游离二氧化硅质控样品参考值范围

游离二氧化硅质控样品参考值范围
（原创版）
目录
1.游离二氧化硅粉尘的危害
2.游离二氧化硅粉尘的检测方法
3.游离二氧化硅质控样品参考值范围
正文
一、游离二氧化硅粉尘的危害
游离二氧化硅粉尘，俗称矽尘，是工业界广泛存在的职业有害因素。

长期接触矽尘可能导致矽肺，这是尘肺中最严重、最多见、报告最早、研究最多、病理改变基本清楚的一种疾病。

据 2006 年卫生统计报告显示，我国累积矽肺患者约为尘肺的半数，大约 30 余万例。

矽肺不仅发病率高，而且死亡率也较高，是我国乃至全球发病率和死亡率最高的一种尘肺病。

二、游离二氧化硅粉尘的检测方法
为了确保工作环境安全，预防和控制矽尘危害，需要定期对工作环境中的游离二氧化硅粉尘进行检测。

常见的检测方法包括 X 射线衍射法、红外光谱法、原子吸收光谱法、电感耦合等离子体发射光谱法等。

三、游离二氧化硅质控样品参考值范围
为了保证检测结果的准确性和可靠性，需要定期进行游离二氧化硅质控样品的检测。

游离二氧化硅质控样品的参考值范围因检测方法不同而有所差异。

例如，采用 X 射线衍射法进行检测时，游离二氧化硅质控样品的参考值范围为 10~100μg/m3；采用红外光谱法进行检测时，游离二氧化硅质控样品的参考值范围为 0.1~1mg/m3。

总之，游离二氧化硅粉尘对人体健康的危害不容忽视，应采取有效措施进行检测和控制。