X射线衍射培训教材

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《X射线衍射分析》课件

《X射线衍射分析》课件

1
材料表征
通过分析衍射图样,确定材料的相组成、晶格参数、晶体质量等。
2
结构优化
利用衍射数据优化材料的晶体结构,改善性能和功能。
3
晶体生长
借助衍射技术控制晶体生长条件,获得高质量的晶体。
X射线衍射在材料分析中的应用
相组成分析
通过分析衍射图样,精确确定材 料的相组成和相比例。
晶格参数测量
通过测量衍射峰的位置和料没有明显破 坏,可以进行多次测试。
高分辨率
衍射图样具有高分辨能力, 获得材料微观结构的详细信 息。
样品要求严格
需要高纯度、晶体完整性好 的样品进行实验。
结论和要点
通过X射线衍射分析,我们可以获得材料的相组成、晶格参数、结构优化等关 键信息。然而,应该注意样品要求和实验条件的严格性。
3 多晶体的衍射
多晶体中的晶粒表现出颗粒性质,多晶体的衍射可获取材料的晶体结构信息。
X射线衍射实验装置
X射线发生器
产生高能X射线束的设备,通常采用X射线管。
X射线衍射仪
用于测量和记录X射线衍射图样的仪器,包括衍射样品台和探测器。
数据分析设备
用于解析和处理实验数据的计算机软件和算法。
X射线衍射技术应用
《X射线衍射分析》课件
欢迎来到《X射线衍射分析》课程。本课程将深入探讨X射线衍射的基本原理、 实验装置以及技术应用等内容,帮助您全面了解这一重要的分析技术。
X射线衍射基本原理
1 布拉格定律
揭示了X射线衍射的几何关系,指导了衍射图样的解析。
2 结晶体的衍射
X射线与晶体相互作用,形成衍射图样,揭示了晶体的结构信息。
残余应力分析
利用衍射峰的偏移和变形,对材 料内部应力进行定量评估。

第三讲 X射线衍射

第三讲 X射线衍射
图1-2为金属中最常见的三种晶体结构的晶胞,分别 为体心立方结构、面心立方结构和六方密堆结构的晶胞。
晶体学概要-晶体结构
金属中最常见的三种晶胞
(a)体心立方结构晶胞 图1-2 金属中最常见的三种晶胞
晶体学概要-晶体结构
(b)面心立方结构晶胞 图1-2 金属中最常见的三种晶胞
晶体学概要-晶体结构
10
特征X射线的产生机理
当一个外来电子将K层的一个电子击
出成为自由电子(二次电子),这时
原子就处于高能的不稳定状态,必然
自发地向稳态过渡。此时位于外层较
高能量的L层电子可以跃迁到K层。能
量 差 ΔE=EL-EK=hν 将 以 X 射 线 的 形 式 放射出去,其波长λ=h/ΔE必然是个仅
仅取决于原子序数的常数。这种由
24
X射线的滤波
利用这一原理,可以合理地选用滤波材料。例如为使Ka和Kb 两条特征谱线中去掉一条,可以选择一种合适的材料制成薄 片,置于入射线束的光路中,滤片将强烈地吸收其中的某个 特征谱峰,而对另外一条则很少吸收,这样就可以实现单色ห้องสมุดไป่ตู้的特征辐射。
25
X射线与物质的相互作用
X 射
I0
线
λ0

t
晶体学概要-晶体的点阵
图1-4 石墨层的点阵 图1-4就是石墨二维结构所对应的点阵。点阵中的点称为阵点或结点, 它们都是几何点。如果把结构单元(即固定配位的原子)如图1-3,以 同样方式置于晶体点阵的每个结点上,如图1-4,就构成这种晶体的 晶体结构。
晶体学概要-晶体的点阵
称晶体点阵的基本重复单元为阵胞,它的外形与其对 应的晶胞一致。所以通常称描述晶胞外形的参数为点阵 参数,图1-5。

第一章X射线衍射基础

第一章X射线衍射基础

γ射线
X射线
UV
IR
可见光
微波
无线电波
10-15
10-10
10-5
100
波长(m)
105
X射线的产生
X射线管有多种不同的类型,目前小功率的都使用封 闭式电子X射线管,而大功率X射线机则使用旋转阳极 靶的X射线管。

