恒温晶体振荡器失效机理及分析诊断

合集下载

晶振高温不起振的原因

晶振高温不起振的原因

晶振高温不起振的原因晶振是一种常见的电子元件,广泛应用于各种电子设备中。

然而,在高温环境下,晶振有时会出现不起振的现象,即无法正常工作。

那么,究竟是什么原因导致了晶振在高温下不起振呢?我们需要了解晶振的工作原理。

晶振是通过利用压电效应来产生振荡信号的。

在晶振内部,会有一个压电材料,当外加电场或机械应力作用于晶体时,会使晶体发生形变,从而产生电荷。

这个电荷会通过电路传递,形成一个正反馈回路,使晶体不断振荡。

然而,在高温环境下,晶振的工作原理会受到一些因素的影响,从而导致晶振不起振。

首先,高温会使晶体材料的晶格结构发生变化,导致晶体的压电效应减弱或失效。

这样一来,晶体就无法产生足够的电荷来维持振荡。

另外,高温还会使晶振电路中的电子元件的性能发生变化,例如电容器的电容值会随温度升高而减小,电感器的电感值会随温度升高而增大。

这些变化都会对晶振的工作产生影响,进而导致晶振不起振。

高温还会引起晶振电路中的其他问题,例如晶体管的温度漂移。

晶体管是晶振电路中的重要元件,它的性能会受到温度的影响。

在高温环境下,晶体管的电流增益会降低,从而使晶振电路失去稳定性,无法起振。

另外,高温还会使电路中的电阻值发生变化,进一步影响晶振的工作。

为了解决晶振在高温环境下不起振的问题,可以采取一些措施。

首先,可以选择高温下工作可靠的晶振产品。

一些专门设计用于高温环境的晶振,可以在高温下保持稳定的工作性能。

其次,可以采用温度补偿电路来解决温度漂移的问题。

温度补偿电路可以根据温度变化来调整电路中的元件参数,使晶振在高温下仍然能够起振。

此外,还可以采取散热措施,降低晶振的工作温度,减少温度对晶体和电子元件的影响。

总的来说,晶振在高温环境下不起振的原因主要包括晶体材料的压电效应减弱、电子元件性能的变化以及温度漂移等。

针对这些问题,可以采取一系列措施来解决。

通过选择高温下工作可靠的晶振产品、采用温度补偿电路和进行散热设计,可以保证晶振在高温环境下正常工作。

晶振的工作原理及不能运行分析

晶振的工作原理及不能运行分析

二、不能运行分析
在电子线路中,晶振的主要失效模式是开路、短路、频率稳定性差等。
1、造成开路、短路的原因主要为支架脱落、脱锡、外壳封装系统机械损伤等,而造成频率稳定性差的因素很多。
2、晶振在使用和贮存过程中,随着时间的变化而出现老化现象,通过对成品的解剖和原材料、制造工艺的分析,应用扫描电子显微镜的观察,初步认为失效的晶振频率稳定性差是由使用的原材料不当、石英晶片表层清洁处理不良、表层污染、蒸发的银膜层附着性差因素造成的。
晶振的工作原理及不能运行分析,松季电子具体介绍如下:
ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ、晶振的工作原理
晶振也称晶体谐振器,主要由石英晶片、银膜层电极、引线、支架和外壳等组成,是用电损耗很小的石英晶体经精密切割磨削并镀上电极焊上引线做成。这种晶体有一个很重要的机电效应特性,即通电就会产生机械振荡,反之,如果施加机械力则又会产生电。机电效应一个很重要的特点,就是其振荡频率与他们的形状,材料,切割方向等密切相关。

针对晶体振荡器失效的分析与研究

针对晶体振荡器失效的分析与研究

针对晶体振荡器失效的分析与研究作者:孙宝宏来源:《中国新技术新产品》2014年第04期摘要:本文首先介绍了晶体振荡器的结构、组成和分类,之后通过具体的案例,对晶体振荡器失效现象以及分析流程进行了分析研究,最终确定了发生失效现象的机理。

关键词:晶体振荡器;振荡电路;输出电路;失效分析中图分类号:TN75 文献标识码:A1 晶体振荡器的概述石英晶体振荡器,简称晶振器,是利用有压电效应的石英晶体片制成的。

石英晶体自从被发现到现在有近百年时间,二战后期才得到广泛使用。

在受到外加交变电场作用时,晶振会表现出谐振的特性,利用这种性质它可以取代LC振荡电路、滤波器等。

晶振体有很好的频率稳定性,所以一般在要求频率稳定的振荡电路中作为谐振元件使用。

近年来,移动通信和汽车行业发展迅猛,基站建设和汽车电子行业对于石英晶体振荡器的需求也就更多,更是以集成化、数字化形式出现,振荡器的体积和重量与以前的谐振器相比缩小数十倍。

2 晶体振荡器的组成和分类2.1 晶体振荡器的组成2.1.1 振荡电路晶体振荡电路分为并联和串联两种电路模式,一般使用的是并联晶体振荡电路。

常用的振荡电路为克拉泼振荡电路,这是一种电容反馈三点式电路,它与考必兹振荡电路相比,在电感支路有一个电容,可以减小三极管对回路的影响,进一步提高振荡电路的频率稳定性。

