无损检测仪器设备的期间核查方法

管电压（KV）无损检测仪器设备的期间核查方法
一、射线检测
1、曝光曲线的核查方法
1.1核查周期
射线设备均应制作曝光曲线，曝光曲线每年至少核查一次；射线设备更换重要部件或经较大修理后，应及时对曝光曲线进行核查。

1.2准备
准备一块阶梯试块（图1）和2块补充试块，材料与被透照工件相同或相近。

其中补充试块尺寸长*宽*高为210*100*10（mm）。

胶片、增感屏等材料与制作曝光曲线时一致。

图1 制作曝光曲线的阶梯试块
1.3 透照
各机型按表一选择低、中、高三个管电压进行曝光三次，曝光时其他参数（曝光时间、焦距）与制作曝光曲线时一致。

得到一组胶片。

表一
机型
低中高
1605 60 100 140
2005 80 130 180
2505 120 180 230
3005 140 210 280
1.4 暗室处理：按照制作曝光曲线时的暗室处理条件进行冲洗胶片。

1.5 测定：分别测定底片黑度为3.0（该黑度值与曝光曲线一致）时，对应的阶梯试块厚度。

1.6 核查结果判定：当上述测定的三个厚度值，与低、中、高管电压查原曝光曲线的厚度值之差在±2mm范围内，曝光曲线合格。

否则为不合格，应重新制作。

1.7 曝光曲线核查记录，按“文件编号：YTHNDT/QM04–C-JL120”的表格进行记录。

2、黑度计（光学密度计）的核查方法
2.1. 适用范围
本规程用于对射线照相底片的黑度测量的黑度计的校验，使黑度计能够对射线底片黑度作出可靠的测定。

黑度计应每6个月校验一次，标准黑度片应每2年送计量单位检定一次。

2.2. 校验需用标准器具
检定合格的标准黑度片一个。

2.3 操作步骤
2.3.1 接通黑度计电源和测量开关，预热10min 左右。

2.3.2 用标准黑度片的零黑度点校准黑度计零点。

校准后顺序测量黑度片上不同黑度的各点的黑度，记录测量值。

2.3.3 按3.2的规定反复测量三次。

2.3.3 计算出各点测量值的平均值，以平均值与黑度片该点的黑度值之差作为黑度计的测量误差。

2.3.4 对黑度不大于4.5的各点的测量误差均应不超过±0.05，否则黑度计应校准、修理或报废。

2.4 记录及标识
校验完毕后在仪器上进行标识，校验人员应按黑度计校验报告内容对测试数据认真记录并评价结论。

2.5 黑度计核查记录按“文件编号：YTHNDT/QM04–C-JL121”的表格进行记录。

3、观片灯的亮度和均匀度的核查方法
3.1核查周期
观片灯的亮度和均匀度，应每年进行核查。

3.2 技术要求
3.2.1亮度
观片灯应具有按照照相底片的黑度进行亮度选择的装置。

观片灯亮度要求的最小值见表二。

时，应不小于10 cd/m2。

3.2.2均匀系数
观察屏各部分应有均匀照明，均匀系数应大于0.5。

3.3 核查方法
3.3.1一般要求
所有的光度测定均在暗室进行，照明光度计必须放在测定范围的中心，而且即使当观察屏完全被遮住后，从观片灯漏出的光不影响测定。

3.3.2核查设备
试验时所用设备须持有国家计量单位签发的有效证书，测量光学参数时所用的亮度计应符合JJG 221的要求。

3.3.3 亮度测定
观片灯亮度测定用亮度计进行。

3.3.4均匀系数测定
照明均匀系数测定用亮度计进行。

把观察屏分成若干正方形，正方形每边长3.5cm，分别测定每个正方形的亮度。

找出四个最大亮度值和四个最小亮度值，并计算出Lmax和Lmin 亮度的算术平均值，均匀系数g=Lmin/Lmax。

3.4 观片灯的亮度和均匀度核查记录按“文件编号：YTHNDT/QM04–C-JL122”的表格进行记录。

二、超声检测
1 试块的核查方法