-
1.2.3 X射线产生的条件
X射线产生的条件
能够提供足够供衍射实验使用的X射线,目前都是以阴极 射线(即高速度的电子流轰击金属靶)的方式获得的, 所以要获得X射线必须具备如下条件:
I=I0e-μlx 式中μl称之为线吸收系数,它相应于单位厚度的该种物体对X射
线的吸收,对于一定波长的X射线和一定的吸收体而言为常数。 但它与吸收体的原子序数Z、吸收体的密度及X射线波长λ有关, 实验证明,μl与吸收体的密度ρ成正比,即:
μl=μmρ 这里μm称为质量吸收系数,它只与吸收体的原子序数Z以及X射
本节的主要内容是由波的干涉加强的条件出发,推导出衍射线的方 向与点阵参数、点阵相对于入射线的方位及X射线波长之间的关系, 这种关系具体表现为劳厄方程式和布拉格方程式。
一、 劳厄方程式
为了求出X射线在晶体中的衍射方向,我们先求出一条行列对X射线的衍射 所遵循的方程式,设有一条行列I-Iˊ:
图中之点皆代表晶体结构中相当的质点的中心,其结点间距为a,入射X射 线S0与此行列的交角为0,波长为,假定在S1方向有衍射线,它与行列的 交角为h。
1. 相干散射
2. 非相干散射
3. 二次特征辐射(荧光辐射)
真吸收
俄歇效应Biblioteka 光电效应X射线与物质的相互作用
4. X射线的衰减
当X射线穿过物质时,由于受到散射,光电效应等的影响,强度 会减弱,这种现象称为X射线的衰减。

第七章 X射线衍射

第七章  X射线衍射
第一节 X射线的性质
X射线的本质与可见光、红外线、紫外线以 及宇宙射线完全相同,均属电磁波或电磁 辐射,同时具有波动性和粒子性特征,波长 较可见光短,约与晶体的晶格常数为同一 数量级,在10-8m左右。X射线波长的单位 用纳米(nm)来表示,也常用埃来表示。
图7-1 电磁波的波长分布范围
第一节 X射线的性质
(4)衍射仪的测量方法与实验参数 (5)点阵常数的精确测定
第九节 X射线物相分析
分析物质是由那些“相”组成的,而不 是元素或元素的含量(如待测试样为单质元 素或其混合物时,X射线物相分析出来的自 然是元素)。物相分析可得到元素的结合态 和相的状态。
一、定性分析的原理和分析思路
在卡片上列出物相名称、该物相经X射线衍射后 计算得到的d值数列和相对应的衍射强度I.这样 的卡片基本上可以反映物质的特有的特征。这种 方法是1936年创立的。1941年由美国材料试验 协会接管,所以卡片叫ASTM卡片,或叫粉末衍 射卡组,简称PDF。到1985年出版46,000张, 平均每年2,000张问世。目前由“粉末衍射标准 联合会”简称JCPDS和“国际衍射资料中 心”(ICDD)联合出版。较近期的书刊也将卡片称 之为JCPDS衍射数据卡片。
一、连续X射线谱
• 一般晶体分析用X射线机的使用电压约为 30-50kV,而管流为20-40mA左右,视X射线 的允许功率而定.
图7-4 连续与特征X射线谱
二、特征(标识)X射线谱
在图所示的阳极连续X射线谱上,当电压继 续升高.大于某临界值时,突然在连续谱 的某个波长处出现强度峰,峰窄而尖锐, 为便于观察,35kV的谱线示于下图。改变 管电流、管电压,这些谱线只改变强度而 峰的位置所对应的波长不变,即波长只与 靶的原子序数有关,与电压无关。

x射线衍射技术课

x射线衍射技术课

X射线衍射技术课程大纲一、课程简介X射线衍射技术是一门应用物理学和技术学科的交叉课程,旨在介绍X射线衍射的基本原理、实验技术和应用领域。

本课程主要面向物理学、材料科学、化学、生物医学等领域的研究生和高年级本科生。

二、课程目标通过本课程的学习,学生应该能够:1. 掌握X射线衍射的基本原理和数学模型;2. 了解X射线衍射技术的实验方法和设备;3. 掌握X射线衍射技术在材料科学、化学、生物医学等领域的应用;4. 能够独立设计和实施简单的X射线衍射实验。