2.1.2 输出电路输出电路的主要作用是对振荡电路获得的信号进行缓冲、放大、整形,得到需要的输出,传输给后级门电路,经常会使用到逻辑电平转化电路和分频电路。

在表示输出正弦波电平时,需要住上谐波控制比,方波或矩形波输出电平应注明TTL、CMOS或者其它,是否要支流,还要表示出占空比、上升时间、下降时间等参数。

2.2 晶体振荡器的分类(1)筒式晶振(PXO)(2)压控晶振(VCXO)(3)温补晶振(TCXO)(4)恒温晶振(OCXO)(5)组合晶振(VCXO、VCTCXO、VCOCXO)3 晶体振荡器电路分析方法当晶体振荡器元件无法使用后,首先要先将元件的各个参数进行标记,包括各引脚的特性,还要收集其输出波形、稳态工作电流、输出频率、引脚间的Ⅳ特性等数据信息,并将这些数据信息和完好的晶振体元件进行数据比对,初步判断元件失效的可能性。

晶振时振时不振问题的发生,分析和解决

晶振时振时不振问题的发生,分析和解决

晶振时振时不振问题的发生,分析和解决
晶振时振时不振问题是很多工程师们烦恼的事情了,今天松季电子特意为大家介绍分析晶振时振时不振问题的发生,分析和解决。

一、问题的发生
有许多工程师在遇到,晶振在电路板,一会儿起振,一会儿不起振,或用电吹风吹一下又可以正常工作等问题。

二、问题原因分析
如果遇到这种问题,首先要检测晶振的频率参数和晶振的电阻是不是在要求的范围内,如果是在要求的范围内;其次要检查晶振的焊接温度会不会高,造成晶振的第二次损坏,一般要求焊接的温度是在250度左右或更低,最高不要超过300°C。

如果这些都是在要求的范围内,那就要考虑是不是整个单片机电路的问题了。

三、问题如何解决
如果遇到这样的问题,检测晶振参数和调整焊接温度可以很容易做到,如果单片机电路的问题可以找方案商来解决,再则是看晶振有没有漏气,晶振在潮湿的天气情况下也会出现这种问题,这样就建议更换质量较好的晶振。

恒温控制晶体振荡器(OCXO)的原理

恒温控制晶体振荡器(OCXO)的原理

恒温控制晶体振荡器(OCXO)的原理CXO是利用恒温槽使晶体振荡器或石英晶体振子的温度保持恒定,将由周围温度变化引起的振荡器输出频率变化量削减到最小的晶体振荡器,其内部结构如图4所示。

在OCXO中,有的只将石英晶体振子置于恒温槽中,有的是将石英晶体振子和有关重要元器件置于恒温槽中,还有的将石英晶体振子置于内部的恒温槽中,而将振荡电路置于外部的恒温槽中进行温度补偿,实行双重恒温槽控制法。

利用比例控制的恒温槽能把晶体的温度稳定度提高到5000倍以上,使振荡器频率稳定度至少保持在1×10-9。

OCXO主要用于移动通信基地站、国防、导航、频率计数器、频谱和网络分析仪等设备、仪表中。

OCXO是由恒温槽控制电路和振荡器电路构成的。

通常人们是利用热敏电阻“电桥”构成的差动串联放大器,来实现温度控制的。

具有自动增益控制(AGC)的(C1app)振荡电路,是目前获得振荡频率高稳定度的比较理想的技术方案。

在近几年中,OCXO的技术水平有了很大的提高。

日本电波工业公司开发的新器件功耗仅为老产品的1/10。

在克服OCXO功耗较大这一缺点方面取得了重大突破。

该公司使用应力补偿切割(SCCut)石英晶体振子制作的OCXO,与使用AT 切形石英晶体振子的OCXO比较,具有高得多的频率稳定度和非常低的相位噪声。

相位噪声是指信号功率与噪声功率的比率(C/N),是表征频率颤抖的技术指标。

在对预期信号既定补偿处,以1Hz带宽为单位来测量相位噪声。

Bliley公司用AT切形晶体制作的NV45A在补偿点10Hz、100Hz、1kHz和10kHz处的相位噪声分别为100、135、140和145dBc/Hz,而用SC切割晶体制成的同样OCXO,则在所有补偿点上的噪声性能都优于5dBc/Hz。

凯越翔电子生产的OCXO,频率范围为5~120MHz,在-10~+60℃的温度范围内,频率稳定度有±0.02、±0.03和±0.05ppm,老化指标为±0.02ppm/年和±0.05ppm/年。

可靠性增长试验中抗振恒温晶振失效案例分析

可靠性增长试验中抗振恒温晶振失效案例分析

可靠性增长试验中抗振恒温晶振失效案例分析龚小维(中国西南电子技术研究所,四川成都610036)摘要:随着航天技术的发展,对飞行器中电子设备的小型化和可靠性指标均提出了较高的要求,而晶振作为电子设备中不可或缺的基本单元,对其体积和抗振性设计也提出了更高的要求。

某飞行器载小型化通信设备在研制过程中通过可靠性增长试验暴露出了超小型抗振恒温晶振失效的潜在故障,对该晶振的减振原理及故障机理进行了分析,提出了改进措施并进行了仿真和试验验证,最终达到了提升小型化通信设备的可靠性指标的目标,对于提高类似航天电子产品的可靠性设计水平具有一定的参考意义。

关键词:可靠性增长试验;恒温晶振;动态相噪中图分类号:TN 752文献标志码:A文章编号:1672-5468(2021)02-0047-06doi:10.3969/j.issn.1672-5468.2021.02.010Failure Case Analysis of Anti-vibration OCXO inReliability Growth TestGONG Xiaowei(Southwest China Institute of Electronic Technology ,Chengdu 610036,China )Abstract :With the development of aerospace technology ,higher requirements have been putforward for the miniaturization and reliability of electronic equipment in aircraft ,and crystal oscillator is an indispensable basic unit in electronic equipment ,so higher requirements also have been put forward for its volume and vibration resistance design.The potential failure of the ultra-small anti-vibration OCXO is exposed through the reliability growth test during the developmentprocess of a flight -borne miniaturized communication equipment.The principle of vibration reduction and failure mechanism of the crystal oscillator are analyzed ,improvement measures are proposed ,and simulation and experimental verification are carried out .Finally ,the goal of improving the reliability index of miniaturized communication equipment is achieved ,which has certain reference significance for improving the reliability design level ofsimilar aerospace electronic products.Keywords :reliability growth testing ;OCXO ;dynamic phase noise收稿日期:2020-07-07作者简介:龚小维(1987-),男,重庆人,中国西南电子技术研究院工程师,硕士,主要从事航天测控、卫星通信技术研究工作。

