电子行业协会（EIA）制定的，旨在为电子元件的可靠性测试提供统一的标准和方法。

随着电子技术的不断发展和应用领域的不断扩大，电子元件在各种极端环境下的可靠性要求也越来越高。

因此，制定一套统一的测试标准对于保证电子元件的可靠性至关重要。

其次，EIA 364标准的内容要点。

EIA 364标准主要包括了电子元件在不同环境条件下的可靠性测试要求和测试方法。

其中，环境条件包括温度、湿度、振动、冲击等多个方面。

标准规定了在不同环境条件下进行可靠性测试的具体要求，以及测试方法和测试参数的确定。

通过对这些要点的详细解读，可以更好地理解EIA 364标准的具体内容和实际应用。

最后，EIA 364标准的实际应用。

EIA 364标准的实际应用涉及到电子元件的生产、测试和应用等多个环节。

在电子元件的生产过程中，需要严格按照EIA 364标准的要求进行可靠性测试，以确保产品的质量和可靠性。

在产品测试和验证阶段，也需要根据标准的要求进行相应的可靠性测试，以验证产品在不同环境条件下的性能和可靠性。

此外，在产品的实际应用过程中，也需要考虑到不同环境条件对产品性能的影响，以确保产品在各种应用环境下的可靠性和稳定性。

综上所述，EIA 364标准是电子元件可靠性测试的重要标准，它对于保证电子元件在各种应用环境下的稳定性和可靠性起着至关重要的作用。

通过对EIA 364标准的详细解读，可以更好地理解标准的背景、内容要点和实际应用，从而更好地应用于实际生产和测试过程中，确保产品的质量和可靠性。

EIA364-06B

1
3 Test specimen ...........................................................................................................
1
3.1 Description ...............................................................................................................
EIA-364-06B Page 1
TEST PROCEDURE No. 06B
CONTACT RESISTANCE TEST PROCEDURE FOR
ELECTRICAL CONNECTORS
(From EIA Standards Proposal No. 4729, formulated under the cognizance EIA CE-2.0 Committee on National Connector Standards, and previously published in EIA-364-06A.)
2 Test resources
2.1 Equipment
2.1.1 An ammeter capable of measuring the applied current to an accuracy of ± 2%.
2.1.2 A high-impedance voltmeter (in the order of 10,000 ohms per volt). The meter accuracy shall be such that the value being measured is accurate to ± 2%.