三、教学内容1. X射线衍射基本原理:介绍X射线的产生、性质、波长和强度衰减等基本概念,以及布拉格方程(d/λ=n入/2d)用于描述衍射角度和晶面间距的关系。

2. 晶体学基础:介绍晶体的对称性、晶胞和点阵结构等基本概念,以及空间群表示和倒易空间等重要概念。

3. X射线衍射实验技术:介绍X射线源、探测器、样品制备、实验条件优化等实验技术要点,以及如何使用X射线衍射仪进行样品分析。

4. 应用领域:介绍X射线衍射技术在材料科学、化学、生物医学等领域的应用,如晶体结构解析、物相分析、应力测量、纳米尺寸测量等。

5. 实验设计和数据分析:教授学生如何根据研究目的设计简单的X射线衍射实验,并学会使用数据分析软件处理实验数据。

四、教学方法与手段本课程将采用理论讲授与实验实践相结合的教学方法,通过PPT、视频、案例分析等多种教学手段,帮助学生更好地理解和掌握课程内容。

五、课程评估课程评估包括平时作业、实验报告和期末考试三个部分。

平时作业应围绕课堂讲解的内容进行思考和讨论,实验报告需根据实际操作和数据分析撰写,期末考试则以笔试形式进行,全面考察学生对X射线衍射技术的掌握情况。

六、参考资料1. 《X射线衍射技术》教材;2. 相关学术期刊论文;3. 实验设备使用手册;4. 网络资源(如学术论坛、专业网站)上的相关资料。

七、课程结语最后,希望同学们通过本课程的学习,能够更加深入地了解X射线衍射技术的原理和应用,并在未来的学习和工作中能够熟练运用这一工具。

第九章广角X射线衍射

第九章广角X射线衍射
电子(反冲电子,俄歇电子,光电子) 荧光X射线
图9-5 X射线与物质的作用
9
在许多情况下,X射线衍射研究工作中使用单色X射线,而X 射线管发出的X射线有连续谱和特征谱。由于特征X射线产生尖锐 的衍射峰,而伴随的连续谱产生的是漫散射,影响特征X射线衍射 花样观察。因为非晶态的衍射本身就是漫散峰或晕环,连续谱漫 散射的存在,进入非晶散射,很难扣除,在这种情况下需要对X射 线进行单色化。
2. 空间点阵 在研究物质的晶体结构时,都是将其原子假定为刚性的小球, 彼此接触,紧密地按一定规则堆积在一起的。如图9-10所示的 NaCl晶体模型,为了便于分析原子在晶体中的排列规律,可以将 它抽象为一些几何点,每个点代表原子的中心,或是原子的振动 中心。这些几何点的空间排列称为空间点阵,或简称为点阵。
1
2
Sˊ ︳Sˊ- S ︱= 2sinq
q
q
d
2q
d
S’
20
当前第20页\共有63页\编于星期五\22点
图9-14 X射线衍射示意图
二、布拉格方程的讨论 (一)产生衍射的条件 衍射只产生在波的波长和散射中间距为同一数量级或更小的
时候。 (二)反射级数与干涉指数 布拉格方程nλ=2dˊsinθ表示面间距为dˊ的(hkl)晶面上产生
及其强度之间的比例不变。
8
当前第8页\共有63页\编于星期五\22点
3. X射线与物质的作用
X射线在通过物质时都存在着某种程度的吸收,吸收作用 包括散射和“真吸收”。
散射分为相干散射和非相干散射。 真吸收是由于光电效应造成的。
入射X射线 I0, l0
当前第9页\共有63页\编于星期五\22点
热能
透射X射线 散射X射线(l=l0 相干散射和l1>l0非相干散射)

第一章X射线衍射分析教学讲义

第一章X射线衍射分析教学讲义

Z
立方晶格的倒易变换
0.25 Å-1
Y

b
(010)
020 120 220 X H220
(220)
(110) (100)
(210)
c
a
正晶格
b* 010 110
210
H110
H210
C
100
200
* 000 a*
倒易晶格
2020/5/21
倒易点阵的性质
•与正空间点阵类似倒易点阵亦有点阵方向、点阵 平面和点阵矢量。 •倒易点阵单胞的体积V*与正空间点阵单胞的体 积 V亦有倒易关系。 •倒易点阵与正空间点阵互为倒易,倒易点阵的倒 易点阵是正空间点阵。
1/u
式 中:F——结构因子; P——多重性因子; 分式为角因子,其中θ为衍射线的布拉格角; e-2M ——温度因子; 1/u-吸收因子。
以下重点介绍结构因子F
2020/5/21
1 一个电子的散射
O点处有一电子,被强度I0的X射线照射发生受迫振 动,产生散射,相距R处的P点的散射强度Ie为:
Ie
I0
2020/5/21
归纳:在衍射图上出现非零衍射的位置取决于晶胞 参数;衍射强度取决于晶格类型。
晶格类型 简单晶胞 体心I 面心F 底心C
消光条件 无消光现象
h+k+l=奇数 h、k、l奇偶混杂
h+k=奇数
2020/5/21
注意:衍射条件与消光条件正好相反。
晶格类型 简单晶胞 体心I 面心F 底心C
2020/5/21
质量衰减系数μm
• 表示单位重量物质对X射线强度的衰减程 度。
ห้องสมุดไป่ตู้
• 质量衰减系数与波长和原子序数Z存在如

XRD培训ppt

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连续X射线
具有连续波长的X射线,构成连续X射线谱, 它和可见光相似,亦称多色X射线。
Intensity
50 kV
2
40 kV
1
30 kV
20 kV
0 0.0 0.2 0.4 0.6 0.8 1.0
wavelength
产生机理 短波限 X射线的强度
短波限
连续X射线谱在短波方向有一个波长极限,称为短波 限λ0。它是由电子一次碰撞就耗尽能量所产生的X射 线。它只与管电压有关,不受其它因素的影响。
积上发射出X射线。
D8 advance衍射仪中:
线焦斑面积:0.4*12mm
X射线谱
X射线谱指的是X射线的强度随波长变化的关系曲线。X 射线强度大小由单位面积上的光量子数决定。
由X射线管发射出来的X射线可以 分为两种类型:
(1)连续(白色)X射线 (2)特征(标识)X射线 连续辐射,特征辐射
发散狭缝
索拉狭缝 防散射狭缝
发散狭缝 防散射狭缝
D8 可以轻松的实现聚焦光和平行光的转换
实际测试过程参数的设置
1. 狭缝越大,强度越大,但是分辨率越低。
2.
1.2S dewell time 0.1S dewell tim
实际的测试过程中要注意的问题
(1). 过小的样品对于衍射测试的影响: 实际测试样品尺寸随着角度的变化曲线:
X射线衍射技术的主要应用领域
1,晶体结构分析:人类研究物质微观 结构的第一种方法。 2,物相定性分析 3,物相定量分析 4,晶粒大小分析 5, 非晶态结构分析,结晶度分析 6,宏观应力与微观应力分析 7,择优取向分析
伦 琴
产生原理
高速运动的电子与物体碰撞时,发生能量转换,电子 的运动受阻失去动能,其中一小部分(1%左右)能 量转变为X射线,而绝大部分(99%左右)能量转变 成热能使物体温度升高。

