《典型光电成像器件电路设计》

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光电成像芯片的设计与实现研究

光电成像芯片的设计与实现研究

光电成像芯片的设计与实现研究随着科技的不断发展,光电成像技术在许多领域中得到了广泛的应用,如安防监控、智能化交通、无人机视觉以及医学图像等。

其中,光电成像芯片是实现这种技术的关键元件之一。

本文旨在阐述光电成像芯片的设计与实现研究,以及这方面的未来发展趋势。

一、光电成像芯片的原理和类型光电成像芯片是一种集电视、摄像机和感光芯片于一体的芯片。

它可以将光信号转化为数字信号,可以处理图像并将其传输到计算机或其他设备。

光电成像芯片的原理是基于半导体材料的光伏效应。

当光线照射到半导体表面时,会产生电子和空穴对,电子和空穴对在电场的作用下分离,形成电流信号。

目前,光电成像芯片按照光电转换原理可以分为两种类型:CCD和CMOS芯片。

CCD芯片具有高灵敏度和低噪声,在高端相机、天文学和显微镜等领域有广泛应用。

CMOS芯片具有低功耗和高速度的特点,在智能手机、电子眼镜和运动相机等中低端设备上应用广泛。

二、光电成像芯片的设计1. 像素结构设计像素是指光电芯片中最小的单位,在图像中对应于最小的点。

像素结构设计是光电芯片设计的核心部分,决定了芯片的性能和成像质量。

当前像素结构设计主要分为两种:Foveon X3和Bayer结构。

Foveon X3结构采用垂直三层结构,每一层都由感光物理上不同的颜色呈现。

所以Foveon可以获取到更真实的颜色,而且抗色斑非常好。

Bayer结构采用单层结构,它将像素按照矩形排列在一起,每个像素只能接收红、绿、蓝中的一种颜色。

这种方式的优点是成本低,但是画质和代表真实色彩方面表现不佳。

2. 前端电路设计前端电路是光电芯片中负责电荷转换为模拟信号的部分。

前端电路设计的重点是电荷放大器和选通电路。

电荷放大器被广泛应用于CCD芯片中,因为它具有高增益和低噪声。

选通电路是CMOS芯片中常见的部分。

它具有低功耗和快速响应的特点。

3. 数字处理电路设计数字处理电路负责将模拟信号转化为数字信号,并提取和处理图像信息。

光电成像系统课件

光电成像系统课件
方面展现出巨大的潜力,为光电成像系统的发展提供了新的方向。
光电成像系统的小型化与集成化
总结词
光电成像系统的小型化与集成化是当前 的重要趋势,它们能够提高系统的便携 性和集成度,满足各种应用需求。
VS
详细描述
随着微电子技术和微纳加工工艺的不断发 展,光电成像系统的小型化与集成化已经 成为现实。通过将多个光电探测器、信号 处理电路和存储器等集成在一个芯片上, 可以实现小型化和集成化的光电成像系统 。这种系统具有更高的便携性和集成度, 可以广泛应用于医疗、安防、通信等领域 。
CHAPTER
05
光电成像系统的发展趋势与挑 战
新型光电材料与器件的研发
总结词
新型光电材料与器件的研发是光电成像系统发展的关键,它们能够提高系统的性能和效 率,为未来的光电成像系统提供更多可能性。
详细描述
随着科技的不断发展,新型光电材料与器件的研发已经成为光电成像系统的重要发展趋 势。这些新型材料和器件能够提高光电成像系统的响应速度、灵敏度和稳定性,从而提 升成像质量。例如,近年来发展迅速的钙钛矿材料和二维材料,在光电转换和光电器件
CHAPTER
06
光电成像系统的实际应用案例
医疗诊断中的光电成像系统
总结词
光电成像系统在医疗诊断中发挥着重要作 用,能够提供高分辨率、高对比度的图像
,帮助医生准确诊断病情。
内窥镜系统
通过将内窥镜与光电成像系统相结合,医 生可以在不开刀的情况下观察患者体内情
况,提高诊断的准确性和安全性。
光学显微镜
科研领域中的光电成像系统
总结词
光电成像系统在科研领域中 具有广泛的应用,能够提供 高精度、高灵敏度的图像, 促进科学研究的深入发展。

