引俄装备数字电路板中存储器件的LASAR建模
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件 单 元 的基 元 、 内建 模 块 和 用 户 定 义 模 块 之 间 的相 互 连 接 关 系 的描 述 。 即基 元 是 组 成 模 型 的 最 小 单 位 ＿ 。 】
３１ Ｒ ． ＡＭ 元 件 的 建 模
工作方式有维持 和读 出两种状态 。数据读 出时控 制端 Ｃ ０ Ｓ
为 低 电平 ， Ｓ 和 Ｃ ２为 高 电平 。存 储 容 量 为 ２ Ｃ１ Ｓ Ｋ× ８ 。可 以使 用 普 通 编 程 器 将 其 内 容 读 出 ， 按 照 Ｌ Ｓ Ｒ 元 件 库 再 Ａ Ａ 中的 Ｒ ＯＭ 元 件 模 型 实 例 ， 读 出 的 数 据 内 容 按 实 例 的格 将 式 整 理 。如 某 电 路 板 中使 用 的 俄 制 ＲＯ 模 型 如 下 ： 型 Ｍ 模 编译 正 确 后 ， 此模 型 插 入 用 户 自 己 的库 文 件 ， 始 进 一 步 将 开 的Ｌ Ａ ＡＳ Ｒ仿 真 工 作 。
２ １ 第 ６期 ０ ２年
舰 船 电 子 工 程
１１ ５
试 激励 。要求这 些 激励 在较 高 的程 度 上相 当于完 全 测试
集 ， ＡＳ Ｒ 软 件 为 我 们 提 供 了 很 好 的 开 发 环 境 ， 可 以 帮 Ｌ Ａ 它
准元 件 库 中 调 取 ２ ２ ＡＩ模 型 文 件 ， １５ 与采 用 Ｒ ＡＭ 生 成 器 自
ＡＤＤ ＲＯＭ １ ＸＸＸ
Ｒ ＡＭ 元 件 的 建 模 比 较 简
单 ， Ａｓ Ｌ ＡＲ软 件 提供 Ｒ ＡＭ 生
成 器 工 具 （ ＡＭＧＥ ） 生 成 界 Ｒ Ｍ ， 面 如 图 １所 示 。 只 需 要 填 写 由
Ｋｅｙ Ｗ ｏｒ ｓ ｍｅ ｏ ｉｅ ，ＬＡＳ ｄ ｍ ｒｚ ｒ ＡＲ ，ＴＰＳ，ｍ ｏ ｅｉ ｇ ｄ ｌｎ
Ｃｌｓ Ｎｕ ｂ ＴＰ３ １ ９ ａｓ ｍ ｅｒ ９ ．
１ 引言
存储 器 是 引 俄 装 备 数 字 电 路 中保 存 信 息 的 主 要 部 件 ，
首先 ， 地址译码故 障指地址译码 逻辑 产生的故 障 ， 主要
３２ Ｒ ． ＯＭ 元 件 的 建 模
３ ２ １ 有替代型号 的 ＲＯ 元件 ．． Ｍ 某 型引俄 雷 达 电路 板 中使用 的一 种 可 编 程 Ｒ ＯＭ 元 件 ， 于存 储接收信 息 。经 电路原 理 图 比对该 元件 可 由通 用
用 元 件 ８Ｓ ９ 替 换 ， 一 款 可 编 程 （ Ｒ ） 元 件 。Ｐ ＯＭ ２ １１ 是 Ｐ （Ｍ） Ｒ
３ 俄 制 存 储 器 建 模
在 Ｌ ＡＲ 中器 件 建 模 很 简单 ， ＡＳ 因为 Ｌ Ａ 不 仅 包 含 ＡＳ Ｒ
图 ２ 故 障 覆 盖 率 报 表
有丰 富器 件的器件库 ， 而且对器 件库中没有 的器 件 ， 还可 以 采用 Ｌ Ｓ Ａ ＡＲ支 持的建模 工具建模 ｌ 。其 电路模 型接 收工 ５ ］ 业标 准网表格 式 ， 实现 多种 途 径 的电路 模 型输入 。Ｌ 可 Ａ—
励 ， 一 个 ｎ输 入 端 口的 电路 板 来 进 行 完 全 测 试 ， 励 集 中 对 激
