XRD实验物相定性分析上课讲义
《XRD物相定量分析》课件
实验样品的制备
样品的选取:选择具有代表性的样品 样品的预处理:清洗、干燥、研磨等 样品的装样:将样品装入样品盒中 样品的测试:使用XRD仪器进行测试
XRD实验参数的选择和设置
实验参数:包括X射线源、样品、探测器 等
探测器:选择合适的探测器,如CCD、 IP等
X射线源:选择合适的X射线源,如 CuKα、MoKα等
建议:加强XRD技术的研发和应用推广,提高其在科学研究和工业生产中的应用价值
THANKS
汇报人:PPT
02 X R D 物 相 定 量 分 析 概 述 04 X R D 物 相 定 量 分 析 的 数 学 模
型
06 X R D 物 相 定 量 分 析 的 未 来 发展与展望
Part One
单击添加章节标题
Part Two
XRD物相定量分析 概述
XRD物相定量分析的定义和意义
XRD物相定量分析: 通过X射线衍射技 术对样品中的物相 进行定量分析的方 法
数据处理结果:物相组成、晶粒尺寸、晶格常数等 数据处理注意事项:避免数据丢失、保证数据准确性、注
意数据保密性
Part Four
XRD物相定量分析 的数学模型
衍射强度的计算公式
布拉格公
式
:
nλ=2dsi
nθ
衍射强度 公式: I=|f(θ)|^ 2
结构因子: f(θ)=Σh( hkl)e^(2πi(hkl)s inθ)
实验条件:选择合适的实验条件,如温 度、压力、湿度等
样品:选择合适的样品,如粉末、薄膜 等
数据处理:选择合适的数据处理方法, 如峰形拟合、峰面积计算等
XRD实验数据的收集和处理
实验设备:X射线衍射仪 实验步骤:样品制备、数据采集、数据处理
化合物结构表征课件第二章XRD定量相分析
布拉格方程
衍射波的角度与晶面间距 、X射线波长和晶面取向有 关,可以用布拉格方程表
示。
晶体结构与XRD
晶体结构的周期性导致X射 线衍射现象的出现,不同 的晶体结构具有独特的衍
射图谱。
XRD定量相分析的方法
相对强度法
通过测量各衍射峰的强度,利用已知 纯物质的标准谱图进行对比,计算各 相的相对含量。
绝对强度法
晶体结构的解析
晶体结构类型
根据衍射数据确定晶体所属的晶系和 空间群。
晶胞参数
通过晶格常数计算晶胞参数,如晶格 类型、晶格常数等。
定量相分析的计算方法
峰面积法
通过测量各物相衍射峰的 面积或高度,计算各物相 的相对含量。
线性组合法
通过测量各物相衍射峰的 角度位置,利用线性组合 计算各物相的相对含量。
案例三:矿物材料的XRD定量相分析
总结词
通过XRD技术对矿物材料的晶体结构和相组成进行定量分析,有助于了解矿物的形成过程和演化历史 。
详细描述
矿物材料是由地质作用形成的天然矿石和矿物集合体,其晶体结构和相组成反映了地球的形成和演化 历史。XRD技术可以对矿物材料的晶体结构和相组成进行定性和定量分析,从而了解矿物的形成过程 和演化历史,为地质学和地球科学的研究提供重要依据。
案例二:陶瓷材料的XRD定量相分析
总结词
利用XRD技术对陶瓷材料的晶体结构和相组成进行定量分析,有助于优化陶瓷 材料的制备工艺和提高其性能。
详细描述
陶瓷材料广泛应用于电子、能源、环保等领域,其性能与晶体结构和相组成密 切相关。XRD技术可以对陶瓷材料的晶体结构和相组成进行定性和定量分析, 从而优化制备工艺,提高陶瓷材料的性能和稳定性。
谢谢您的聆听
XRD定性物相分析培训
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样品制备
z z
根据测试样品的类型,制备方法可分为以 下三种: (1)粉末样品制备; (2)块状样品制备; (3)特殊样品制备。
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样品制备
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粉末要求:干燥、在空气中稳定、粒度小 于20um。一般可以用研磨的方法制备。
实验准备
粉末样品的装样台
样品制备
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粉末样品一 般填装在有 开槽的平整 玻璃板或塑 料板上;装 样品时注意 使颗粒方向 随机分布。
z
定性物相分析
z
z
随着计算机运算能力的提高,一些复杂的 算法程序应用到定性物相分析中。一般最 新的分析软件都采用全谱直接比对法,从 PDF标准卡片库中挑选一组卡片来匹配待 测样品的谱图。 这种方法较之传统的D-I值法,检出率更 高,使复杂多相图谱分析更加简便。
物相分析的要点
z z
z
