如何制备XRD样品
xrd测试原理及操作的基本流程
文章主题：xrd测试原理及操作的基本流程一、引言在材料科学与工程领域中，X射线衍射（XRD）是一种重要的分析技术，可用于对晶体结构、物相分析和晶体质量的表征。
本文将深入探讨XRD测试的原理和操作的基本流程，以便读者能够全面理解XRD 分析的重要性和实验方法。
二、XRD测试原理1. X射线衍射的基本原理X射线衍射是通过照射物质，观察衍射光的方向和强度来了解物质的结构性质。
当入射X射线与晶体的原子排列相互作用时，会出现衍射现象，从而得到关于晶体结构的信息。
2. 布拉格方程布拉格方程是描述X射线衍射条件的基本方程。
它表示为：nλ=2dsinθ，其中n为衍射级别，λ为入射X射线的波长，d为晶格间距，θ为衍射角。
3. 结晶衍射图样通过X射线衍射仪测得的数据可以绘制成结晶衍射图样，从中可以读取出晶面间距、晶格常数等信息。
三、XRD测试操作基本流程1. 样品制备与加载首先需要将待测样品研磨成粉末，并压制成均匀的薄片或圆盘。
然后将样品加载到X射线衍射仪的样品台上。
2. 仪器参数设置在进行XRD测试前，需要设置仪器的参数，包括X射线波长、入射角范围、扫描速度等。
3. 开始测试启动X射线衍射仪，开始进行测试。
X射线穿过样品，与晶体发生相互作用，产生衍射光，再由探测器接收并记录下来。
4. 数据分析与结果解读对从X射线衍射仪得到的数据进行分析与解读，可以得到有关样品晶体结构、晶胞参数等重要信息。
四、个人观点和理解作为X射线衍射技术的一种，XRD分析在材料研究和质量检测中起着关键作用。
通过XRD测试，不仅可以了解样品的晶体结构，还可以分析其中包含的物相。
掌握XRD测试的原理和操作流程对于科研工作者和工程师来说都是非常重要的。
五、总结与回顾通过本文的讨论，我们全面了解了XRD测试的原理及操作的基本流程。
X射线衍射技术的应用范围非常广泛，可以帮助我们更好地理解材料的性质和结构。
希望读者通过本文的介绍，能对XRD分析有更深入、全面和灵活的认识。
XRD制样的方法及注意事项
XRD制样的方法及注意事项如何制备XRD样品？字体:小中大 |打印发表于: -10-25 09:55 作者: wtz010 来源: 分析测试百科网查看完整版本请点击这里：如何制备XRD样品？对于样品的准备工作，必须有足够的重视。
常常由于急于要看到衍射图，或舍不得花必要的功夫而马虎地准备样品，这样常会给实验数据带入显著的误差甚至无法解释，造成混乱。
准备衍射仪用的样品试片一般包括两个步骤：首先，需把样品研磨成适合衍射实验用的粉末;然后，把样品粉末制成有一个十分平整平面的试片。
整个过程以及之后安装试片、记录衍射谱图的整个过程，都不允许样品的组成及其物理化学性质有所变化。
确保采样的代表性和样品成分的可靠性，衍射数据才有意义。
1.1 对样品粉末粒度的要求任何一种粉末衍射技术都要求样品是十分细小的粉末颗粒，使试样在受光照的体积中有足够多数目的晶粒。
因为只有这样，才能满足获得正确的粉末衍射图谱数据的条件：即试样受光照体积中晶粒的取向是完全机遇的。
这样才能保证用照相法获得相片上的衍射环是连续的线条;或者，才能保证用衍射仪法获得的衍射强度值有很好的重现性。
另外，将样品制成很细的粉末颗粒，还有利于抑制由于晶癖带来的择优取向;而且在定量解析多相样品的衍射强度时，能够忽略消光和微吸收效应对衍射强度的影响。
因此在精确测定衍射强度的工作中(例如相定量测定)十分强调样品的颗粒度问题。
对于衍射仪(以及聚焦照相法)，实验时试样实际上是不动的。
即使使用样品旋转器，由于只能使样品在自身的平面内旋转，并不能很有效的增加样品中晶粒取向的随机性，因此衍射仪对样品粉末颗粒尺寸的要求比粉末照相法的要求高得多，有时甚至那些能够经过360目(38μm)粉末颗粒都不能符合要求。
对于高吸收的或者颗粒基本是个单晶体颗粒的样品，其颗粒大小要求更为严格。
例如，石英粉末的颗粒大小至少小于5μm，同一样品不同样片强度测量的平均偏差才能达到1%，颗粒大小若在10μm以内，则误差在2～3%左右。
XRD仪器操作范文
XRD仪器操作范文XRD（X射线衍射）仪器被广泛应用于材料科学、地质学、化学和生物学等领域，用于确定晶体结构和分析样品的晶体结构信息。
操作XRD仪器需要一定的仪器知识和技巧。
下面将详细介绍XRD仪器的操作步骤，包括样品制备、仪器设置和数据分析。
一、样品制备1.准备样品。
首先，根据具体要求选择合适的样品。
样品可以是粉末、薄片或块状材料。
确保样品质量良好，具有足够的重现性。
2.样品制备。
对于粉末样品，先将样品细磨成细粉，可以使用研钵和研钉进行手工研磨，或者使用高能球磨机进行机械研磨。
对于薄片样品，需要先进行切割和打磨，确保表面光滑。
块状材料可以直接使用。
3.样品装填。
将制备好的样品放置在适当的样品支撑器中。
对于粉末样品，可以使用玻璃纸片、玻璃纤维滤膜或石英盖片作为支撑器。
对于薄片样品，将样品固定在适当大小的支撑器上。
对于块状材料，直接将样品放在支撑器上。
二、仪器设置1.打开仪器。
首先，确保X射线衍射仪器的安全使用和电源接通。
打开仪器电源，启动仪器。
2.样品安装。
根据仪器的不同型号，选择合适的样品安装方式。
对于粉末样品，使用样品支撑器架放在样品台上。
对于薄片样品，使用样品夹将样品固定在样品台上。
3.加载和调整样品位置。
将装有样品的样品支撑器放入样品台中，使用微调节装置调整样品位置，使其位于X射线束的正中央位置。
确保样品与X射线源之间的距离合适。
4.X射线管设置。
根据样品特性选择合适的X射线管电压和电流。
通常，较高的电压和电流可产生更强的X射线信号，但也会加大样品和探测器的热负荷。
根据样品的类型和要求进行合理设置。
5.选择扫描范围。
根据样品的特性选择适当的扫描范围。
如果已知样品中一些特定晶面的位置，则可以选择针对该晶面进行扫描。
否则，可以选择全角度扫描。