光电成像原理与技术课程设计

光电成像原理与技术课程设计

2013-2014第(2)学期理学院实践教学成绩评定表2013-2014第(2)学期理学院实践教学任务书随着科学技术的发展以与CCD器件的广泛应用,工业生产、国防、安防以与日常生活中高速高清CCD的需求越来越广泛。

传统CCD相机像素低、帧频慢,在速度和清晰度方面有很大的缺陷,无法满足越来越高的使用需求,而高速高清CCD在图像清晰度和帧频速度都有突出的优势,为CCD相机注入了新的发展活力。

最近世界各国在高速CCD相机研发领域投入大量的精力并取得了大量的成果,开展高帧频大面阵CCD相机的研制工作具有重要意义。

本文首先对柯达公司生产的逐行转移面阵CCD传感器KAI-01050做了简单的介绍,基于逐行转移CCD的工作原理、电荷转移方式的研究,设计了高速高清CCD系统的一种结构。

本文通过对这些关键技术的研究,完成了高速高清CCD系统的设计工作。

关键词:高速摄像,高清CCD第一章绪论 (1)第二章高速高清CCD系统介绍 (3)2.1 CCD成像原理 (3)2.2 KAI_01050探测器介绍 (5)第三章高速高清CCD系统的组成 (7)3.1 光学系统设计 (7)3.2 电路系统设计 (8)第四章结果分析 (9)参考文献 (10)第一章绪论电荷耦合器件(CCD)属于半导体器件,是一种图像传感器,能够把视场内的光学图像转化为电荷并存储在相应的像素中,然后通过读出电路将存储的像元电荷读出,并用外围电路中的模数转换模块转换为数字信号。

一个完整的CCD阵列是由一系列的微小光敏物质(像素)组成。

CCD图像传感器上拥有的像素数量越多,能够提供的画面清晰度也就越高。

CCD器件自1969年在贝尔实验室诞生以来,随着半导体技术的发展,CCD技术也随之得到迅速发展,从当时简单的8像元移位寄存器,到现在已具有数百万、上千万乃至上亿像元。

CCD的像元尺寸已经减小到2um以下,在缩小像元尺寸的同时,通过背面光照技术等,使饱和电压和灵敏度也得到提高,在暗电流、读出噪声抑制、抗光晕转移效率等方面也得到了极大的改善。

光电检测电路设计10页

光电检测电路设计10页

光电检测电路设计10页由于光电检测技术的广泛应用,光电检测电路设计成为了电子工程领域中的一个重要研究方向。

本文针对光电检测电路的设计进行阐述,主要包括以下10页内容。

第一页:引言在现代工业制造以及日常生活中,光电检测技术得到了广泛应用。

光电检测技术的核心是利用光电效应,将光信号转换为电信号,从而实现对光信号的检测。

光电检测电路是将光学传感器和电子元器件相结合,实现对光信号的放大、处理和显示。

本文将阐述光电检测电路的设计,以便于读者了解光电检测电路的基本原理和设计方法。

第二页:光电检测电路的基本原理光电检测电路的基本原理是光电效应。

光电效应是指某些物质在光照射下,可将光能转化为电能或释放出吸收光的能力,被称为光电效应。

在光电检测电路中,常用的光电效应主要包括光电二极管效应、光电三极管效应、光电场效应、光电伏打效应等。

第三页:光电二极管电路设计光电二极管是一种常用的光电探测器件,其工作原理基于PN结的光电二极管效应。

光电二极管的输出电流与入射光强度成正比,因此可以用来检测光强度。

光电二极管电路包括光电二极管和预处理电路,预处理电路对光电二极管输出进行放大和滤波处理。

光电场效应器件是一种灵敏度高、带宽宽的光电探测器件,其工作原理基于光电场效应。

光电场效应器件的输出信号是电流信号,因此需要将其转换为电压信号才能进行放大和处理。

光电场效应电路包括光电场效应器件和前置放大电路,前置放大电路对输出信号进行放大和滤波处理。

第七页:光电探测器的特性和选择不同类型的光电探测器件具有不同的特性,如灵敏度、响应速度、波长范围、噪声等。

因此,在选择光电探测器件时需要根据实际需求进行权衡。

例如,在低光强度条件下需要选择灵敏度高的光电探测器件,在高频率条件下需要选择带宽宽的光电探测器件。

第八页:预处理电路的设计预处理电路主要包括放大电路、滤波电路、比较电路等。

放大电路可以放大光电探测器的输出信号;滤波电路可以滤去噪声信号以及其它干扰信号;比较电路可以将光电探测器的输出信号与某一比较电压进行比较,从而得到具有阈值功能的信号。