eia-364系列标准（EIA-364seriesstandard）

eia-364系列标准（EIA-364 series standard）EIA-364 series standard, with directory, a total of 53 standards, 6 compression packagesEIA-CB18 solid tantalum capacitor storage periodThe EIA-364 D electronic connector / socket test process includes environmental categoriesTest procedure of EIA-364 01B acceleration electronic connectionTest procedure for EIA-364 02C air leakage electronic connectionsTest procedure for highly immersed electronic connections of EIA-364 03BEIA-364, 05B contact, insertion, release, movement, forcing, electronic connection, testing processTest procedure for electronic connection of EIA-364 06B contact resistanceThe connection process between the EIA-364 07B and the axial Concentricity electronic connectionTest procedure for EIA-364 08B Crimp Tensile Force electronic connectionsEIA-364 09C durability test procedures for electronicconnections and contactsEIA-364 10C flow test procedures for immersed electronic connections and socketsEIA-364 11A resistance to solvent electronic connections and sockets test processTest procedures for EIA-364, 13B, Mating, and Unmating power electronic connectionsTest procedure for EIA-364 14B ozone exposure electronic connectionsEIA-364 17B has or has no electrical load, electronic connections, and sockets for testing the temperature lifeEIA-364 20C withstand voltage, electronic connections, sockets, and coaxial contact test proceduresEIA-364, 21C, insulation, resistance, electronic connections, sockets and coaxial contact test proceduresThe test process of EIA-364 22B analog life electronic connectionsEIA-364, 23B low level contact resistance, electronic connections and sockets test processEIA-364 24B maintenance keeps the test process of electronic connections getting olderEIA-364 25C examines the test process for damaging electronic connectionsEIA-364 26B brine mist electronic connector, contact and socket test procedureEIA-364 27B mechanical shock (designated pulse) electronic connection test procedureTest procedure for EIA-364 28D vibration electronic connections and socketsEIA-364 29B contact test procedure for retention of electronic connectionsEIA-364, 31B humidity, electronic connections and sockets test processEIA-364, 32C thermal shock (temperature cycle changes), electronic connections and sockets test processThe EIA-364 35B inserts the test process that retains the electronic connectionThe test process for EIA-364 37B engagement, engagement and separation of forces, electronic connectionsThe test process of EIA-364 38B telegraph electronic connectionHydrostatic test procedures for EIA-364 and 39B electronicconnectors, contacts and socketsEIA-364 40B crushed electronic connection testing processEIA-364 41C telegraphy in electronic connection test procedure bucklingEIA-364 42B affects the testing process of electronic connectionsTest process of flame electronic connection of EIA-364 45A firewallEIA-364 53B nitrogen Adic vapor test, gold complete electronic connection and socket test processThe EIA-364 54A has magnetic permeability electronic connectors, contacts and sockets for the testing processEIA-364 56B in order to weld the resistance of the hot electronic connections and sockets during the test processEIA-364 66A EMI test procedures for protecting the effectiveness of electronic connectionsThe EIA-364 71B welding wick (wave soldering technology) test procedure is suitable for electronic connectors and socketsEIA-364 81A combustion characteristics, electronic connectors, housing, connector, conference and socket test processEIA-364 82A plastic electronic connections and sockets housing test process CorrosivityEIA 364-83, Shell Companies bombing and bombing in bulkhead test procedure resists resistance to electric car connectorEIA 364-90 crosstalk ratios, electronic connections, sockets, test procedures for cable assemblies, or interconnected systemsTest procedure for EIA-364, 91A dust, electronic connections and socketsEIA 364-95 adequate placement of mats and mats to stabilize electronic connections during testingTest procedure for EIA 364-99 specification position and retention of electronic connectionsEIA 364-100 indicates permanent testing procedures for electronic connections and socketsTest procedures for EIA 364-101 Attentuation electronic connectors, sockets, telegraph conferences, or interconnected systemsEIA 364-102 rise time, degradation, electronic connectors, sockets, telegraph conferences, or test procedures for Interconnected SystemsEIA 364-103 propagation delays, electronic connectors, sockets,telegraph conferences, or test procedures for Interconnected SystemsTest procedure for EIA-364 104A flammability electronic connectionsTest procedure for EIA 364-105 high temperature electronic connectionTest procedure for EIA 364-106 standing wave ratio (SWR) electronic connectionEIA 364-107 eye patterns and tension in electronic connectors, sockets, telegraph conferences, or interconnected system testingEIA 364-108 impedance, reflection coefficient, return loss, and VSWR measurements in time and frequency, territory, electronic connectors, telegraph conferences, or interconnected system testing processesEIA 3641000.01 environmental testing methods and sockets for evaluating the performance of electronic connectors are used in business office applicationsTest procedure for EIA 364-109 ring inductance measurement of electronic connections (1, nH, 10, nH)。

EIA-364-D中文

Qualification Procedure-Sequence
• 此建議測試順序是最低限度要求，適用所有的等級。 • 依照不同應用，特定測試項目可自測試順序、補充測試、及/或接合測試項中增加或刪除。
Qualification Procedure-Sample Size

測試件應含對應端。每一特性量測的數據數量應為測試件25%的端子量，但不應低於25筆數據。若低於 25筆數據，則所有端子必頇量測; 若還不足25筆，就必頇提供額外的測試件。
EIA-364-D
Greg Lin Aug. 11, 2004
EIA-364-D

EIA – Electronic Industries Association 美國電子工業協會對電子工業產品訂定各種標準, 作為製造商及採購者對產品交換性及引進提供一有效的橋樑 EIA-364系列是針對電子連接器及插座(Connectors/ Sockets) 的測試程序, 其下包括許多TP (Test Procedure) D是版本別(2001/7), TECA的專文是C版本(1994/12) 的中文譯本, 與新版有些許不同與MIL-STD為鏡射文件, MIL-STD-202是針對電子零件(Components), MIL-STD-1344是針對電子連接器及插座(Connectors/ Sockets) . 1344中有對照表.

Contact resistance at rated current shall be used in those applications where the current levels are in excess of 100 milliamperes and the voltage levels are in excess of 3.0 volts. 選定電流的電阻測試(CRRC)用於 I>100mA & V>3V.

