Mura 产生原因
显示器件制造中的缺陷预防与工艺改进考核试卷
18.以下哪些方法可以用来提高显示器件的抗干扰能力?()
A.优化TFT结构设计
B.提高驱动电路的抗干扰能力
C.增加屏蔽层
D.选用高抗干扰性能的液晶材料
19.下列哪些措施可以改善显示器件在极端温度下的性能?()
A.选择宽温度范围的液晶材料
B.优化TFT和驱动电路设计
C.改进背光源的热管理
D.使用耐低温的密封胶
A.优化包装设计
B.提高装配人员的操作技能
C.使用防震缓冲材料
D.加强运输途中的监控
16.下列哪些因素会影响显示器件的长期稳定性?()
A.液晶材料的热稳定性
B. ITO电极的耐久性
C.密封胶的耐老化性
D.基板的机械强度
17.在显示器件制造中,哪些因素会影响成本控制?()
A.原材料成本
B.能源消耗
C.设备折旧
A.生产线的自动化程度
B.工艺流程的优化
C.人员的操作技能
D.材料的准备时间
9.以下哪些措施可以减少显示器件制造过程中的返修率?()
A.提高生产设备的精度
B.加强员工的培训
C.引入在线检测系统
D.优化工艺参数
10.下列哪些材料在显示器件制造中用作保护膜?()
A.聚乙烯
B.聚酰亚胺
C.硅橡胶
D.环氧树脂
五、主观题(本题共4小题,每题10分,共40分)
1.请简述显示器件制造过程中可能导致液晶泄漏的主要原因,并提出相应的预防措施。
2.描述TFT-LCD制造中的光刻工艺的基本步骤及其在显示器件性能中的作用。
3.针对显示器件的Mura现象,列举三种可能的原因,并说明如何通过工艺改进来减少这种现象。
4.讨论如何通过改进显示器件的制造工艺来提高其长期稳定性和使用寿命。
mura产生原理
mura产生原理Mura产生原理Mura是指液晶显示器中出现的亮度不均匀现象,即屏幕上出现了黑暗或亮度不一致的区域。
这种现象通常是由于液晶显示器制造过程中的不完美或外部环境因素引起的。
下面将从液晶显示器的结构、液晶分子排列和电场作用等方面介绍Mura产生的原理。
液晶显示器是由多个液晶单元组成的,每个液晶单元包含一个液晶分子层和两个电极。
液晶分子层是一种有机化合物,具有一定的电介质特性。
当外加电场作用于液晶单元时,液晶分子会发生排列,从而改变光的传播方式,实现图像的显示。
然而,由于制造过程中的一些影响因素,液晶显示器中的液晶分子排列不可避免地会出现一定程度的不均匀性。
这就是导致Mura现象的一个重要因素。
液晶分子排列的不均匀性主要表现为以下几个方面:1. 液晶分子方向不一致:液晶分子在不同区域的方向可能存在微小的差异,导致光的传播方向也不一致,从而在屏幕上形成亮暗不均的区域。
2. 液晶分子排列密度不均匀:液晶分子排列的密度不均匀也会导致光的传播方式不同。
在某些区域,液晶分子排列较为紧密,光的透过率较低,而在其他区域,液晶分子排列较为疏松,光的透过率较高,从而形成明暗差异。
3. 液晶分子层厚度不一致:液晶分子层的厚度不一致也会导致Mura现象的出现。
液晶分子层厚度的不均匀性会引起光的相位差,进而影响光的干涉和衍射效应,使得屏幕上出现光强不均的现象。
除了液晶分子排列的不均匀性,Mura现象还受到其他因素的影响,例如背光源的不均匀性、温度的变化等。
背光源的不均匀性会导致液晶显示器的亮度不一致,从而形成Mura现象。
而温度的变化会引起液晶分子的扭曲和展开,进而影响液晶分子的排列和光的传播。
为了解决Mura现象,制造商会采取一些措施。
例如,通过优化液晶分子的配方和制造工艺,减小液晶分子的方向和密度的不均匀性。
此外,还可以通过改进背光源的设计和温控系统,减少背光源和温度对Mura现象的影响。
总结起来,Mura现象是液晶显示器中常见的一种亮度不均匀现象。
Mura产生原因解读
Updated :10/19/2018 Printed Date :10/19/2018 Rev.1.0
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ND的使用
使用10% ND檢 驗Mura仍清楚 可見
使用8% ND檢 驗Mura較不 明顯
使用6% ND檢 驗Mura不可見
Updated :10/19/2018 Printed Date :10/19/2018 Rev.1.0
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Mura的判定
? Mura的判定通常於50%Gray pattern 畫 面判定,其judge的方式可採用 limit sample or ND filter。
? ND Filter--ND為在可見光波常範圍下能提供相當穩定平穩的響應, 主要功能在於降低光源之透光率。
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Mura 的成因
為何會有Mura產生—就LCD製程而 言
? Cell gap—cell gap的不均,偏高或偏低階會造成mura 的現象。
? Spacer—spacer散佈的均勻性及spacer本身原材料的均 勻性都有可能影響mura的產生。
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Mura 的成因
為何會有Mura產生—就CF製程而言
? 膜厚—因為膜厚的Coating不均,導致產 生色不均之現象。
? Coating—光阻於coating時若噴嘴有阻塞 的情況,即會造成vertical mura。
Updated :10/19/2018 Printed Date :10/19/2018 Rev.1.0
Mura产生原因
Updated:11/20/2018 Printed Date:11/20/2018 Rev.1.0
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Mura的成因
為何會有Mura產生—就人為因素而 言
不當拿取—因拿取Panel方式不當,手指按壓到面板的 力量過大,易造成丸狀mura。
使用8% ND檢 驗Mura較不 明顯
使用6% ND檢 驗Mura不可見