6.样品倾斜修正。
对于非理想样品，其中晶粒方向分布不均匀或有细微的倾斜，可以使用样品旋转台或倾斜台进行修正。
三、数据采集与分析1.开始扫描。
确认仪器设置良好后，可以开始进行数据采集。
XRD分析方法与原理
XRD分析方法与原理XRD（X射线衍射）是一种常用的材料表征方法，主要用于分析材料的晶体结构、晶格参数、晶体质量、相变、畸变等信息。
本文将重点介绍XRD分析方法和原理。
一、XRD分析方法1．样品制备样品制备是XRD分析的第一步，在分析前需要制备符合要求的样品。
对于晶体实验，需要制备单晶样品，通常通过溶液法、溶剂挥发法、梳子法等方法产生单晶样品。
对于非晶体实验，需要制备适当粒度的多晶粉末样品，通常通过高温煅烧、溶剂挥发、凝胶法、机械研磨等方法制备。
2．仪器调试在进行XRD分析之前，需要对X射线衍射仪进行仪器调试。
主要包括对X射线源、样品台、X射线管、光学路径、X射线探测器等进行调节和优化，以保证仪器的性能和准确性。
其中，X射线源的选择和强度的调节对实验结果有重要影响。
3．X射线衍射数据采集在XRD分析中，可以通过改变探测器固定角度和旋转样品台的方式来获取衍射强度与入射角度的关系。
常用的采集方式有传统的扫描模式（2θ扫描或θ/θ扫描）和快速模式（2D探测器或0D点探测器）。
根据样品的特征和所需分析结果选择合适的采集方式。
同时，为了提高信噪比，通常要对衍射强度进行积分或定标。
4．数据处理和解析XRD数据处理和解析是对原始数据进行整理、滤波、相峰识别、数据拟合和解析的过程。
数据处理主要包括基线校正、噪声过滤和峰识别等，以提高数据质量。
数据解析主要是通过拟合方法获得样品的晶体结构参数（晶格常数、晶胞参数）、相对晶粒尺寸、晶体缺陷等信息。
二、XRD分析原理XRD分析原理基于X射线与晶体原子间的相互作用。
当X射线通过物质时，会与物质中的原子发生散射。
其中，由于X射线与晶体中的周期性排列的原子发生构型相吻合的散射，形成相干衍射。
X射线由晶体平面散射后的干涉衍射，在探测器上形成强度峰，峰强度与晶胞架构和原子排布有关。
1．布拉格方程布拉格方程是XRD分析的基本原理之一、它描述了X射线与晶体平面的相互作用。
布拉格方程为：nλ = 2dsinθ，其中n为整数，λ为入射X射线波长，d为晶胞面间距，θ为衍射角度。
(完整版)XRD实验样品如何制作
XRD实验样品如何制作？XRD衍射试样可以是金属、非金属的块体、片体或者粉末。
对于块状、板状、圆柱状样品，必须将其磨成一个平面，面积不能小于10*10mm。
如果面积太小可以用几块粘贴在一起。
如果是片状、圆柱状样品可能会存在严重的择优取向，衍射强度异常，给定性定量分析带来麻烦。
因此测试时应该合理选择响应的方向平面。
对于测量金属样品的微观应力（晶格畸变），测量残余奥氏体，要求样品不能简单粗磨，要求制备成金相样品，并进行普通抛光或电解抛光，消除表面应变层。
对于薄膜样品，需要特别注意薄膜的厚度。
由于XRD分析中X射线的穿透能力较强，所以适合比较厚的薄膜样品的分析，X射线测量的膜厚度约20个纳米。
此外，样品应该有较大的面积，薄膜比较平整，表面粗糙度小。
对于纤维样品的测试应该提出测试纤维的照射方向，是平行照射还是垂直照射，因为取向不同衍射强度也不相同。
对于焊接材料，如断口、焊缝表面的衍射分析，要求断口相对平整，提供断口所含元素。
如果一个断口照射面积小则可用两个或三个断口拼起来。
粉末样品制备通常分为两步，首先需把样品研磨成适合衍射实验用的粉末，然后，把样品粉末制成有一个十分平整平面的试片。
粉末样品要求磨成320目的粒度（1000目就是每平方英寸上有1000个孔可以同时通过1000个单位物料），大约40微米（如果需要做结构精修，样品需磨成10微米左右）。
如果粒度粗太大衍射强度底，峰形不好，分辨率低。
如果样品太细，小于100nm以下，容易造成衍射峰宽化。
要了解样品的物理化学性质，如是否易燃，易潮解，易腐蚀、有毒、易挥发，以免污染X 射线衍射仪样品台或者带来其他危害。
粉末试样用粘接剂调和后填入试样架凹槽中，使粉末表面刮平与框架平面一致。
粉末样品要求大约1-2克，如果太少也需5毫克。
对于样品量比较少的粉体，一般可采用分散在胶带纸上黏结或者分散在石蜡油中形成石蜡糊。
所使用的胶带注意是本身对X射线不产生衍射。
xrd的操作规程及注意事项
xrd的操作规程及注意事项X射线衍射（XRD）是一种常用的材料分析技术，可以用于分析材料的物相组成、结构信息以及晶体品质。
这篇文章将介绍X射线衍射的操作规程及注意事项，帮助读者正确进行XRD实验。
一、XRD的操作规程：1. 实验前准备：在进行XRD实验之前，需要对样品进行适当的制备。
样品应尽可能地细粉，并保持干燥。
如果样品是多晶粉末，可以直接进行测试。
如果样品是单晶，需要进行切片或折射衍射实验。
此外，还需要对X射线源和探测器进行适度的准备和检查，确保它们的工作状态良好。
2. 实验仪器设置：根据样品的性质和研究目的，选择合适的仪器参数进行设置。
这些参数包括入射角、旋转范围、扫描速度等。
3. 样品安置：将样品放置于仪器的样品台上，并使用夹具固定好。
应尽量使得样品均匀分布在样品台上，并避免遮挡X射线束的区域。
4. X射线衍射测量：根据设定的参数，通过仪器软件启动测量程序。
仪器会自动旋转样品台，记录X射线在不同角度下的衍射图样。
5. 数据处理和分析：通过仪器软件或专用的数据处理软件对测得的衍射数据进行处理和分析。
常见的处理方法包括峰识别、峰位测量、峰宽分析等。
二、XRD的注意事项：1. 实验室安全：在进行XRD实验时，应遵守实验室的安全规范，佩戴个人防护装备，如实验手套、护目镜等。
避免直接暴露于X射线源下方。
2. 样品处理：在处理样品时，应避免接触皮肤和口鼻，以免吸入或摄入有害物质。
在使用化学药品时，应注意防护和储存。
3. 仪器操作：在使用X射线衍射仪器时，应仔细阅读仪器操作手册，并按照要求正确操作。