光电电路设计课件

光电电路设计课件
光电电路设计
光学与电子科技学院 余向东
• BB平台: 中国计量学院教务在线-网上课程-学校精 品课程-BlackBoard平台
/webapps/login/ 注册登录: 光电电路设计-课程信息-光电电路课程设计指 导书第二版_1_1_.doc
R2
VCC
C1
4
1 f0 2RC
IC1B
7
信号 输入
R1
3 2
IC1A
1
R5
5 6
信号 输出
Kf0
11
R3 R7 C2 R6 R8
R2 R1
R4
-VEE
R1 R2 Q 2 R1
9 8 10
IC1C
f0 B 3dB Q
五、常用电路介绍
• 整流电路:
D1 R1 C1
D3 D2 R2 C2
六、电路板设计要点
• 设计印刷电路板
(1)元件的布局 :最短布线 ,噪声器件 (2)关键元件的放置:去耦电容 (3) 地线的布线方式:逻辑地和模拟地 , 尽量的粗 (4) 电路走线:尖锐拐角 ,长距平行 (5)电源线的布置:加粗 (6)过孔:尽可能减少 (7)自动布线:需进行人工调整修改 (8)丝印层:靠近,方向一致 ,不在焊盘
七、设计报告格式及要求
• • • • • • • • 设计目的和意义。 设计方案。包括原理框图、基本工作原理和特点描 述。 设计指标。 详细设计。该部分是对原理框图的具体实现,其中 应包括电路原理图、参数计算公式及电路特点说明。 该部分可拆分为几个功能电路分别加以叙述。 印刷电路图。包括设计特点描述。 实验数据及分析。数据应以图表方式加以整理。 设计体会。 作品照片。
D
+VCC

红外夜视仪光电成像系统电路设计

红外夜视仪光电成像系统电路设计
过 主动照 射并利 用 目标反射 红外 源的红 外光来 实施
的 空 间分 布 ,其 辐 射 亮 度 的 分布 主 要 由被 观 测 景 物 的温 度 和 发 射 率 决 定 的 , 因此 红 外 图像 近 似 反 映 了景 物 温 度差 或 是辐 射 差 。 但 是 , 目标 和 背 景 的红 外 辐 射 经 过 一 个 过程 以 后 才 能被 转 换 成 为 红
若 干倍 ,从 而 提 高 了仪 器 的信 噪 比 ,增 强 了系统 的探测 能力 。
图 1 成 像 检 测板 的 内 部 结 构
SDI
接 口
C co e 列 y ln 系
FP GA
测 状 态
13 红外 图像 处理 算法 研究 .
红 外 图 像 反 映 了 目标 和 背 景 不 可 见 红 外 辐射
1 红外 夜视 仪 的成 像 系 统基 本 理 论
11 红 外辐 射特性 .
自然 界 中任 何 温 度 高 于 绝 对 温 度 的 物体 都 会 向 周 围发 送 热 量 ,我 们 称 之 为热 辐 射 ,红 外辐 射 就 是 这 些 热 辐 射 中 的 一 种 ,这 是 一 种 不 可 见 光 , 其 强 度 与 光谱 造 成 差 异 的 原 因主 要 是物 体 的辐 射 温 度 ,所 以其 探 测 的 原理 就 是每 个 目标 不 同的 辐 射 温度来 选择 不 同波段 的探 测器 。
GO1 2 现 对 HD S 格 式 图像 信 号 的 接 收 和 输 5 5实 /D
出 ,F G 进行 检测 ,如 图 1 示 。 P A 所
1 红外 光学 系统 . 2
红外 光 学 系统 的作 用 是重 新 改善 光 束 的分 布 , 更 加 有效 的利 用 光 能 。光 学 系统 能 够 提 高 探 测 器 光敏 感 ,比 入摄 到光 学 系统 表 面 上 的 照 度 提 高 了