《X射线衍射分析》全册完整教学课件

《X射线衍射分析》全册完整教学课件
I连 =iZU 2
X射线管发射连续X射线的效率η为:
连续X射线总强度 X射线管功率
iZU 2
iU
ZU
当用钨阳极(Z=74),管电压为100kV时,η≈1%,可见效率是 很低的。
连续X射线的用途
连续X射线的用途不多,只有劳埃法才用它。 在其它方法中它只能造成不希望有的背景。
连续X射线(小结)
……
K系特征X射线
当原子K层的电子被打掉 出现空位时,其外面的L、M、 N…… 层 的 电 子 均 有 可 能 回 跃到K层来填补空位,由此 将产生K系特征X射线,
高能电子
包括L层电子回跃到K层产生的Kα特征X射线,M层电子回跃 到K层产生的 Kβ特征X射线和N层电子回跃到K层产生的Kγ 特征X射线。
适宜的管电压选用激发电压 的3-5倍,这时特征射线和连 续射线的强度比最大,峰背 比最高,对于利用特征射线 最为有利。
特征X射线的相对强度
特征X射线的相对强度决定于电子在各能级间的跃 迁几率。由于L层电子比M层电子跃入K层的几率 大,所以Kα线比Kβ线强。
因为L3子壳层上的电子数比L2子壳层上的电子数 多1倍。L3子壳层比L2子壳层的电子跃入K层的几 率大,所以Kα1线比Kα2线强。
X射线衍射分析全册完整 教学课件
X射线衍射分析
伦琴 1845-1923
1895年发现X射线 1896年正式发表 1901年获诺贝尔物理学奖
1912年,劳厄(Max Von Laue,1879-1960)证实
X射线穿过硫化锌晶体后会产生衍射,在底片上出
现四次对称的衍射斑点,既证实了X射线具有波动 性,又验证了晶体具有周期性,标志着原子尺度
这里的µm(= µl /ρ)称为质量吸收系数,表示单位 质量物质对X射线的吸收程度。它只与X射线的 波长以及吸收物质的原子序数有关,与材料的厚 度和密度无关。因此,它可以反映不同元素吸收 X射线的能力。

XRD培训

XRD培训
优点与局限性
XRD测量残余应力具有非破坏性、高精度、可重复性好等优点。但是,该方法也存在一些 局限性,如只能测量表面或近表面的残余应力、对样品制备要求较高、测量时间较长等。
织构现象及其表征方法
织构现象
织构是指多晶体材料中晶粒取向分布的状态。在材料加工过程中,由于受到外力 或热力的作用,晶粒会发生转动和重排,导致晶粒取向分布的不均匀性,即织构 现象。
未来发展趋势预测
技术创新
随着同步辐射、自由电子激光等先进光源技术的发展, XRD技术将实现更高的分辨率、更快的分析速度和更丰富 的信息获取能力。
多技术融合
XRD技术将与其他表征手段(如电子显微镜、中子散射等 )实现更紧密的融合,为材料研究提供更全面的视角。
应用拓展
随着新能源、新材料等战略性新兴产业的快速发展,XRD 技术将在更多领域发挥重要作用,如能源存储与转换、生 物医学、环境科学等。
样品台
放置待测样品的装置,可以调整样品的位置和角度。
探测器
接收经过样品衍射后的X射线信号,并将其转换为电信号 进行测量。
数据处理系统
对探测器输出的电信号进行处理和分析,得到样品的衍射 数据和图谱。
常见XRD实验方法
粉末法
将待测样品研磨成粉末状,然后压制 成片或填充到样品槽中进行测量。粉 末法适用于多晶和非晶样品的测量。
选择适当的研磨方法和时 间,确保粉末粒度均匀且 符合实验要求。
片状样品制备
通过切割、研磨和抛光等 步骤,获得平整且无应力 的片状样品。
特殊样品制备
针对液体、薄膜等特殊样 品,采用相应的制样方法 以满足实验需求。
实验参数设置与优化
X射线源选择
根据实验需求和样品特性,选择合适的X射线源及相应的波长。

