AccoTEST硬件单板及编程- QVM
合集下载
- 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性,平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
- 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
- 3、如文档侵犯您的权益,请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间:9:00-18:30)。
SetMeasTrig()
void SetMeasTrig(double VTrig, TRIG_MODE trigMode);
Remarks 设置测量的触发阈值和触发方向,触发阈值的范围与MeasureLADC()或MeasureHADC()中选 定的测量量程一致。
Parameters VTrig 触发阈值,范围与选定的测量量程相关。 trigMode TRIG_FALLING 向下 TRIG_RISING 向上 Example qvm0.SetMeasTrig(5.0, TRIG_FALLING);
Make Testing More Valuable
Init()
int Init(void);
Remarks 初始化QVM通道,所有输入输出继电器断开,低速通道和高速通道未设定有效量程并且停止数 据转换,低速通道默认10KHz滤波,此时RAM中保存上一次操作的数据,但是无法回读,若读 取则全部返回0。 注意:使用QVM测试结束时请调用此函数初始化。 Example qvm0.Init(); //Init the channel of qvm0
本板保存校准数据
技术指标(1)
Sample Depth Measurement Type Bias Voltage
±10.0 V Max
Make Testing More Valuable
QVM
64K*18bits per channel Max、Min、Avg、Trigger point、RMS、FFT、THD、SNR、SINAD
maketestingmorevaluablemaketestingmorevaluableaccotest硬件单板及编程qvmmaketestingmorevaluableqvm特性单板最大四通道每通道浮动可由用户选择配置为24个通道具备1mhzsps18bit低速高精度测量模式具备10mhzsps12bit高速测量模式采样速率可调每通道具备18bit64k深度的存储器具备板上硬件数据处理功能包括最大值最小值平均值跳变值rmsfftthdsnrsinad高精度基准输出隔离电压1000v支持与sts8200系统内fpvi10fovi100和dio模块同步工作模式
QVM
Resolution Accuracy (Offset+%Rd)
18 bit ADC (Normal Precision Measure Mode) Input Z
±100mV
±200mV ±500mV ±1V ±2V ±5V
>1G
>1G >1G >1G >1G >1G
0.78uV
1.56uV 3.9uV 7.8uV 15.6uV 39.1uV
Make Testing More Valuable
AccoTEST硬件单板及编程 --- QVM
Make Testing More Valuable
特性
具备1MHz SPS 18bit低速高精度测量模式 具备10MHz SPS 12bit高速测量模式 采样速率可调 每通道具备18bit x 64K深度的存储器
Make Testing More Valuable
Connect()
void Connect(); Remarks 接通QVM通道的输入输出继电器。在测量之前应先接通输入输出继电器
Example qvm0. Connect(); //Connect the output relay of qvm0
0.1us~1.0us
0.1us 12bits
12bit ADC 10MHz
Resolution of Sampling Interval Resolution
Bandwidth
THD
>10MHz
-75dB(Vpp=4.0V, Freq=100KHz)
技术指标(2)
Range
Make Testing More Valuable
Disconnect()
void Disconnect(); Remarks 断开QVM通道的输入输出继电器。在测量完成之后应断开输入输出继电器 Example qvm0. Disconnect(); //Disconnect the output relay of qvm0
Make Testing More Valuable
Make Testing More Valuable
原理框图
QVM
Make Testing More Valuable
外观结构及拨码开关
QVM
Make Testing More Valuable
与测试盒连接
QVM
Make Testing More Valuable
QVM()
QVM(BYTE channel) QVM(BYTE byChannel, char *chName); Remarks 定义一个QVM,并指定使用的逻辑通道号。 Parameters Bychannel QVM逻辑通道号。范围0~15。 Example QVM OUT1(0, “OUT1”) ; QVM OUT2(1, “OUT2”) ;
// define logical channel 0 // define logical channel 1
StsSetModuleToSite(MD_QVM, SITE_1, 0, 1,-1); //set physical channel 0 and 1 to SITE1 StsSetModuleToSite(MD_QVM, SITE_2, 2, 3, -1);//set physical channel 2 and 3 to SITE2 StsSetModuleToSite(MD_QVM, SITE_3, 4, 5, -1);//set physical channel 4 and 5 to SITE3 StsSetModuleToSite(MD_QVM, SITE_4, 6, 7, -1);//set physical channel 6 and 7 to SITE4
Make Testing More Valuable
MeasureLADC()