光电器件测试仪电路设计文档

光电器件测试仪电路设计文档

光电器件测试仪电路设计文档设计概述本文档描述了光电器件测试仪的电路设计,旨在实现对光电器件进行可靠和准确的测试。

设计目标1. 测试仪应具备稳定的电流和电压输出功能,以满足不同光电器件的测试需求。

2. 测试仪应能够测量光电器件的电流和电压输出值,并记录在测试结果中。

3. 测试仪的电路设计应简单、可靠,并能够保证测量结果的准确性和重复性。

设计原理测试仪的电路设计包括主要的电流和电压输出部分以及测量电路部分。

电流和电压输出部分电流和电压输出部分采用稳定电源设计,以确保输出的电流和电压值的稳定性。

该部分包括稳压器和电流放大器等组件,通过合理的电路连接和参数选择,实现对光电器件的电流和电压输出控制。

测量电路部分测量电路部分负责对光电器件的电流和电压进行测量,并将测量结果反馈给测试仪。

该部分包括电流传感器和电压测量模块,通过合理的电路连接和精确的测量算法,实现对光电器件的电流和电压测量。

设计实施在设计光电器件测试仪电路时,需按以下步骤进行:1. 分析所需测试的光电器件的特性和测试需求,确定电流和电压输出的范围和稳定性要求。

2. 根据输出要求设计电流和电压输出部分,选择合适的稳压器和电流放大器,并进行电路连接和参数选择。

3. 设计测量电路部分,选择合适的电流传感器和电压测量模块,并进行电路连接和精确的测量算法编写。

4. 在完成设计后,进行电路的模拟仿真和实际测试,确保电路的设计符合需求并具备准确性和重复性。

5. 优化电路设计,确保电路的可靠性和性能达到最佳状态。

结论本文档介绍了光电器件测试仪的电路设计,通过稳压器、电流放大器、电流传感器和电压测量模块等组件的合理选择和连接,实现了对光电器件的稳定输出和精确测量。

设计过程中需要考虑测试需求、电路稳定性和准确性,并进行模拟仿真和实际测试以验证电路设计的可行性和优化性。

典型光电检测器件

典型光电检测器件

相机(成像)原理
数码相机的「视网膜」 • CCD(Charge Coupled Device )
电荷耦合元件 • CMOS(Complementary Metal-Oxide Semiconductor)
互补性氧化金属半导体
可记录光线变化的半导体
CCD --- Charge Coupled Device,电荷耦合元件
• 面阵CCD:器件像元排列为一平面,它包含若干行和列的结合。 • 目前达到实用阶段的像元数由25万至数百万个不等,按照片子的尺寸不同有1/3英寸、
l/2英寸、2/3英寸以至1英寸之分。
线阵CCD:一行,扫描;体积小,价格低; 面阵CCD: 整幅图像;直观;价格高,体积大;
线阵CCD
• 每次只拍摄图像的一条线,这种CCD精度高,速度慢,无法用来拍摄移动的物体,也无法使 用闪光灯。
效应(光伏效应)。
光敏电阻:当光敏电阻受到光照时, 阻值减小。
大面积光电池
红外发射、接收对管外形
红外发射管
红外接收管
光热效应
• 光热效应:材料受光照射后,光子能量与晶格相互作用,振动加剧,温度升高,材料的性质 发生变化. – 热释电效应:介质的极化强度随温度变化而变化,引起电荷表面电荷变化的现象. – 辐射热计效应:入射光的照射使材料由于受热而造成电阻率变化的现象. – 温差电效应:由两种材料制成的结点出现稳差而在两结点间产生电动势,回路中产生电 流.
1、CMOS传感器原理
(1)光照特性
2、CMOS传感器特性
CMOS传感器的主要应用也是图像的采集,也要求能够适应更宽的光照范围。因此也必须采用 非线性的处理方法和自动调整曝光时间与自动增益等处理方法。
结果与CCD相机一样损失了光电转换的线性,正因为此项,它也受限于灰度的测量。

光电显示器件的设计与制造

光电显示器件的设计与制造

光电显示器件的设计与制造光电显示器件是通过光电效应将电信号转换成光信号,再透过显示器件呈现出来的一种显示技术。

随着人们对视觉体验要求的不断提高,光电显示器件已经成为了我们日常生活中不可或缺的一部分。

本文将介绍光电显示器件的设计与制造。

光电转换原理光电转换是指在光的作用下将光信号转化为电信号,或者将电信号转化为光信号的过程。

光电转换的原理可以归纳为两种:一种是“电光转换”,即利用外界的电场能够使某种光敏材料产生明显的光致发射现象,形成光信号;另一种是“光电转换”,即利用外界的光辐照能够使导电材料上的电荷发生移动,形成电信号。