Updated:11/20/2018 Printed Date:11/20/2018 Rev.1.0
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各種Mura
Updated:11/20/2018 Printed Date:11/20/2018 Rev.1.0
Symptom:Diagonal Mura Description:50%灰階畫面可看見斜向帶 狀Mura。 Defect photo:
Defect photo:
Updated:11/20/2018 Printed Date:11/20/2018 Rev.1.0
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Defect photo:
Defect photo:
Updated:11/20/2018 Printed Date:11/20/2018 Rev.1.0
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各種 Mura
Symptom:Corner Mura Description:5%&50% gray scale pattern 可見角落處mura。
液晶显示器Mura缺陷及测量方法浅析
液晶显示器 Mura缺陷及测量方法浅析摘要:近年来,液晶显示器迎来一定的快速发展,使得相关显示器应用范围明显扩大。
但与此同时,发生Mura缺陷的几率明显增大。
为了使设备应用水平得到全面提升,要对影响其质量的因素加强重视。
同时在合理分析处理机制的前提下,来对液晶显示器Mura缺陷进行科学判断。
另外在科学有效的测量方法的基础上,使Mura缺陷发生几率得到有效控制。
本文将液晶显示器Mura缺陷的内涵以及种类当成切入点,对Mura缺陷的成因进行详细阐述,同时提出相关的测量方法,进而为液晶显示器的质量提供保障。
关键词:液晶显示器;Mura缺陷;测量方法Abstract: In recent years, liquid crystal displays have ushered in a certain rapid development, which has significantly expanded the application range of related displays. But at the same time, the probability of Mura defects has increased significantly. In order to improve the application level of equipment, it is necessary to pay more attention to the factors that affect its quality. At the same time, under the premise of a reasonable analysis and processing mechanism, scientific judgments are made on the Mura defect of the liquid crystal display. In addition, on the basis of scientific and effective measurement methods, the probability of Mura defects can be effectively controlled. This article regards the connotation and types of Mura defects in liquid crystal displays as an entry point, elaborates on the causes of Mura defects, and proposes related measurement methods to ensure the quality of liquid crystal displays.Keywords: liquid crystal display; Mura defect; measurement method液晶显示器自身具有明显的复杂性,不仅生产流程复杂程度较高,还对生产环境有较高的要求,即生产车间需要保持无尘状态。
车载显示屏Mura 及检查方法
No photos
Confidential
26
什么是Mura Mura定义说明 Mura影响和产生原因 常见Mura种类 人工检查方法
测量 环境
人员
检验 mura
方法
机械 物料
24
示意
ND卡和产品反光影响mura判定 因为目前mura判定需要在一定照度环境光下进行检查,若检验员身后有灯
管等光源时,会容易在产品或ND卡上看到灯管反光。会影响检验员的判定。 mura检验推荐环境光为漫反射,并且检验员背后没有光源反光影响。
灯光在ND规格内的Mura不会对使用上造成什么影响, 属于品味问题。面板厂商会把有不同规格等级 的mura面板, 打成不同的价格价格卖出。
Mura在一定程度能反应出厂商的显示屏制程能力。Mura越不明显,代表设计、制程、品控 能力越高。
一、CF制程 膜厚:因为膜厚的Coating不均,会导致产生色不均之现象。 Coating:在涂布时如果喷嘴有阻塞的情况,即会造成Vertical Mura。
90°
TFT-LCD Panel
20
30~40cm
ND Filter
ND Filter Position
TFT-LCD Panel
20 2.5~3.0cm
什么是Mura Mura定义说明 Mura影响和产生原因 常见Mura种类 人工检查方法
测量 环境
人员
检验 mura
方法
机械 物料
mura检查方法
No photos
Confidential
21
示意
直接使用ND卡遮挡 mura 进 行 检 查 。 模 糊 可 见 mura 的 , 认 为 不 可遮挡。直至某规格 ND 下 主 观 难 以 检 查 到 , 判定X% ND规格可遮。
Mura
檢查後Mura再發探討
1
何謂Mura?