必须是结晶态,可以判断非晶物的存在; 固溶现象、类质同构、化学成份偏离等情况的 存在,待分析样组成物的衍射数据与PDF数据 不一致。这个时候可考虑被检物相的结构特 点,允许有较大的偏差。 “似是而非”物质的物相鉴定,有关样品的成份、 处理过程及其物理化学性质资料对确定鉴定结 论十分重要,同时也应充分利用其它实验方法 相配合。
多晶X射线衍射仪-光路示意图
B-B测角仪的典型光路布置
Soller 狭缝 z 测角仪要求 发散 狭缝 样品
接受 狭缝
Soller 狭缝 探测器 狭缝
z
与X射线管 的线焦斑联 接使用,线 焦斑的长边 与测角仪中 心轴平行。 采用狭缝光 阑和梭拉光 阑组成的联 合光阑。
光斑大小
实验部分
z
仪器简介 样品制备 样品测试 数据分析
[课件]XRD定性分析PPT
小角测角仪
多功能样品台
1.定性分析的原理
(1)由于不同的物质各具有自己的原子种类、原子
排列方式和点阵参数,在一定波长的X射线照射下, 进而呈现出特定的衍射花样。 (2)多相物质的衍射花样互不干扰,相互独立,只 是机械地叠加。 (3)衍射花样可以表明物相中元素的化学结合态, 即相结构。
晶胞大小与形状
物相定性分析所应注意问题
1. 对于数据d值,由于检索主要利用该数据,因此处理时精度 要求高,而且在检索时,只允许小数点后第二位才能出现偏差。
2. 特别要重视低角度区域的衍射实验数据,因为在低角度区
域,衍射所对应d值较大的晶面,不同晶体差别较大,衍射线 相互重叠机会较小。 3. 在进行多物相混合试样检验时,应耐心细致地进行检索, 力求全部数据能合理解释,但有时也会出现少数衍射线不能解
X射线衍射花样的方向(位置)
d-I数据
晶胞中的原子种类与坐标
照相法 衍射花样
d7
X射线衍射花样的强度
d5d4d3d2d1 d3 d1 d5 d 6
衍射仪法 衍射花样
d2
d4
• 通常用d(晶面间距表征衍射线位置) 和I(衍射线相对强度)的数据代表 衍射花样。用d-I数据作为定性相分 析的基本判据。
• 定性相分析方法是将由试样测得的d-I 数据组与已知结构物质的标准d-I数据 组(PDF卡片)进行对比,以鉴定出 试样中存在的物相。
3.PDF卡片的索引
索引有两类:
以d 值数列为索引
以物质名为索引
4.物相定性分析方法
人工检索卡片库
原理相同 效率提高
计算机检索卡片数据库
计算机软件全谱拟合
2.09- 2.13 I 2.47 “三强线” 1.80
X射线衍射对物相讲义的定性分析
➢ 现在由国际衍射数据中心管理,即IC NhomakorabeaD。➢ 有人称PDF卡片(粉末衍射文件)为JCPDS卡片 。可能是一些老先生,因为很久不这样叫了,而 是称为PDF卡片。
PDF卡片
3.定性分析的步骤
3.1 数字索引
1. 摄照待测样品的衍射相。 2. 确定衍射相上所有线条的相对强度I/I1。计算晶面间距d,
相不存在;
易水寒江雪敬奉 Thanks
Thanks
X射线衍射对物相的定性分析
精品
主要内容
一、X射线物相分析的基本原理 二、X射线物相分析的基本方法 三、定性分析的步骤 四、物相分析应注意的问题
1.X射线物相分析的基本原理
1.1 物相分析 ➢ 物相的定义是物质存在的状态,X射线分析
的是物相,而不是化学成分。
➢ 对于未知试样,为了了解和确定哪些物相 时,需要定性的物相分析。
4.物相分析时应注意的问题
考虑到实验数据存在一定的误差,故允许所得的晶面 间距和相对强度与卡片的数据略有出入;
晶面间距比相对强度相对重要; 低角度线比高角度线重要; 强线比弱线重要; 要重视衍射花样中的特征线; 在衍射分析以前,最好先弄清楚试样的来源和化学成
分; 不要过分迷信卡片上的数据,注意资料的可靠性; X射线衍射只能肯定某个物相存在,而不能确定某个
将实验获得的“d(2θ)-I”值(衍射面间距 和衍射强度)标准多晶衍射数据和已知物相的 衍射数据或图谱进行对比,一旦二者相符,则 表明待测物相与已知物相是同一物相。
➢ 1 谱图直接对比法 ➢ 2 数据对比法( d,2θ,I/I1) ➢ 3 计算机自动检索鉴定法
XRD物相鉴定
➢ 现在内容最丰富、规模最大的多晶衍射数 据集JCPDS(Joint Committee on Powder Diffraction Standard)编(现为ICDD)的 《粉末衍射卡片集》(PDF),到1991年已出 41集,化合物总数已超过4万余种。
XRD实验物相定性分析解析
XRD实验物相定性分析解析X射线衍射(XRD)是一种非常常用的实验技术,用于物相的定性和定量分析。
通过观察材料中X射线的衍射图案,我们可以确定材料的晶体结构、晶体定向和晶格参数等信息。
本文将详细介绍XRD实验物相定性分析的原理和解析过程。
nλ = 2dsinθ其中,n是衍射阶次,λ是入射X射线的波长,d是晶格间距,θ是入射角。
通过测量衍射角θ和计算晶格间距d,我们可以确定材料的晶体结构。
在进行XRD实验时,我们首先需要准备待测物样品,通常是一块固体材料。