晶振不起振的原因及解决方法

晶振不起振的原因及解决方法

晶振不起振的原因及解决方法晶振不起振的原因分析:在检漏过程中,就是在酒精加压的环境下,晶体容易产生碰壳现象,即振动时芯片跟外壳容易相碰,从而晶体容易发生时振时不振或停振等不良现象;在压封时,晶体内部要求抽真空充氮气,如果发生压封不良,即晶体的密封性不好时,在酒精加压的条件下,其表现为漏气,漏气分为单漏及双漏,双漏会导致停振;由于芯片本身的厚度很薄,当激励功率过大时,会使内部石英芯片破损,也会导致停振;有功负载会降低Q值(即品质因素),从而使晶体的稳定性下降,容易受周边有源组件影响,处于不稳定状态,出现时振时不振现象;由于晶体在剪脚和焊锡的时候容易产生机械应力和热应力,而焊锡温度过高和作用时间太长都会影响到晶体,容易导致晶体处于临界状态,以至于出现时振时不振现象、甚至停振;在焊锡时,当锡丝透过线路板上小孔渗过,导致引脚跟外壳连接在一块,或是晶体在制造过程中,基座上引脚的锡点和外壳相连接发生单漏,都会造成短路,从而引起停振;当晶体频率发生频率漂移,且超出晶体频率偏差范围过多时,以至于捕捉不到晶体的中心频率,从而导致芯片不起振。

晶振不起振的解决方法:严格按照技术要求的规定,对石英晶体组件进行检漏试验以检查其密封性,及时处理不良品并分析原因;压封工序是将调好的谐振件在氮气保护中与外壳封装起来,以稳定石英晶体谐振器的电气性能。

在此工序应保持送料仓、压封仓和出料仓干净,压封仓要连续冲氮气,并在压封过程中注意焊头磨损情况及模具位置,电压、气压和氮气流量是否正常,否则及时处理。

其质量标准为:无伤痕、毛刺、顶坑、弯腿,压印对称不可歪斜。

由于石英晶体是被动组件,它是由IC提供适当的激励功率而正常工作的,因此,当激励功率过低时,晶体不易起振,过高时,便形成过激励,使石英芯片破损,引起停振。

所以,应提供适当的激励功率。

另外,有功负载会消耗一定的功率,从而降低晶体Q值,从而使晶体的稳定性下降,容易受周边有源组件影响,处于不稳定状态,出现时振时不振现象,所以,外加有功负载时,应匹配一个比较合适有功负载。

恒温振荡器原理

恒温振荡器原理

恒温振荡器原理
恒温振荡器是一种常用的实验室设备,其工作原理基于热力学和控制工程的概念。

恒温振荡器通常由加热元件、温度传感器和反馈控制系统组成。

加热元件通过耗散功率产生热量,将温度升高到设定值。

温度传感器监测样品或反应体系的温度,并将反馈信号发送给控制系统。

控制系统根据反馈信号调整加热功率,以使温度保持在设定值附近。

这种闭环控制机制确保了设备的稳定性和精确性。

恒温振荡器的工作原理可以分为几个部分:
1.温度控制:恒温振荡器通过加热元件和温度传感器实现对样品或反应体系的温度控制。

加热元件提供热量,温度传感器实时监测温度,并将信号传递给控制系统。

控制系统根据温度传感器的反馈信号调整加热功率,以保持温度恒定。

2.振荡功能:恒温振荡器还配备有振荡装置,用于对样品进行搅拌或摇动。

这种振荡可以促进样品中的分子混合和反应,提高反应速度和效果。

振荡频率和振幅可以根据实验需求进行调整。

3.恒温与振荡的结合:恒温振荡器将温度控制和振荡功能相结合,为实验提供稳定的温度环境和促进反应的振荡条件。

这种组合使得恒温振荡器在生物学、生物化学、分子生物学等领域的研究中广泛应用,如细胞培养、酶反应、样品混合等。

总之,恒温振荡器通过温度控制和振荡功能的结合,为实验提供稳定的温度环境和促进反应的振荡条件。

这种设备在生物学、生
物化学、分子生物学等领域的研究中发挥着重要作用。

晶振不起振的原因是什么?这些解决办法要知道!

晶振不起振的原因是什么?这些解决办法要知道!