为静态存储 器（ Ｒ Ｓ ＡＭ） 动态存储 器（ ＡＭ） 只读存储 器 、 ＤＲ ；
可分为掩膜编程器 Ｒ ＯＭ 和现场可编程 Ｒ０ Ｍ。 存储 器的故障模式主要表现有三种 ： 址解码器故 障 、 地 读写逻辑模块故障 以及存储单元阵列故障＿ 。 ３
应有 ２条测试激励 。当 大 到一定 程度时 ， 完全测 试是 不
可能 的， 因此 必 须 选 择一 种适 用 、 效 的测 试 方 法 来 选 取 测 有
收稿 日期 ：０ １年 １ ２１ ２月 ８日， 修回 日期 ：０ ２年 １ １ ２１ 月 ３日 作者简介 ： 柳颖 ， ， 士， 女 硕 工程师 ， 研究方 向： 电路板 自动测试 和故 障诊 断技术 。周婷 ， ， 女 工程师 ， 研究方向 ： 仪器设 备应用与管理 。
个模块 ， 因此 出现故 障 的概 率最 大 ， 障 的类 型也 最 为繁 故 多， 主要是 由存储器单元的数据线开路 、 短路 以及 串扰所引
起 。
利 ｌ 。使用 Ｌ Ａ ＿ ７ ］ ＡＳ Ｒ软件开发含有存储器 的引俄 装备数 字
电路 板 的 ＴＰ ， 点 和难 点 就 在 于 存储 芯 片 的模 型 建 立 。 Ｓ重
般 只能 对 其 作 读 写 功 能测 试 。 即通 过 改 变 寻 址 序 列 和 数
据图形来 检查存储 器的读 写功 能 ， 括检 测所 有存储 单元 包 能否 正确读 出 、 写入 和保 持数 据 ， 地址 译码 、 据总 线 以及 数 控制 总线 等外 围设 备能否正常工作等＿ 。这就要 求测试人 ２ ］ 员编写较高质量的测试激励 。如果以穷举测试 法写测试激
靠性极为重要 。 目前 电路 板 自动 测 试 系 统 （ ＴＥ 已广 泛 应 用 于 电子 装 Ａ ）
４ 多个地址 同时选 中一个存储单元 。 ） 在实际的存储器 中， 上述四类故障并非总是 独立存在 ，
而是相互交织在一起 的。
备 的技术保障 ， 基于 自动测 试系统 （ ＡＴＥ 进行 电路 板测试 ） 程序集 （ Ｐ ） Ｔ Ｓ 的开发 ， ＴＰ 用 Ｓ对 电路板进行 自动测试 ， 目 是 前 国际上较为先进 的手段 ， 具有 操作 简单 、 障覆盖 率高 、 故 故 障 定 位 精 度 高 的 特 点 ［ 。 Ｌ ＡＲ （ ｏ ｉ Ａ ｔｍａｉ ４ ］ ＡＳ Ｌ ｇｃ ｕｏ ｔ ｃ
交叉耦合干扰 。 最 后 ， 储 单 元 阵 列 是 存 储 器 内 部 结 构 最 为 复 杂 的 一 存
发和逻辑分析 的仿真软件系统 。该系统作 为一 个数字 电路 板 Ｔ Ｓ开发平 台 ， Ｐ 以其 功能 强大 ， 操作 简 单等 特点 得到 了
较 多 的推 广 和应 用 ， 而 为 Ｔ Ｓ开 发 人 员 提 供 了 很 大 的 便 从 Ｐ
Ｓｉ ｌｔ ａｄＲ ｓｏ ｓ） 件 是 一 套 用 于 数 字 电 路 测 试 开 ｔ ａｅ ｎ ｅｐ ｎｅ软 ｍｕ
其次 ， 写逻辑模 块故障主要表现在读写 电路 中， 读 某些
检 测 放 大 器 的读 出或 者 写 入 驱 动 器 的 逻辑 部 分 可 能 产 生 开
路、 短路或者 ＩＯ 固定 的故 障 ， ／ 在写 电路的数据线之 间存在