void MeasureLADC(UINT sampleTimes,double sampleInterval,QVM_LADC_VRANGVRange, QVM_LADC_FILTERFilter,QVM_MEAS_MODE measMode,UINT T1, UINT T2, UINT T3, UINT T4)
18bit ADC 1MHz
Resolution of Sampling Interval Resolution LPF THD SNR SINAD
Measurement Range
Impedance Maximum Sample Rate
±4V,±2V,±1V
1M 10MHz
Adjustment Range of Sampling Interval
siteNO 选择工位号。 0: Site1, 1: Site2, 2: Site3, …… sampleNumber AVERAGE_RESULT :返回所有采样点的平均值 MAX_RESULT:返回所有采样点的最大值 MIN_RESULT:返回所有采样点的最小值 TRIG_RESULT: 返回触发时对应采样点的位置,需配合SetMeasTrig()使用 RMS_RESULT: 返回所有采样点的有效值 非负值N:返回的是第N个采样点的测量值。假设MeasureLADC或MeasureHADC的采样次数为sam,则 0≤N≤sam-1。
Make Testing More Valuable
GetMeasResult()
double GetMeasResult(UINT siteNO, int sampleNumber);
Remarks 获取测量结果。在调用此函数前需调用MeasureLADC()或MeasureHADC()函数进行采样。 Parameters
±(2mV+0.01%) ±(5mV+0.01%) ±(10mV+0.01%)
12 bit ADC(High speed Measure Mode) Range ±1V ±2V ±4V Reference Output Range Resolution Accuracy ±10.0 V 18bits 0.005%(FS) Input Z 1M 1M 1M Resolution 0.61mV 1.22mV 2.44mV Accuracy (Offset+%Rd) ±(1mV+0.1%) ±(2mV+0.1%) ±(4mV+0.1%)
Remarks
设置低速通道工作参数并进行采样,将采样结果存储在板上存储器中。在调用此函数前需调用Connect()函数 接通输入输出继电器。
Parameters
sampleTimes 采样次数,取值范围1~65535,默认为100。 如果需进行FFT,采样点数范围为64~32768。 sampleInterval 采样间隔,取值范围1~1300,分辨率为0.1,默认为10,单位为us。 VRange QVM_LADC_100V, QVM_LADC_50V, QVM_LADC_20V, QVM_LADC_10V, QVM_LADC_5V, QVM_LADC_2V, QVM_LADC_1V, QVM_LADC_500MV, QVM_LADC_200MV, QVM_LADC_100MV 默认: QVM_LADC_10V Filter: 选择滤波器: QVM_LADC_10KHz, QVM_LADC_40KHz, QVM_LADC_100KHz, QVM_LADC_400KHz 默认: QVM_LADC_10KHz。 measMode : MEAS_NORMAL: Normal measuring mode. MEAS_AWG: AWG measuring mode. 默认为MEAS_NORMAL
±(100uV+0.01%)
±(100uV+0.01%) ±(100uV+0.01%) ±(150uV+0.01%) ±(200uV+0.01%) ±(500uV+0.01%)
±10V
±20V ±50V ±100V
>1G
1M 1M 1M
78.1uV
156.3uV 390.6uV 781.3uV
±(1mV+0.01%)
Example
qvm0.MeasureLADC(1000,1,QVM_LADC_10V,QVM_LADC_40KHz,MEAS_NORMAL);
Make Testing More Valuable
MeasureHADC()
void MeasureHADC(UINT sampleTimes, double sampleInterval, QVM_HADC_VRANGVRange, QVM_MEAS_MODE measMode, UINT T1, UINT T2, UINT T3, UINT T4) Remarks 设置高速通道工作参数并进行采样,将采样结果存储在板上存储器中。在调用此函数前需调 用Connect()函数接通输入输出继电器 Parameters sampleTimes 采样次数,取值范围1~65535,默认为100。 如果需进行FFT,采样点数范围为64~32768。 sampleInterval 采样间隔,取值范围0.1~1,分辨率为0.1,默认为1。单位为us。 VRange QVM_HADC_4V, QVM_HADC_2V, QVM_HADC_1V. Default: QVM_HADC_4V measMode MEAS_NORMAL //普通测量模式 MEAS_AWG //AWG模式 默认为MEAS_NORMAL。 Example qvm0.MeasureHADC(1000, 0.1, QVM_HADC_4V , MEAS_NORMAL);
QVM
单板最大四通道,每通道浮动,可由用户选择配置为2/4个通道
具备板上硬件数据处理功能,包括最大值、最小值、平均值、跳变值、RMS、FFT、THD、
SNR、SINAD 高精度基准输出 隔离电压1000V
支持与STS 8200系统内FPVI10、FOVI100和DIO模块同步
工作模式: -支持16工位并行测试 -支持乒乓(Station A/Station B)测试
Measurement Range Impedance Maximum Sample Rate Adjustment Range of Sampling Interval
±100V,±50V,±20V,±10V,±5V,±2V,±1V, ±500mV,±200mV,±100mV 1G ( <= ±10V Range ), 1M( > ±10V Range ) 1MHz 1us~1300us 0.1us 18bits 10K、40K、100K、400K -90dB (Vpp=10.0V, Freq=1KHz,LPF=40KHz) 87dB (Vpp=10.0V, Freq=1KHz,LPF=40KHz) 81dB (Vpp=10.0V, Freq=1KHz,LPF=40KHz)