然后,我们将样品放置在X射线束下,以使X射线通过样品,发生衍射。
衍射的X射线通过样品后,会被X射线探测器测量,产生衍射谱图。
在解读衍射谱图时,我们需要关注以下两个关键参数:衍射角(2θ)和衍射强度(I)。
衍射角是X射线的入射角度,是由仪器测量得到的,而衍射强度则表示材料中的晶体结构和取向。
通常,衍射强度与晶体的晶格性质、晶体结构以及晶体定向有关。
通过比对样品的衍射谱图与数据库中的标准衍射谱图,我们可以确定材料的物相。
数据库中包含了各种材料的XRD衍射谱图,包括金属、陶瓷、无机晶体等。
对于未知物相的样品,我们可以通过计算其衍射角和衍射强度与数据库中的标准进行比对,从而找到与其相匹配的物相。
此外,我们还可以通过拟合样品的衍射谱图,计算出材料的晶格参数。
常用的拟合方法有布拉格法、勒貌法和整形法等。
这些方法利用了衍射角和衍射强度的信息,通过数学模型计算出最适合样品的晶格参数。
需要注意的是,XRD实验在物相定性分析上具有一定的局限性。
例如,对于非晶态或粘土等无定形材料,XRD无法提供明确的物相信息。
此外,XRD实验还无法确定材料中不同晶体相的相对含量,只能进行物相定性分析。
综上所述,XRD实验是一种常用的物相定性分析技术。
通过观察样品的衍射谱图,并与数据库中的标准进行比对,我们可以确定材料的物相。
此外,通过拟合样品的衍射谱图,我们还可以计算材料的晶格参数。
XRD讲义
第七章:固体X射线衍射7.1基础知识7.1.1 晶体结构和Bravais晶体晶体中的原子是周期性排列的。
为了描述这种高度的有序结构,总可以选取适当的结构单元,整个晶体结构可以看成是由结构单元在空间中的周期性重复排列而成,相互间既无空隙有无交叠。
这种结构单元称为基元。
基元可以是一个原子,分子或原子团。
为了描述晶体结构的几何规律,可以把基元用一个几何点表示。
这些点的无限集合形成空间点阵,可以看成是空间格子,称为晶格。
显然,这些点在空间是周期性排列的,并且与晶体的周期性相同。
这种由基元代表点在空间周期性排列所形成的晶格成为Bravais晶格。
这样,晶体的结构就是将基元放在Bravais晶格中每一个格点上构成的。
图1-1为NaCl晶体的晶胞,如果将一个Na离子和一个Cl离子看成一个基元,其Bravais晶格变成如图1-2所示的结构,称为面心立方结构。
图1-1 NaCl晶体的晶胞结构图1-2 NaCl的Bravais晶格的晶胞结构,Na, ClBravais晶格的格点都是周期性排列的,所有格点可以用数学公式来统一表示。
如图1-3所示,以任一格点为原点,沿三个不共面的方向连接最近邻的格点作为基矢a1、a2、a3,矢量的长度为该方向的格点周期。
则任一格点的位置矢量R都可以表示为:图1-3,Bravais晶格R=n1a1+n2a2+n3a3(1-1) 其中n1, n2, n3为整数根据点群的旋转对称操作,所有Bravais晶格可分为7大类,称作7大晶系:三斜晶系,单斜晶系,正交晶系,四方晶系,三方晶系,六方晶系和立方晶系。
立方的对称性最高。
反映每一晶系对称性特点的晶胞形状也不相同,每个晶系按其晶胞在面心或体心是否有格点又可分为几种不同的形式。
这样,7个晶系共有14种类型的Bravais晶胞,如图1-4所示。
图1-4,十四种Bravais晶格(1)简单三斜,(2)简单单斜,(3)底心单斜,(4)简单正交,(5)底心正交,(6)体心正交,(7)面心正交,(8)简单四方,(9)体心四方,(10)六方,(11)三方,(12)简单立方,(13)体心立方,(14)面心立方。
第五章 X射线衍射仪及物相定性分析PPT课件
1938年哈那瓦特创立了一套基本的迅 衍射图线条位置由衍射角2θ决定,而2θ角决定于波长及 面间距d值,d值是由物质确定的参数,不随衍射条件的 改变而改变,改由d值来代替2θ值就可避免衍射条件的不 确定性,即
(2)
2θ --→ d
(2) 每一个d值对应一个强度,而强度随实验条件的变化而变 化,应此用各衍射线的相对强度代替绝对强度
(1) 连续扫描
探测器以一定的速度在选定的角度内进行连续扫描,探测 器以测量的平均强度,绘出谱线,特点是快,缺点是不准确, 一般工作时,作为参考,以确定衍射仪工作的角度。
(2) 步进扫描
探测器以一定的角度间隔逐步移动,强度为积分强度,峰 位较准确。
F. 峰值的确定
现代衍射仪的测量与计算均由计算机来控制,在出现峰值时, 计算机根据一定的规则确定峰位,即2θ角的位置。
第五章
X射线衍射仪及物相定性分 析
1
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2
回顾--粉末法成像原理