遵守指示灯和警示标志的提示。
4. 样品准备与放置：样品制备需避免出现杂质，并尽量使其粒度均匀。
在放置样品时，要确保样品稳定，避免晃动或掉落。
5. 参数设置：正确选择仪器参数十分重要。
不同样品可能需要不同的参数，例如入射角、旋转范围和扫描速度等。
确保参数的准确性和合理性。
6. 结果解读：在进行数据处理和分析时，需要注意对结果的准确解读。
xrd粉末衍射的原理和使用步骤
X射线衍射（X-ray Diffraction，XRD）是一种常用的材料结构表征技术，通过分析材料中探测到的X射线衍射图谱，可以获取材料晶体结构的信息，如晶格常数、晶体形态和结构缺陷等。
下面是XRD粉末衍射的原理和使用步骤：原理：
XRD粉末衍射原理基于布拉格方程，即2d sinθ = nλ，其中d是晶格面间距，θ是入射角，λ是X射线波长。
当X射线通过晶体时，遵循衍射规律，不同晶面上的衍射峰对应特定的角度位置和强度，从而可以获得该材料的晶体结构信息。
使用步骤：
1.样品制备：将待分析的样品制备成细小的粉末，通常通过研磨和退火等工艺得到均匀细腻的粉末样品。
2.样品安装：将样品放置在衍射仪的样品支架上，并确保样品均匀散布在样品台上，避免堆积或孔隙。
3.光路调整：根据衍射仪的要求，调整样品与X射线束之间的距离、入射角度和闪耀角度，并确保X射线束正确定位于样品上。
4.数据采集：衍射仪发射X射线束，样品发生衍射，形成衍射图谱。
利用探秘器等检测设备捕捉和记录衍射图谱，获得衍射强度和入射角度等数据。
5.数据分析：通过对衍射图谱的解析和比对，利用计算机软件进行数据处理和拟合，得到样品的衍射峰位置、强度和半高宽等参数。
6.结果解读：根据衍射峰的位置和强度，结合相应的晶体结构数据库和理论知识，进行对比和分析，推导出样品的晶体结构信息，如晶格常数、晶胞参数和晶体取向等。
需要注意的是，XRD粉末衍射仅适用于非晶体或多晶体样品分析，对于单晶体样品，需要使用X射线单晶衍射技术进行分析。
此外，合适的衍射仪器和精确的操作方法也是确保精确测量和准确数据分析的关键。
xrd制样要求
对于衍射仪（以及聚焦照相法），实验时试样实际上是不动的。即使使用样品旋转器，由于只能使样品在自身的平面内旋转，并不能很有效的增加样品中晶粒取向的随机性，因此衍射仪对样品粉末颗粒尺寸的要求比粉末照相法的要求高得多，有时甚至那些可以通过360目（38μm）粉末颗粒都不能符合要求。对于高吸收的或者颗粒基本是个单晶体颗粒的样品，其颗粒大小要求更为严格。
首先，需把样品研磨成适合衍射实验用的粉末；
然后，把样品粉末制成有一个十分平整平面的试片。
整个过程以及之后安装试片、记录衍射谱图的整个过程，都不允许样品的组成及其物理化学性质有所变化。确保采样的代表性和样品成分的可靠性，衍射数据才有意义。
1.1 对样品粉末粒度的要求
任何一种粉末衍射技术都要求样品是十分细小的粉末颗粒，使试样在受光照的体积中有足够多数目的晶粒。因为只有这样，才能满足获得正确的粉末衍射图谱数据的条件：即试样受光照体积中晶粒的取向是完全机遇的。这样才能保证用照相法获得相片上的衍射环是连续的线条；或者，才能保证用衍射仪法获得的衍射强度值有很好的重现性。
通常采用的制作衍射仪试片的方法都很难避免在试片平面中导致表层晶粒有某种程度的择优取向。多数晶体是各向异性的，把它们的粉末压入样品框窗孔中很容易引起择优取向，尤其对那些容易解理成棒状、鳞片状小晶粒的样品，例如云母、黄色氧化铅、β- 铝等，对于这类样品，采用普通的压入法制作试片，衍射强度测量的重现性很差，甚至会得到相对强度大小次序颠倒过来的衍射图谱。克服择优取向没有通用的方法，根据实际情况可以采用以下几种：使样品粉末尽可能的细，装样时用筛子筛入，先用小抹刀刀口剁实并尽可能轻压等等；把样品粉末筛落在倾斜放置的粘有胶的平面上通常也能减少择优取向，但是得到的样品表面较粗糙；或者通过加入各向同性物质（如 MgO，CaF2等）与样品混合均匀，混入物还能起到内标的作用。但是，对于一些具有明显各向异性的晶体样品，采用上述方法仍不可避免一定程度的择优取向；而且对于具有十分细小晶粒的金属样品，采用形变的方法（碾、压等等）把样品制成平板使用时也常常会导致择优取向的织构，需要考虑适当的退火处理。
x射线样品制备
x射线样品制备X射线样品制备是为了进行X射线分析、衍射或吸收谱分析而准备样品。
制备的具体步骤和方法取决于所需的分析技术和要研究的样品类型。
以下是一般的X射线样品制备步骤：1. 样品选择：选择合适的样品非常重要。
样品应具有代表性，足够纯净，并且适合所需的分析技术。
样品的形状和尺寸也需要考虑，以适应不同的X射线仪器。
2. 样品制备：根据分析的需要，样品可以以多种形式存在，如粉末、固体、液体或薄膜。
样品制备可能涉及研磨、研磨、压制、烧结等过程，以获得适当形式的样品。
3. 粉末样品：•对于粉末X射线衍射（XRD）分析，样品通常被研磨成粉末，确保颗粒的细度和均匀性。
•粉末样品可能需要通过球磨、摇床磨、乳钵磨等手段进行研磨。
4. 固体样品：•对于固体样品，需要确保样品表面光滑，并且表面没有太多的颗粒。
有时，可以使用细砂纸或研磨机进行研磨。
•薄膜样品的制备可能涉及溅射、蒸发、沉积等技术。
5. 液体样品：•液体样品需要固化为适当的形式。
这可能涉及到冷冻、蒸发溶剂或使用适当的载体来制备透明的样品。
6. 透明样品：•对于透明样品，可能需要制备薄片或薄膜，以确保透射X射线的光学路径。
7. 标本支持：•样品通常需要安装在适当的标本支持上，如样品台或标本架。
这确保了样品的稳定性和合适的位置。
8. 避免污染：•样品制备的过程中要避免污染。
使用洁净工具、手套和避免样品接触外部物质是很重要的。
9. 实验室安全：•在进行样品制备时，务必遵循实验室安全标准，特别是在涉及到有毒或易爆材料的情况下。
具体的制备步骤和方法会根据所用的X射线技术和样品类型而有所不同，因此最好在进行实验之前仔细阅读相关的仪器和分析方法的手册。