晶振不起振的原因是什么?这些解决办法要知道!其实对于晶振不起振的主要原因有很多,比如晶振损坏,晶振接头问题等等都是晶振不起振的原因的。

下面针对于晶振不起振的原因给大家详细的分享一些细节吧!只要大家了解这些细节也能够解决。

晶振不起振的原因一:设计原因设计原因一般很少出现,因为晶振公司在制作的晶振以后都是经过科学设计的。

当然也可能会有设计的原因,比如晶振焊盘太小,设计不合理,导致贴片机的放置偏移或不到位,焊盘太小,锡膏会少,焊接不可靠解决方法就是增加焊盘,这种原因很好解决的。

晶振不起振的原因二:电路原因晶振属于灵敏配件,若是晶振电路不合理,EMC干扰大,导致晶振收因晶振引脚产品感应电流大而烧毁,这也是很正常的,尤其是初次使用晶振的公司很容易会出现这样的原因。

由于公司的设计电路问题导致晶振烧毁,很正常。

这种方式常见的解决方法是在晶振引脚两端并联一个1M阻值的电阻,改变电路,就能够快速解决,具体要看实际情况而定,这里只是简单的判断。

晶振不起振的原因三:晶振旁路电容不匹配。

晶振的旁路电容可以帮助启动振荡,微调晶振的输出频率,一般在10~20PF左右。

但是,当芯片贴装过程中出现混频时,两个旁路电容之差较大,会导致晶振不振荡。

或者设计的旁路电容不合理,在边界参数时可能不振动。

晶振不起振的原因四:工作环境原因对于晶振的工作环境也是需要注意的,比如晶振温度过高时,容易造成晶振损坏。

解决方法是根据系统中各器件的温度要求,整理出合适的温度曲线文件。

晶振本身质量有问题,这种问题更容易出现在小品牌或者购买的拆解部件上。

当晶振量产过程中不良率较高时,可将损坏的晶振提供给供应商进行分析,并要求供应商提供8D报告。

找到问题点,进行整改控制。

总之,对于电子产品的外接芯片来说,若是技术不到位的话很容易出现问题,现在任何位置的芯片都有可能出现缺陷,尤其是二次焊接或者企业自己设计的电路,没有充足的经验很容易导致晶振不起振的,这种是晶振不起振的原因主要原因具体是什么原因要分析才知道。

晶振失效故障分析

晶振失效故障分析
E l e c t r o n i c T e c h n o l o g y・ 电子技术
晶振 失效 故障分析
文/ 张 富 尧
2 . 1晶振 复测情 况
本 文 通 过 对 无 输 出 晶 振 的 失 效 分 析 , 确 定 了 失 效 原 因。 由 于 该 晶 振 内 部 锁 相 倍 频 集 成 芯 片 性
< <上 接 9 2页
近年来 ,随着各种科学技术 的不 断完善和 进 步,推动 了半导体 、平板刷等技术工 艺的发 展 ,由此为数字 电路 的发展提供 了强有力 的技 术 支撑 。在未来一段 时期,数字 电路将会朝着 集成化 、复杂化、智 能化 的方向发展,它的运 算速度 也将在现有 的基础上 获得进 一步提升 , 在这 一前提下,数字 电路将 可集成数 以亿计的
大学 , 2 0 1 3 .
[ 3 ]冯 威 锋 .浅 谈 电 子 电 路 仿 真 技 术 在 电子 应 用 开 发 中的 作 用 [ J ] .电 子 测
试 , 2 0 1 6 ( 0 7 ) : 5 4 — 5 6 .
[ 4 】李 如 发 .关 于 数 字 电 子 电 路 设 计 之 中E D A技 术 的 应 用 探 究 【 J 】 .电 子 测
2 . 2故 障分析 及定位
能不 良导致 。使用有延 时的 D C - D C
电 源 对 晶 振 进 行 加 电 测 试 , 发 现 失 效 问题 ,可在 早 期解 决 这一 问
题。
该 晶 振 采 用 表 贴 封 装 形 式 , 封 装 为 MD7 x 5 x 2 mm。 。 内 部 电路 主 要 由 3个 部 分 组 为 了对 故 障晶振 无输 出的现象 进行 准确 S M D 石 分 析定 位 ,对 从模 块 电路 板上 取下 的 晶振进 成 : 温 补 晶 振 芯 片 、 锁 相 倍 频 芯 片 、S 行 了 单 独 故 障 复 现 试 验 。 在 常 温 下 通 过 对 晶 英 晶体 谐 振 器 。 振 单独进 行 多次 加 电测试 ,未 出现 晶振 无输 S MD 晶 体 谐 振 器 ( 2 5 MHz ) 与 温 补 晶 出的情况 。进一 步改变晶振的负载 ( 使用 5 0 D 振 集成 芯 片连 接,产 生 高精度 和 高稳 定度 的 2 . 1 . 1晶振 单独 测 试

水浴恒温振荡器故障解析恒温振荡器操作规程

水浴恒温振荡器故障解析恒温振荡器操作规程

水浴恒温振荡器故障解析恒温振荡器操作规程一、温度不受掌控原因:继电器坏或传感器受潮解决:打开水浴恒温振荡器右侧掌控箱侧板,将传感器从水槽拉出更换,继电器坏比较简单的方法就是更换温控线路板。

二、加热正常,振荡速度变慢。

原因1:调速一、温度不受掌控原因:继电器坏或传感器受潮解决:打开水浴恒温振荡器右侧掌控箱侧板,将传感器从水槽拉出更换,继电器坏比较简单的方法就是更换温控线路板。

二、加热正常,振荡速度变慢。

原因1:调速线路板上的可调电阻在水浴恒温振荡器长期运行的过程中产生位移。

解决:打开水浴恒温振荡器掌控柜侧板,接通电源,将温控设定为O度或常温以下(即不加热状态),打开振荡开关,将速度调至最高,找到速度掌控板上的两个可调电阻,缓慢调整调整右边的即可解决。

原因2:传动电机碳刷磨损。

解决:假如振荡速度还是不尽人意,就要考虑传动电机了,可以更换电机.三、振荡正常,仪表温度显示常温原因:加热管坏解决:将不锈钢水槽的固定螺丝卸下,拿出水槽,用扳手把加热管螺母拧下,更换加热管.四、加热正常,振荡无法工作。