粉末试样是由数目极多的微小晶粒组成。这些晶粒的取向完 全是任意无规则的。各晶粒中指数相同的晶面取向分布于空间 的任意方向。如果采用倒易空间的概念,则这些晶面的倒易矢 量分布于整个倒易空间的各个方向,而它们的倒易结点布满在 以倒易矢量的长度|g*|为半径的倒易球面上。
粉末法成像原理
圆柱试样的衍射几何 3
5.1 引言
1、发展历史:劳埃照相、德拜照相、衍射仪 2、德拜照相的优缺点:
优点:设备简单、要求试样量少 缺点:摄照时间长、准确度不高 3、衍射仪的优缺点: 优点:测量精确、信息量大、速度快、操作简便 缺点:设备昂贵、要求试样量大 特别是近年来,X射线衍射仪向大功率和全自动化的方向迅 速发展,采用计算机控制,结果数字化,衍射分析有特定的程 序,这就更充分显示了X射线衍射仪方法的优越性。目前,绝 大部分衍射工作都可以在X射线衍射仪上进行。
XRD定性物相分析培训
XRD定性物相分析培训X射线衍射(X-ray diffraction, XRD)是一种常用的材料分析技术,用于对物质的结构和组成进行定性和定量分析。
XRD分析的原理基于X射线与晶体中的原子相互作用而产生衍射现象,通过测量X射线的衍射图案,可以确定物质的晶体结构和晶格参数,从而推断物相的性质和组成。
1.样品制备:首先要将待测样品制备成粉末状,以便于X射线的穿透和散射。
通常可以通过机械研磨、球磨等方法将样品研磨成细粉,或者使用溶液法将样品溶解后沉淀成粉末。
2.X射线测量:将样品粉末放置在X射线仪器的样品台上,通过调整仪器参数和选择适当的入射角度,照射样品并记录散射的X射线。
一般来说,常用的入射角度为2θ,可以在一定角度范围内连续测量,形成X射线衍射图谱。
3.数据分析:获得X射线衍射图谱后,需要对数据进行分析和解释。
首先要识别出图谱中的各个衍射峰,衍射峰的位置和强度与样品中的晶体结构和晶格参数相关。
可以通过与已知物相的对比,进行峰位和峰形的匹配,以确定样品中存在的物相。
4.物相确定:在与已知物相的对比过程中,如果样品的衍射峰与已知物相的衍射峰一致,并且符合晶体学的规律,可以定性确定样品中存在的物相。
此外,还可以使用X射线衍射数据库,比如国际中心衍射数据,进行更准确的物相确定。
5.数据验证:为了验证物相的结果,可以通过其他技术进行进一步的分析,比如扫描电子显微镜(SEM)、能谱分析(EDS)等。
这些技术可以提供样品的显微结构和元素成分信息,与XRD分析结果进行比较和验证。
需要注意的是,XRD定性物相分析是基于样品的晶体结构和晶格参数进行推断,对非晶态材料和无定型材料的分析有一定的局限性。
此外,XRD分析还需要考虑样品制备的质量和仪器的校准等因素,以确保分析结果的准确性和可靠性。
XRD实验物相定性分析解析
XRD实验物相定性分析一、实验目的1、学习了解X射线衍射仪的结构和工作原理。
2、掌握X射线衍射物相定性分析的原理和实验方法。
3、掌握X射线分析软件Jade5.0和图形分析软件OriginPro的基本操作。
二、实验仪器D8 Advance型X射线衍射仪组成:主要由X射线发生器、测角仪、辐射探测器、记录单元及附件(高温、低温、织构测定、应力测量、试样旋转等)等部分组成。
核心部件:测角仪(1)测角仪C-计数管;S1、S2-梭拉缝;D-样品;E-支架;K、L-狭缝光栏;F-接受光栏;G-测角仪圆;H-样品台;O-测角仪中心轴;S-X射线源;M-刻度盘;图1. 测角仪结构原理图图2. 测角仪的光路图X射线源S是由X 射线管靶面上的线状焦斑产生的线状光源。
线状光源首先通过梭拉缝S1,在高度方向上的发散受到限制。
随后通过狭缝光栅K,使入射X射线在宽度方向上的发散也受限制。
经过S1和K后,X射线将以一定的高度和宽度照射在样品表面,样品中满足布拉格衍射条件的某组晶面将发生衍射。
衍射线通过狭缝光栏L、S2和接受光栏F后,以线性进入计数管C,记录X射线的光子数,获得晶面衍射的相对强度,计数管与样品同时转动,且计数管的转动角速度为样品的两倍,这样可以保证入射线与衍射线始终保持2θ夹角,从而使计数管收集到的衍射线是那些与样品表面平行的晶面所产生的。
θ角从低到高,计数管从低到高逐一记录各衍射线的光子数,转化为电信号,记录下X射线的相对强度,从而形成 2—I的关系曲线,即X射线衍射花样。
相对(2)X射线发生器图3. X射线产生装置X 射线管实际上就是一只在高压下工作的真空二极管,它有两个电极:一个是用于发射电子的灯丝,作为阴极,另一个是用于接受电子轰击的靶材,作为阳极,它们被密封在高真空的玻璃或陶瓷外壳内。
X射线管提供电部分至少包含有一个使灯丝加热的低压电源和一个给两极施加高电压的高压发生器。
当钨丝通过足够的电流使其发生电子云,且有足够的电压(千伏等级)加在阳极和阴极间、使得电子云被拉往阳极。
[课件]XRD物相分析原理及应用PPT
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2θ /°
Thanks!