（ ｖ ０２Ｆａ ｔｒ ，Ｓ ｎ ｈａ ２ ０ ３ ） Ｎａ ｙ ７ ｃｏ ｙ ｈａ ｇ ｉ ０ ４ ４
Ａｂｓ ｒ ｃ Ｍ ｅ ｏ ｉｅ ｔ ｏ ｌ ａｅ ｔｕ ｔ ｅｉ ｒ ｑ ｅ ｌ ｓ ｄ ｉ ｉｉａ ｉｃ ｉｓｅ ｕｐ ｅ ｎ Ｒｕｓｉｎｅ ｕｐ ｎｔ ＬＡＳ ｔａ ｔ ｍ ｒｚｒｗｉｈ ｃ ｍｐｉ ｔ ｄｓｒ ｃｕｒ ｓｆｅ ｕ ｎｔｙｕ ｅ ｎｄｇｔｌｃｒｕｔ ｑ ｉｐ ｄｉ ｃ ｓａ ｑ ｉｍｅ ． ＡＲ ｄ ｌ ｇ ｍｏ ｅｉ ｎ ｏ ｍ ｏ ｉｅ ｓｔ ｅｂ ｓ ｆＴＰＳ ｄ ｖ ｌｐ ｎｔａ ｐｙｎ ｆｍｅ ｒｚ ｒｉ ｈ ａ ｅｏ ｅ ｅｏ ｍｅ ｐ ｌｉｇ ＬＡＳ ＡＲ ｏ ｔ ｒ ． ｓ ｆｗａ ｅ
组成 ： 元器件 的逻 辑描 述文件 Ｌ ＡＳ文 件 ； 指定 元器 件功 能 时序变量 的 Ｔ Ｕ文件 ； Ｆ 指定 Ｔ ｕ 文件 中定 义 的时序变 量 Ｆ
值的 Ｔ ＶＡ 文 件 ； 定 器 件 典 型 制 造 工 艺 默 认 特 征 （ 悬 空 指 如
管脚 电平 、 门限 电平 和 信号 电平 指标 等 ） Ｆ Ｍ 文件［］ 的 Ａ １。 其 中 Ｌ Ｓ文件 是 Ｌ ＡＲ模 型编译 器要求 的唯一 必要 的 Ａ ＡＳ 元素 ， 其它三个文件均 为可选 文件 。Ｌ ＡＳ文件是对 组成 器
总第 ２ ６ １ 期 ２１ 年第 ６ ０２ 期
舰 船 电 子 工 程
Ｓ ｉ ｅ ｔ ｏ ｉ ｇｎ ｅ ｉ ｇ ｈ ｐ Ｅｌ ｃ ｒ ｎｃ Ｅｎ ｉ ｅ ｒｎ
Ｖｏ． ２Ｎｏ ６ １３ ．
１５ ０
引 俄 装 备 数 字 电 路 板 中 存 储 器 件 的 Ｌ Ａ 建 模 ＡＳ Ｒ
器 件 ， 其 是 存 储 芯 片 ， 功 能 是 与 通 用 存 储 器 相 同 ， 读 尤 其 但
写信 号 、 选通 信 号等 管脚 排 列与 西 方标 准件 不 同， Ｌ 在 Ａ—
Ｓ ＡＲ 器件 库 中 也 没 有 相 应 的模 型 文 件 ， 此 在 进 行 这 类 数 因 字 电 路板 的 Ｔ Ｓ开 发 之 前 ， 须 建 立 器 件 模 型 。 Ｐ 必
柳 颖 周 婷
２０３） ０ ４ ４
（ 军 七 储器是引俄 装备数字 电路板 中的常用器件 ， 结构较为复杂， 为俄制存储器建立 元件模型是使 用 Ｌ ＡＲ软件开发含存储 器 ＡＳ
存 储 器 ；Ｌ ＡＲ；Ｔ Ｓ； 模 ＡＳ Ｐ 建
Ｔ ９． Ｐ３ １９
的数 字 电路 板 ＴＰ Ｓ的 前提 。 关键词
由于 Ｒ ＡＭ 本 身 构 造 的 复 杂 性 ， 能 发 生 的 故 障 类 型 可
（ 在这里只考虑 固“ ” 固“ ” 障 ， ０、 １故 以及短 路故 障等 ） 多 ， 较
一
２ 存 储 器 常 见 故 障
存储器按 照功能分 为 随机 存储 器 （ ＡＭ） 只读存 储 Ｒ 和
器（ ＯＭ） Ｒ 。随机存储 器 根据存 储 阵列所 用 的 电路 类型 分
动生成 的模型文件对 比发 现 ：１ ５ 件 中 Ｆ ２ ２ ＡＩ文 ＡＭ 文 件参 数详 细 ， 限定 比较严格 。因此 造成 两个 模型文件 不 同， 故障 覆盖率不 同 。
助测试 人员挑选高质量 的测试 激励 ， 给 出测试 激励 的评 并 价数据［ 。引俄装 备数字电路板 的特点是 采用 的均 是俄制 ２ ］
