ROHS测式方法

ROHS测式方法
ROHS指的是限制使用一些有害物质指令(Restriction of Hazardous Substances directive)，它是一项旨在限制电子电气设备中有害物质使
用的欧盟指令。

为了确保产品符合ROHS指令，有必要进行相应的测量和
测试。

本文将介绍ROHS测试方法之一：XRF光谱筛选法。

XRF光谱筛选法是一种非破坏性的测试方法，也是目前最常用的ROHS
测试方法之一、它基于X射线荧光光谱技术，通过检测样品中元素的辐射
来分析样品中有害物质的含量。

XRF光谱筛选法的工作原理是：将待测物放置在X射线源下方，然后
通过X射线照射样品。

样品中的元素受到X射线的激发后，会发出荧光辐射。

这些辐射将被通过X射线谱仪来检测和分析。

在ROHS测试中，我们主要关注六种有害物质，即铅(Pb)、汞(Hg)、
镉(Cd)、六价铬(Cr6+)、多溴联苯(PBBs)和多溴二苯醚(PBDEs)。

XRF光
谱筛选法可以对这些物质进行检测和定量。

进行XRF光谱筛选法测试的样品应该是充分准备的：首先，需要将样
品进行破碎、混合和粉碎，以确保样品中的有害物质能够充分释放。

然后，取一小部分样品放置在测试装置中，进行测试。

在测试过程中，使用X射线谱仪来获取样品辐射的光谱信息。

光谱可
以显示出样品中不同元素的特征峰，根据这些特征峰可以判断样品中是否
存在有害物质。

根据特征峰的强度和峰位，可以对有害物质的含量进行定
量分析。

XRF光谱筛选法具有准确、迅速、非破坏性等特点。

它可以在较短时
间内完成大量样品的测试，并且对样品没有破坏性，可以保留样品的完整性。

另外，该方法不需要使用化学试剂，可以降低对环境的污染。

然而，XRF光谱筛选法也存在一些限制。

首先，由于不同元素的辐射
特征不同，需要事先了解需要测试的有害物质的特征峰，才能正确进行测试。

其次，这种方法只能对样品进行表面的筛选，对于深层物质的检测相
对困难。

此外，该方法在测试高浓度物质时可能存在饱和问题，需要进行
相应的稀释处理。

综上所述，XRF光谱筛选法是一种常用的ROHS测试方法。

它可以快速、准确地分析样品中的有害物质含量，并且具有非破坏性、环保等特点。

随着技术的不断发展，XRF光谱筛选法将继续在ROHS测试领域发挥重要
作用。