第一章X射线衍射分析

第一章X射线衍射分析

第一章X射线衍射分析第一篇:第一章X射线衍射分析第一章1.讨论同一物质的吸收谱和发射谱概念中二者之间的关系:2.名词解释:相干散射、不相干散射、荧光辐射、吸收限、俄歇效应。

3.X射线的本质是什么? 4.连续X射线的特点?5.相干散射和非相干散射的特点?6.特征X射线谱与连续谱的发射机制之主要区别何在?7.试述由布拉格方程与反射定律导出衍射矢量方程的思路。

8.当波长为λ的X射线照射到晶体并出现衍射线时,相邻两个(hkl)反射线的波程差是多少?相邻两个(HKL)反射线的波程差又上多少? 9,判别下列哪些晶面属于[111]晶带:(110),(231),(231),(211),(101),(133),(112),(132),(011),(212)10.概念:晶面指数与晶向指数、晶带、干涉面、X射线散射、衍射与反射。

11.试述布拉格公式2dHKLsinθ=λ中各参数的含义,以及该公式有哪些应用?12.当X射线在原子上发射时,相邻原子散射线在某个方向上的波程差若不为波长的整数倍,则此方向上必然不存在反射,为什么?13.当波长为λ的X射线在晶体上发生衍射时,相邻两个(hkl)晶面衍射线的波程差是多少?相邻两个HKL干涉面的波程差又是多少?第二篇:X射线衍射分析X射线衍射分析实验目的1、了解X衍射的基本原理以及粉末X衍射测试的基本目的;2、掌握晶体和非晶体、单晶和多晶的区别;3、了解使用相关软件处理XRD测试结果的基本方法。

实验原理1、晶体化学基本概念晶体的基本特点与概念:①质点(结构单元)沿三维空间周期性排列(晶体定义),并有对称性。

②空间点阵:实际晶体中的几何点,其所处几何环境和物质环境均同,这些“点集”称空间点阵。

③晶体结构=空间点阵+结构单元。

非晶部分主要为无定形态区域,其内部原子不形成排列整齐有规律的晶格。

对于大多数晶体化合物来说,其晶体在冷却结晶过程中受环境应力或晶核数目、成核方式等条件的影响,晶格易发生畸变。

X射线衍射分析方法和应用专题培训课件ppt

X射线衍射分析方法和应用专题培训课件ppt
确定衍射强度 I
粉末衍射图谱可提供的信息
峰位 面间距d → 定性分析
点阵参数 d漂移 → 残余应力
固溶体分析
强 度
半高宽 结晶性 微晶尺寸
非晶质的积分强度 结晶质的积分强度 定量分析
结晶度
角度(2θ)
实验方法
1、制备样品的方法
• 正压法: • 2)背压法:
2、计数测量方法
1)连续扫描方式 (也称叠扫)
发散狭缝K 样品D 防散射狭缝L
梭拉狭缝S1
梭拉狭缝S2
计数器C 接收狭缝
单色器
焦斑S
接收狭缝F
➢由样品D发出的衍射线, ➢通过防散射狭缝L, 第二组梭拉狭缝S2,
➢会聚于接收狭缝F, ➢再经单色器, 进入计数器C。
发散狭缝K 样品D 防散射狭缝L
梭拉狭缝S1
梭拉狭缝S2
计数器C 接收狭缝
单色器
焦斑S
➢图d 为CaTiO3的XRD谱。 ➢可见: SrTiO3-CaTiO3系固溶体的XRD 谱图与SrTiO3的XRD谱图相似,由于 CaTiO3的加入使峰值、峰形稍有变化。 ➢而混合物的衍射图则是由SrTiO3和 CaTiO3的衍射图叠加而成的,这两种物相 各自的衍射峰清晰可辨。
XRD的应用之三:薄膜材料物相分析
• 定性分析的基本方法:
将由试样测得的衍射花样的d-I数据组与 已知结构的标准衍射花样的d-I数据组(PDF 卡片)进行对比,从而鉴定出试样中存在 的物相。
粉末衍射卡(Powder Diffraction File,简 称PDF)
➢PDF标准卡分为有机物和无机物两大类, ➢每张卡片记录一个物相。 ➢为说明卡片内容,可将卡片分为10个区。
10
PDF卡的内容分述如下: 区间la、1b、1c:低角度区(2<90°) 的

