利用信号源SMW200A验证LTE-A终端芯片

利用信号源SMW200A验证LTE-A终端芯片
王立春
【期刊名称】《电信网技术》
【年(卷),期】2013(000)011
【摘要】作为LTE的后续演进技术,LTE-A的测试需求即将成为通信测试领域新的热点.针对LTE-A终端芯片研发初期所遇到的物理层测试需求,罗德与施瓦茨公司新一代信号源SMW200A提供了强大的测试功能,让LTE-A的终端芯片测试更为简单.
【总页数】5页(P49-53)
【作者】王立春
【作者单位】罗德与施瓦茨中国有限公司
【正文语种】中文
【相关文献】
1.利用自适应遗传算法的芯片功能验证自动测试 [J], 苏琳琳;张晓林
2.高效验证平台在TD-SCDMA终端芯片功能验证中的应用 [J], 陈辉;申敏;刘树军
3.利用波导管的可调终端活塞及单螺调配器测定微波信号源的波长 [J], 付斯年;朱瑞华;吴春雷;吴同华
4.利用RT-PCR技术验证基于小鼠外显子芯片发现的缺血相关基因的表达 [J], 王稳;周瑞;杭兴宜;任长虹;刘虎岐;张成岗
5.利用基因芯片技术筛选氧化应激介导的阿尔茨海默病相关miRNAs并验证 [J], 姜磊;张睿;马笑影;高肇妤;崔冬生;许顺江
因版权原因，仅展示原文概要，查看原文内容请购买。