1.1 初次使用的标准试块、对比试块，应有有效的合格证书。

1.2 标准试块、对比试块每次使用前，应进行外观腐蚀及机械损伤情况核查；每4年应采用
经校准的器具对其半径及其他尺寸进行核查。

1.3 超声试块的核查记录按“文件编号：YTHNDT/QM04–C-JL123”的表格进行记录。

2 水平线性和垂直线性核查方法
水平线性和垂直线性核查方法见我公司“超声波探伤系统校验规程”，每隔3个月应核查一次。

垂直线性核查记录按“文件编号：YTHNDT/QM04–C-JL124”的表格进行记录。

水平线性核查记录按“文件编号：YTHNDT/QM04–C-JL125”的表格进行记录。

3 探头使用前主要参数核查方法
探头使用前，应进行前沿距离（入射点）、K 值与双峰、主声束偏离等主要参数核查。

3.1前沿距离的核查方法
3.1.2测试设备
探伤仪及CSK-IA 试块。

3.1.3测试方法
将斜探头压在试块上如图2 所示的位置，中间加适当的耦合剂以保持稳定的声耦合。

使声束朝向R100 mm 的曲面，并在探头声束轴线与试块侧面保持平行的情况下前后移动探头，至曲面回波的幅度达到最大。

读出试块上R100 mm
读数应精确到0.5 mm 。

前沿距离：用刻度尺测量入射点到探头前沿距离，读数应精确到0.5 mm 。

3.2 K 值的核查方法
测试设备同3.1.2。

将斜探头压在试块上的不同位置，如图5a ）和图5b ），中间加适当的耦合剂以保持稳定的声耦合。

a ）
b ）
c ）
图3
a ）当K 值为1.0~1.5 时，探头放在图3a ）的位置，使用φ50 mm 孔的回波进行测定。

b ）当K 值为2.0~3.0 时，探头放在图3b ）的位置，使用φ50 mm 孔的回波进行测定。

在探头声束轴线与试块侧面保持平行的情况下前后移动探头，使回波达到最大。

从探头入射点在试块侧面所对应的刻度值即可直接读出斜探头的K 值。

3.3 双峰的核查方法
探头双峰用CSK-IA 深度15mm 的Φ1.5横通孔来测定。

如图4a ）所示。

探头对准横孔，并前后平行移动，当显示屏上出现图4b ）所示的双峰波形时，说明探头具有双峰现象。

图4
3.4主声束偏离的核查方法
测试设备同3.1.2。

将探头置于CSK-IA标准试块25mm厚的表面上，其中，对于K≤1的探头，测试时用试块上端面；如图5（a），对于K>1的探头，测试时用下端面，如图5（b），前后移动和左右摆动探头，使所测试端面回波幅度最高，然后用量角器测量探头侧面与试块端面法线的夹角θ，如图5（c）。

夹角θ表示主声束偏离，读数精确到0.5º。

图5
3.5探头使用前核查记录按“文件编号：YTHNDT/QM04–C-JL126”的表格进行记录。

4超声检测系统使用前主要参数核查方法
4.1斜探头主要参数核查方法
斜探头前沿距离、K值及主声束偏离核查方法同3条。

4.2 直探头主要参数核查方法
4.2.1 始脉冲宽度
4.2.1.1测试设备
探伤仪、标准试块CSK-IA、对比试块DB-P(Z20-2)。

4.2.1.2测试步骤
a)调节探伤仪的发射强度，使被测探头阻尼电阻值接近其等效电阻。

b)将被测探头置于CSK-IA标准试块上厚度100mm处，调节探伤仪，使第一次底波B1前沿对准水平刻度“5”，第二次底波B2前沿对准水平刻度“10”，并使B2的幅度为垂直刻度的50%~80%,如图6（a）。

c）将探头置于对比试块DB-P(Z20-4)上，移动探头使孔波最高，调节（衰减器）使孔波幅度为垂直刻度的50%，再把（衰减器）的衰减量减少12dB，然后读取从刻度板的零点至始波后沿与垂直刻度20%线交点所对应的水平距离W1如图6（b），W1为负载始波宽度，用钢中纵波传播距离表示。

