基础品管CP,CPK...

2003/4/29 4001 2999 0 667 0 1667 1667 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0
2003/4/30 2703 5180 579 193 579 386 965 5000 200 0 0 0 5000 0 0 0 0 0 0 0 0
0801
58*58
74
3
VT3148
2878
46*81
51.5
1
NV34-BD2
1910 1907
72*45 59*60
55 75
1 2
QD4-980XGL-A1 2A6UISCSA31H
1924
63*63
77
2
RS200M
ASM & K&S Device 1910 Yield Loss Comparing
2003/4/25 8472 3423 292 5551 292 1461 876 0 0 0 0 0 0 0 5000 2400 417 2083 0 1250 1250
2003/4/26 8107 4194 1192 1907 954 2384 1669 0 0 0 0 0 0 0 4159 1683 1188 1188 0 594 1188

CP, CPK 定義
CPK 實例 Yield與PPM


Yield Loss 分析實例
稼動率 UPH, Up Time , Down Time MTTS , MTBS , MTTA , MTBA, MTBF
平均值與標準差
平均值
(u)：代表著一群數值的一個平均值
u=( Xi) / N
ASM & K&S Device 1907 Yield Loss Comparing
20000 15000 ASM 10000 5000 0 4/25 4/26 4/27 4/28 4/29 4/30 5/1 K&S pps K&S 8028
BD NO ¸ ® ê Æ 1907 ¤ £ } ¨ ² v (ppm) [ ` ¥ Á /§ ë ¤ J ¶ q [ ` ¥ Á /ª ÷ ² y ² æ¸ ¨ [ ` ¥ Á /© · « × ² § ± ` [ ` ¥ Á /² § ª « [ ` ¥ Á /© · « × ¨ ü · l ä ¥ ¨ L K&S pps 1907 ¤ £ ¨ } ² v (ppm) [ ` ¥ Á /§ ë ¤ J ¶ q [ ` ¥ Á /ª ÷ ² y ² æ¸ ¨ [ ` ¥ Á /© · « × ² § ± ` [ ` ¥ Á /² § ª « [ ` ¥ Á /© · « × ¨ ü · l ä ¥ ¨ L K&S 8028 1907 ¤ £ ¨ } ² v (ppm) [ ` ¥ Á /§ ë ¤ J ¶ q [ ` ¥ Á /ª ÷ ² y ² æ¸ ¨ [ ` ¥ Á /© · « × ² § ± ` [ ` ¥ Á /² § ª « [ ` ¥ Á /© · « × ¨ ü · l ä ¥ ¨ L ASM
規格上限:1.00 mm
規格下限:0.00 mm
u= 0.26 mm, =0.1729, 3 =0.5189
Cpk= (0.26-0)/3 =0.26/0.5189=0.501
規格下限
u
規格上限
Yield 與 PPM
Yield: 產品的良率, 通常以 % 為單位 Defect Rate: 產品的不良率, 通常以 PPM 為單位
7.931
7.962
7.993
u=8.024
8.055
8.086
8.117

3 的意義
代表著一群數值有99.73%會包含在平均
值 +/- 3 的數值之內 mm
u=8.024
3
= 3*0.031=0.093
= 8.117 mm , u-3 =7.931 mm
u+3
常態分配實例 (WIRE PULL)
0.4
6x0.031 8.024-8.2 3x0.031 0.176 0.093
Cpk=1.892= 2. Wire Bond
=
問
題
測試一支手槍射擊後的精準度(忽略人為的疏失)來斷定槍的 優劣,發射 20 發後量射擊點和圓心的距離為 0.3,0.3,0.6,0.2,0.2,0.4,0.3,0.4,0.2,0.00, 0.2,0.1,0.6,0.3,0.00,0.2,0.4,0.5,0.2,0.1 mm
6772 PPM
YIELD: 99.32%
ASM & K&S Yield Loss Total On This Week 1
Device BPO(um) BPP(um) Pad Layer 2838 58*68 71.89 3 本週未打，資料為誤key Device NF2-SPP-A1 M/T ASM UPH 23.2 不良率(ppm) 加總/投入量 K&S PPS 20.53 不良率(ppm) 加總/投入量 K&S MAX 不良率(ppm) 加總/投入量 ASM 18.9 不良率(ppm) 加總/投入量 K&S 8028 15.97 不良率(ppm) 加總/投入量 K&S PPS 18.14 不良率(ppm) 加總/投入量 ASM 23.6 不良率(ppm) 加總/投入量 K&S PPS 17.5 不良率(ppm) 加總/投入量 K&S MAX 24.2 不良率(ppm) 加總/投入量 ASM 22.5 不良率(ppm) 加總/投入量 ASM 30.6 不良率(ppm) 加總/投入量 K&S 8028 不良率(ppm) 加總/投入量 K&S PPS 18.2 不良率(ppm) 加總/投入量 ASM 26.5 不良率(ppm) 加總/投入量 K&S PPS 18.2 不良率(ppm) 加總/投入量 K&S MAX 23.71 不良率(ppm) 加總/投入量 4/25 0 0 7525 3721 0 0 4499 12003 0 0 6678 599 4193 7394 4788 6474 7047 9508 22539 843 8472 3423 5000 2400 0 0 714 1400 3339 599 5000 200 4/26 0 200 9418 13060 0 0 6962 19535 0 0 5000 200 4993 6209 7535 3318 7430 6864 0 0 8107 4194 4159 1683 0 0 5932 1180 0 0 0 0 4/27 0 0 8034 19916 0 0 3563 13190 0 0 2513 398 5850 6154 9182 1198 6056 8091 0 0 4815 5400 6901 1594 0 0 3343 2393 0 195 0 0 4/28 0 0 5021 15534 5000 200 4992 9616 5000 200 0 0 4348 7130 0 0 7822 3196 0 0 7222 1800 3373 593 0 200 1044 958 0 0 0 0 4/29 0 0 0 0 0 0 5108 12920 0 0 10000 200 4021 6715 0 0 5024 3185 0 0 4001 2999 0 0 0 0 2068 1451 0 0 0 0 4/30 0 0 0 0 0 0 5974 13391 7937 882 5000 400 4605 5646 0 0 1979 2527 0 0 2703 5180 0 0 5000 200 6784 3243 0 0 0 0
ASM 25000 20000 15000 10000 5000 0 4/25 4/26 4/27 4/28 4/29 4/30 5/1 ASM
ASM
BD NO ¸ ê 1910 ¤ £ [ ¥ [ ¥ [ ¥ [ ¥ [ ¥ ä ¨
® Æ } ² ¨ v (ppm) ` /§ Á ë ¤ J ¶ q ` /ª Á ÷² y ² æ¸ ¨ ` /© Á · « × ² § ± ` ` /² Á § ª « ` /© Á · « × ¨ ü ·l L ¥
Device 1910 Yield Loss Analysis
Analysis: 4/25 弧度異常由5199, 5200供獻3顆，且該批人為異常出大量7顆，檢查其為甩弧 造成short，似人為穿線甩弧。
Action:
檢查機台、後續材料無異常。 持續檢查。
其他 : 球形規格，金線殘留，晶片割傷，金線絲，其他，電阻＞50
常態分配
任何抽樣或檢測的數值群均會依著其平
均值和標準差作一個常態性分配
群組分配
區間 個數
7.950~7.975
1
7.975~8.00
8.00~8.025 8.025~8.50 8.50~8.075 8.075~8.1
3
5 7
3
1
常態分配實例 (大哥大手機厚度)

