光刻工艺概述

光刻工艺流程图
步骤
１、前处理
２、匀胶
３、前烘
4、光刻
5、显影
6、坚膜
7、腐蚀
8、去胶
一前处理（OAP）
通常在150~200℃对基片进行烘考以去除表面水份，以增强光刻胶与硅片的粘附性。

（亲水表面与光刻胶的粘附性差，SI的亲水性最小，其次SIO2，最后PSI玻璃和BSI玻璃）
OAP的主要成分为六甲基二硅烷，在提升光刻胶的粘附性工艺中，它起到的作用不是增粘剂，而是改变SiO2的界面结构，变亲水表面为疏水表面。

OAP通常采用蒸汽涂布的方式，简单评
价粘附性的好坏，可在前处理过的硅片上滴一滴水，通过测量水与硅片的接触角，角度越大，
SI
二、匀胶
光刻胶通常采用旋涂方式，在硅片上得到一层厚度均匀的胶层。

影响胶厚的最主要因素：光刻胶的粘度及旋转速度。

次要因素：排风；回吸；胶泵压力；胶盘；温度。

胶厚的简单算法：光刻胶理论的最小胶厚的平方乘以理论的转速=目标光刻胶的胶厚的平方乘以目标转速
例如：光刻胶理论厚度1微米需要转速3000转/分，那需要光刻胶厚度1.15微米时转速应为
12 *3000/1.152
三、前烘
前烘的目的是为了驱除胶膜中残余的溶剂，消除胶膜的机械应力。

前烘的作用： 1）增强胶层的沾附能力；2）在接触式曝光中可以提高胶层与掩模板接触时的耐磨性能；3）可以提高和稳定胶层的感光灵敏度。

前烘是热处理过程，前烘通常的温度和时间：
烘箱90~115℃ 30分钟
热板90~120℃ 60~90秒
四、光刻
光刻胶经过前烘后，原来液态光刻胶在硅片表面上固化。

光刻的目的就是将掩膜版上的图形转移到硅片上。

曝光的设备分类接触式、接近式、投影式、步进式/扫描式、电子束曝光、软X射线曝光。

五、显影
经过显影，正胶的曝光区域和负胶的非曝光区域被溶解，正胶的非曝光区域和负胶的曝光区域被保留下来，从而完成图形的转移工作。

正胶曝光区域经过曝光后，生成羧酸与碱性的显影液中和反应从而被溶解。

负胶的曝光区域经过曝光后产生胶联现象，不被显影液溶解。

而未曝光的区域则被显影液溶解掉。

定影液的作用是漂洗显影过程中产生的碎片，挤出残余的显影液，另外还可以起到收缩图形，提高图形的质量。