XRD样品制备的注意工作
XRD样品制备的注意工作对于样品的准备工作，必须有足够的重视。
常常由于急于要看到衍射图，或舍不得花必要的功夫而马虎地准备样品，这样常会给实验数据带入显著的误差甚至无法解释，造成混乱。
下图示出了一个由于制样方法不当而得不到正确的衍射图的例子。
图4.3 制样方法的不当而得到错误衍射图（KNO3的一段衍射图）准备衍射仪用的样品试片一般包括两个步骤：首先，需把样品研磨成适合衍射实验用的粉末；然后，把样品粉末制成有一个十分平整平面的试片。
整个过程以及之后安装试片、记录衍射谱图的整个过程，都不允许样品的组成及其物理化学性质有所变化。
确保采样的代表性和样品成分的可靠性，衍射数据才有意义。
4.3.1 对样品粉末粒度的要求任何一种粉末衍射技术都要求样品是十分细小的粉末颗粒，使试样在受光照的体积中有足够多数目的晶粒。
因为只有这样，才能满足获得正确的粉末衍射图谱数据的条件：即试样受光照体积中晶粒的取向是完全机遇的。
这样才能保证用照相法获得相片上的衍射环是连续的线条；或者，才能保证用衍射仪法获得的衍射强度值有很好的重现性。
此外，将样品制成很细的粉末颗粒，还有利于抑制由于晶癖带来的择优取向；而且在定量解析多相样品的衍射强度时，可以忽略消光和微吸收效应对衍射强度的影响。
所以在精确测定衍射强度的工作中（例如相定量测定）十分强调样品的颗粒度问题。
对于衍射仪（以及聚焦照相法），实验时试样实际上是不动的。
即使使用样品旋转器，由于只能使样品在自身的平面内旋转，并不能很有效的增加样品中晶粒取向的随机性，因此衍射仪对样品粉末颗粒尺寸的要求比粉末照相法的要求高得多，有时甚至那些可以通过360目（38μm）粉末颗粒都不能符合要求。
对于高吸收的或者颗粒基本是个单晶体颗粒的样品，其颗粒大小要求更为严格。
例如，石英粉末的颗粒大小至少小于5μm，同一样品不同样片强度测量的平均偏差才能达到1％，颗粒大小若在10μm以内，则误差在2～3％左右。
但是若样品本身已处于微晶状态，则为了能制得平滑粉末样面，样品粉末能通过300目便足够了。
xrd分析实验报告
xrd分析实验报告X射线衍射（XRD）分析实验报告引言：X射线衍射（XRD）是一种重要的实验技术，广泛应用于材料科学、地质学、生物学等领域。
本实验旨在通过XRD技术，研究样品的晶体结构和晶体学性质，为材料研究和应用提供有力的支持。
一、实验目的本实验的目的是通过XRD分析，确定样品的晶体结构、晶格常数、晶体质量和晶体取向等性质。
通过实验结果，了解材料的结晶状态、晶体缺陷和晶格畸变等信息。
二、实验原理XRD技术基于X射线与晶体的相互作用。
当X射线入射到晶体上时，由于晶体的周期性结构，X射线会发生衍射现象。
通过测量衍射角和衍射强度，可以确定晶体的晶格常数和晶体结构。
三、实验步骤1. 样品制备：将待测样品制备成粉末状，并均匀地涂布在玻璃衬片上。
2. 仪器设置：打开X射线衍射仪，调整仪器参数，如入射角、出射角、扫描速度等，以适应样品的特性。
3. 开始测量：将样品放置在衍射仪的样品台上，启动测量程序，开始自动扫描。
4. 数据分析：通过软件对测得的数据进行分析，绘制衍射图谱，并解析出衍射峰的位置、强度和形状等信息。
5. 结果解读：根据衍射图谱和解析结果，确定样品的晶体结构和晶格常数，并分析晶体的缺陷和畸变情况。
四、实验结果与讨论通过XRD实验，我们得到了样品的衍射图谱，并根据图谱解析出了衍射峰的位置和强度。
根据衍射峰的位置和强度，我们可以推断出样品的晶体结构和晶格常数。
进一步分析衍射峰的形状和宽度，我们可以了解样品的晶体质量和晶格畸变情况。
如果衍射峰非常尖锐且对称，说明样品的晶体质量较好；如果衍射峰宽度较大，且呈现不规则形状，说明样品存在晶格畸变或晶体缺陷。
此外，通过比较不同样品的衍射图谱，我们可以研究晶体取向的差异。
不同晶面的衍射峰位置和强度的变化，可以揭示晶体的取向情况和晶体生长方向。
五、结论通过XRD分析实验，我们成功确定了样品的晶体结构和晶格常数，并分析了晶体的质量、畸变和取向等性质。
实验结果为材料研究和应用提供了重要的参考依据。
xrd分析报告
XRD分析报告引言X射线衍射（XRD）是一种常用的材料表征技术，能够提供材料的晶体结构和晶体学信息。
本报告旨在通过逐步思考的方式，向读者介绍如何进行XRD分析以及如何解读XRD图谱结果。
步骤一：样品制备首先，我们需要准备好待测样品。
样品应尽可能纯净，并且具有充分的晶体质量。
样品可以是晶体、粉末或薄膜等形式。
步骤二：取得XRD谱图接下来，我们需要使用X射线衍射仪器来获取XRD谱图。
将样品放置在样品台上，并确保样品的位置准确。
确保X射线仪器正确校准，并根据样品的特性选择合适的X射线源和检测器。
步骤三：分析XRD谱图获得XRD谱图后，我们需要仔细分析它以获取有关样品的信息。
首先，我们可以通过观察谱图中的峰位和峰形来确定样品的晶体结构类型。
峰位表示晶体格点的位置，而峰形则显示了晶体的有序性。
步骤四：确定晶体结构通过与已知的标准晶体库进行比对，我们可以确定样品的晶体结构。
标准晶体库中包含了各种已知晶体的XRD图谱，通过比对谱图特征，我们可以确定样品中晶体的组成和晶格参数。
步骤五：衍射峰解释在XRD谱图中，我们可以观察到一系列的衍射峰。
每个衍射峰代表了样品中的一组晶面，其位置由布拉格方程确定。
我们可以通过测量衍射峰的位置和强度来计算晶格常数、晶体尺寸和晶体的有序度等信息。
步骤六：定性分析通过分析XRD谱图中的峰位、峰形和峰强度等特征，我们可以对样品的定性分析进行初步判断。
定性分析可以帮助我们确定样品中的化合物种类、杂质含量和晶体的有序度等信息。
步骤七：定量分析如果需要进一步定量分析样品的物相含量、晶体尺寸和有序度等参数，我们可以利用一定的数学模型和计算方法。
通过与标准物质的比对和计算，我们可以得出样品的定量分析结果。