XRD物相分析原理及应用
主要内容
物相分析原理 结晶状态分析 实例一——金属氧化物物相随温度变化 实例二——白云石的分解情况
1 .物相分析
X射线晶体照射到晶体所产生的衍射具有一定的特征,可用 衍射线的方向及强度表征,根据衍射特征来鉴定晶体物相的
方法称为物相分析法。
材料性能不是简单地由其元素或离子团的成分所决定,而是 由这些成分所组成的物相、各物相的相对含量、晶体结构、 结构缺陷及分布情况情况等因素所决定的。为了研究材料的 相组成,相结构、相变及结构对性能的影响,确定最佳的配 方与生产工艺,必须进行物相分析。
物相分析原理
任何结晶物质都有其特定的化学组成和结构参数(包括点阵类 型、晶胞大小、晶胞中质点的数目及坐标等)。当X射线通过晶 体时,产生特定的衍射图形,对应一系列特定的面间距d和相对
强度I/I1值。其中d与晶胞形状及大小有关, I/I1与质点的种类及
位置有关。所以,任何一种结晶物质的衍射数据d和I/I1是其晶体 结构的必然反映。
小结
• 从TG-DTA、XRD等可以看出轻烧白云石的 分解过程分两步完成,第一步MgCO3分解 ,分解温度约783℃;第二步CaCO3的分解 ,分解温度为851℃。选择合适的温度有 利于白云石富镁除杂的研究。
白云石在CO2气氛下不同温度的XRD物相分析
■--CaCO3 ★--CaO ▲--MgO
-0.1
DTA/(μ V/mg)
80
TG/%
1000℃
数值:801.0℃、76.53%
XRD物相定量分析PPT教案
2nm, 10-5 Pa
第6页/共65页
Quanta -200 环境扫描电镜
3nm, 6 X 10 Pa
第7页/共65页
8
X射线衍射物相定量分析技术及其工 程应用 X射线衍射线形分析技术及其工程应 用 X射线衍射织构分析技术及应用 X射线衍射分析技术(Lab) 电子背散射技术(EBSD)及其应用 电子探针微区成分分析技术及应用 扫描电子显微分析-微区成分分析(Lab)
拟合峰高—第38—页/共对65页图谱进行拟合,得到 拟合峰高
● 物相鉴定与定量分析说明
(1)由于样品中相数太多,有部分峰有重叠,利用 拟合方法可以对重叠峰进行分离,减少重叠的不利 影响(上面的后两种强度)。 (2)为了减少测量误差,每个试片采用4种强度数 据进行计算,最后计算平均值。 (3)为了减少测量误差,从不同部位取3组试片, 分别测量3组数据,最后计算平均值。
● 要求 计算3个相的质量分数
第23页/共65页
● 实验步骤 ★ 测量每个物相的K值
用电子分析天平(精度1/1000克)称量M相 的纯样品1g, 再称量标准物质刚玉1g加入到M中,制成1个混合样 (充分研磨1小时,硬度时用力不能过度,否造成应力 和粉末颗粒太小)
★ 测量混合样品的衍射谱,测量M和标准物质刚玉的最强 峰强度分别为2210和895,两数相除得M相的K值为2.47
讲授内容
第8页/共65页
电子衍射物相定性分析技术及应用 TEM中的衍射衬度理论(艾延龄) 晶界、相界分析方法及工程应用(艾延 龄) 材料疲劳与断裂研究分析及及工程应 用 近代物理研究方法在腐蚀方面的应用
第9页/共65页
X射线衍射物相定量分析技术及其工程应用
1、研究目的 2、定量相分析基本原理 3、定量相分析方法
XRD实验物相定性分析上课讲义
XRD实验物相定性分析一、实验目的1、学习了解X射线衍射仪的结构和工作原理。
2、掌握X射线衍射物相定性分析的原理和实验方法。
3、掌握X射线分析软件Jade5.0和图形分析软件OriginPro的基本操作组成:主要由X 射线发生器、测角 仪、辐射探测器、记录单元及附件(高 温、低温、织构测定、应力测量、试样 旋转等)等部分组成。
核心部件:测角仪C-计数管;S1、S2-梭拉缝;D-样品;E-支架;K 、L-狭缝光栏;F-接受光栏;G-测角仪圆;H-样品台; O-测角仪中心轴;S-X 射线源;M-刻度盘;图1.测角仪结构原理图图2.测角仪的光路图X 射线源S 是由X 射线管靶面上的线状焦斑产生的线状光源。
线状光源首、实验仪器D8 Advanee 型X 射线衍射仪(1)测角仪先通过梭拉缝S1,在高度方向上的发散受到限制。
随后通过狭缝光栅K,使入射X射线在宽度方向上的发散也受限制。
经过S1和K后,X射线将以一定的高度和宽度照射在样品表面,样品中满足布拉格衍射条件的某组晶面将发生衍射。
衍射线通过狭缝光栏L、S2和接受光栏F后,以线性进入计数管C,记录X射线的光子数,获得晶面衍射的相对强度,计数管与样品同时转动,且计数管的转动角速度为样品的两倍,这样可以保证入射线与衍射线始终保持2B夹角,从而使计数管收集到的衍射线是那些与样品表面平行的晶面所产生的。
9角从低到高,计数管从低到高逐一记录各衍射线的光子数,转化为电信号,记录下X射线的相对强度,从而形成I相对一的关系曲线,即X射线衍射花样。
(2) X射线发生器X射线管实际上就是一只在高压下工作的真空二极管,它有两个电极:一个是用于发射电子的灯丝,作为阴极,另一个是用于接受电子轰击的靶材,作为阳极,它们被密封在高真空的玻璃或陶瓷外壳内。
X射线管提供电部分至少包含有一个使灯丝加热的低压电源和一个给两极施加高电压的高压发生器。
当钨丝通过足够的电流使其发生电子云,且有足够的电压(千伏等级)加在阳极和阴极间、使得电子云被拉往阳极。
第四讲 衍射仪和物相定性分析
测角仪
Tube
Focusing circle
Sample
Detector
2
Measurement circle 测角仪聚焦原理示意图
绕角仪工作动态图
单色器 monochromator
单色光源?