《X射线衍射基础》课件

《X射线衍射基础》课件
《X射线衍射基础》PPT 课件
X射线衍射基础课程将为您介绍X射线衍射的概念、原理、仪器以及应用。掌 握这一重要的分析技术,并了解其在晶体结构分析、粉末衍射和表面膜研究 中的应用。
引言
X射线衍射的概念及历史背景 X射线衍射的应用领域
原理
X射线的产生及特性
探索X射线是如何产生并具有特殊特性的。
散射和衍射
2
衍射峰的解析
深入分析衍射峰以获得更多有关晶体结构的信息。
3
衍射峰的量化分析
学习如何定量分析衍射峰以获得更准确的结果。
X射线衍射的应用
晶体结构分析
探索X射线衍射在研究晶体结 构和分子排列中的应用。
Байду номын сангаас
粉末衍射
学习如何使用粉末衍射技术 分析材料的结晶质量和成分。
表面膜之X射线衍射
了解如何利用X射线衍射研究 薄膜的生长和性质。
理解X射线的散射和衍射现象,以及与晶体结构的关系。
晶体的结构和衍射
了解晶体的结构是如何导致X射线的衍射图案。
X射线衍射仪器
实验装置
探索用于执行X射线衍射实验的仪器和设备。
数据采集
学习如何从X射线衍射实验中收集宝贵的数据。
X射线衍射分析方法
1
Bragg衍射定律
熟悉Bragg衍射定律并了解其在分析中的应用。
总结
1 X射线衍射的重要性
总结X射线衍射技术在科学研究和工业应用中的重要性。
2 进一步研究和应用的展望
展望未来,探索更多关于X射线衍射的研究和应用领域。

第1篇7X射线衍射法(高分子性能与测试技术)

第1篇7X射线衍射法(高分子性能与测试技术)

微晶取向通常指大量晶粒的待定晶轴或晶面相对于某个参考 方向或平面的平行程度。 高分子材料中:
指分子链与某个参考方向或平面平行的程度。
晶区链取向、非晶区链取向、折叠链取向、伸直链取向
不同方向的微晶取向导致不同方向上力学性能的差异。 X射线衍射法测定微晶取向表征方法: 1)极图 2)Hermans 因子f 3)轴取向指数R
Xc
Ic I c kI a
X c ---质量结晶度
I c ---晶态部分衍射强度
I a ---非晶态部分衍射强度
k ---相对射线系数
2021/8/2
22
近似结晶度<Xc>
Xc
Sc Sc Sa
Sc:各衍射峰面积之和 Sa:弥散隆峰面积
2021/8/2
IPP 等规聚丙烯 APP 无规聚丙烯
23
3. 微晶取向测定
300
半晶态聚合物
I(CPS)
200
2)聚合物鉴定
3)识别晶体类型
2021/8/2
100
0
10
20
30
40
2/o
壳聚糖X射线衍射谱图 17
2)聚合物鉴定
对于非晶态聚合物:
对于结晶性聚合物:
将衍射图与已知某种非晶聚合物 在同样实验条件下的衍射图比较, 看隆峰的峰位2θ是否吻合,并观 察峰形是否相符,用于初步推断 样品。
2021/8/2
15
2. 物相分析
物相分析采用的两种方法:
(1)实验得到样品的衍射图,将之与已知物相在相同实 验条件下的衍射图直接比较,根据峰位2θ、相对强度
I/I0、样品结构已知信息等判别代定物相。
(2)实验得到待定样品衍射图,求出各衍射峰对应的面

X射线衍射培训教材

X射线衍射培训教材

将这两个方程式联立求解可得:
h1
k1
l1
h1
k1
l1
h2
k2
l2
h2
k2
l2Leabharlann u=k1l2-k2l1 v=l1h2-l2h1 w=h1k2-h2k1
同理,某晶面(hkl)同属晶带[u1v1w1 ]和 [u2v2w2]时,求该晶面指数的计算方法同上。
晶面间距的计算公式 :
立方晶系: d
a
h2 k2 l2
第一讲 X射线衍射
X射线衍射方向
可见光的干涉条件:
两束或两束以上的波,其振动方向相同、频率相同、 位相恒定,而且须是由同一个点光源发出的。
X射线在晶体中的相干散射除满足上述条件,但还需作以 的近似或假设:
• X射线是平行光,且只有单一波长(单色) • 电子皆集中在原子中心(因为原子间距远大于 核外电子距离,所以这种近似是可行的) • 原子不作热振动,因为在讨论问题时,假设 原子间距没有任何变化
对于二维方向的平行晶面,倒易点阵为二维的图形
图中实线为单斜晶 系正点阵的ac平面,b 轴与图面垂直,格点用 小圆圈所代表。其对应 的倒易点阵用虚线表示, 格点用黑点表示。
倒易格点100、001 分别在正点阵的(100) 和(001)晶面的法线 上,且
g100
a* 1 d100
g001
c*
1 d001
a * 和 c 的* 夹角为 ,这里 ,*
* 180o
即 和 互为 *补角;倒易点阵与正点阵的阵胞具有相似的
形状,但相当于绕原点旋转了90度。
注:三斜和三方晶系无这种互补关系.
衍射的概念与布拉格方程
波的合成:
An
B(n1)

x射线衍射实验教材

x射线衍射实验教材

x射线衍射实验教材
以下是一些常用的X 射线衍射实验教材:
1. 《X射线衍射实验》(作者:李晓东、李晓红):该教材是一本系统介绍X 射线衍射实验原理、方法和应用的教材,内容包括X 射线衍射基本原理、衍射实验仪器、晶体结构分析等方面的内容。

2. 《X射线衍射实验教程》(作者:陈志刚、李晓东):该教材是一本介绍X 射线衍射实验基本原理和实验方法的教材,内容包括X 射线衍射实验仪器、晶体衍射图样的基本特征、衍射峰的解析等方面的内容。