光电转换器件的制造对于光电转换器件而言,制造工艺是非常重要的。

一个优秀的光电转换器件必须要具有高精度、高效率、高性能等特点,但是要实现这些特点需要铺设下许多的技术路径。

一般而言,光电转换器件的制造流程可以简单的分为以下几步:1、集成电路芯片的制造光电转换器件通常需要一个器件来完成信号的处理,这个器件通常是指集成电路芯片。

集成电路芯片的制造使用的是有限元分析、电磁感应等电子类学科,通过计算机的辅助将多个部分逐步拼装,因此,集成电路芯片的制造流程需要具有高效率,高效能和高精度等优秀特性。

2、传感器的制造传感器是指能够将物理信号转化为电信号或光信号的器件。

传感器的制造流程并没有太大的差异性,核心就是要通过合适的材料和工艺,对信号进行准确的检测和分析,最终输出信号。

3、模组的制造模组是指封装一种以上的元器件组成的模块,比如液晶屏、触控芯片、背光模组等等。

它们用于接收数据并对外输出。

模组的制造流程关键点是封装,这需要一套完整的封装体系来对器件进行分段分级的分类,经过一系列严格的检测加工后进行精密封装。

4、组装组装则是将制造出来的元器件和模组进行合理的组装,达到功能最大化的一种方式。

组装过程需要高精度机器和人工协作进行。

5、测试测试阶段是将组好的模块或者机器进行综合推演,以达到功能展示、各部分融合性以及性能优化的一个过程。

光电成像器件 ppt课件

光电成像器件  ppt课件
调制度M: M Amax Amin Am
Amax Amin A0
调制传递函数MTF:MTF M o 100 %
Mi
MTF随着测试卡线条空间频率的增加而降低。
用一个能量正弦分布的物体来看一下调制(对比)传递函数的情况, 有一个物体的能量分布如下图所示,能量为正弦分布,平均能量b0, 能量起伏为b1,则我们称这物体的调制度(对比度)为:
用水平方向、垂直方向各自的线数来表示。
5.光电特性 CCD是低照度器件,光电靶γ可达99.7%,
摄像头常带有γ选择。
6.动态范围
CCD像元的饱和输出电压与它在暗场下 的峰-峰噪声电压的比值 Usat/Udn 。
Usat决定于势阱中可存储的最大电荷量, 一般为数百mv~数v;
CCD是低噪声器件,可用于微光成像, Udn一般为数mv以下。
8.3 电荷耦合器件
CCD(Charge Coupled
Devices)
CCD图像传感器主要特点:
固体化摄像器件 很高的空间分辨率 很高的光电灵敏度和大的动态范围 光敏元间距位置精确,可获得很高的
定位和测量精度 信号与微机接口容易
固体摄像器件主要有三大类:
电荷耦合器件(Charge Coupled Device,即 CCD)
TCD1200D管脚图和驱动电压
驱动电路由单片机(AT89C2051)、可 编程门阵列芯片(GAL16V8)构成。
AT89C2051是带2K字节可 GAL16V8是一种可编程 编程电擦除EPROM的 逻辑器件。图示中未标的
CMOS 8位 单片机。具有 管脚 可自由定义,经编 8031单片机的功能,可输 程,形成所需的逻辑关系。
普通CCD的动态范围1000:1左右。

《典型光电成像器件电路设计》

《典型光电成像器件电路设计》

《典型光电成像器件电路设计》课程编号:课程名称:典型光电成像器件电路设计——高压、选通电源设计学分:1 学时:1周选修课程:模拟电子技术,电路原理一、目的与任务本课程目的是针对微光检测技术中常用的距离选通技术,设计适合像管供电的高压电源和带距离选通功能的电源,帮助测控技术与仪器、电子科学与技术(光电子方向)的学生掌握光电成像技术中供电电源的设计方法。

二、教学内容及学时分配1.设计要求,高压电源和选通电源原理讲解(1天)2.电源参数选择与仿真分析(1天)3.硬件电路调试(2天)4.实验结果验收(1天)三、考核与成绩评定考核:在1周的实验课中用1天时间进行2人一组的考核验收。

成绩根据3方面情况最终评定:1.学生的实验操作情况2.学生的实验报告完成情况3.学生的实验出勤情况成绩评定按百分制,验收考核占总成绩的40%,平时表现、实验报告占总成绩的40%,创新性占20%,60分为及格。