图6
d）将探头置于空气中，摖去其表面油层，读取从刻度板的零点至始波后沿与垂直刻度20%线交点所对应的水平距离W0，W0为空载始波宽度，用钢中纵波传播距离表示。

4.2.2 灵敏度余量
4.2.2.1测试设备
探伤仪、对比试块DB-P(Z20-2)。

4.2.2.1方法
a)探伤仪的抑制置于“0”或“断”，其他调整取适当值，最好选取在随后检测工作中将使用的调整值。

b)将仪器的增益调至最大，但如电噪声较大时应降低增益（调节增益控制器或衰减器），使电噪声电平降至10%满刻度。

设此时衰减器的读数为s0。

c）将探头压在试块上，中间加适当的耦合剂，以保持稳定的声耦合，移动探头，使平底孔回波最大，调节衰减器，使平底孔回波高度降至50%满刻度。

设此时衰减器的读数为si。

d）超声检测系统的灵敏度余量s=si-s0。

4.2.3 分辨力
4.2.3.1测试设备
探伤仪、CSK-IA试块。

4.2.3.1方法
a)探伤仪的抑制置于“0”或“断”，其他调整取适当值。

b)将探头压在试块上如图7所示的位置，中间加适当的耦合剂以保持稳定的声耦合。

调整仪器的增益并左右移动探头，使来自A、B两个面的回波幅度相等并约为20%~30%的满刻度，如图7中h1。

c）调节衰减器：使A、B两波峰间的波谷上升到原来波峰高度，此时衰减器所释放的dB数（等于用衰减器的缺口深度h1/h2之值）即为以dB值表示的超声检测系统的分辨力X。

图7 直探头的分辨力测试和回波显示
4.2.4 直探头主要参数核查记录按“文件编号：YTHNDT/QM04–C-JL127”的表格进行记录。

三、磁粉检测
1 提升力核查方法
磁粉探伤机的提升力，至少每半年应采用经校准的提升力重力试块进行核查。

在磁轭损伤
修复后应重新核查。

当使用磁轭最大间距时，交流电磁轭至少应有45N的提升力；直流电磁轭至少应有177N的提升力；交叉磁轭至少应有118N的提升力（磁极与试件表面间隙为0.5mm）。

磁粉探伤机提升力核查记录按“文件编号：YTHNDT/QM04–C-JL128”的表格进行记录。

2电流表精度核查方法
电流表在探伤机上与电流互感器或分流器一起校验，至少半年校验一次。

当设备进行重要电气修理、周期大修或损坏时，应进行校验。

（a）交流电流表核查方法
使用标准交流电流表（指已校验过的精度高一级的电流表）和标准电流互感器在探伤机上校验交流电流表的电路如图8-1所示。

如果探伤机的额定周向磁化电流为9000A，则可选用9000/5的标准电流互感器和5A的标准交流电流表进行校验。

将一长为500mm，直径至少25mm的铜棒穿在电流互感器中，夹持在探伤机的两夹头之间通电，至少应在可使用的范围内选三个电流值，比较标准电流表与探伤机上电流表的读数值，误差小于±10%为合格。

磁粉探伤机交流电流表精度核查记录按“文件编号：YTHNDT/QM04–C-JL129”的表格进行记录。

图8-1 校验交流电流表的电路图8-2 校验直流电流表的电路
（b）直流电流表核查方法
使用标准直流电流表（指已校验过的精度高一级的电流表）和标准分流器在探伤机上校验直流电流表的电路如图8-2所示。

将标准分流器夹持在探伤机的两夹头之间进行通电，至少应在可使用的范围内选三个电流值，比较标准电流表与探伤机上电流表的读数值，误差小于±10%为合格。

磁粉探伤机直流电流表精度核查记录按“文件编号：YTHNDT/QM04–C-JL130”的表格进行记录。

3测量仪器核查
黑光辐照计、照度计、磁场强度计、豪特拉斯计和袖珍式电秒表应每年送计量部门校验一次。

4 设备内部短路核查
设备内部短路检查至少每年检查一次。

检查方法是：将磁化电流调节到经常使用的范围的最大电流，当探伤机两夹头之间不夹持任何导体时，通电后电流表的指针如果不动，说明无短路。

此检查仅适用于磁化夹头通电的固定式探伤机。

其他类型探伤机不需要做该项核查。

设备内部短路检查核查记录按“文件编号：YTHNDT/QM04–C-JL131”的表格进行记录。

5 电流载荷核查
探伤机的电流载荷核查至少每年核查一次。

电流载荷指探伤机额定输出的周向磁化电流值。

核查方法是将一长为400mm，直径为25~38mm的铜棒夹持在探伤机的两夹头之间通电，观察电流表指示值。

将磁化电流值调节到最小和最大值，检查最小电流值是否是零或足够小，不至于在检验小工件时烧伤工件；检查最大电流值能否达到探伤机的额定输出，如果达不到，应挂标签说明实际可到达的磁化电流值范围。

