I2C总线应用下的EEPROM测试

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I2C总线应用下的EEPROM测试

作者:盛帅能

作者单位:华越微电子有限公司,浙江,绍兴,312000

刊名:

半导体技术

英文刊名:SEMICONDUCTOR TECHNOLOGY

年,卷(期):2004,29(4)

被引用次数:2次

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