原因1:传动带脱落解决:查看水浴恒温振荡器底部的传动带。

原因2:传动电机故障,变压器坏,偏心轮脱落,调速线路板被烧。

解决:打开水浴恒温振荡器掌控柜侧板,接通电源,将温控设定为O度或常温以下(即不加热状态),打开振荡开关,将速度调至最高,用万用表交流250档测量变压器有无220V电压输入,若无则开关坏,反之,测量变压器有无12V电压输出(用交流50V档),无则变压器坏,此时切勿轻易更换变压器,该情况多为线路板中整流部分或电机显现短路故障(显现此种现象,变压器外观有烧焦现象),在排出以上情况,更换即可。

12V电压正常,检查有无直流12电压(直流50V档),没有则整流桥断路,更换。

有则检查有无电压输出至电机(5—8V左右),有则电机坏。

一专业分析仪器服务平台,试验室仪器设备交易网,仪器行业专业网络宣扬媒体。

相关热词:等离子清洗机,反应釜,旋转蒸发仪,高精度温湿度计,露点仪,高效液相色谱仪价格,霉菌试验箱,跌落试验台,离子色谱仪价格,噪声计,高压灭菌器,集菌仪,接地电阻测试仪型号,柱温箱,旋涡混合仪,电热套,场强仪万能材料试验机价格,洗瓶机,匀浆机,耐候试验箱,熔融指数仪,透射电子显微镜。