Mura一詞來自日文的「」,其意義為描述 LCD顯示面有輝度或色度不均勻的現象,亦稱做 「不均」。
於白畫面、黑畫面或中間調畫面有 全面性(大區域)的Mura。
2014/2/13
TFT事業部桃園二廠模組製造廠
7
點狀或條狀Mura的成因
成因:1. LCD受到外力施壓,使得該區域內的Cell Gap改變 ,因而造成LCD有點狀或條狀的Mura。 →黑GAP,SPACER打痕 2. B/L遭受外力,使得B/L顯示區域產生點狀或條狀 的不均現象。 →B/L白點 驗證方式:1. 出現Mura處的偏光板是否有傷痕? 2. B/L外觀是否有受損? 若出現傷痕則可能為外力施壓所造成之。 3.模組背板與機構是否有干涉,干涉點可能產 生B/L白點不良。
於CPT廠內,各製程檢查站會利用各種檢查畫面 將Mura不良篩選出來。
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2
Mura的種類
於CPT各製程檢查站,較常見的Mura類不良:
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3
Mura的種類
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4
Mura的種類
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其他Mura的成因
成因:1.製程信賴性不良 →注入口不良: 2.靜電破壞: →SHIFT 3.外力壓迫: →指壓漏光 4.原材不良: →偏光板白拔 驗證方式:1. 隨時間延長而趨嚴重 2. 依不良現象判定是否為靜電氣 如shift,較淡之線條雜紋。 3. 重新拍打後會恢復正常。
面板斜纹Mura不良分析及改善对策研究
面板斜纹Mura不良分析及改善对策研究摘要:所谓的斜纹Mura为面板通电后,在不同区域显示灰度不一致的斜条纹,通过分析本文中的内容可以看出,主要是因为氧化铟锡ITO2 孔层线宽CD偏大导致条纹Mura,加上佳能曝光机月牙形状机构,面板在治具上点亮后宏观表现为斜纹Mura。
鉴于此,本文就斜纹Mura不良分析及改善对策展开探讨,以期为相关工作起到参考作用。关键词:面板驱动;斜纹Mura;ITO2 CD;穿透率1.不良现象分析1.1 面板驱动原理简介面板驱动电路由LC驱动模块+TFT开关模块进行驱动通电显示。
通过给MOS管栅极Gate施加一定的正电压后,栅极Gate吸引电子形成导通沟道,再给MOS管源极S通以负电压提供电子流入。
当电子通过导通沟道达到漏极D时,整个MOS管处于工作状态,即可提供Cs液晶电容进行充放电,Cs液晶电容放电过程中极板间形成电势差,即可驱动面板内的液晶分子水平旋转排列,从而驱动像素显示。
如图1:图1 图2 不良现象1.2 斜纹Mura不良原因分析本文所述的斜纹Mura为面板通电后白灰画面下发黑,呈斜纹形状,显示程度大于客户要求ND1.0,ND Filter滤光片,为通过彩色滤光片后穿透率,ND越小,穿透率越大。
如图:2:2.斜纹Mura产生原因分析2.1.扫描电子显微镜观察曝光是利用高能量UV光做曝光光源,透过光罩使光束局部通过透光区至光阻上,使得光阻之感光剂产生分解或聚合图形转移首重线宽转移,一般要求分辨率线宽CD越低越好。
不良面板剖面后,在扫描电子显微镜SEM下观察剖面区域,发现不良区域曝光后ITO2 CD实做比设计值偏大0.5um(实做:2.5~2.6um,设计:2.1um)。从电场角度确认:当CD&Space(CD间距)有偏差时,ITO2与ITO1两电级电压差产生的水平电场受影响,液晶偏转的角度受限,从而导致光学穿透率下降,进而产生亮暗不均现象,即斜纹Mura。
TFT液晶屏全贴合工艺mura问题解决方案
性,非不良现象。由天马质量经理官方回复如下:
2、原因排查
2-2:针对中触贴合工艺分析如下:
取未组装的TP+LCD组件,上电点亮,可以发现明显的NG现象
2、原因排查
2-3:组装工艺和结构件干涉
1. 结构确认----LCD组件主要由背部的五金铸铝支架固 定,LCD组件边缘不会产生挤压的应力; 2. 结构输出附图纸诠释的应力分析报告-----钟清6/30
2、原因排查
2-1:LCD屏原因排查 6月28日,会同中触(TP+LCD贴合供应商) 马工、索菱结构曹工到天马龙岗工厂进行分析排 查;具体如下:
随机抽取天马LCD测试,上电 点亮,LCD显示正常,黑屏无 泛白漏光现象
对LCD边缘轻微施力,,天马认为属于IPS屏本身特
华晨F70显示屏漏光改善报告
报告部门:索菱 汇报时间:2018-06-29
目 录
1、状况描述 2、原因排查 3、根本原因确认 4、改善对策
1、状况描述
1. NG现象:机器上电,黑屏状态,显示屏边缘有
泛白漏光现象; 2. 样机批次:5月30号试产批次 3. 不良数量:32pcs
2、原因排查
针对此不良现象,会同研发及供应商小组分析,确认 造成此不良现象的因素有以下3个方面: 1. LCD显示屏本体 2. 加工后的(TP+LCD)显示屏组件 3. 显示屏组装工艺和结构件干涉 针对以上三个因素,逐一进行如下排查分析
3、根本原因确认
3.1:根本原因经三方会议分析,确认为中触全贴合
工艺导致;
4、改善对策
4.1 中触调整贴合工艺参数重新打样,拿改善后样件与 研发确认-----结构曹礼国6/29 4.2 样机组装----付炯7/2 4.3 高低温实验进行可靠性验证---付炯7/3 4.4 小批量试装确认---付炯7/7 4.5 安排小批量试产接受华晨SQE复审验收----付炯7/20
彩色滤光片外观Mura简介
彩色滤光片外观 Mura简介摘要:彩色滤光片(Color Filter)是LCD液晶显示器的重要部件之一,其生产过程中外观Mura管控是品质质量管控的重要环节。
本文针对彩色滤光片外观mura的形貌、产生原因分析及处理对策简单介绍,本文介绍只针对Macro设备(宏观检查机)内不同光源下肉眼观察外观不良,可以对显示行业或者半导体行业的外观品质管控提供参考借鉴。
关键词:彩色滤光片;外观MURA前言:彩色滤光片是LCD颜色产生的重要部件,通过光的三原色(RGB)加法混合原理显示颜色。
三原色叠加能形成1670万种色彩,色彩有三种特性:明亮、色度、彩度。
本文介绍的mura则对明亮度有很大的影响,外观mura指的是显示器亮度不均、造成各种痕迹的现象。
Mura的产生影响CF的品质及客户的满意度。
文章主要介绍四种外观不良:点状、线状、膜面污染及镀膜色差。
一、点状Mura下面简单介绍五类CF场内常见的点状mura。
一、Stage Pin MURA一般是设备机台上有异物导致,整面大板位置固定,常见设备是涂布机和曝光机,如果是连续发生和涂布机Stage关联较大,而曝光机Stage上异物产生点状MURA不良会呈奇偶分布,背白灯光下可见,绿灯下观察形态似山丘,随着光源移动光晕会呈现大小变化;设备平台上沾附异物灰尘或者清洁作业时带入或者异常基板流片是带入等。
二、Lift Pin MURA常见设备有VCD和HPCP,呈现片间差异性,上白灯和上钠灯光源下外观检查可见,呈圆点状有规律等间距排布,存在设备单元集中性,主要原因是光阻未固化前VCD真空和HP预烘烤对玻璃基板造成影响。
三、手指纹mura一般是显影机腔室内显影液滴落导致,分布无规律,macro外观上白、上钠、绿灯、手持荧光灯均可见发亮不规则状或者类似拇指按压状。
四、背污mura一般是基板在传输过程中与滚轮摩擦产生的不良。
常见设备有显影机和清洗机。
绿灯下可见发亮。
五、光阻残MURA 导致光阻残出现的设备比较多且不规则、位置也不固定。
Mura
全面性Mura的成因
成因:1. LCD受到外力施壓,使得該區域內的Cell Gap改變 ,造成LCD有全面性的Mura。 2. 環境因素(溫度,溼度)造成B/L的光學膜片翹曲。 驗證方式:1. 偏光板、B/L外觀是否有傷痕? 若有傷痕則可能為外力所造成之。 2. 機構是否干涉? 將LCD拆下,Mura的現象是否有減輕?若有 減輕則可能為機構干涉所造成的。 3. 超過LCD的保存環境條件。 過熱或過濕的環境容易造成B/L的光學膜片翹 曲。
指壓漏光
於黑色畫面指壓後可見偏白區塊現象
2013/7/16
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6
Mura的再現
Mura類不良均可被CPT各檢查站給篩選下來,後續仍 發現的Mura類不良可視為Mura的再現。依Mura再現的 區域大小分為兩類: 於白畫面、黑畫面或中間調畫面有 點狀或條狀的Mura。
於白畫面、黑畫面或中間調畫面有 全面性(大區域)的Mura。
檢查後Mura再發探討
1
何謂Mura?