How to remove Kβ ? 滤波片和单色器
m K3Z3
滤波片工作原理
• 滤波片的选择: (1)它的吸收限位于辐射源 的Kα和K β之间,且尽量靠近K α 。强烈 吸收Kβ,K吸收很小;(2)滤波片的以将 Kα强度降低一半最佳。 Z靶<40时 Z滤 片=Z靶-1; Z靶>40时 Z滤片=Z靶-2;
提纲
• X射线衍射方法 • 衍射仪
– 衍射仪的构造和衍射几何 – X射线衍射仪测角仪简图(光路系统示意图) – 衍射仪的工作方式
• XRD物相定性分析
– 原理 – PDF卡片 – PDF卡片索引方法 – 步骤和注意事项
X射线衍射方法
2dsin
衍射方法 λ
θ
实验条件
劳厄照相法 变 不变
连续x射线照射固定单晶体
状态存在的问题。
原
X射线衍射线的位置 决定 晶胞的形状和大小 决定 晶面间距d
理
决定 X射线衍射线的强度
晶胞内原子的种类、数目及排列方式
物相分析
定性物相分析 定量物相分析
衍射角 相对强度
衍射图样的获得
Basic concept of XRD
• The relationship between the crystal structure and x-ray diffraction phenomena
PDF 索引(Indexes for PDF)
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XRD实验物相定性分析一、实验目的1、学习了解X射线衍射仪的结构和工作原理。
2、掌握X射线衍射物相定性分析的原理和实验方法。
3、掌握X射线分析软件Jade5.0和图形分析软件OriginPro的基本操作组成:主要由X 射线发生器、测角 仪、辐射探测器、记录单元及附件(高 温、低温、织构测定、应力测量、试样 旋转等)等部分组成。
核心部件:测角仪C-计数管;S1、S2-梭拉缝;D-样品;E-支架;K 、L-狭缝光栏;F-接受光栏;G-测角仪圆;H-样品台; O-测角仪中心轴;S-X 射线源;M-刻度盘;图1.测角仪结构原理图图2.测角仪的光路图X 射线源S 是由X 射线管靶面上的线状焦斑产生的线状光源。
线状光源首、实验仪器D8 Advanee 型X 射线衍射仪(1)测角仪先通过梭拉缝S1,在高度方向上的发散受到限制。
随后通过狭缝光栅K,使入射X射线在宽度方向上的发散也受限制。
经过S1和K后,X射线将以一定的高度和宽度照射在样品表面,样品中满足布拉格衍射条件的某组晶面将发生衍射。
衍射线通过狭缝光栏L、S2和接受光栏F后,以线性进入计数管C,记录X射线的光子数,获得晶面衍射的相对强度,计数管与样品同时转动,且计数管的转动角速度为样品的两倍,这样可以保证入射线与衍射线始终保持2B夹角,从而使计数管收集到的衍射线是那些与样品表面平行的晶面所产生的。
9角从低到高,计数管从低到高逐一记录各衍射线的光子数,转化为电信号,记录下X射线的相对强度,从而形成I相对一的关系曲线,即X射线衍射花样。
(2) X射线发生器X射线管实际上就是一只在高压下工作的真空二极管,它有两个电极:一个是用于发射电子的灯丝,作为阴极,另一个是用于接受电子轰击的靶材,作为阳极,它们被密封在高真空的玻璃或陶瓷外壳内。
X射线管提供电部分至少包含有一个使灯丝加热的低压电源和一个给两极施加高电压的高压发生器。
当钨丝通过足够的电流使其发生电子云,且有足够的电压(千伏等级)加在阳极和阴极间、使得电子云被拉往阳极。
此时电子以高能高速的状态撞击钨靶,高速电子到达靶面,运动突然收到阻止,其动能的一小部分便转化为辐射能,以X射线的形式放出。
产生的X射线通过铍窗口射出。
改变灯丝电流的大小可以改变灯丝的温度和电子的发射量,从而改变管电流和X射线强度的大小。
改变X光管激发电位或选用不同的靶材可以改变入射X 射线的能量或在不同能量处的强度。
(3)计数器图4.正比计数管的结构及其基本电路计数器由计数管及其附属电路组成,如图3所示。
其基本原理:X衍射线- 进入金属筒内-惰性气体电离一产生的电子在电场作用下向阳极加速运动一高速运动的电子又使气体电离—连锁反应即雪崩现象—出现一个可测电流—电路转换-计数器有一个电压脉冲输出。
电压脉冲峰值与X光子的强度成正比,反映衍射线的相对强度。
三、物相分析基本原理晶体结构可以用三维点阵来表示。
每个点阵点代表晶体中的一个基本单元,如离子、原子或分子等。
空间点阵可以从各个方向予以划分,而成为许多组平行的平面点阵。
因此,晶体可以看成是由一系列具有相同晶面指数的平面按一定的距离分布而形成的。
各种晶体具有不同的基本单元、晶胞大小、对称性。
因此,每一种晶体都必然存在着一系列特定的d值,可以用于表征不同的晶体。