探伤机的电流载荷核查记录按“文件编号：YTHNDT/QM04–C-JL131”的表格进行记录。

6 通电时间核查
在三相全波整流磁粉探伤机上，用时间继电器来控制磁化电流的持续时间，要求通电时
间控制在0.5~1s之内。

可使用袖珍式电秒表测量，至少每年核查一次。

通电时间核查记录按“文件编号：YTHNDT/QM04–C-JL131”的表格进行记录。

7磁粉检测系统综合性能核查
磁粉检测综合性能试验，应在每次检测前进行。

综合性能试验合格后，才能开始进行磁粉检测工作。

将标准试片贴在被检工件表面，按所采用的工艺进行磁化，按工艺要求的灵敏度等级，如果磁痕能清晰显示，综合性能试验合格。

磁粉检测综合性能核查记录按“文件编号：YTHNDT/QM04–C-JL132”的表格进行记录。

8检测环境核查
检测环境核查应每次检测前进行。

a）可见光照度
可见光照度采用照度计进行测量。

采用非荧光磁粉检测时，被检工件表面的可见光照度应大于等于1000lx。

若现场由于条件限制，无法满足时，可以适当降低，但不低于500lx。

b）黑光辐照度
在荧光磁粉检测时，黑光辐照度采用黑光辐照计测量。

在工件表面的黑光辐照度应大于等于1000uW/cm2。

c）环境光照度
环境光照度采用照度计测量。

采用荧光磁粉检测时，暗室或暗处的白照度应不大于20lx。

磁粉检测环境核查记录按“文件编号：YTHNDT/QM04–C-JL133”的表格进行记录。

四渗透检测
1 黑光辐照计、荧光亮度计、照度计核查
黑光辐照计用来测量紫外线辐照强度，波长范围为320~400mm，峰值应为365nm。

荧光亮度计用于测定和比较荧光渗透剂的荧光亮度。

波长范围为430~600nm，峰值为
500~520nm。

照度计用于测量白光照度，照度范围应为0~1600lx或0~6450lx。

黑光辐照计、荧光亮度计、照度计应每年由计量部门校验一次。

2 黑光灯的核查
黑光灯的紫外线辐照强度应每周检查一次。

黑光灯辐照强度用黑光辐照计测量，测量方法如下：
开启黑光灯20min后，将黑光辐照计置于黑光灯下，调节黑光辐照计到黑光灯灯泡的距离为380mm，读出黑光辐照计上的读数，读数值应大于1000 uW/cm2。

实际使用黑光灯时，要测量紫外线辐照的有效区，其测量方法如下：
首先，将黑光灯置于平时检验时的高度位置，开启预热20min；然后，将黑光辐照计置于黑光灯下，水平移动，使检测仪读数达最大位置为止。

在工作台上读数最大点位置画相互垂直的两条直线，见图9。

再将黑光辐照计置于交点处，沿每条直线按150mm的间隔点依次检测，并记下读数，直到测得读数为1000 uW/cm2读数点为止。

记下这些点，将这些点连接成圆形。

这个圆内区域就是黑光灯辐照有效区。

工件检验应在上述有效区内范围进行。

黑光灯使用较长时间后，输出功率将降低，如果降低25%以上，黑光灯应更换。

可使用黑光辐照计进行测量，方法如下：
将新黑光灯打开20min后，在暗室里将黑光辐照计置于黑光灯一定的距离处，记下读数；黑光灯使用一段时间后，对同一黑光灯在同一距离测得第二个读数。