Mura一詞來自日文的「」,其意義為描述 LCD顯示面有輝度或色度不均勻的現象,亦稱做 「不均」。
於CPT廠內,各製程檢查站會利用各種檢查畫面 將Mura不良篩選出來。
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Mura的種類
於CPT各製程檢查站,較常見的Mura類不良:
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點狀或條狀Mura的成因
成因:1. LCD受到外力施壓,使得該區域內的Cell Gap改變 ,因而造成LCD有點狀或條狀的Mura。 →黑GAP,SPACER打痕 2. B/L遭受外力,使得B/L顯示區域產生點狀或條狀 的不均現象。 →B/L白點 驗證方式:1. 出現Mura處的偏光板是否有傷痕? 2. B/L外觀是否有受損? 若出現傷痕則可能為外力施壓所造成之。 3.模組背板與機構是否有干涉,干涉點可能產 生B/L白點不良。
大尺寸液晶显示屏MURA不良电学补偿研究
大尺寸液晶显示屏MURA不良电学补偿研究葛宜峰;钱志禹;陈平;孙勇;李艳平;刘海滨;李方庆;彭帆【摘要】由于设备工艺的原因,高世代线大尺寸液晶显示屏Mura的不良发生率较高.Mura不良在显示上主要表现为局部灰度差异,理论上可通过提高或降低不良区域的灰阶值减轻不良现象.本文主要针对Mura不良电学补偿的研究,阐述一种Mura不良修复方法的原理,修复系统的构成.在实际生产中可有效降低Mura不良率,提高产品品质,增加公司效益.【期刊名称】《电子世界》【年(卷),期】2018(000)001【总页数】3页(P11-13)【关键词】Mura;图像采集;修复算法;信号补偿;烧录【作者】葛宜峰;钱志禹;陈平;孙勇;李艳平;刘海滨;李方庆;彭帆【作者单位】合肥京东方显示技术有限公司;合肥京东方显示技术有限公司;合肥京东方显示技术有限公司;合肥京东方显示技术有限公司;合肥京东方显示技术有限公司;合肥京东方显示技术有限公司;合肥京东方显示技术有限公司;合肥京东方显示技术有限公司【正文语种】中文0 背景随着液晶显示行业的发展以及消费者的需求,液晶显示屏尺寸越做越大。
考虑到大玻璃基板的切割边效,生产线使用的玻璃基板尺寸也随之增大,例如G8.5代线玻璃基板尺寸为2200*2500mm,G10.5代线玻璃基板尺寸为2940*3370mm。
玻璃基板尺寸的增大,不仅加大了工艺上的难度,Mura不良的发生率也随之升高。
为了降低Mura不良给工厂带来良率上和经济效益上的损失,Mura的电学补偿方法研究十分必要。
1 Mura产生机理TFT-LCD的显示是由像素电极控制液晶分子的偏转角度,背光透过不同角度的液晶分子,再经由上偏光片得到不同颜色的组合,显示出不同的画面[1]。
Mura不良一般是在灰阶画面下检出,其在视觉上的表现为不良区域灰阶明显高于或低于正常画面,如图1所示。
图1 Mura不良示意图TFT-LCD的内部是由各种膜层组成,光线透过这些膜层后,膜层厚度会对光的透过率产生不同程度的影响。
TFT-LCD HADS显示模式下黑白Mura机理研究及设计优化
TFT-LCD HADS显示模式下黑白Mura机理研究及设计优化郑箫逸;袁帅;崔晓鹏;林鸿涛;陈维涛;薛海林;邵喜斌【摘要】随着高分辨率TFT-LCD HADS产品的开发,一种与像素ITO图形密切相关、有明暗(黑白)亮度差异、不同视角观察下存在黑白反转现象的Mura不良高发.经过对不良产品的参数测量和模拟分析,确定发生该不良的原因是在邻近区域内,像素开口区内的像素电极ITO(1ITO)图形和公共电极ITO(2ITO)图形发生了不同程度的相对偏移,电场分布存在差异,因此亮度发生明显差异;而且由于图形间的相对偏移导致电极间的电场发生偏移,形成像素左右两侧的一侧为强电场,一侧为弱电场,因而会出现从一侧观察发亮而从另一侧观察发暗、左右视角观察的黑白反转现象.Mura 区与相邻OK区1ITO?2ITO对位差异为0.5μm.通过1ITO和2ITO的线宽设计优化,可提高产品对此偏移不均一的容忍度.最终采用最佳1ITO、2ITO线宽条件生产,配合1ITO和2ITO共用设备及TP非线性补正等条件并举,此不良由高发时的14.2%降至0.2%以下.本文研究成果对于高分辨率HADS产品的设计和性能改善,有着重要的指导和参考意义.【期刊名称】《液晶与显示》【年(卷),期】2019(034)003【总页数】6页(P261-266)【关键词】黑白Mura;对位偏移;氧化铟锡膜;电场;均一【作者】郑箫逸;袁帅;崔晓鹏;林鸿涛;陈维涛;薛海林;邵喜斌【作者单位】北京京东方显示技术有限公司,北京 100176;北京京东方显示技术有限公司,北京 100176;北京京东方显示技术有限公司,北京 100176;北京京东方显示技术有限公司,北京 100176;北京京东方显示技术有限公司,北京 100176;北京京东方显示技术有限公司,北京 100176;北京京东方显示技术有限公司,北京 100176【正文语种】中文【中图分类】TN141.91 引言显示器作为人机交流的界面,承载着大量的信息传递的功能。
Mura产生原因解读
Defect photo:
Updated:4/11/2021 Printed Date:4/11/2021 Rev.1.0