中 图分 类 号
Ｌ Ｓ Ｒ Ｍｏ ｅｎ ｆ ｍｏｉｅ ｄ￣ Ａ Ａ ｄ ｌ ｇｏ ｉ Ｍｅ ｒ ｒＩ ｉ ｚ ｎ
Ｃｒｕｔ Ｅ ｕｐ ｅ ｕ ｓ ｎＥ ｕｐ ｎ ｉ ｉ ｑ ｉｐｄｉ Ｒ ｓｉ ｑ ｉｍｅ ｔ ｃ ｓ ｎ ａ
ＬＩ Ｙｉ ＺＨＯＵ ｎ Ｕ ｎｇ Ｔｉ ｇ
Ｓ Ｒ 软 件 元 器 件 模 型库 中 的 模 型 超 过 ５ ０ Ａ ０ ０多个 ， 于 模 型 对 库 中 没有 的模 型 ， ＡＳ Ｒ 还 提 供 了 强 大 的 建 模 工 具 ， 自 Ｌ Ａ 能 动生成存储器 ／ Ｌ Ｐ Ｄ模 型 ， 持 用 门 阵 宏 单 元 库 建 ＡＳＣ模 支 Ｉ 型 ， 支 持 第 三 方 模 型 ［ 。Ｌ ＡＲ元 器 件 模 型 由 四个 文 件 且 ９ ］ ＡＳ
在 出厂时未存储任何 信息 ， 户可 以根据 需要 写入 自己的 用 程序和数据 。采用 Ｐ Ｍ 存储 器 比采 用掩膜 Ｒ ＲＯ ＯＭ 方便 ， 但它 只能 编程 一次 ， 且写入 的信息不 能修改 。该俄制 Ｒ ＯＭ
为 ２ 脚 贴 片 封 装 ， ５ 工 作 电 压 ， １ 地 址 线 ， 数 据 ４ ＋ Ｖ １位 ８位 输出 ， 三位 控 制 信 号 线 。有 正 常 和 编 程 两种 工 作 方 式 ， 常 正
表 现 为 四种 形 式 ：
１ 某个确定的地址 ， ） 没有相应 的存储 单元 与其 对应 ； ２ 对于某个确定的存储单元 ， ） 找不到一个 地址 选中它 ； ３ 对于某一确定 的地址 ， 同时选 中两个 或多 个存 储 ） 能
单元 ；
在特定条件下用来存储 数字信 息 ， 保存 的信息 可 以是 操作 代码 、 数据文件 或以上 两者 的结合 ｌ 。引俄装 备 白引进 以 ＿ ３ ］ 来， 服役 近 ２ ， Ｏ年 数字 系统 已处 于故 障频 发期 ， 如何 实现存 储器 的测试和故障诊断 ， 对保 证存 储器 功能 的正确性 和可
３１ Ｒ ． ＡＭ 元 件 的 建 模
工作方式有维持 和读 出两种状态 。数据读 出时控 制端 Ｃ ０ Ｓ
为 低 电平 ， Ｓ 和 Ｃ ２为 高 电平 。存 储 容 量 为 ２ Ｃ１ Ｓ Ｋ× ８ 。可 以使 用 普 通 编 程 器 将 其 内 容 读 出 ， 按 照 Ｌ Ｓ Ｒ 元 件 库 再 Ａ Ａ 中的 Ｒ ＯＭ 元 件 模 型 实 例 ， 读 出 的 数 据 内 容 按 实 例 的格 将 式 整 理 。如 某 电 路 板 中使 用 的 俄 制 ＲＯ 模 型 如 下 ： 型 Ｍ 模 编译 正 确 后 ， 此模 型 插 入 用 户 自 己 的库 文 件 ， 始 进 一 步 将 开 的Ｌ Ａ ＡＳ Ｒ仿 真 工 作 。
２ １ 第 ６期 ０ ２年
舰 船 电 子 工 程
１１ ５
试 激励 。要求这 些 激励 在较 高 的程 度 上相 当于完 全 测试
集 ， ＡＳ Ｒ 软 件 为 我 们 提 供 了 很 好 的 开 发 环 境 ， 可 以 帮 Ｌ Ａ 它
准元 件 库 中 调 取 ２ ２ ＡＩ模 型 文 件 ， １５ 与采 用 Ｒ ＡＭ 生 成 器 自