四、大纲说明1. 本大纲是根据我校电子科学与技术(光电子)、光电信息科学与工程、光电信息工程专业培养计划及其知识结构要求,并适当考虑专业特色而制定的。

2. 在保证基本教学要求的前提下,教师可以根据实际情况,对内容进行适当的调整和删节。

3. 本大纲适合光电类相关专业。

五、教材、参考书选用教材:江月松.光电技术与实验[M].北京:北京理工大学出版社,2000.参考书:[1] 胡士凌,孔得人.光电电子技术[M].北京:北京理工大学出版社,1996.[2] 童诗白,华成英.模拟电子技术基础(第三版)[M].北京:高等教育出版社出版社,2001.[3] 白廷柱,金伟其.光电成像原理与技术[M].北京:北京理工大学出版社,2006.编写教师:高昆责任教授签字:教学院长签字:《Typical Photoelectric Imaging Device Application Circuit Design》Course Code: ******Course Name: Typical Photo-electronic Imaging Device Application Circuit Design Class Hour: 16 (1 weak)Credit: 1Course DescriptionThe object of this course is to aim at the distance gating technology in weak light detection applications, design a high-voltage power supply which is used in image intensifier and a power supply support distance gating function. The goals of the course is to train students major in Measurement & Control Technology & Instrument, or major in Science & Technology of Electronics (Photo-electronic Field) to grasp the power supply design techniques in photo-electronic imaging applications.。

光电信号检测电路设计[深度荟萃]

光电信号检测电路设计[深度荟萃]

Pm
1 2
IL
Um
Im GL Gb
Im SE Em gUm
Um
Gb
SE Em GL
g
1 2
Um
GL 2
[ Gb
SE Em GL
]2 g
最大功率输出 下的负载电阻
RL0 1/ GL0 Gb g
交流负载线
直流负载线
阻抗匹配下(最
大功率输出)的
峰值电压、功率、
U电m0流
SE Em 2GL0
行业特制
43
二、光电检测电路的频率特性
2.光电检测电路的综合频率特性
考虑隔直电容和分布电容的影响 输入电路频率特性
W ( j) UL ( j)
K jT0
E( j) (1 jT1)(1 jT2)
20lg |W ( j) | 20lg KT0 20lg T1 20lg T2
1)高频段(ω>ω2)
I Imax Imin GLU
I
GLU
S 1 G / GL (负载减小,输出电流幅值增大)
通常GL>>G
I S
行业特制
16
(5)计算输出电功率 由功率关系P=U I,得
P
GLU
2
GL
(
S G GL
)2
行业特制
17
光伏型器件光电信号输入电路
伏安特性:一组以入射光功率为参量的曲 线簇,分布在伏安坐标系的第四象限。
WH
(
j)
K jT0 / T1 (1 jT2)
1)避免非线性失真:确定动态工作状态,使在交变光信 号作用下负载上能获得不失真的、线性电信号输出。
2)避免线性失真(频率不失真,包括幅频和相频):使 检测电路具有足够宽的频率响应,以能对复杂的瞬变光 信号或周期性光信号进行无频率失真的变换和传输。

光电成像器件计算机辅助设计(CAD)讲义

光电成像器件计算机辅助设计(CAD)讲义

光电成像器件计算机辅助设计(CAD)基础知识及课程设计指导书(第三版)倪国强北京理工大学2002年5月前言《光电成像器件计算机辅助设计(CAD)》课程设计是我光电工程系电子科学和技术专业主干专业课程之一《光电成像原理》的重要组成部分,也是该课程重要的后续设计实践课程。

其主要任务是结合比较接近实际情况的像管设计计算课题,综合运用《光电成像原理》课程中有关基本原理及其它有关知识,将本课程设计基本理论所给出的光电成像器件电子光学系统计算机辅助设计的物理模型与数学模型转化为可以实际进行数值计算的CAD程序软件系统,以达到培养综合运用知识的能力,编制、调试、开发实际工程软件的能力,提高运用现代设计方法与手段及计算机应用开发能力的目的。