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各種 Mura
Symptom:Circle Mura
Description:可分較畫面深的黑丸mura及 較畫面淡的白丸mura。
不當拿取—因拿取Panel方式不當,手指按壓到面板的 力量過大,易造成丸狀mura。
Updated:4/11/2021 Printed Date:4/11/2021 Rev.1.0
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Mura的判定
Mura的判定通常於50%Gray pattern 畫 面判定,其judge的方式可採用limit sample or ND filter。
造成mura的原因:【1】CF製程
【2】TFT製程
【3】LCD製程
【4】LCM製程
Updated:4/11/2021 Printed Date:4/11/2021 Rev.1.0
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Mura的成因
為何會有Mura產生—就CF製程而言
膜厚—因為膜厚的Coating不均,導致產 生色不均之現象。
Stage—因機台stage吸力過大而造成吸附後形成stage mura , 或stage的平整度不佳當經過製程機台後, 亦 有可能產生相關性的mura。
Updated:4/11/2021 Printed Date:4/11/2021 Rev.1.0
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LCD的mura介绍及资料
02
Mura产生的原因
材料原因
液晶材料
液晶材料的特性是影响Mura的重要因素。液晶分子的排列、取向和流动性等 特性,可能导致光线散射和干涉,从而产生Mura现象。
彩色滤光片
彩色滤光片的颜色不纯或厚度不均,可能导致光线散射或干涉,进而产生Mura 现象。
工艺原因
像素制作
像素制作过程中,如果像素结构 不均匀或尺寸不精确,可能导致 光线散射或干涉,从而产生Mura 现象。
优化物流管理
通过合理的库存管理和物流安排,可以确保原材料和半成 品的质量稳定,进一步降低Mura的风险。
05
Mura的案例分析
案例一
总结词:亮度不均
详细描述:某品牌手机LCD屏幕出现明显的亮度不均,表现为屏幕中央区域比四周亮,影响用户观看 体验。
案例二
总结词:色彩偏差
详细描述:某品牌电视LCD屏幕出现色彩偏差,表现为屏幕不同区域颜色不一致,影响画面整体效果。
现象的严重程度。
Mura的等级划分
轻微Mura
LCD屏幕亮度、色彩和对比度的不均匀性较小,人眼不易察觉。
中等Mura
LCD屏幕亮度、色彩和对比度的不均匀性较为明显,但不会对正常 观看产生明显影响。
严重Mura
LCD屏幕亮度、色彩和对比度的不均匀性较大,人眼能够明显感知, 且可能对正常观看产生干扰或影响。
04
Mura的改善方法
材料改善
选择高品质的原材料
使用高纯度、高均匀性的液晶材料和 其他关键组件,可以降低Mura出现的 概率。
优化配比
通过对原材料的配比进行精细调整, 可以改善液晶的流动性和取向,从而 减少Mura。
工艺改善
1 2
改进涂布工艺
mura概念
mura概念
Mura:在同一光源且相同底色的画面下,因视觉感受到不同程度的颜色差异称之为Mura,广泛地表现各种画面的不均匀情况,只要在显示画面需要均匀的时候,观察到不均匀的现象,便使用Mura来称呼这种不均匀的现象。
由于Mura是一个广泛称呼,有各种现象与对应的发生原因。
1. CF制程
膜厚-因为膜厚的Coating不均,导致产生色不均匀的现象
2. TFT制程
Over-lap-TFT的主要构成为层与层之间的关关相连,如果某一层中有Shift的情况发生,就会产生异常,可能影响TFT的特性而造成Mura 3. LCD制程
Cell gap-cell gap的不均,偏高或偏低阶会造成Mura的现象Spacer-Spacer散布的均匀性以及spacer原材料本身的均匀性可能影响Mura
Stage-因机台stage吸力过大而造成吸附后形成stage mura,或者stage的平整度不佳当经过制程机台后,也有可能产生相关性的mura 4. LCM制程
Roller-因机台roller的压力过大或者roller上粘附异物,造成panel 经过roller后产生丸状或条状mura
Vaccuum-因机台stage吸力过大而造成吸附后形成stage mura Black-light-B/L本身Film材料不良或者其他来料不良造成异常也会
形成mura现象,通常以交叉方式确认B/L是否有异常现象Polarizer-偏光板本身材料不良,造成偏贴后形成mura,通常更换偏光板既OK
不当拿取-因拿取Panel方式不当,手指按压到面板的力量过大,容易造成丸状mura。
TFT液晶屏全贴合工艺mura问题解决方案只是分享
3、根本原因确认
3.1:根本原因经三方会议分析,确认为中触全贴合
工艺导致;
4、改善对策