结论通过XRD分析，我们可以获得样品的晶体结构信息、物相含量和晶体尺寸等重要参数。
通过逐步思考并结合定性定量分析方法，我们可以深入理解样品的特性和性质，为材料研究和应用提供重要的指导。
以上就是一份XRD分析报告的步骤指南。
现代分析测试方法XRD_8
3、二维探测器技术：探测不均匀衍射斑或整个得拜环；沿得拜环对强度数 据进行积分可获得精确的衍射图象；
Advanced Analysis & Computation Center
1、掠射入射(GID)技术：以很低的入射角度进行掠射分析，尽可能从薄膜层得 到最大的信号，从而分析相组分沿深度的分布→具有表面敏感性；
2、精确测角技术：X射线光学组件→要求入射角必须高度精确； 3、弱信号探测技术：二维探测器→薄膜的衍射信息很弱；
Advanced Analysis & Computation Center
1、可调beam stop技术：高强度、低发散度的平行点光源—交叉双Göbel 镜； 2、真空通道技术：高分辨率的针孔准直器、真空光路； 3、二维探测器技术：在透射光束附近观察试样的微弱的小角散射信息→以防止 受直射光和空气散射的影响； 4、纳米空间测量：分析在几十埃到1000埃的试样；
图3.1 铸态合金Al72.5Fe14.5Ni13 的X 射线(λCuK = 0.15406 nm)衍射谱 Figure 3.1 X-ray diffraction pattern of the as-cast Al72.5Fe14.5Ni13 alloy.
00ι 001 002 003 004 005 006 007 008 009 0010 0011 0012 0013 0014 0015 0016 0017 0018 0019 0020 0021 0022
21
2
--
--
--
55
3.526
24.682
80
超实用！XRD样品制备及仪器基本操作
超实用！XRD样品制备及仪器基本操作俗话说：“磨刀不误砍柴工”了解XRD样本的要求、制备过程并细心的制作XRD样品，可以起到事半功倍的效果，而不是本末倒置，急于得到衍射图谱而粗心准备样品，这样往往引起实验数据误差，从而给结果分析带来困难，浪费大量的分析时间。
1、XRD运用对象X射线衍射仪技术可以获得材料的晶体结构、结晶状态等参数，这些材料包括金属材料和非金属材料，大致如下：X 射线衍射技术可以分析研究金属固溶体、合金相结构、氧化物相合成、材料结晶状态、金属合金化、金属合金薄膜与取向焊接金属相、各种纤维结构与取相、结晶度、原料的晶型结构检验、金属的氧化、各种陶瓷与合金的相变、晶格参数测定、非晶态结构、纳米材料粒度、矿物原料结构、建筑材料相分析、水泥的物相分析等。
非金属材料的X射线衍射技术可以分析材料合成结构、氧化物固相相转变、电化学材料结构变化、纳米材料掺杂、催化剂材料掺杂、晶体材料结构、金属非金属氧化膜、高分子材料结晶度、各种沉积物、挥发物、化学产物、氧化膜相分析、化学镀电镀层相分析等。
2、XRD样品制样要求Xrd可以测量块状和粉末状的样品，对于不同的样品尺寸和样品性质有不同的要求，下面对分别对其作简要的介绍：图1 XRD样品制备（a）块状样品的要求及制备•对于非断口的金属块状试样，需要了解金属自身的相组成、结构参数时，应该尽可能的磨成平面，并进行简单的抛光，这样不但可以去除金属表面的氧化膜，也可以消除表面应变层。
然后再用超声波清洗去除表面的杂质，但要保证试样的面积应大于10mm*10mm，因为xrd是扫过一个区域得到衍射峰，对试样需要一定的尺寸要求。
•对于薄膜试样，其厚度应大于20nm，并在做测试前检验确定基片的取向，如果表面十分不平整，根据实际情况可以用导电胶或者橡皮泥对样本进行固定，并使样品表面尽可能的平整。
•对于片状、圆柱状的试样会存在严重的择优取向，造成衍射强度异常，此时在测试时应合理的选择响应方向平面。
XRD使用方法范文
XRD使用方法范文X射线衍射（X-ray diffraction, XRD）是一种用于研究晶体结构和材料成分的非破坏性分析方法。
它通过将单色X射线束照射到样品上并测量散射的X射线的特性，来获取关于晶体结构的信息。
以下是XRD仪器的使用方法。
一、样品制备1.选择适当的样品形式：样品应具有足够的晶体性质，常见的形式有粉末、薄片、单晶等。
2.样品的制备：对于粉末样品，应在球磨机中将样品粉碎并制备成均匀细小的粉末；对于薄片样品，应使用适当的方法制备均匀薄片；对于单晶样品，通常需要通过生长方法获得。
二、实验仪器的设置1.打开XRD仪器电源，并确保仪器的电源指示灯亮起。
2.检查光学系统：检查仪器的发射和接收系统，确保光学元件的正常工作，并校准光学路径。
3.设置样品台：根据样品的形式选择合适的样品台，例如：平板样品台、旋转样品台等，并安装到仪器上。
调整样品台的位置，确保样品位于X射线束的中心位置。
三、测量条件的设置1.X射线管的选择：根据需要选择合适的X射线管，常用的有铜管、钼管等。
2.X射线的波长：根据样品的性质和需要，选择合适的X射线波长，常见的有CuKα（λ=1.5406Å）和MoKα（λ=0.7107Å）。
3.性能参数的设置：根据样品的特性，设置合适的扫描角度范围、步长等参数，以获取更准确的数据。
4.数据采集时间：根据样品的特性和仪器的灵敏度，设置合适的数据采集时间，以确保获得清晰的衍射峰。
四、样品放置与测量1.将制备好的样品放置到样品台上，并固定好样品台的位置。
2.调整样品的位置：根据样品的需求，可以调整样品的角度、位置以及高度，以确保测量的准确性。
3.开始测量：在仪器的控制界面上设置好相应的参数后，开始进行测量。
可以选择单点扫描或连续扫描等不同的测量模式。
五、数据分析与解释1.数据处理：根据测量结果，通过仪器上的数据处理软件对数据进行处理和分析，并获得样品的衍射图谱。
2.衍射峰解读：根据衍射图谱中的衍射峰位置和强度，运用衍射理论进行解读，确定样品的晶体结构和成分。
