hp系列四探针探头
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H P 系列四探针探头
HP-501型四探针探头
HP-504型四探针探头
HP 系列四探针探头是一种专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的方块电阻测试仪配用的四探针测试探头，可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO 透明氧化膜)，金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。
◆ 特性及规格： 1
特制之手握式探笔 2
球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜不被损伤 3
探头带抗静电模块有效防止方块电阻测试仪采集数据集成模块烧坏 4
探头使用寿命长 5
探针间距：1mmm 、1.59mm 、3.8m ；偏差≤2%；游移率≤0.3%；绝缘电阻≥500M Ω
◆ 可选配HP 系列四探针探头的型号及规格： 型号
(Model) 曲率半径 (Radius) 压力 (loads) 探针间距 (spacing) 探针排列 (Arrangement)
HP-501 0.5mm 100g 3.8mm 直线
HP-502 0.75mm 100g 3.8mm
直线 HP-503 0.1mm 150g 1mm 直线
HP-504 0.5mm 100g 1.59mm 直线
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