4.1 中触调整贴合工艺参数重新打样,拿改善后样件与 研发确认-----结构曹礼国6/29 4.2 样机组装----付炯7/2 4.3 高低温实验进行可靠性验证---付炯7/3 4.4 小批量试装确认---付炯7/7 4.5 安排小批量试产接受华晨SQE复审验收----付炯7/20
4、改善对策
4.1 中触6月29日,拿改善后的2pcs样品,在惠阳 工厂经研发确认,样品OK;
#1 样版点亮确认 OK
#2 样版点亮确认 OK
4、改善对策
改善进度按以上计划持续更新中;
谢 谢!
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TFT液晶屏全贴合工艺mura问 题解决方案
1、状况描述
1. NG现象:机器上电,黑屏状态,显示屏边缘有
泛白漏光现象;
2. 样机批次:5月30号试产批次 3. 不良数量:32pcs
2、原因排查
针对此不良现象,会同研发及供应商小组分析,确认 造成此不良现象的因素有以下3个方面:
1. LCD显示屏本体 2. 加工后的(TP+LCD)显示屏组件 3. 显示屏组装工艺和结构件干涉 针对以上三个因素,逐一进行如下排查分析
2、原因排查
2-2:针对中触贴合工艺分析如下:
取未组装的TP+LCD组件,上电点亮,可以发现明显的NG现象
பைடு நூலகம்
2-3:组装工艺和结构件干涉
2、原因排查
1. 结构确认----LCD组件主要由背部的五金铸铝支架固 定,LCD组件边缘不会产生挤压的应力;
2. 结构输出附图纸诠释的应力分析报告-----钟清6/30
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Symptom:LC not full Description: 1.各種畫面或不需驅動即可看到Panel注入 口處對側局部變黑。 2. 無畫面(完全無液晶)。
Defect photo:
Defect photo:
Updated:4/1/2015 Printed Date:4/1/2015 Rev.1.0
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各種 Mura
Symptom:Ring Mura Description:一圈圈均勻的色差圓。
Symptom:Row Mura Description:50%gray畫面水平方向線狀 mura。 Defect photo:
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各種 Mura
Symptom:Twill lines or rubbing line Description:區域性斜線。 Defect photo:
Symptom:Vertical Mura Description:Driver IC與TFT匹配問題。
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Defect photo:
Updated:4/1/2015 Printed Date:4/1/2015 Rev.1.0
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Symbol of Quality
Thank You
Updated:4/1/2015 Printed Date:4/1/2015 Rev.1.0
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Mura的成因
為何會有Mura產生—就LCM製程而 言
Roller—因機台roller的壓力過大或是roller上沾附異物, 造成panel經過roller後而產生丸狀或條狀mura。 Vacuum—因機台stage吸力過大而造成吸附後形成 stage mura。 Black-light—B/L本身Film材不良或其他來料造成異常 亦會形成mura現象,通常以交叉驗證等方式確認B/L是 否有異常現象。 Polarizer—偏光板本身來料不良,造成偏貼後形成 Mura,通常更換偏光板後即OK。
各種 Mura
Symptom:TAB Mura Description:一整條TAB範圍均勻的較深 或較淺色差。
Symptom:Twill Line Description:均勻的實斜線。 Defect photo:
Defect photo:
Updated:4/1/2015 Printed Date:4/1/2015 Rev.1.0
Symptom:Diagonal Mura Description:50%灰階畫面可看見斜向帶 狀Mura。 Defect photo:
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Defect photo:
Updated:4/1/2015 Printed Date:4/1/2015 Rev.1.0
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各種 Mura
Symptom:Injection Port Mura Description:注入口部分較畫面深的半圓 形mura。
Mura的成因
為何會有Mura產生?