X射线入射晶体时,作用于束缚较紧的电子,电子发生晶格振动,向空间辐射与入射波频率相同的电磁波(散射波),该电子成了新的辐射源,所有的电子的散射波均可看成是由原子中心发出的,这样每个电子就成了发生源,它们向空间发射与入射波频率相同的散射波,由于这些散射波的频率相同,在空间将发生干涉,在某些固定方向得到增强或者减弱甚至消失,产生衍射现象,形成了波的干涉图案,即衍射花样。
图5. X-射线的布拉格衍射示意图衍射X射线满足布拉格方程:2d s i存=n1式中:用X射线的波长;B是衍射角;d是结晶面间隔;n是整数。
实验中通过已知波长的X射线来测量样品的衍射角。
根据已知的X射线波长2和测量出的衍射角9,通过布拉格方程计算出晶面间距d oX射线衍射花样反映了晶体中的晶胞大小、点阵类型、原子种类、原子数目和原子排列等规律。
每种物相均有自己特定的结构参数,因而表现出不同的衍射特征,即衍射线的数目、峰位和强度。
即使该物相存在于混合物中,也不会改变其衍射花样。
尽管物相种类繁多,却没有两种衍射花样特征完全相同的物相,这类似于人的指纹,没有两个人的指纹完全相同。
因此,将被测物质的X射线衍射谱线对应的d值及计数器测出的X射线相对强度I相对与已知物相特有的X射线衍射d值及I相对进行对比借以确定被测物质的物相组成。
物相定性分析所使用的已知物象的衍射数据(d值以及I相对值等等),均已编辑成卡片出版,即PDF 卡片。
如果d和I相对可以很好的对应,可以认为卡片所代表的物相为待测的物相。
四、五、实验步骤(1)、把氧化铝粉末在玻璃试样架槽中制成试样,并且用玻璃片将氧化铝粉末压结实,原则是少量多次,且要压出一个平面。
(2)(2)、将制好的试样水平放置在衍射仪中。
在衍射仪工作过程中,会有大量X 射线放出,对人体造成损害。
所以一定要关上衍射仪的铅玻璃门。
(4)(3)、在电脑上选择实验参数:扫描角度范围为20° 至80°扫描速度为0.1s/step, 电压为40kV,电流为40mA(4)、设备开始工作,并在软件界面上实时显示得到的衍射峰。
(5)、用OriginPro得到图像,用Jade软件分析和处理数据。
五、数据处理物相检索也就是“物相定性分析”。
它的基本原理是基于以下三条原则:(1) 任何一种物相都有其特征的衍射谱;(2)任何两种物相的衍射谱不可能完全相同;(3)多相样品的衍射峰是各物相的机械叠加。
因此,通过实验测量或理论计算,建立一个“已知物相的卡片库”,将所测样品的图谱与PDF卡片库中的“标准卡片” 一一对照,就能检索出样品中的全部物相。
物相检索的步骤包括:(1)给出检索条件:包括检索子库(有机还是无机、矿物还是金属等等)、样品中可能存在的元素等;(2)计算机按照给定的检索条件进行检索,将最可能存在的前100种物相列出一个表;(3)从列表中检定出一定存在的物相。
一般来说,判断一个相是否存在有三个条件:(1)标准卡片中的峰位与测量峰的峰位是否匹配,换句话说,一般情况下标准卡片中出现的峰的位置,样品谱中必须有相应的峰与之对应,即使三条强线对应得非常好,但有另一条较强线位置明显没有出现衍射峰,也不能确定存在该相,但是,当样品存在明显的择优取向时除外,此时需要另外考虑择优取向问题;(2)标准卡片的峰强比与样品峰的峰强比要大致相同,但一般情况下,对于金属块状样品,由于择优取向存在,导致峰强比不一致,因此,峰强比仅可作参考;(3)检索出来的物相包含的元素在样品中必须存在,如果检索出一个FeO相,但样品中根本不可能存在Fe元素,则即使其它条件完全吻合,也不能确定样品中存在该相,此时可考虑样品中存在与FeO晶体结构大体相同的某相。
当然,如果不能确定样品会不会受Fe污染,就得去做元素分析。
具体步骤如下:(1)、打开Jade5.0软件,首先建立PDF卡片索引打开测量图谱,如下图所示:上图显示了化学式、FOM 值、PDF-#、RIR 等当鼠标左击到一个矿物时,在显示栏会显示蓝色的线,选择与 X 衍射图谱拟合最好的矿物,然后 在矿物名称前面勾选。
(2)、扣背底,在元素周期表中选择可能的化学元素-EHCIOM -r□匚 DILndLfTIAizail~l CnLndun ElliftkrTWfiiJTi 0虻已□亡曲5血1力『耶“□ AkrniiiLffi Oxide□ ALnwum O-*dde□ Aluwum Oxid? □ CcandUnI iAkrwium 04dft II Abmiflum | 3 'AKjnww0^t-Al£O^An.