00-EIA-364系列标准

EIA-364系列标准EIA-CB18 固體的鉭式電容器儲存期限EIA-364-E 電子連接器/ 插座測試過程包括環境類別EIA-364-01B 加速度電子連接的測試過程EIA-364-02C 空氣滲漏電子連接的測試過程EIA-364-03B 高度浸入電子連接的測試過程EIA-364-05B 接觸插入，釋放，移動迫使電子連接的測試過程EIA-364-06C 接觸電阻電子連接的測試過程EIA-364-07C 與軸向的Concentricity電子連接的測試過程聯繫EIA-364-08B 捲曲抗拉的力量電子連接的測試過程EIA-364-09C 耐久性電子連接和接觸的測試過程EIA-364-10E 流動的浸入電子連接和插座的測試過程EIA-364-11B 電阻到溶劑電子連接和插座的測試過程EIA-364-13D Mating和Unmating 力量電子連接的測試過程EIA-364-14B 臭氧暴露電子連接的測試過程EIA-364-17B 有或沒有電負荷電子連接和插座的測試過程的溫度生命EIA-364-18B 接线盒和插座的外观与尺寸检查的测试流程EIA-364-20D 禁得住電壓電子連接，插座和同軸的接觸的測試過程EIA-364-21D 絕緣電阻電子連接，插座和同軸的接觸的測試過程EIA-364-22B 類比生命電子連接的測試過程EIA-364-23C 低的水準接觸電阻電子連接和插座的測試過程EIA-364-24B 維修使電子連接的測試過程變老EIA-364-25C 探查損壞電子連接的測試過程EIA-364-26B 鹽水霧電子連接器，接觸和插座的測試過程EIA-364-27B 機械震動(指定的脈搏)電子連接的測試過程EIA-364-28D 振動電子連接和插座的測試過程EIA-364-29C 接觸保留電子連接的測試過程EIA-364-31B 濕度電子連接和插座的測試過程EIA-364-32D 熱震(溫度週期變化)電子連接和插座的測試過程EIA-364-35B 插入保留電子連接的測試過程EIA-364-36B DETERMINATION OF GAS-TIGHT CHARACTERISTICS TEST PROCEDURE FOR ELECTRICAL CONNECTORS, AND OR CONTACT SYSTEMSEIA-364-37B 接觸約會和分離力量電子連接的測試過程EIA-364-38B 電報拔電子連接的測試過程EIA-364-39B 電子連接器，接觸和插座的液壓靜力測試過程EIA-364-40B 壓壞電子連接的測試過程EIA-364-41C 電報在電子連接的測試過程屈曲EIA-364-42B 影響電子連接的測試過程EIA-364-45A 防火牆火焰電子連接的測試過程EIA-364-46BEIA-364-48AEIA-364-50AEIA-364-53B 氮的Adic 蒸汽測試，金完成電子連接和插座的測試過程EIA-364-54A 有磁性的滲透性電子連接器，接觸和插座的測試過程EIA-364-56D 為了焊接熱電子連接和插座的測試過程的電阻EIA-364-66A EMI 保護效力電子連接的測試過程EIA-364-70BEIA-364-71B 焊接燈芯(波焊接技術)測試過程適合電子連接器和插座EIA-364-75EIA-364-81A 燃燒特性電子連接器住房，連接器會議和插座的測試過程EIA-364-82A 塑膠電子連接和插座住房的測試過程的Corrosivity EIA-364-83 殼牌公司轟炸和轟炸在艙壁測試過程抵抗適合電動汽車連接器EIA-364-89AEIA-364-90 串音比率電子連接，插座，電纜組件的測試過程或者相互連接系統EIA-364 91A 灰塵電子連接和插座的測試過程EIA-364-95 充分的鋪席子和鋪席子穩定電子連接的測試過程EIA-364-99 規格位置和保留電子連接的測試過程EIA-364-100 標明永久為電子連接和插座的測試過程EIA-364-101 Attentuation電子連接器，插座，電報會議或者相互聯繫系統的測試過程EIA 364-102 上升時間墮落電子連接器，插座，電報會議或者相互聯繫系統的測試過程EIA-364-103 傳播延遲電子連接器，插座，電報會議或者相互聯繫系統的測試過程EIA-364 104A 可燃性電子連接的測試過程EIA-364-105A 高度低溫電子連接的測試過程EIA-364-106 駐波比率(SWR)電子連接的測試過程EIA-364-107 眼睛圖案和在電子連接器，插座，電報會議或者相互聯繫系統的測試過程感到緊張EIA-364-108 阻抗，反射系數，返回損失，並且VSWR在時間和頻率領土電子連接器，電報會議或者相互聯繫系統的測試過程測量EIA-364 1000.01 評價電子連接器的性能的環境考試方法學和插座在生意辦公室應用方面使用EIA-364-109 環電感測量電子連接(1 nH 10 nH)的測試過程EIA-364-110。