LCD Monitor主要的顯示原理:由一薄膜電晶 體【TFT】來控制液晶【LC】旋轉的角度,再 經由光源【 B/L 】透過不同角度排列之液晶所 穿透之光源透過彩色濾光片【CF】顯示出不同 的顏色組合。 Mura的產生理由主要是因為視覺上對於感受到 的光源有不同的頻率響應而感覺到顏色的差異。 造成mura的原因:【1】CF製程 【2】TFT製程 【3】LCD製程 【4】LCM製程
Updated:4/1/2015 Printed Date:4/1/2015 Rev.1.0
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ND的使用
使用10% ND檢 驗Mura仍清楚 可見
使用8% ND檢 驗Mura較不 明顯
使用6% ND檢 驗Mura不可見
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Defect photo:
Defect photo:
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各種 Mura
Symptom:Corner Mura Description:5%&50% gray scale pattern 可見角落處mura。
Updated:4/1/2015 Printed Date:4/1/2015 Rev.1.0
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Mura的成因
為何會有Mura產生—就人為因素而 言
不當拿取—因拿取Panel方式不當,手指按壓到面板的 力量過大,易造成丸狀mura。
Updated:4/1/2015 Printed Date:4/1/2015 Rev.1.0
Symptom:Spacer Clustering Description:黑畫面可看見因spacer聚集 所產生的mura。 Defect photo:
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Mura的判定
Mura的判定通常於50%Gray pattern 畫 面判定,其judge的方式可採用limit sample or ND filter。
ND Filter--ND為在可見光波常範圍下能提供相當穩定平穩的響應, 主要功能在於降低光源之透光率。
Symptom:Circle Mura Description:可分較畫面深的黑丸mura及 較畫面淡的白丸mura。 Defect photo:
Symptom:Cloud Mura Description:局部區域雲狀不均。
Defect photo:
Updated:4/1/2015 Printed Date:4/1/2015 Rev.1.0
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Updated:4/1/2015 Printed Date:4/1/2015 Rev.1.0
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Mura的成因
為何會有Mura產生—就CF製程而言
膜厚—因為膜厚的Coating不均,導致產 生色不均之現象。 Coating—光阻於coating時若噴嘴有阻塞 的情況,即會造成vertical mura。
Mura Introduction
Updated:4/1/2015 Printed Date:4/1/2015 Rev.1.0
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Content:
1. 2. 3. 4. 何謂 Mura Mura的成因 Mura的檢驗方法 各種Mura
Updated:4/1/2015 Printed Date:4/1/2015 Rev.1.0
各種 Mura
Symptom:Fill Port Gap Description: 1. 50%灰階畫面可看到Panel在注入口處 附近局部偏白(Gap過大)。 2. 白色畫面可看到Panel在注入口處附近 局部偏黃(Gap過大)。
Symptom:Hmoon Gap (Side half moon gap) Description: 1. 50%灰階畫面可看到Panel邊緣有半圓 形局部偏白。 2.白色畫面可看到Panel邊緣有半圓形局 部偏黃。 Defect photo:
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各種Mura
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各種 Mura
Symptom:Arch Mura Description:50%灰階畫面在Panel上方 可見。 Defect photo:
Defect photo:
Updated:4/1/2015 Printed Date:4/1/2015 Rev.1.0
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各種 Mura
Symptom:Rain Mura Description:50%gray判定,下雨似的色差。 Defect photo:
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