常规的xrd的标准分析流程
常规的xrd的标准分析流程下载温馨提示:该文档是我店铺精心编制而成，希望大家下载以后，能够帮助大家解决实际的问题。
文档下载后可定制随意修改，请根据实际需要进行相应的调整和使用，谢谢!并且，本店铺为大家提供各种各样类型的实用资料，如教育随笔、日记赏析、句子摘抄、古诗大全、经典美文、话题作文、工作总结、词语解析、文案摘录、其他资料等等，如想了解不同资料格式和写法，敬请关注!Download tips: This document is carefully compiled by theeditor. I hope that after you download them,they can help yousolve practical problems. The document can be customized andmodified after downloading,please adjust and use it according toactual needs, thank you!In addition, our shop provides you with various types ofpractical materials,such as educational essays, diaryappreciation,sentence excerpts,ancient poems,classic articles,topic composition,work summary,word parsing,copy excerpts,other materials and so on,want to know different data formats andwriting methods,please pay attention!常规 X 射线衍射 (XRD) 标准分析流程。
1. 样品制备。
3.4 XRD实验方法及样品制备
材料研究方法
35
衍射图形的特点
相关信息
衍射线的位置・强度
定性分析・晶体结构
衍射线的宽度
微晶尺寸
结晶的完整性（原子/晶格的排列）
广 高衍射角的强度衰减
结晶性・原子的热震动
衍射强度的样品依存性
晶体方位的偏离（织构・取向）
角 根据衍射角度的样品方向发生变化 残余应力测试
非晶物质晕ー结晶质谱峰强度比 结晶度化
40
b.步进扫描 步进扫描又称阶梯扫描。步进扫描工作是不连续的，试样每
转动一定的角度Δθ即停止，在这期间，探测器等后续设备开始工 作，并以定标器记录测定在此期间内衍射线的总计数，然后试样 转动一定角度，重复测量，输出结果。图3-34即为某一衍射峰的 步进扫描图形。
Intensity
(c/s)
250
CuSO4·nH2O at 50 °C and varying humidity
2020/8/26
材料研究方法
38
2020/8/26
材料研究方法
39
下图为水泥熟料中最主要矿物C3A的X射线衍射谱
2000
CA 3
Y Axis Title
1000
0
30
60
X Axis Title
2020/8/26
材料研究方法
连续扫描就是让试样和探测器以1:2的角速度作匀速 圆周运动，在转动过程中同时将探测器依次所接收到的各 晶面衍射信号输入到记录系统或数据处理系统，从而获得 的衍射图谱。上图即为连续扫描图谱。
能进行峰位测定、线形、相对强度测定，主要用于物 相的定量分析工作。
2020/8/26
材料研究方法
37
连续式扫描
XRD制样的方法及注意事项
如何制备XRD样品？字体:小中大|打印发表于: 2021-10-25 09:55 作者: wtz010 来源: 分析测试百科网查看完整版本请点击这里：如何制备XRD样品？对于样品的准备工作，必须有足够的重视。
常常由于急于要看到衍射图，或舍不得花必要的功夫而马虎地准备样品，这样常会给实验数据带入显著的误差甚至无法解释，造成混乱。
准备衍射仪用的样品试片一般包括两个步骤：首先，需把样品研磨成适合衍射实验用的粉末;然后，把样品粉末制成有一个十分平整平面的试片。
整个过程以及之后安装试片、记录衍射谱图的整个过程，都不允许样品的组成及其物理化学性质有所变化。
确保采样的代表性和样品成分的可靠性，衍射数据才有意义。
1.1 对样品粉末粒度的要求任何一种粉末衍射技术都要求样品是十分细小的粉末颗粒，使试样在受光照的体积中有足够多数目的晶粒。
因为只有这样，才能满足获得正确的粉末衍射图谱数据的条件：即试样受光照体积中晶粒的取向是完全机遇的。
这样才能保证用照相法获得相片上的衍射环是连续的线条;或者，才能保证用衍射仪法获得的衍射强度值有很好的重现性。
此外，将样品制成很细的粉末颗粒，还有利于抑制由于晶癖带来的择优取向;而且在定量解析多相样品的衍射强度时，可以忽略消光和微吸收效应对衍射强度的影响。
所以在精确测定衍射强度的工作中(例如相定量测定)十分强调样品的颗粒度问题。
对于衍射仪(以及聚焦照相法)，实验时试样实际上是不动的。
即使使用样品旋转器，由于只能使样品在自身的平面内旋转，并不能很有效的增加样品中晶粒取向的随机性，因此衍射仪对样品粉末颗粒尺寸的要求比粉末照相法的要求高得多，有时甚至那些可以通过360目(38μm)粉末颗粒都不能符合要求。
对于高吸收的或者颗粒根本是个单晶体颗粒的样品，其颗粒大小要求更为严格。
例如，石英粉末的颗粒大小至少小于5μm，同一样品不同样片强度测量的平均偏差才能到达1%，颗粒大小假设在10μm以内，那么误差在2～3%左右。
X 射线衍射测试样品制备方法
X 射线衍射仪（XRD）
（1）
在1D XRD测试中，样品的制备方法主要有两种：（1）将固体粉末铺洒在干净的硅片基底上，加热至熔融态以消除样品的热历史，以0.5 °C/min 速率缓慢降至室温，提供足够长的退火时间使得样品结构充分地发育，该方法操作简单，适用于热稳定性好的样品；（2）将固体样品溶于有机溶剂(沸点通常低于100 °C，挥发性视样品性质而定)，配制成~20 mg/mL的浓溶液，将其在硅片基底上浇膜。