EIA-364 (连接器产品常用测试规范之目录)

Item Standard NO.Rev.Description1EIA-CB18Solid Tantalum Capacitor Shelf-Life固体的钽式电容器储存期限2EIA-364E ELECTRICAL CONNECTOR/SOCKET TEST PROCEDURES INCLUDING ENVIRONMENTAL CLASSIFICATIONS电子连接器/插座（包括环境类）的测试程序3EIA-364-01B Acceleration Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器的加速测试程序4EIA-364-02C Air Leakage Test Procedure for Electrical Connectors空气渗漏电子连接器的测试程序5EIA-364-03B Altitude Immersion Test Procedure for Electrical Connectors高度浸入电子连接器的测试程序6EIA-364-05B Contact Insertion, Release and Removal Force Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器的端子插入、释放及取出测试程序7EIA-364-06C Contact Resistance Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器的接触电阻测试程序8EIA-364-07B Contact Axial Concentricity Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器的端子同心度测试程序9EIA-364-08B Crimp Tensile Strength Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器的卷曲抗拉强度测试程序10EIA-364-09C Durability Test Procedure for Electrical Connectors and Contacts端子连接器与端子的耐久性测试程序11EIA-364-10D Fluid Immersion Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器的液体浸没测试程序12EIA-364-11B Resistance to Solvents Test Procedure for Electrical Connectors and Sockets电子连接器和插座的电阻测试程序13EIA-364-13D Mating and Unmating Forces Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器的插入力和拔出力测试程序14EIA-364-14B Ozone Exposure Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器的臭氧暴露测试程序15EIA-364-17B Temperature Life with or without Electrical Load Test Procedure for Electrical Connectors andSockets. 电子连接器和插座的温度寿命测试或没有电负载测试程序16EIA-364-18B Visual and Dimensional Inspection Test Procedure for Electrical Connectors and Sockets电子连接器和插座的外观与尺寸检验程序17EIA-364-20C Withstanding Voltage Test Procedure for Electrical Connectors, Sockets and Coaxial Contacts电子连接品、插座和同轴端子的耐电压测试程序18EIA-364-21C Insulation Resistance Test Procedure for Electrical Connectors, Sockets, and Coaxial Contacts电子连接品、插座和同轴端子的绝缘电阻测试程序19EIA-364-22B Simulated Life Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器的模拟寿命测试程序20EIA-364-23C Low Level Contact Resistance Test Procedure for Electrical Connectors and Sockets电子连接器与插座的接触电阻测试程序21EIA-364-24B Maintenance Aging Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器的维持能力测试程序22EIA-364-25C Probe Damage Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器的探伤测试程序23EIA-364-26B Salt Spray Test Procedure for Electrical Connectors, Contacts and Sockets电子连接器、端子和插座的盐雾测试程序24EIA-364-27B Mechanical Shock (Specified Pulse) Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器的机械震动(指定的脉搏)测试程序25EIA-364-28E Vibration Test Procedure for Electrical Connectors and Sockets电子连接器与插座的振动测试程序26EIA-364-29C Contact Retention Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器的端子保持力测试程序27EIA-364-30A Capacitance Test Procedure for Electrical Connectors and Sockets电子连接器与插座的电容测试程序28EIA-364-31B Humidity Test Procedure for Electrical Connectors and Sockets电子连接器与插座的湿度测试程序29EIA-364-32D Thermal Shock (Temperature Cycling) Test Procedure for Electrical Connectors and Sockets电子连接器与插座的热冲击(温度周期变化)测试程序30EIA-364-35B Insert Retention Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器的保持力测试程序31EIA-364-36B Determination of Gas-tight Characteristics test procedure for Electrical connectors and or contactsystems. 