ICT调试（Debug）作业指导书

ICT调试（Debug）作业指导书
ICT调试(Debug)作业指导书
一、工装结构检查
①针床出货前检查各生产部门是否在生产流程标签上签章。

②先将待测板放于治具上检查是否有压件、载板、中板是否有洗槽，避免待测板有损坏造成
不必要的损失。

二、固定治具
将ICT治具架在压床上，将治具天板固定在压床蜂窝板上，锁紧治具固定螺丝，使其不会松动，将压床点动调整治具上探针行程，使之达到其行程的1/2-2/3左右，然后用排线依顺序将治具与开关板连接起来；
三、试程序登录计算机
1、将治具的测试程序COPY入计算机，并调出；
2、将测试程序检查一遍，未经过排序的，要先排序。

3、要按JP-电阻-电容-电感-二极管-IC的顺序（即按实际值排序）；
4、存档
四、Open/Short学习
1、学习之前，将状态参数里面的测试时基改为50，开短路时基设为400；
2、置良品板于治具上，将压床压下即可开始学习；
3、学习完毕后要存盘。

五、Debug的技巧与方法
1、先将待测板测试一遍，然后可进入“EDIT”DEBUG；
2、对于JP的DEBUG则比较简单，只要判定其有无点号，有无零件，点号正确无语即可OK。

一
般“JP”我们把ACT-V AL定为“2JP”上限为“+10%”，下限为“-60%”；
3、电阻的DEBUG，则会比较复难，可按以下几步调试：
1）于小电阻，如零奥姆电阻，ACT-V AL可用2奥姆，然后上限为“+10%”下限为“99%”即可，对于几奥姆或零点奥姆小电阻，若客户要求用四线测试，则需做四线测试，未做要求的就可将线阻及机器内阻加零件值作为标准值，上限可放宽；
2）于小电阻：（0Ω-1KΩ）要用定电流的测试方法（D1、D2）；
3）电阻DEBUG一般有几种方法：变换测量模式文件位元的变化，更改延迟时间，高低PIN 对调，加隔离点等几种方法，可结合实际情况，具体分析处理；
4）GUARDING点对于电阻的DEBUG尤为重要，一般有这样一个原则：电阻的两个点，其中一点所连组件较少，则该点所连组件另外一点作GUARDING点；隔离点所连的组件阻抗
须为20奥姆以上，电阻的隔离，加GND点很有效果；
5）电阻隔离的目的是将量测到的较少的值隔离成大的，使之更接近于实际值，若该电阻量测的结果很大，超出实际值，则要提出疑问，看看是否针点的问题，还是零件值的错误，或
者是由于针点的不准引起的，等待。

6）对于并联的电阻，若两电阻阻抗相差不是很大，则用并联值作标准值，若相差很大，则大电阻不可测；电阻没有针点的？电阻没有针点的注明“NP”，没有组件的注明“NC”
7）电阻并联大电容的情况，用定电流的方法测试会不稳定且测试时间长，可用定电压的方法量测，并加长延迟时间，必要时可采用放电；
8）对于单项测试稳定，整页测试不稳定的组件可移到程序的最前面测试，电阻的上下限一般设为10%，大电阻可适当放大一些。

六、小电容的测试通常用“A4”或“A5”模式，若量测结果过大，则需加GUARDING点使OFFSET
值不要太大，否则量测没有意义另外电容隔离VCC效果明显。

1、倘若小电容与大电空并联，则小电容可SKIP掉，不需测试，即便测试也会不稳定，又找不出
2、大电容的量测，若用“DC”模式不稳定，可考虑用RANGE“+1”去试，或加长延迟时间；
3、电容的上下限一般为30%，小电容的上限可适当放宽，下限要小一些；
4、电容极性测试可用两种方法：其一，二端测试法即用漏电流的方法，实际值送0-9.9V电压,标
准值送电流,则模式会变为CM,适当加长DELAY,并调整实际值电压,使正反电流偏差较大;其二,三端测试法,即在电解电容顶部加多一根针,高PIN为顶部针点,低PIN为负极针点,隔离点为正极针点.实际值送0.2V电压,标准值为0.05V左右,并适当加长DELAY,使反向时接近于0.2V;
5、电感的测试最好用两种方法：其一,当作跳线测试,其二测其感量,这样既可测出电感的缺件错件,
也可测到短路,上下限可放宽；
6、二极管除了用“DT”（2.2V,20MA）模式外,还可用”LV”(0-10V)模式。

当二极管并联大电容时可
将RANGE“+1”，加延迟时间，还可将实际值电容提高，直到可测出反插及漏件；二极管并联的情况，可加做电流的测试，即用“CM”模式，实际值可送0.7V-1V左右电压，并适当加长延迟时间，上下限可为20%；
7、三极管除了测两个PN结外，要加做饱和电压测试，即三端测试法，要注意是NPN型的还是
PNP型，分别用N模式和P模式；尤其是基点要找正确，否则饱和电压测不出，一般NPN型实际值电压送0.7V-1V左右，PNP型送2.35V-2V，若饱和电压测不出，可往下调整电压；
8、IC的测试首先要找准该IC的VCC及GND，并在IC编辑里分别注明（可按F4键），若IC做
HP TESTJET测试的，还要注明该IC的PORT埠（可按F10键）这些设定工作做完后，可进入零件编辑，根据需要进行IC的学习。

1、IC SCAN学习后，可能会有些IC脚的量测结果很低，可将低PIN针点取消，只留高PIN
即IC脚对应针号，然后将量测值做为标准值：上下限为±40%；
2 、HP TESTJET的学习可只做SHORT学习，然后将上限定为±150%，下限定为-50%，
这样可测 IC的OPEN/SHORT；
9、DEBUG完成后，要连续测试多少遍，然后利用EDIT里面的F6功能，查看组件的稳定与否，
对于那些不稳定的组件则需再做调试，使之稳定。

通过以上几大项即可将治具调试好，若要使程序做得更为完美，则需更为细心，对照BOM检查，查看程序里面组件是否都有测试。

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七、最后希望各位技术员严格按照以上条例做DEBUG工作，并在工作中探索经验，使所做程序既快
捷又稳定。