在合适温度(通常为室温)下将溶剂挥发完全，然后升温高于溶剂沸点，真空干燥12 h后测试。
该方法需要避免薄膜中存在气泡，溶剂需要挥发完全，适用于热稳定性较差的样品。
（2）
在2D XRD测试中，样品的常规制备方法为：将样品加热至各向同性态，然后降温到液晶相温度区间，在刮刀与样品共同恒温一段时间后，使用刮刀迅速剪切样品取向。
样品剪切取向后，或淬冷至室温，或恒温退火一段时间后缓慢降至室温，视样品情况而定。
另外，样品还可拉伸制成纤维进行取向：将样品加热至各向同性态，然后降温到液晶相温度区间，在镊子与样品共同恒温一段时间后，使用镊子迅速夹住样品拉起，淬冷至室温。
（3）
在变温小角X射线散射测试中，样品用铝箔包裹，达到每个温度后需要稳定15分钟，然后进行测试，曝光时间为25 min。
热台控温范围为室温至300 °C，精度为±0.1 °C。
- 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性，平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
- 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
- 3、如文档侵犯您的权益，请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间：9:00-18:30)。
对于样品的准备工作，必须有足够的重视。
常常由于急于要看到衍射图，或舍不得花必要的功夫而马虎地准备样品，这样常会给实验数据带入显著的误差甚至无法解释，造成混乱。
准备衍射仪用的样品试片一般包括两个步骤：首先，需把样品研磨成适合衍射实验用的粉末；然后，把样品粉末制成有一个十分平整平面的试片。
整个过程以及之后安装试片、记录衍射谱图的整个过程，都不允许样品的组成及其物理化学性质有所变化。
确保采样的代表性和样品成分的可靠性，衍射数据才有意义。
4.3.1 对样品粉末粒度的要求任何一种粉末衍射技术都要求样品是十分细小的粉末颗粒，使试样在受光照的体积中有足够多数目的晶粒。
因为只有这样，才能满足获得正确的粉末衍射图谱数据的条件：即试样受光照体积中晶粒的取向是完全随机的。
这样才能保证用照相法获得相片上的衍射环是连续的线条；或者，才能保证用衍射仪法获得的衍射强度值有很好的重现性。
此外，将样品制成很细的粉末颗粒，还有利于抑制由于晶癖带来的择优取向；而且在定量解析多相样品的衍射强度时，可以忽略消光和微吸收效应对衍射强度的影响。
所以在精确测定衍射强度的工作中（例如相定量测定）十分强调样品的颗粒度问题。
对于衍射仪（以及聚焦照相法），实验时试样实际上是不动的。
即使使用样品旋转器，由于只能使样品在自身的平面内旋转，并不能很有效的增加样品中晶粒取向的随机性，因此衍射仪对样品粉末颗粒尺寸的要求比粉末照相法的要求高得多，有时甚至那些可以通过360目（38μm）粉末颗粒都不能符合要求。
对于高吸收的或者颗粒基本是个单晶体颗粒的样品，其颗粒大小要求更为严格。
例如，石英粉末的颗粒大小至少小于5μm，同一样品不同样片强度测量的平均偏差才能达到1％，颗粒大小若在10μm以内，则误差在2～3％左右。
但是若样品本身已处于微晶状态，则为了能制得平滑粉末样面，样品粉末能通过300目便足够了。
对于不同吸收性质的粉末，颗粒度可以认为“足够细”的尺寸要求是各不相同的，因为样品受到X射线照射的有效体积和可以忽视样品中微吸收效应的颗粒上限都取决于样品的吸收性质。
Brindley对此作过详细的分析，他在衍射分析中对粉末的颗粒度按μD值进行分级（μ为物质的线吸收系数，D为晶体的平均直径）。
细颗粒：μD < 0.01中等颗粒：0.01 < μD < 0.1粗颗粒：0.1 < μD < 1十分粗：μD > 1表4-5列出了不同μ值的物质粉末颗粒分级。
在Brindley的分级中，“细”表示大多数颗粒周围的吸收性质是均匀的，其差异可以忽略（微吸收效应可以忽略）；对中等以上的颗粒，则需要考虑“微吸收效应”；而“十分粗”的样品，衍射实际上只局限在表面一层的晶粒，此时，粉末照片开始出现不连续的点状线，“粉末吸收效应”等概念失去意义。
当晶粒尺寸小于1000埃时，衍射仪就可察觉衍射线的宽化（对于粉末照相法，需晶粒小于200～300埃才能观察到宽化）。
所以，要测量到良好的衍射线，晶粒亦不宜过细，对于粉末衍射仪，适宜的晶粒大小应在0.1～10μm的数量级范围内。
4.3.2 关于样品试片平面的准备粉末衍射仪要求样品试片的表面是十分平整的平面。
试片装上样品台后其平面必须能与衍射仪轴重合，与聚焦圆相切。
试片表面与真正平面的偏离（表面形状不规则、不平整、凸出或凹下、很毛糙等等）会引起衍射线的宽化、位移以及使强度产生复杂的变化，对光学厚度小的（即吸收大的）样品其影响更为严重。
但是，制取平整表面的过程常常容易引起择优取向，而择优取向的存在会严重地影响衍射线强度的正确测量。
实际实验中，当要求准确测量强度时，一般首先考虑如何避免择优取向的产生而不是追求平整度。
通常采用的制作衍射仪试片的方法都很难避免在试片平面中导致表层晶粒有某种程度的择优取向。
多数晶体是各向异性的，把它们的粉末压入样品框窗孔中很容易引起择优取向，尤其对那些容易解理成棒状、鳞片状小晶粒的样品，例如云母、黄色氧化铅、β- 铝等，对于这类样品，采用普通的压入法制作试片，衍射强度测量的重现性很差，甚至会得到相对强度大小次序颠倒过来的衍射图谱。
克服择优取向没有通用的方法，根据实际情况可以采用以下几种：使样品粉末尽可能的细，装样时用筛子筛入，先用小抹刀刀口剁实并尽可能轻压等等；把样品粉末筛落在倾斜放置的粘有胶的平面上通常也能减少择优取向，但是得到的样品表面较粗糙；或者通过加入各向同性物质（如MgO，CaF2等）与样品混合均匀，混入物还能起到内标的作用。