电子连接器和（或）端子系统的气密特性测试程序32EIA-364-37B Contact Engagement and Separation Force Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器端子结合力和分离力测试程序33EIA-364-38B Cable Pull-Out Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器的电材拉拔力测试程序34EIA-364-39B Hydrostatic Test Procedure for Electrical Connectors, Contacts and Sockets电子连接器、接触和插座的液压静力测试程序35EIA-364-40B Crush Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器v压坏测试程序36EIA-364-41C Cable Flexing Test Procedure for Electrical Connectors电报在电子连接的测试程序屈曲37EIA-364-42B Impact Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器的机械冲压测试程序38EIA-364-45A Firewall Flame Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器的阻燃火焰测试程序39EIA-364-46B MICROSECOND DISCONTINUITY TEST PROCEDURE FOR ELECTRICAL CONNECTORS,CONTACTS AND SOCKETS电子连接器、端子和插座的瞬断（微秒不间断）测试程序40EIA-364-48A Metallic Coating Thickness Measurement of Contacts Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器端子喷涂层厚底测试程序41EIA-364-50A Dust (Fine Sand)Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器的粉尘（细沙）测试程序42EIA-364-53B Nitric Acid Vapor Test, Gold Finish Test Procedure for Electrical Connectors and Sockets电子连接器与插座的硝酸蒸汽测试、黄金制品测试程序43EIA-364-54A Magnetic Permeability Test Procedure for Electrical Connectors, Contacts, and Sockets电子连接器、端子和插座的导电率测试程序44EIA-364-56C Resistance to Soldering Heat Test Procedure for Electrical Connectors and Sockets电子连接器和插座的焊接热电阻测试程序45EIA-364-59A LOW TEMPERATURE TEST PROCEDURE FOR ELECTRICAL CONNECTORS AND SOCKETS电子连接器和插座的低温测试程序46EIA-364-66A EMI Shielding Effectiveness Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器的电磁干扰屏蔽效应测试程序47EIA-364-70B TEMPERATURE RISE VERSUS CURRENT TEST PROCEDURE FOR ELECTRICAL CONNECTORS AND SOCKETS电子连接器与插座的温升与电流测试程序48EIA-364-71B Solder Wicking (Wave Solder Technique) Test Procedure for Electrical Connectors and Sockets电子连接器与插座的溢锡(波峰焊接技术)测试程序49EIA-364-75LIGHTNING STRIKE TEST PROCEDURE FOR ELECTRICAL CONNECTORS电子连接器的雷击测试程序50EIA-364-81A Combustion Characteristics Test Procedure for Electrical Connector Housings, Connector Assembliesand Sockets. 电子连接器塑料、组装成品与插座的燃烧特性测试程序51EIA-364-82A Corrosivity of Plastics Test Procedure for Electrical Connector and Socket Housings电子连接器与插座塑胶的塑胶腐蚀性测试程序52EIA-364-83Shell-to-Shell and Shell-to-Bulkhead Resistance Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器的接地壳与接地壳及接地壳与主板之电阻测试程序53EIA-364-89A Space Application Test Procedure for Electrical Connectors and Sockets电子连接器与插座的空间应用测试程序54EIA-364-90Crosstalk Ratio Test Procedures for Electrical Connectors, Sockets, Cable Assemblies orInterconnect Systems电子连接器、插座、线束或互联系统的串扰率测试程序55EIA-364-91A Dust Test Procedure for Electrical Connector and Sockets电子连接器与插座的粉尘测试程序56EIA-364-95Full Mating and Mating Stability Test Procedures for Electrical Connectors电子连接器的完整互配与互配稳定测试程序57EIA-364-99Gage Location and Retention Test Procedure for Electrical Connectors电子连接器的计量位置与保留测试程序58EIA-364-100Marking Permanence Test Procedure for Electrical Connectors and Sockets电子连接器与插座的永久性标识测试程序59EIA-364-101Attenuation Test Procedure for Electrical Connectors, Sockets, Cable Assemblies or InterconnectionSystems 电子连接器、插座、线束或互联系统的衰减测试程序60EIA-364-102Rise Time Degradation Test Procedure for Electrical Connectors, Sockets,Cable Assemblies orInterconnection Systems。

EIA-364-20C

5 Details to be specified ............................................................................................... 5
6 Test documentation ................................................................................................... 6
Global Engineering Documents 15 Inverness Way East
Englewood, CO 80112-5704 or call USA and Canada (1-800-854-7179), International (303-397-7956)
CONTENTS
EIA-364-20C Page 1
2 Test resources ............................................................................................................ 1
2.1 Equipment ................................................................................................................. 1
4 Test procedure ........................................................................................................... 3