^BCiaCl2O3 17 +匚 17 C C31003& 朋•歸 sawsEra昌□ am 0 020 0 020AG03 Afl2O3 AC03 AI2D3 ASD3 ACO3 AGO3 AGO3A12O3c?ccccccc93-20a :fli 92-10 82-14fi7 82-1399 81-2267 31-2266 311657 90-073& d-1碍0 0 0 0 0 II 0777777777-10Q00 ao«20 oaoo ■aoeo■OIHO -0 040 0D1D0 ODGO ODQO■ =VlHQ511.O1.00血皿,ofl.(H血R»3c 11671 R-3c|167| R-3e :|1&7| R-3c 11671 R-3c|167| R-3c |167| R ③ |167| R 缶 |167|i 7E1 12^30 13. Ml gmz.rel霭-S盘芻4.761 4758 4758 4755 4.7W 47M 4 760 4?60 4 75912995 12392 129E 12991 12902 12902 12995 12996 1299030014J]75560 75559 75479 73725 73724 730716 闘591 6364SPDF CSD顼 Surch r .-latch DisplHyl ] Sublrfes-1<3 ^Earch: CarrosMn. Deleted Cards-. JC'SD MvnerBls, JC'SC ^fftterras, tncrg^niics. mdi-min. Minerfi-ls QadBo]*1釧・l£l 简酬钿各I 菸圈丽om 灯・1曰1矗匠匣匡1¥匠刨也血回1眾III4 753 4 760 H-3c|167| R 亠阿 - 凹耳20.036 85194 7372573724斓別63G49LJ CcxLndum □ Coandum 0jiJijjTiFium Ci«i 血 □ Caindum.. ssn I JAhnwmOMde □ Akjninum 0 嗣 e OAkjirartum Onde LI&Mundym□ Jdumiium Onde nAkitnrpufflO»ade QAkjfnWh QWM 才 □AJurnrrum Onde■-: 4DH^ Soiled cnFoLK^I-M ..匚 henii: dFoimdlaI FDM I j| □ FDF -fl I H I I E ltd/1 I 1% 2TMI RIH I Space GixupZ □SlachiciTeljy吟[Read FliEE-Escenl D-tf-sP 0 S MK I ■- Mvfcch Dis-p J , [ | Subfile to Search 匚orresior\. [Meted Cantab [CSC Minerals,. 1CSD Pattenn^. InwgainluL.Minerals-Jj->de6|@ Currtnl Cheni^5tr>-1 Filter]^MchdeElesedti I faniTKi'n Elemenh I P D -I H E Al117 r L 2 42 2 13 6 E J D f i "D D D O O 0^^3□J 7 K 575 5 55555tLJ?匚 c c匚c c E 666- 6 66666666芻7£1旳759739專754M甥s创冋llll lr-lFM囚^■I J I 韵塑]looffloo jJ 創吕五驱叵叵11"医釧岛闽回庄闻型亘T 录创丽~ £【AE03Ani.99M0203 AJ2DH AE201 AQD3 AI2DJA03SAGD3 ACM AE20^ AG03 AED3匚 99HM3E C 6&O893 C 睡逝 C 皤迪C 82-10 匚 B2-146? t EC-lMC 81-2267 E B1-22SE C ffl-1667 c 帥ora 匚 T&-24275 1 a a 0 i o o a i o 00.000 ao^o QQ3Qa an 0.020 aim •0.020 ■0.0*0 -QO4U aooo 0.020D.0CK 1 1-\Rstn 田 I B-3t[i67|R 先口丹I R-3tn6?l B-3c(i67| R-3t[1S7| R-3t |167| B-3t(167| R-3t [IE7| Rfc[16y|R-3c(1S7| Rlc 11671c 35137JJJ140755® 755&9 J *n~ iRntFI 治 H*-1 2U31J90S | 6279S | I-992SH [2 i«w] CwnaMei ID- [POT 画'| LDE-OFF在Search\Match 窗口中,拖动可以进行全选,鼠标左键改变颜色,选中后,先全部变为红色,改变所选元素的颜色,限定元素种类:红色一排除,绿色一包括, 灰色一可能,通常做法是把可能的元素变成灰色。