电子电路中的振荡器故障排查与调试

电子电路中的振荡器故障排查与调试

电子电路中的振荡器故障排查与调试振荡器在电子电路中扮演着重要的角色,它能够产生稳定的、周期性的信号。

然而,由于其复杂的工作原理,振荡器的故障排查和调试成为电子工程师经常面对的挑战之一。

本文将介绍电子电路中常见的振荡器故障,以及相应的排查和调试方法。

一、故障现象的描述与分析振荡器故障的表现形式多种多样,包括但不限于以下情况:1. 无振荡信号输出:振荡器未能产生输出信号。

2. 频率偏移:振荡器输出的信号频率与设计要求的频率有一定的偏差。

3. 振幅异常:振荡器输出信号的振幅异常,要么太小,要么太大。

通过观察故障现象,可以初步判断振荡器故障的可能原因。

例如,无振荡信号输出可能是由于电源故障、元件损坏等原因造成的。

二、故障排查方法1. 验证电源供电:首先,检查电源供电是否正常。

可以使用示波器、万用表等工具,对电源电压进行测量,并确保在规定范围内。

2. 检查元件故障:振荡器中的元件包括电容、电感、晶体管等。

通过测量这些元件的参数,特别是电容和电感的值,可以发现是否存在故障。

3. 检查反馈电路:反馈电路是振荡器正常工作的关键。

通过检查反馈电路中的电容、电阻、电感等元件,以及连接线路的接触是否良好,可以排除问题。

4. 检查工作条件:振荡器的工作条件对其性能有很大影响。

例如,温度、湿度、空气质量等外界环境条件变化,都有可能导致振荡器故障。

因此,在排查故障时,还应注意检查工作条件是否符合设计要求。

三、故障调试方法1. 更换故障元件:通过对元件进行逐一更换,可以发现故障元件并解决问题。

在更换元件时,应确保所使用的元件型号、规格与设计要求相符。

2. 调整振荡器参数:振荡器的频率和振幅可以通过调整参数进行调试。

例如,通过改变电容、电压、电感等元件的值,可以改变振荡器的频率。

通过测量输出信号的振幅,可以调整元件的参数,使其达到设计要求。

四、注意事项在进行振荡器故障排查和调试时,需要注意以下几点:1. 安全第一:在检查电源供电、更换元件等操作时,要确保操作安全。

晶体不起振

晶体不起振

晶体不起振
晶体不起振可能是由于以下几个原因引起的:
1.频率不匹配:晶体振荡器的起振频率需要与设计要求的频率匹配。

如果晶体的谐振频率与所需的振荡频率不匹配,晶体就无法起振。

这可能是由于晶体的制造问题或选择的晶体与所需频率不兼容。

2.损坏或老化:晶体可能会因为损坏或老化而无法起振。

损坏可能是由于物理损坏、机械应力、温度过高或过低等因素引起的。

老化可能是由于晶体内部结构的变化或材料性能的衰减导致的。

3.不正确的电路连接:晶体振荡器需要正确的电路连接才能正常起振。

如果晶体的引脚连接不正确、电路中的元件损坏或接触不良等问题,都可能导致晶体无法起振。

4.负载问题:晶体振荡器需要合适的负载来确保稳定的振荡。

如果负载电容或电阻不正确,会导致晶体无法起振或频率偏离。

解决晶体不起振的问题可能需要进行以下步骤:
1.检查电路连接:确保晶体的引脚连接正确,并检查与晶体相关的电路元件和连接是否正常。

2.替换晶体:如果晶体损坏或老化,可能需要将其替换为新的晶体。

3.调整负载:尝试调整负载电容或电阻,以确保适当的负载匹配。

4.检查频率匹配:确保选择的晶体与所需频率相匹配。

1/ 1。

水浴恒温振荡器三种故障现象解决方法

水浴恒温振荡器三种故障现象解决方法

水浴恒温振荡器三种故障现象解决方法水浴恒温振荡器是一种常见的实验室仪器,用于进行样品的恒温振荡操作。

然而,在使用过程中可能会出现不同的故障现象,这可能会影响实验的进行,本文将介绍三种常见的故障现象及其解决方法。

一、加热功率不足如果水浴恒温振荡器的加热功率不足,那么无法实现理想的恒温振荡效果。

出现该问题的原因可能是设备老化、电源不稳定或者样品量过多等。

解决方法如下:1.选用合适的样品容器。

样品容器不宜过高或过低,太高会透支加热功率,太低会使样品无法恒温。

2.调整加热功率。

如果设备允许调整功率,可以尝试调整加热功率以达到理想的恒温效果。

3.更换电源。

如果电源不稳定,可以尝试更换更稳定的电源以解决该问题。

4.更换设备。

如果设备老化或存在其他无法解决的问题,可以考虑更换新的水浴恒温振荡器。

二、振荡频率不正常水浴恒温振荡器的振荡频率应该稳定且准确,如果出现频率波动或频率不正常的问题,可能会影响实验的结果。

出现该问题的原因可能是振荡器部件损坏、样品容器选择不当或程序设置错误等。

解决方法如下:1.检查振荡器部件。

如轴承是否损坏、喇叭是否松动等。

可以将喇叭拆下来或打开底板进行维护。

2.选择合适的样品容器。

如样品容器的重心是否合适、容器尺寸是否合适等。

3.检查程序设置。

可以检查程序设置是否正常,如检查程序参数是否与实验要求一致,检查程序是否存在逻辑或者编码错误等。

4.重新校准振荡器。

可以使用标准频率来重新校准振荡器以恢复正常的频率。

三、加热温度不稳定水浴恒温振荡器的加热温度应该稳定且准确,如果出现温度波动或温度不稳定的问题,可能会影响实验的结果。

出现该问题的原因可能是加热体损坏、温度控制器故障或者样品选择不当等。

解决方法如下:1.检查加热体。

如加热体是否受损、加热体与样品容器间的红外探头是否松动等问题。

2.检查温度控制器。

如温度控制器是否正常、温度探针是否松动等问题。

3.选择合适的样品容器。

如样品容器是否合适、是否能够有效地传递热量等。

水浴恒温振荡器故障说明

水浴恒温振荡器故障说明

水浴恒温振荡器故障说明引言水浴恒温振荡器是一种常用于化学实验室中的仪器,其主要功能是在水浴中进行温度控制和振荡。

然而,在使用过程中,有时会发生故障,影响实验的顺利进行。

本文将介绍水浴恒温振荡器常见故障及处理方法。

故障现象1. 振荡频率不稳定在振荡过程中,频率不稳定或者出现明显的波动现象。

2. 温度不稳定在实验过程中,发现水浴恒温振荡器的温度不能稳定在设定的温度范围内。

3. 振幅过大或过小振幅过大或过小都会影响实验的结果,所以需要及时调整。

4. 不能启动水浴恒温振荡器不能启动或机器熄火。

故障原因及处理方法1. 振荡频率不稳定原因1.机械振子的磨损;2.液面高度不够,使得机械振子的工作遇到了阻力;3.振动调节器的工作有误;4.电子振子的磁铁损坏;处理方法1.更换机械振子;2.调整液面高度;3.调整振动调节器;4.更换电子振子磁铁。

2. 温度不稳定原因1.水温测量探头故障;2.温度控制电路故障;3.水循环系统堵塞或泵故障。

处理方法1.更换水温测量探头;2.修理或更换控制电路板;3.清洗水循环系统或更换水循环泵。

3. 振幅过大或过小原因1.振动频率太高或太低;2.机械部件的磨损;3.液面高度不符合要求。

处理方法1.调整振动频率;2.更换机械部件;3.调整液面高度。

4. 不能启动原因1.电源故障;2.振动调节器故障;3.机械零部件损坏处理方法1.检查电源;2.更换振动调节器;3.更换机械零部件。

清洁维护在使用水浴恒温振荡器过程中,需要经常清洁,保持设备的良好状态。

下面是一些清洁维护的注意事项:1.每次使用后清洗设备,清除残留液体;2.定期检查设备的连接部件;3.清洗水浴槽和流通管道,防止堵塞;4.定期更换机械零部件。

结论水浴恒温振荡器在使用中难免会出现故障,但只要我们对常见故障的原因和处理方法有所了解,并且进行定期维护,就可以最大限度地保证设备的正常使用,提高实验的效率。

恒温晶体振荡器调频范围扩展思考

恒温晶体振荡器调频范围扩展思考

恒温晶体振荡器调频范围扩展思考恒温晶体振荡器调频范围扩展思考恒温晶体振荡器在电子通信中扮演着十分重要的角色,其作为频率源广泛被应用于无线电、卫星通信、导航、测量等领域。

然而,恒温晶体振荡器在现有设计中往往存在着调频范围不足的问题,这既限制了其在应用中的灵活性,也影响着其在特定场景下的使用效果。

本文将从恒温晶体振荡器的基本原理入手,阐述目前恒温晶体振荡器调频范围不足的本质原因,并提出了相应的扩展思路,以期为相应的技术开拓更广阔的使用空间。

一、恒温晶体振荡器的基本原理恒温晶体振荡器(TCXO)是一种将石英晶体振荡器与温度补偿电路相结合的设计,通过对晶体的工作温度进行精密的控制来实现频率的稳定输出。

晶体振荡器是将晶体元件上的机械撞击转换为电能的装置,其结构通常包括晶体片、电极、负载电容等元件,当直流电压施加到电极上时,晶体片会在谐振频率处发生机械振动,从而形成一种高稳定性的频率源。

晶体的振荡特性与其几何形状、材料性质、温度等因素密切相关,而恒温晶体振荡器通过采用自动控制系统对晶体片的温度进行维持,从而保证其在不同温度下的振荡频率保持稳定。

二、恒温晶体振荡器调频范围不足的原因虽然恒温晶体振荡器具有频率稳定性高、温度补偿精度好等优点,但是因其本身工作原理以及现有的制造工艺等因素,其调频范围往往存在着一定的局限。