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Ｒ ＡＭ 元 件 的 建 模 比 较 简
单 ， Ａｓ Ｌ ＡＲ软 件 提供 Ｒ ＡＭ 生
成 器 工 具 （ ＡＭＧＥ ） 生 成 界 Ｒ Ｍ ， 面 如 图 １所 示 。 只 需 要 填 写 由
Ｋｅｙ Ｗ ｏｒ ｓ ｍｅ ｏ ｉｅ ，ＬＡＳ ｄ ｍ ｒｚ ｒ ＡＲ ，ＴＰＳ，ｍ ｏ ｅｉ ｇ ｄ ｌｎ
Ｃｌｓ Ｎｕ ｂ ＴＰ３ １ ９ ａｓ ｍ ｅｒ ９ ．
１ 引言
存储 器 是 引 俄 装 备 数 字 电 路 中保 存 信 息 的 主 要 部 件 ，
首先 ， 地址译码故 障指地址译码 逻辑 产生的故 障 ， 主要
３２ Ｒ ． ＯＭ 元 件 的 建 模
３ ２ １ 有替代型号 的 ＲＯ 元件 ．． Ｍ 某 型引俄 雷 达 电路 板 中使用 的一 种 可 编 程 Ｒ ＯＭ 元 件 ， 于存 储接收信 息 。经 电路原 理 图 比对该 元件 可 由通 用
用 元 件 ８Ｓ ９ 替 换 ， 一 款 可 编 程 （ Ｒ ） 元 件 。Ｐ ＯＭ ２ １１ 是 Ｐ （Ｍ） Ｒ
３ 俄 制 存 储 器 建 模
在 Ｌ ＡＲ 中器 件 建 模 很 简单 ， ＡＳ 因为 Ｌ Ａ 不 仅 包 含 ＡＳ Ｒ
图 ２ 故 障 覆 盖 率 报 表
有丰 富器 件的器件库 ， 而且对器 件库中没有 的器 件 ， 还可 以 采用 Ｌ Ｓ Ａ ＡＲ支 持的建模 工具建模 ｌ 。其 电路模 型接 收工 ５ ］ 业标 准网表格 式 ， 实现 多种 途 径 的电路 模 型输入 。Ｌ 可 Ａ—
励 ， 一 个 ｎ输 入 端 口的 电路 板 来 进 行 完 全 测 试 ， 励 集 中 对 激
为静态存储 器（ Ｒ Ｓ ＡＭ） 动态存储 器（ ＡＭ） 只读存储 器 、 ＤＲ ；
可分为掩膜编程器 Ｒ ＯＭ 和现场可编程 Ｒ０ Ｍ。 存储 器的故障模式主要表现有三种 ： 址解码器故 障 、 地 读写逻辑模块故障 以及存储单元阵列故障＿ 。 ３
应有 ２条测试激励 。当 大 到一定 程度时 ， 完全测 试是 不
可能 的， 因此 必 须 选 择一 种适 用 、 效 的测 试 方 法 来 选 取 测 有
收稿 日期 ：０ １年 １ ２１ ２月 ８日， 修回 日期 ：０ ２年 １ １ ２１ 月 ３日 作者简介 ： 柳颖 ， ， 士， 女 硕 工程师 ， 研究方 向： 电路板 自动测试 和故 障诊 断技术 。周婷 ， ， 女 工程师 ， 研究方向 ： 仪器设 备应用与管理 。
个模块 ， 因此 出现故 障 的概 率最 大 ， 障 的类 型也 最 为繁 故 多， 主要是 由存储器单元的数据线开路 、 短路 以及 串扰所引
起 。
利 ｌ 。使用 Ｌ Ａ ＿ ７ ］ ＡＳ Ｒ软件开发含有存储器 的引俄 装备数 字
电路 板 的 ＴＰ ， 点 和难 点 就 在 于 存储 芯 片 的模 型 建 立 。 Ｓ重
般 只能 对 其 作 读 写 功 能测 试 。 即通 过 改 变 寻 址 序 列 和 数
据图形来 检查存储 器的读 写功 能 ， 括检 测所 有存储 单元 包 能否 正确读 出 、 写入 和保 持数 据 ， 地址 译码 、 据总 线 以及 数 控制 总线 等外 围设 备能否正常工作等＿ 。这就要 求测试人 ２ ］ 员编写较高质量的测试激励 。如果以穷举测试 法写测试激