3. 《X射线衍射实验与分析》(作者:陈志刚、王志强):该教材是一本介绍X 射线衍射实验原理、方法和应用的教材,内容包括X 射线衍射实验仪器、衍射图样的解析方法、晶体结构分析等方面的内容。

4. 《X射线衍射分析技术》(作者:李晓东、陈志刚):该教材是一本介绍X 射线衍射实验原理和应用的教材,内容包括X 射线衍射实验仪器、晶体衍射图样的基本特征、衍射峰的解析、晶体结构分析等方面的内容。

5. 《X射线衍射实验与应用》(作者:张志华、王建军):该教材是一本介绍X 射线衍射实验原理和应用的教材,内容包括X 射线衍射实验仪器、晶体衍射图样的解析方法、
晶体结构分析、衍射峰的修正和应用等方面的内容。

以上教材都是比较常见的X 射线衍射实验教材,可以根据自己的需求选择适合的教材进行学习。

第六讲X射线衍射分析

第六讲X射线衍射分析
与被吸收的X-Ray光子的能量呈正比关系。
闪烁计数器

闪烁计数器:是利用X射线激发某些固体物质(磷光体)发射
可见荧光并通过光电倍增管放大的计数器.

闪烁计数器须在低温环境下工作。循环水冷却或其它降温
方式。

闪烁计数器与正比计数器是目前使用最为普遍的计数
器.要求定量关系较为准确的情况下习惯使用正比计数器,
•结构及过程: •正比计数器结构中存在阴极,阳极,阴极和阳极之间加有一定电 压V ,X -Ray进入窗口后,被气体分子吸收并使气体分子电离成为
电子和正离子。(雪崩效应)在电场的作用下,电子向阳极移动,
正离子移向阴极,形成一定电流。
正比计数管
(1)正比计数管对脉冲分辨能力高,不会有明显的
计数损失。
(2)当电压一定时,正比计数管所产生的脉冲大小
盖革计数器的使用已逐渐减少.
衍射仪的工作方式