u=8.024 =0.031
標準差
() : 代表著一群數值之間差異大小的
一個值 =(Xi - u) 2 / N
實 例
一支大哥大手機的標準厚度為
8 mm,今有一製造商 製作了20支機子,經游標卡尺量測所得的數值為
8.03,8.03,8.06,8.02,7.99,8.04,8.03,8.04,7.97,8.00,7. 98,8.1,8.06,8.03,8.00,8.02,8.04,8.05,7.99,8.01 平均值 (u)＝（8.03+….+8.01)/20=8.024 mm 標準差 ()= (8.03 - 8.022) 2 +….+(8.01-8.022) 2 / 20 =0 .031 mm
缺點數總和 Defect Rate = 產品總數
實例
一批TFBGA產品,其總數量為5462顆,缺點為 210 203 201 207 420 630 DIE 反向 DIE 緣崩裂 DIE 刮傷 EPOXY 爬膠 膠體孔洞 PCB 汙染 4 PCS 6 PC 1 PC 15 PCS 1 PC 10 PCS 732 PPM 1098 PPM 183 PPM 2746 PPM 183 PPM 1830 PPM
處理原則
A+ A B C D
1.67 ≦ Cpk
無缺點考慮降低成本 1.33 ≦ Cpk ≦ 1.67 維持現狀 1 ≦ Cpk ≦ 1.33 有缺點發生 立即檢討改善 0.67 ≦ Cpk ≦ 1 採取緊急措施，進行品質 Cpk ≦ 0.67 改善，並研討規格
Cpk 計算實例
1.大哥大手機厚度 (規格: 8.0 +/- 0.2 mm) Cp=2.15=
2003/4/25 2003/4/26 2003/4/27 2003/4/28 2003/4/29 2003/4/30 2003/5/1 22539 0 0 0 0 0 0 843 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 0 5931 0 0 0 0 0 0 3559 0 0 0 0 0 0 8304 0 0 0 0 0 0 4745 0 0 0 0 0 0
u= 4.1 =0.50
Cpk=1
3
u
3
Cpk=2
規格下限 3 u 3
規格上限
6
6
Cpk 定義
鑑定產品質好壞的一份重要指標
Cp=
Spec 區間 產品常態分佈區間(6 ) 取最小值
Cpk=
|平均值 - 要求規格的上限| or |平均值 - 要求規格的下限|
3
Cpk 指標
等級 Cpk值
球形規格金線殘留晶片割傷金線絲其他電阻50時間稼動率是用來衡量設備使用效率的指標之一最大時間設備本身為廠內自購且可完全由廠內自主使用則最大操作shutdownsd損失停機損失乃是計畫上的休止時間如休假教育訓練保養等
基礎品管CP,CPK…
CONTENT

平均值與標準差 常態分配與3 的意義

2003/4/27 4815 5400 370 1481 370 1111 1481 0 0 0 0 0 0 0 6901 1594 1882 3137 0 627 1255
2003/4/28 7222 1800 1667 556 556 2222 2222 0 200 0 0 0 0 0 3373 593 0 0 0 0 3373
PPM =百萬分之一 =1/1000000
1%=10000 PPM
實例
一批BGA的產品Yield為99.4%,其代表的
意義為 產品的良率為99.4% , 99.94% 產品的不良率為 6000 PPM, 600 PPM
Defect Rate的計算
Total Defect Rate = 各項缺點 Defect Rate總和