靠性极为重要 。 目前 电路 板 自动 测 试 系 统 （ ＴＥ 已广 泛 应 用 于 电子 装 Ａ ）
４ 多个地址 同时选 中一个存储单元 。 ） 在实际的存储器 中， 上述四类故障并非总是 独立存在 ，
而是相互交织在一起 的。
备 的技术保障 ， 基于 自动测 试系统 （ ＡＴＥ 进行 电路 板测试 ） 程序集 （ Ｐ ） Ｔ Ｓ 的开发 ， ＴＰ 用 Ｓ对 电路板进行 自动测试 ， 目 是 前 国际上较为先进 的手段 ， 具有 操作 简单 、 障覆盖 率高 、 故 故 障 定 位 精 度 高 的 特 点 ［ 。 Ｌ ＡＲ （ ｏ ｉ Ａ ｔｍａｉ ４ ］ ＡＳ Ｌ ｇｃ ｕｏ ｔ ｃ
交叉耦合干扰 。 最 后 ， 储 单 元 阵 列 是 存 储 器 内 部 结 构 最 为 复 杂 的 一 存
发和逻辑分析 的仿真软件系统 。该系统作 为一 个数字 电路 板 Ｔ Ｓ开发平 台 ， Ｐ 以其 功能 强大 ， 操作 简 单等 特点 得到 了
较 多 的推 广 和应 用 ， 而 为 Ｔ Ｓ开 发 人 员 提 供 了 很 大 的 便 从 Ｐ
Ｓｉ ｌｔ ａｄＲ ｓｏ ｓ） 件 是 一 套 用 于 数 字 电 路 测 试 开 ｔ ａｅ ｎ ｅｐ ｎｅ软 ｍｕ
其次 ， 写逻辑模 块故障主要表现在读写 电路 中， 读 某些
检 测 放 大 器 的读 出或 者 写 入 驱 动 器 的 逻辑 部 分 可 能 产 生 开
路、 短路或者 ＩＯ 固定 的故 障 ， ／ 在写 电路的数据线之 间存在
（ ｖ ０２Ｆａ ｔｒ ，Ｓ ｎ ｈａ ２ ０ ３ ） Ｎａ ｙ ７ ｃｏ ｙ ｈａ ｇ ｉ ０ ４ ４
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组成 ： 元器件 的逻 辑描 述文件 Ｌ ＡＳ文 件 ； 指定 元器 件功 能 时序变量 的 Ｔ Ｕ文件 ； Ｆ 指定 Ｔ ｕ 文件 中定 义 的时序变 量 Ｆ
值的 Ｔ ＶＡ 文 件 ； 定 器 件 典 型 制 造 工 艺 默 认 特 征 （ 悬 空 指 如
管脚 电平 、 门限 电平 和 信号 电平 指标 等 ） Ｆ Ｍ 文件［］ 的 Ａ １。 其 中 Ｌ Ｓ文件 是 Ｌ ＡＲ模 型编译 器要求 的唯一 必要 的 Ａ ＡＳ 元素 ， 其它三个文件均 为可选 文件 。Ｌ ＡＳ文件是对 组成 器
总第 ２ ６ １ 期 ２１ 年第 ６ ０２ 期
舰 船 电 子 工 程
Ｓ ｉ ｅ ｔ ｏ ｉ ｇｎ ｅ ｉ ｇ ｈ ｐ Ｅｌ ｃ ｒ ｎｃ Ｅｎ ｉ ｅ ｒｎ
Ｖｏ． ２Ｎｏ ６ １３ ．
１５ ０
引 俄 装 备 数 字 电 路 板 中 存 储 器 件 的 Ｌ Ａ 建 模 ＡＳ Ｒ
器 件 ， 其 是 存 储 芯 片 ， 功 能 是 与 通 用 存 储 器 相 同 ， 读 尤 其 但
写信 号 、 选通 信 号等 管脚 排 列与 西 方标 准件 不 同， Ｌ 在 Ａ—
Ｓ ＡＲ 器件 库 中 也 没 有 相 应 的模 型 文 件 ， 此 在 进 行 这 类 数 因 字 电 路板 的 Ｔ Ｓ开 发 之 前 ， 须 建 立 器 件 模 型 。 Ｐ 必
