一个适用于模拟电路的深亚微米SOIMOSFET器件模型

一个适用于模拟电路的深亚微米SOIMOSFET器件模型廖怀林;张兴;黄如;王阳元
【期刊名称】《半导体学报：英文版》
【年(卷),期】2001(22)3
【摘要】从数值解源端和饱和点的表面电势出发 ,考虑模拟电路对 SOI MOSFET 模型的一些基本要求如电荷守恒、器件源漏本征对称、各个工作区间连续并且高阶可导以及全耗尽和部分耗尽两种工作模式的转变 ,构建了一个能够满足这些要求的精确的器件模型 .同时包含了深亚微米 SOI MOSFET的一些二级效应如漏极诱生势垒降低效应 (DIBL )、速度饱和效应、自热效应等 .这个模型的参数相对较少并且精确连续。

【总页数】6页(P329-334)
【关键词】深亚微米器件;模拟电路;SOI;MOSFET;模型
【作者】廖怀林;张兴;黄如;王阳元
【作者单位】北京大学微电子所
【正文语种】中文
【中图分类】TN386.1
【相关文献】
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