多晶体衍射仪计数测量方法分为连续扫描和步进(阶梯)扫 描两种。 连续扫描法:将计数器与计数率仪相连接,在选定的2角 范围内。计数器以一定的扫描速度与样品(台)联动扫描测 量各衍射角相应的衍射强度,结果获得I-2曲线。 连续扫描方式扫描速度快、工作效率高,一般用于对样品
的. D 布拉格方程就是布拉格定律.
材料化学研究方法 3
2018/11/7
• 下列哪种条件是衍射产生的充要条件?
A
B
厄瓦尔德图解
布拉格方程+反射定律
C
D
布拉格定律+([F]2≠0)
劳埃方程
2018/11/7
材料化学研究方法
4
• 表征晶胞散射能力的因数,称为
A
B C D
偏振因子
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(h
2 2
k
2 2
)
/
a2
l
2 2
/
c2
六方晶系:cos
4 3a 2
[h1h 2
k1k 2
1 2
(h1k 2
h 2 k1 )]
l1l2 c2
4 3a 2
(h12
h1k1
k12 )
l12 c2
4 3a 2
(h
2 2
k2h2
k
2 2
)
l22 c2
倒易点阵概念
为了能够简便地解决晶体学中的一些问题和更清 楚地解释各种衍射问题,现在引入一种新的几何图形 ——倒易点阵,它是在空间点阵(晶体点阵、正点阵 )的基础上按照一定的对应关系建立起来的,它也是 一种点的集合,是一种数学模型。
fcc :银、铝、金、铂、铜、镍、铅、铁;
hcp :镉、镁、锌、α铍、α钛、α钴、α锆
、铼等;
bcc :铬、钾、钠、钨、钼、钽、铌、钒、α 铁、β钛等。
单质金属还有菱方结构(铋、锑、汞);正方结
构(铟、β锡)、斜方结构(镓、α铀)等。
晶面与晶向
晶面指数(密勒指数 )的确定方法:
1.在一组互相平行的晶面中任选一个晶面,量出它在三 个坐标轴上的截距并以点阵周期 a、b、c 为单位来 度量;
第一讲
X射线衍射
X射线衍射方向
可见光的干涉条件:
两束或两束以上的波,其振动方向相同、频率相同 、位相恒定,而且须是由同一个点光源发出的。
X射线在晶体中的相干散射除满足上述条件,但还需作以 的近似或假设:
• X射线是平行光,且只有单一波长(单色) • 电子皆集中在原子中心(因为原子间距远大于 核外电子距离,所以这种近似是可行的) • 原子不作热振动,因为在讨论问题时,假设原 子间距没有任何变化
h2
k2
l2
h2
k2
l2
u=k1l2-k2l1 v=l1h2-l2h1 w=h1k2-h2k1
同理,某晶面(hkl)同属晶带[u1v1w1 ]和[u2v2w2] 时,求该晶面指数的计算方法同上。
晶面间距的计算公式 :
立方晶系: d
a
h2 k2 l2
正方晶系: d
1
h2 k2 l2
a2
c2
六方晶系: d
a
4 (h2 hk k2 ( a )2 l2
3
c
晶面夹角计算公式:
立方晶系:
cos
h1h 2 k1k 2 l1l2
h12 k12 l12
h
2 2
k
2 2
lБайду номын сангаас2
正方晶系:
cos
h1h2 k1k2 a2
l1l2 c2
(h12 k12 ) / a 2 l12 / c2
2.写出三个截距的倒数; 3.将三个倒数分别乘以分母的最小公倍数,把它们化为
三个简单整数 h、k、l,再用圆括号括起,即为该组 晶面的晶面指数,记为(hkl)。
h 、k、l 为互质整数。
空间位向和性质完全相同的晶面属于同一晶面族 ,用大括号{hkl}来表示。
对正方晶系由于a=b≠ c,因此{100}被分成两组 ,其中四个晶面属于一族晶面。
倒易点阵是由被称为倒格点或倒易点的点所构成 的一种点阵,它也是描述晶体结构的一种几何方法, 它和空间点阵具有倒易关系。
晶体点阵的倒易点阵:
由于衍射现象总涉及晶体学平面(hkl),为方便,可引入
(hkl)晶面的倒易矢量g
组成倒易点阵的基矢被定义为
a, b, c为晶体真实点阵的基矢。由无数的g构成的阵列形
因为 d100 2d200
所以
g100
1 d100
1 2d200
1 1 2 d200
1 2
g 200
对于二维方向的平行晶面,倒易点阵为二维的图形
图中实线为单斜晶系正 点阵的ac平面,b轴与图面 垂直,格点用小圆圈所代表 。其对应的倒易点阵用虚线 表示,格点用黑点表示。
晶体几何学基础
晶体:原子或原子团在三维空间周期排列所
构成的固体。 非晶体:原子不呈周期排列。如液体、气体、
玻璃等。 对晶体的描述方法有如下的约定:
空间点阵
结点:用几何点代替原子或原子团。
空间点阵:将相邻结点按一定的规则用线连接起 来便构成了与晶体中原子(原子团)的排布完 全相同的骨架。
注意:要所有的结点的几何环境与物理环境是相 同的,也就是说结点应当是等同环境的点。
成一倒易点阵,它与原来晶体的实点阵互为倒易。
倒易矢量的性质
倒易矢量g 与晶体(hkl)晶面之间满足两个关系:
1. 倒易矢量g的长度等于相应晶面间距的倒数 2. 倒易矢量g的方向垂直于相应的晶面
|k|=1/
Bragg公式可以用相应的倒易矢量g和波矢k表示
举例
1)对于互相平行的晶面, 倒易点阵为一维的图形。
均属于同一个晶带,这些晶面叫做晶带面。 晶带轴:
通过坐标原点那条平行直线。 晶带轴的晶向指数即为该晶带的指数。
晶带定律:
hu + kv + lw = 0
已知某晶带中任意两个面指数,求晶带轴数:
h1u+k1v+l1w=0 h2u+k2v+l2w=0
将这两个方程式联立求解可得:
h1
k1
l1
h1
k1
l1
晶面指数由(hkil)表示。其中前三个指数只有两个是独 立的,它们之间存在如下关系 i = - ( h + k ) 因第
三个指数可以由前两个求得,故有时将i略去,可以写成 (hkl)或(hk.l)。
六方晶系中四轴定向的晶向指数用[ uvtw ]来表示。
晶带、晶面间距和晶面夹角
晶带:
在晶体结构和空间点阵中平行于某一轴向的所有晶面
单胞的选择原则:
等长度的轴要多,90°的晶轴角要多,晶胞 体积要小。即:两多一小。这样对于同一类点 阵的单胞形状和大小便唯一确定
常见晶体结构
每一种布拉菲点阵都可以代表许多种晶体结构。图 (a)、(b)、(c)三种不同的晶体结构,同属于一种 布拉菲点阵(d)。
常见金属晶体结构有面心立方(fcc)、密排六方 (hcp)、体心立方(bbc):
晶向指数的确定方法为: 1.在一族互相平行的结点直线中引出过坐标原点
的结点直线;
2.在该直线上选距原点最近的结点,量出它的结 点坐标;
3.将三个坐标值用方括号括起,即为该族结点直 线的晶向指数。
当泛指某晶向指数时,用[uvw]表示。
六方晶系的晶面和晶向指数:
四轴定向法,称为密勒-布拉菲指数。
单胞:整个空间点阵可以由一个最简单的六面 体在三维方向上重复排列而得
晶系
1848年,法国的晶体学家布拉菲(Bravais)证 实了七种晶系中总共可以有十四种点阵,称这十 四种点阵为布拉菲点阵。
属于一个单胞的结点数:
N=Ni+Nf/2+Nc/8
Ni 、Nf 、Nc 分别为单胞内、单胞面 上 、单胞角上的结点数。
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