柳 颖 周 婷
２０３） ０ ４ ４
（ 军 七 储器是引俄 装备数字 电路板 中的常用器件 ， 结构较为复杂， 为俄制存储器建立 元件模型是使 用 Ｌ ＡＲ软件开发含存储 器 ＡＳ
存 储 器 ；Ｌ ＡＲ；Ｔ Ｓ； 模 ＡＳ Ｐ 建
Ｔ ９． Ｐ３ １９
的数 字 电路 板 ＴＰ Ｓ的 前提 。 关键词
由于 Ｒ ＡＭ 本 身 构 造 的 复 杂 性 ， 能 发 生 的 故 障 类 型 可
（ 在这里只考虑 固“ ” 固“ ” 障 ， ０、 １故 以及短 路故 障等 ） 多 ， 较
一
２ 存 储 器 常 见 故 障
存储器按 照功能分 为 随机 存储 器 （ ＡＭ） 只读存 储 Ｒ 和
器（ ＯＭ） Ｒ 。随机存储 器 根据存 储 阵列所 用 的 电路 类型 分
动生成 的模型文件对 比发 现 ：１ ５ 件 中 Ｆ ２ ２ ＡＩ文 ＡＭ 文 件参 数详 细 ， 限定 比较严格 。因此 造成 两个 模型文件 不 同， 故障 覆盖率不 同 。
助测试 人员挑选高质量 的测试 激励 ， 给 出测试 激励 的评 并 价数据［ 。引俄装 备数字电路板 的特点是 采用 的均 是俄制 ２ ］
中 图分 类 号
Ｌ Ｓ Ｒ Ｍｏ ｅｎ ｆ ｍｏｉｅ ｄ￣ Ａ Ａ ｄ ｌ ｇｏ ｉ Ｍｅ ｒ ｒＩ ｉ ｚ ｎ
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ＬＩ Ｙｉ ＺＨＯＵ ｎ Ｕ ｎｇ Ｔｉ ｇ
Ｓ Ｒ 软 件 元 器 件 模 型库 中 的 模 型 超 过 ５ ０ Ａ ０ ０多个 ， 于 模 型 对 库 中 没有 的模 型 ， ＡＳ Ｒ 还 提 供 了 强 大 的 建 模 工 具 ， 自 Ｌ Ａ 能 动生成存储器 ／ Ｌ Ｐ Ｄ模 型 ， 持 用 门 阵 宏 单 元 库 建 ＡＳＣ模 支 Ｉ 型 ， 支 持 第 三 方 模 型 ［ 。Ｌ ＡＲ元 器 件 模 型 由 四个 文 件 且 ９ ］ ＡＳ
在 出厂时未存储任何 信息 ， 户可 以根据 需要 写入 自己的 用 程序和数据 。采用 Ｐ Ｍ 存储 器 比采 用掩膜 Ｒ ＲＯ ＯＭ 方便 ， 但它 只能 编程 一次 ， 且写入 的信息不 能修改 。该俄制 Ｒ ＯＭ
为 ２ 脚 贴 片 封 装 ， ５ 工 作 电 压 ， １ 地 址 线 ， 数 据 ４ ＋ Ｖ １位 ８位 输出 ， 三位 控 制 信 号 线 。有 正 常 和 编 程 两种 工 作 方 式 ， 常 正
表 现 为 四种 形 式 ：
１ 某个确定的地址 ， ） 没有相应 的存储 单元 与其 对应 ； ２ 对于某个确定的存储单元 ， ） 找不到一个 地址 选中它 ； ３ 对于某一确定 的地址 ， 同时选 中两个 或多 个存 储 ） 能
单元 ；
在特定条件下用来存储 数字信 息 ， 保存 的信息 可 以是 操作 代码 、 数据文件 或以上 两者 的结合 ｌ 。引俄装 备 白引进 以 ＿ ３ ］ 来， 服役 近 ２ ， Ｏ年 数字 系统 已处 于故 障频 发期 ， 如何 实现存 储器 的测试和故障诊断 ， 对保 证存 储器 功能 的正确性 和可