某公司电子元器件引线弯曲试验标准

电子元器件引线弯曲试验标准
一、用途:
进行本试验是为了检验器件的引线的抗疲劳特性。

二、试验器具:
砝码,夹具
三、操作规程:
1、用一个夹具把器件的一端固定住;
2、在器件基准轴的垂直方向上，在端子最前端吊挂表1“砝码”栏所示的
砝码，使本体在2～3秒内相对端子发生90°弯曲，尔后，用相同的速
度使引线（本体）还原。

然后在端子刚才吊挂砝码的反方向，重复上
述试验一次。

四、四、试验规定
4.1要严格按照试验仪器“技术说明书”操作顺序操作。

4.2常规产品规定每季度做一次周期试验，试验条件及判据采用或等效采用
产品标准；新产品、新工艺、用户特殊要求产品等按计划进行。

4.3采用LTPD的抽样方法，在第一次试验不合格时，可采用追加样品抽样
方法或采用筛选方法重新抽样，但无论何种方法只能重新抽样或追加一
次。

4.4若LTPD=10％，则抽22只，0收1退，追加抽样为38只，1收2退。

抽样必须在OQC检验合格成品中抽取。

五、失效判据:
应力消除后用20倍实体显微镜检查时若发现有断裂的痕迹，再稍在同位
置加力，若断裂，则认为是失效。

抽样22pcs，0收1退。

六、注意事项：
力要施在器件基准轴的垂直方向上。