具体来说:1.晶体的物理特性。

恒温晶体振荡器的频率输出主要由晶体的振动特性决定,包括晶体元件的几何形状、材料的特性以及封装形式等。

由于晶体振动的频率与晶体片的几何尺寸直接相关,因此恒温晶体振荡器的调频范围与晶体片的尺寸限制密切相关。

2.温度自举效应。

在恒温晶体振荡器中,温度补偿电路对晶体的工作温度进行自动控制,以保证晶体振荡频率的精度。

然而,由于温度变化会对补偿电路本身产生影响,这种影响反过来会对晶体的调频范围产生一定的限制。

3.现有制造工艺的限制。

对于现有的晶体制造工艺,晶体片的工艺精度和制造成本是其关注的重点,而且无法解决频率调节范围相对较窄的问题。

晶体振荡器不工作原因数据分析及解决措施探讨

晶体振荡器不工作原因数据分析及解决措施探讨

晶体振荡器不工作原因数据分析及解决措施探讨摘要通过对某产品使用的晶体振荡器不工作原因的分析,找出晶体振荡器不工作的原因并制定相应的纠正预防措施。

关键词晶体振荡器;失效分析;开路1 问题概述某电子产品在与用户进行联接试验过程中,先后二次出现无输出的故障。

故障发生后,将产品的机盖打开,通电检查发现内部两个LED指示灯不闪烁,而其正常情况下应以800ms左右时间交替闪烁,导致这种现象的原因为FPGA 逻辑处理芯片内提供给LED指示灯的逻辑信号不正常。

经测试发现,FPGA逻辑处理芯片时钟输入端无输入时钟,同时用示波器测量提供时钟的晶体振荡器(以下简称晶振),发现晶振无时钟输出,而用万用表测量晶振供电端电压正常,则将故障判定为晶振故障导致FPGA逻辑处理芯片无法正常工作[1]。

2 原因分析出现故障的晶振分别属于两个生产批次111500201和104000191,型号:QO1320O1 40.0MHz,生产单位:德国QUINTENZ公司,工作温度为:-40℃~+85℃,封装形式:双列直插金属封装。

晶振管脚定义如图1所示。

为查找晶振故障原因,在航天771所对故障晶振进行失效分析,两次失效分析对比了不同批次的失效晶振,失效分析的結论相同,晶振失效原因均为:“晶振内部黑色环氧胶在高温条件下开裂产生较大的机械拉力,将覆盖下层的压焊点拉断,造成开路,导致晶振无时钟输出”。

根据失效分析的结论可以确定,该失效为晶振内部工艺设计缺陷造成[2]。

3 解决措施对产品所使用的晶振进行重新选型,依据电子元器件优选目录拟选用国营707厂的型号为G-ZPB-5-F-40-V5-D2型七专级晶振替换德国公司的晶振,G-ZPB-5-F-40-V5-D2型晶振与QO132001 40MHz型晶振的引脚定义、外形尺寸及供电方式相同,不需改动外部电路及安装方式,可原装替换,其性能指标对比见表1。

通过上述指标的对比,G-ZPB-5-F-40-V5-D2型晶振工作温度范围较宽,质量等级较高,但频率稳定度差别较大。

水浴恒温振荡器的三大故障问题

水浴恒温振荡器的三大故障问题

水浴恒温振荡器的三大故障问题水浴恒温振荡器通常用于生命科学、医疗、环保、食品检测等行业的实验室中。

它可以提供稳定的温度和旋转振荡条件,以满足实验的需要。

然而,使用水浴恒温振荡器时,有时候会出现故障或者问题,这会影响实验的进度和准确性。

本文将介绍水浴恒温振荡器的三大故障问题及其解决方法。

故障问题一:不稳定的温度在实验中,保持恒温条件非常重要,而水浴恒温振荡器正是通过水浴来维持温度稳定。

但是,有时候会出现温度不稳定的情况,这可能是因为以下几个原因:•温度控制器故障:如果温度控制器故障,那么恒温振荡器就无法控制温度。

建议检查温度控制器是否有松动或电线是否损坏,必要时更换温度控制器。

•加热装置故障:如果加热装置的热液不足或者加热装置本身损坏,就会导致温度不稳定。

建议检查加热装置是否有损坏或者热液是否足够,必要时更换加热装置。

•水浴槽温度不均匀:如果水浴槽内的温度不均匀,就会导致恒温振荡器温度不稳定。

建议定期清洁水浴槽,并使用温度计检查温度是否均匀。

故障问题二:振荡不正常水浴恒温振荡器不仅要维持温度,还要提供振荡条件。

如果振荡不正常,就会影响实验结果。

以下是可能导致振荡不正常的原因:•振荡器电机问题:水浴恒温振荡器的振荡是通过电机实现的。

如果电机刷子磨损或者电机损坏,就会导致振荡不正常。

建议检查电机是否有问题,必要时更换电机;•振荡器传动机构问题:如果振荡器传动机构损坏或者松动,就会导致振荡不正常。

建议检查传动机构,则是否有问题,必要时更换传动机构。

故障问题三:显示器不正常水浴恒温振荡器通常都有显示器,用来显示温度、振荡频率等信息。

如果显示器不正常,就会影响实验的进行。

以下是可能导致显示器不正常的原因:•显示器连接问题:如果显示器和主板连接不良,就会导致显示器不显示或者显示异常。

建议检查连接是否良好,必要时重新连接。

•显示器本身问题:如果显示器本身损坏,就会导致显示器不正常。

建议更换显示器。

以上是水浴恒温振荡器的三大故障问题及其解决方法。

  1. 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性,平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
  2. 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
  3. 3、如文档侵犯您的权益,请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间:9:00-18:30)。

