硬盘磁头电信号动态测试实验研究
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硬盘磁头电信号动态测试实验研究
姚华平;韦鸿钰
【期刊名称】《机电产品开发与创新》
【年(卷),期】2011(024)004
【摘要】根据硬盘磁记录工作原理可知,磁头输出电信号的强弱直接反应了磁头飞行高低的变化,因此本文通过测试硬盘在低频率振动下磁头电信号的变化情况来分析磁头的飞行状况.结果表明当激振频率小于25Hz时,其电压输出值的波动很小,输出结果具有一定的规律性.当频率大于50Hz时,电压输出波动幅度就比较大.磁头在磁盘表面的振动幅度也比较历害,而在30Hz和60Hz时硬盘都有共振现象.
【总页数】3页(P21-22,29)
【作者】姚华平;韦鸿钰
【作者单位】仲恺农业工程学院机电工程学院,广东广州510225;仲恺农业工程学院机电工程学院,广东广州510225
【正文语种】中文
【中图分类】TH11
【相关文献】
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