比较两次读数，如果输出功率降低25%以上，则需更换黑光灯。

图9
黑光灯核查记录按“文件编号：YTHNDT/QM04–C-JL135”的表格进行记录。

3 检测环境核查
检测环境核查应每次检测前进行。

a）可见光照度
可见光照度采用照度计进行测量。

采用着色渗透检测时，被检工件表面的可见光照度应大于等于1000lx。

若现场由于条件限制，无法满足时，可以适当降低，但不低于500lx。

b）黑光辐照度
在荧光渗透检测时，黑光辐照度采用黑光辐照计测量。

在工件表面的黑光辐照度应大于等于1000uW/cm2。

c）环境光照度
环境光照度采用照度计测量。

采用荧光磁粉检测时，暗室或暗区的白光照度应不大于20lx。

渗透检测环境核查记录按“文件编号：YTHNDT/QM04–C-JL134”的表格进行记录。

五、涡流检测
1 试样的核查方法
1.1 初次使用的标准试样、对比试样，应有有效的合格证书。

1.2 标准试样、对比试样每次使用前，应进行外观腐蚀及机械损伤情况核查；每4年应采用
经校准的器具对其尺寸进行核查。

2 检测能力核查方法
2.1 使用ED-Φ试样进行测试。

图1 ED-Φ试样
2.2 开启涡流探伤系统电源，预热15～20min，以涡流探伤系统所给出的适当速度进行预运
转。

根据试件的材质、规格、状态选择合适的检测频率、相位、滤波档次和报警档次。

2.3 将检测线圈穿过ED-Φ试样，同时要让试样人工缺陷由小至大依次通过检测线圈，调节
增益，使试样人工缺陷信号显示在屏幕上。

记录幅值占屏幕满刻度的50%的最小人工缺陷和此时的增益值G1。

2.4 再将检测线圈穿过ED-Φ试样，调节增益至噪声显示占屏幕满刻度的50%，读取此时增益
值G2，则检测能力表示为:
S/N(ED-Φ)=| G2- G1|
式中: S/N——检测能力，dB；
ED-Φ——试件代号，其中Φ是幅值为50%的最小孔的直径，mm；
G1——人工缺陷显示为50%时的增益值，dB；
G2——噪声显示50%时的增益值，dB。

3 周向灵敏度差核查方法
3.1 使用EZ-d试样进行测试。

图2 EZ-d试样
3.2开启涡流探伤系统电源，预热15～20min，以涡流探伤系统所给出的适当速度进行预运转。

根据试样的材质、规格、状态选择合适的探测频率、相位、滤波档次和报警档次。

3.3 将检测线圈穿过EZ-d试样，调节增益，使试样上沿圆周分布的互为120º的三个通孔的
信号显示在屏幕上的幅值最小值为50%。

记录此时增益值G3。

3.4 再将检测线圈穿过EZ-d试样，以1dB的差值调节增益，直至三个通孔的信号显示在屏幕
上的幅值全部低于50%。

记录其增益值G4，则周向灵敏度差表示为:
∆=| G3- G4|
式中:∆——周向灵敏度差，dB。

4 端部盲区核查方法
4.1 使用EZ-d试样进行测试。

4.2 在周向灵敏度差测试之后，将增益恢复到G3位置，然后将检测线圈穿过试样，测量管端
各通孔的输出信号，当屏幕满刻度的35%以上范围能明显地得到某一个通孔的指示信号时，则该孔到试件端部的距离表示端部盲区。

5 分辨力核查方法
5.1 使用EF-B试样进行测试。

图3 EF-B试样
5.2 开启涡流探伤系统电源，预热15～20min，以涡流探伤系统所给出的适当速度进行预运
转。

根据试样的材质、规格、状态选择合适的探测频率、相位、滤波档次和报警档次。

5.3 将检测线圈穿过试样，调节增益，使试样单个通孔指示在屏幕上占满刻度的50%,然后不
再调节仪器，再将检测线圈穿过试样。

记录试样有成对通孔的信号指示值，当屏幕满刻度的35%以上范围能明显地得到两个临近通孔的指示时，则用最小的两个通孔中心距离表示分辨力。

6 连续工作稳定性核查方法
6.1 使用EF-B试样进行测试。

6.2 在分辨力测试的基础上，当以单个通孔信号指示的50%设定灵敏度之后，不再调节仪器，
每隔1h测试一次，直至8h为止。

将测试结果记作F
i
(i=1、2、……9)。

则连续工作稳定度表示为:
F=(1-
05F
-
F
MIN
MAX)×100%
式中：F——连续工作稳定度；
F MAX——测试中的最大指示值；
F MIN ——测试中的最小指示值。

7 线性核查方法
7.1 使用EF-B试样进行测试。

7.2 开启涡流探伤系统电源，预热15～20min，以涡流探伤系统所给出的适当速度进行预运
转。

根据试样的材质、规格、状态选择合适的探测频率、相位、滤波档次和报警档次。

7.3 将将检测线圈穿过试件，调节增益，使单孔信号的指示占屏幕满刻度的100%。

然后，以
4dB的量调节增益，每次调节后，用屏幕满刻度的百分数记下单孔信号的指示值，每档测试三次，取平均值，一直继续到单孔信号指示占屏幕的10%左右为止。

在测试记录中，除应按要求的检查内容记录各个项目的测试结果外，还应同时记录下列各项：
a．涡流探伤系统的制造厂名、型号、编号；
b．试件的材质、规格、状态、编号；
c．测试时的频率、相位、滤波档次、报瞥档次及填充系数等；
d．测试时涡流探伤系统的检测速度；
e．测试操作者姓名、职称；
f．测试日期；
g．测试地点、环境条件；
h．事先规定需要记录的其他内容。