另一 大类模 式 。另外 ,O X C O频 率通 道 ( 信号 通
道 ) 的 功 率 匹 配 、 内 部 电 源 匹 配 、 工 艺 缺 陷 等 与 振 荡 电 路 相 关 的 问 题 则 构 成 又 一类 失 效 模式
度和稳定度更高的时钟频率 ,当前在通信设备和高 精密仪器设备上大量使用工作在恒定温度的晶体作
表 20 X C 0在 工 程 应 用 中 因水 汽 引 起 失 效 的 案例
31 晶体 失效 .
在 0 X 失效分析 的案例 中 , C 0 晶体 失 效 占 5 0% 以上 ,是 最 主要
摘 要 :舟绍 当前 国内外恒温晶体振蔼器在应用过程中经常 会出理 的几种失效模式 ,并通过具体的案倒阐述
其 失效 机 理 和 失效 原 因
关 键 词 :晶体谐振器;水汽;温度;应力
中 圈 分 类号 :T 5 . N7 22
文献 标 识 码 :A
文章 编 号 : 17 - 4 8 (0 6 4 O 9 o4 6 2 5 6 2 O )O - O1_
Fa l e M o e o iur d fOCXO a no i Di g ss
Z i — i ,L h o pn OU Jn l n I a - ig S
( EP I u n z o 0 1 C RE +G a g h u51 6 0,C i a hn )
Ab t a t T e m i al r o e fOv n C nr l d C y tl O cl tr w l b nr d c d i sr c : h a n f u e m d s o e o t l r s s i ao i e ito u e n i oe a l l
fi r n lssc s s al ea ay i a e. u
Ke r : cy tl y wo ds rs ;mos r ;tmp rtr ;srs a i u e e e au e t s t e
1 引 言
晶体谐振器 ( 简称晶振)是给电路提供时钟频 率的元件。它是以晶体为起振元件的振荡 器电路模 块 ,用于给电路提供高精度的时钟频率 ( 频率 源) 。 晶振可 以得到 比 晶体 高 出几 个数量 级 的频 率精 度 ( 达到 5 1  ̄ 0 )和频率 稳定度 ( 年老 化率约 为 1 x 0
山 i at l.T e f lr e h n s n o tc u e ff l rs w l h ie se a e n 8 me s ri e h a u e m c a i c i ms a d r o a g8 o u e i e ds u s d h s d o o i a l
表 l C 0分 析 案 例 的 失 效 模 式分 布 0 X
导致 O X C O发 生失 效 的实例 如表 2所 示 。
振荡 不稳 定或停 振 的温 度范 围 与水汽 露点 呈 因 果关 系 ,当外 壳 开封后 ,晶体 内部水 汽及 其它 有机 气体 释放 后 ,晶体 恢 复振 荡器功 能 ,证 明 了内部水 汽及 其它 有机 气体 会对 晶体 振荡 功 能产生 影 响 。
维普资讯
电子 产 品 可 靠 性 与 环 境 试验
2 0 拒 06
3 O XO的 失 效 机 理 与 失 效 原 因 C
在 我 们 开 展 的 O X 失 效 分 析 工 作 中 ,有 关 CO 案例 的 失效模 式 分布 如表 1 示 。下 面具 体 介绍这 所 3种失 效模 式 的失效 机理 和失 效原 因 。
维普资讯
电 千 产 品 可 靠 性 与 环 境 试 验
V L 4h . 2 0 o 2 b4且 06
恒 温 晶体 振 荡器 失 效 机 理 及分 析 诊 断
邹 金 林 , 李 少 平
信 息 产 业 部 电 子 第 五 研 究所 ,广 东 广州 501 ) 16 0
从 内部 功 能 上 可 分 为 :晶 体 失 效 、恒 温 功 能 失 效 、 振 荡 电 路 失 效 3类 失 效 模 式 。
晶体 是 O X C O的 核心 元件 ,限于 目前晶 体元
收 稿 日期 :2 0 - 3 2 06 0-4 作 奢 简 介 :J  ̄ * (9 9 , 男 ,湖 北 武 汉人 .信 惠 产 业 部 电子 第 五 研 宽 所 可 靠性 研 充 分析 中心 、 电子 元 器件 可 靠 性 新 理 覆 l- t g 17 -) 其 应 用 技 术 国 豪级 重 点 实验 室助 理 工 程 师 ,主 要 从 事 电子 元 器 件 可 靠性 失 效 分 析 _4 。 v ̄ -
1 ),是 电 子 产 品 频 率 源 的 主 导 器 件 。 由 于 晶 体 0 有 很 好 的 温 度 频 率 稳 定 特 性 。因 此 ,为 了 得 到 效 仍 然 是 OC XO 失 效 的 主 要 模 式 之 一 。 而 且 ,O XO 的 恒 温 结 构 在 设 计 上 通 常 C 采 用 工 作 中 的 功率 管作 为 热 源 . 为 晶体 提 供 恒 温条 件 因 此 , 由 于 OC XO 热 结 构设 计 不 台 理 引 起 的 退 化 同 题 ( 器 件 高 温 退 化 )也 是 OC 如 XO失 效 的
为 振 荡 器 模 块 .也 就 是 恒 温 晶 体 振 荡 器 ( x oc o:
O e otol rs lO cltr。 v nC nrle Cyt siao) d a l
2 O XO 的 主 要 失 效 模 式 C
OX C O从现 场失效上可分为 :无频率输 出 ( 停 振) 、输 出频率偏 移 、工作不 稳定 3 失效形 式 ; 种
相关文档
最新文档