课程设计时间安排为5周,每周计20学时。

适当减少少量设计计算内容,也可安排4周。

若对非本专业学生开展本课程设计实践教学,可考虑修改设计计算内容,课程设计时间安排为2~3周。

课程设计的具体任务是计算某种电子光学系统的空间电场分布及其它有关内容。

要求每个学生在规定的时间内,独立完成CAD设计各项任务,独立完成符合要求的设计技术报告,提交设计计算程序文本,提交计算结果(打印文件)。

为加强全面素质教育,课程采用开放式教学方法,鼓励学生在进行设计理论学习、编程、上机调试、撰写设计报告等过程中,充分讨论、相互启发,提高学习质量,真正学有所获。

同时要求学生要独立完成课题任务,坚决杜绝不劳而获、抄袭程序与报告文本的学术腐败作风与不端行为。

作为一门独立的教学实践课程,课程设计成绩单独评定,单独记载学分。

评定成绩的主要依据为:1.是否在规定的时间内独立完成规定的任务,并提交正确的计算结果;2.是否独立按要求、高质量地撰写设计技术报告;3.是否做到:程序设计思想合理新颖,符合要求,文本简洁明了、逻辑清晰,编排规范,打印格式整齐等;4.是否遵守纪律,遵守上机规则。

目录1 计算旋转对称电场的有限差分法1.1 计算电场的拉普拉斯(Laplace)方程1.2 有限差分方程的建立1.3 连续超张弛迭代法(SOR法)1.4 最佳迭代加速因子的求取1.5 连续超张驰迭代法计算步骤1.6 非封闭边界的处理及域内节点电位初值的给定1.7 误差分析1.8 等位线的计算1.9 旋转对称电场中的电位鞍点1.10 拉格朗日(Lagrange)插值法1.11 其他1.12 静电场的三个基本定理2 课程设计任务书3 课程设计技术报告撰写要求4 程序编制与上机5 总结与答辩要求1 计算电场的有限差分法《光电成像原理》课程已涉及了光电成像器件中电子光学系统的基本原理。

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《典型光电成像器件电路设计》
课程编号:
课程名称:典型光电成像器件电路设计——高压、选通电源设计
学分:1学时:1周
选修课程:模拟电子技术,电路原理
一、目的与任务
本课程目的是针对微光检测技术中常用的距离选通技术,设计适合像管供电的高压电源和带距离选通功能的电源,帮助测控技术与仪器、电子科学与技术(光电子方向)的学生掌握光电成像技术中供电电源的设计方法。

二、教学内容及学时分配
1.设计要求,高压电源和选通电源原理讲解(1天)
2.电源参数选择与仿真分析(1天)
3.硬件电路调试(2天)
4.实验结果验收(1天)
三、考核与成绩评定
考核:在1周的实验课中用1天时间进行2人一组的考核验收。

成绩根据3方面情况最终评定:
1.学生的实验操作情况
2.学生的实验报告完成情况
3.学生的实验出勤情况
成绩评定按百分制,验收考核占总成绩的40%,平时表现、实验报告占总成绩的40%,创新性占20%,60分为及格。

四、大纲说明
1.本大纲是根据我校电子科学与技术(光电子)、光电信息科学与工程、光电信息工程专业培养计划及其知识结构要求,并适当考虑专业特色而制定的。

2.在保证基本教学要求的前提下,教师可以根据实际情况,对内容进行适当的调整和删节。

3.本大纲适合光电类相关专业。

五、教材、参考书
选用教材:江月松.光电技术与实验[M].北京:北京理工大学出版社,2000.
参考书:
[1]胡士凌,孔得人.光电电子技术[M].北京:北京理工大学出版社,1996.
[2]童诗白,华成英.模拟电子技术基础(第三版)[M].北京:高等教育出版社出版社,2001.
[3]白廷柱,金伟其.光电成像原理与技术[M].北京:北京理工大学出版社,2006.
编写教师:高昆
责任教授签字:
教学院长签字:
《TypicalPhotoelectricImagingDeviceApplicationCircuitDesign》CourseCode:******
CourseName:TypicalPhoto-electronicImagingDeviceApplicationCircuitDesign ClassHour:16(1weak)
Credit:1
CourseDescription
Theobjectofthiscourseistoaimatthedistancegatingtechnologyinweaklightdetection applications,designahigh-voltagepowersupplywhichisusedin imageintensifieranda powers upplysupportdistancegatingfunction.ThegoalsofthecourseistotrainstudentsmajorinMea surement&ControlTechnology&Instrument,ormajorinScience&TechnologyofElectron ics(Photo-electronicField)tograspthepowersupplydesigntechniquesinphoto-electronici magingapplications.
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