但是，对于一些具有明显各向异性的晶体样品，采用上述方法仍不可避免一定程度的择优取向；而且对于具有十分细小晶粒的金属样品，采用形变的方法（碾、压等等）把样品制成平板使用时也常常会导致择优取向的织构，需要考虑适当的退火处理。
然而，如果为了研究样品的某一特征衍射，择优取向却是十分有用的，此时，制样将力求使晶粒高度取向，以得到某一晶面的最大强度，例如在粘土矿物的鉴定与研究中，001衍射具有特别的价值，故它们的X射线衍射分析常在样品晶粒的定向集合体上进行，需要制作所谓“定向试片”。
4.3.3 关于样品试片的厚度样品对X射线透明度的影响，跟样品表面对衍射仪轴的偏离所产生的影响类似，会引起衍射峰的位移和不对称的宽化，此误差使衍射峰位移向较低的角度，特别是对线吸收系数μ值小的样品，在低角度区域引起的位移Δ(2θ)会很显著。
如果要求准确测量2θ或要求提高仪器分辨率能力，应该使用薄层粉末样品。
通常仪器所附的制作样品的样品框的厚度（1.5～2 mm）对于所有样品的要求均已足够了。
4.3.4 制样技巧对于制样来说没有通用的一种方法，通常需依据实际情况有针对性地进行选择。
然而无论用何种方法，都需要满足一个前提条件——在制成样品试片直至衍射实验结束的整个过程中，必须保证试片上样品的组成及其物理化学性质和原样品相同，必须确保样品的可靠性。
1. 粉末样品的制备虽然很多固体样品本身已处于微晶状态，但通常却是较粗糙的粉末颗粒或是较大的集结块，更多数的固体样品则是具有或大或小晶粒的结晶织构或者是可以辨认出外形的粗晶粒，因此实验时一般需要先加工成合用的细粉末。
因为大多数固体颗粒是易碎的，所以最常用的方法是研磨和过筛，只有当样品是十分细的粉末，手摸无颗粒感，才可以认为晶粒的大小已符合要求。
持续的在研钵或在球磨中研磨至<360目的粉末，可以有效的得到足够细的颗粒。
制备粉末需根据不同的具体情况采用不同的方法。
对于一些软而不便研磨的物质（无机物或者有机物），可以用干冰或液态空气冷却至低温，使之变脆，然后进行研磨。
若样品是一些具有不同硬度和晶癖的物质的混合物，研磨时较软或易于解理的部分容易被粉化而包裹较硬部分的颗粒，因此需要不断过筛，分出已粉化的部分，最后把全部粉末充分混合后再制作实验用的试样。
样品中不同组分在各粒度级分中可能有不同的含量，因此对多相样品不能只筛取最细的部分来制样（除非是进行分级研究）。
如果样品是块状而且是由高度无序取向的微晶颗粒组成的话，例如某些岩石、金属以及蜡和皂类样品，在粉末照相法中可以直接使用，在衍射仪中也可以直接使用，不过需加工出一个平面。
金属和合金样品常可碾压成平板使用，但是在这种冷加工过程中常会引起择优取向，需要考虑适当的退火处理。
退火的时间和温度，以仅发生复原过程为原则。
过高的退火温度有可能导致重结晶过程的发生，某些挥发性组分的损失以及其它的物理化学的变化。
岩石以及金属或合金块内常常可能存在织构，为了结果的可靠，还是应该磨成粉末或锉成细屑。
锉制金属细屑可以用细的整形锉刀，锉刀要清洁，锉时锉程要小，力量要轻，避免样品发热，制得的锉屑还应考虑退火处理以消除锉削过程冷加工带来的点阵应力。
样品粉末的制备方法还可以根据样品的物理化学性质来设计，例如NaCl粉末可以利用酒精使NaCl从它的饱和溶液中析出的办法制得，由此得到的样品衍射分析效果极佳。
一些样品本身的性质会影响衍射的图谱，工作时亦应予以注意。
例如，有些软的晶态物质经长时间研磨后会造成点阵的某些破坏，导致衍射峰的宽化，此时可采用退火处理；有的样品在空气中不稳定，易发生物理化学变化（例如易潮解、风化、氧化、挥发等），则需有专门的制样器具和必要的保护、预防措施；对于一些各向异性的晶粒，采用混入各向同性物质的方法，同时还可进行内标。
2. 制作粉末衍射仪试片的技巧粉末衍射仪要求样品试片具有一个十分平整的平面，而且对平面中的晶粒的取向常常要求是完全无序的，不存在择优取向（在粘土分析中有时又要求制作定向的试片）。
制作合乎要求的衍射仪试片常用的方法通常很细的样品粉末（手摸无颗粒感），如无显著的各相异性且在空气中又稳定，则可以用“压片法”来制作试片。
先把衍射仪所附的制样框用胶纸固定在平滑的玻璃片上（如镜面玻璃，显微镜载玻片等），然后把样品粉末尽可能均匀地洒入（最好是用细筛子—360目筛入）制样框的窗口中，再用小抹刀的刀口轻轻剁紧，使粉末在窗孔内摊匀堆好，然后用小抹刀把粉末轻轻压紧，最后用保险刀片（或载玻片的断口）把多余凸出的粉末削去，然后，小心地把制样框从玻璃平面上拿起，便能得到一个很平的样品粉末的平面。
此法所需样品粉末量较多，约需0.4cm3。
“涂片法”所需的样品量最少。
把粉末撒在一片大小约25×35×1mm3的显微镜载片上（撒粉的位置要相当于制样框窗孔位置），然后加上足够量的丙酮或酒精（假如样品在其中不溶解），使粉末成为薄层浆液状，均匀地涂布开来，粉末的量只需能够形成一个单颗粒层的厚度就可以，待丙酮蒸发后，粉末粘附在玻璃片上，可供衍射仪使用，若样品试片需要永久保存，可滴上一滴稀的胶粘剂。
上述两种方法很简便，最常用，但仍很难避免在样品平面中晶粒会有某种程度的择优取向。
制备几乎无择优取向样品试片的专门方法：喷雾法。
把粉末筛到一只玻璃烧杯里，待杯底盖满一薄层粉末后，把塑料胶喷成雾珠落在粉末上，这样，塑料雾珠便会把粉末颗粒敛集成微细的团粒，待干燥后，把这些细团粒自烧杯扫出，分离出细于115目的团粒用于制作试片，试片的制作类似上述的涂片法，把制得的细团粒撒在一张涂有胶粘剂的载片上，待胶干后，倾去多余的颗粒。
用喷雾法制得的粉末细团粒也可以用常规的压片法制成试片。
或者直接把样品粉末喷落在倾斜放置的涂了胶粘剂的载片上，得到的试片也能大大地克服择优取向，粉末取向的无序度要比常规的涂片法好得多。
塑合法。
把样品粉末和可溶性硬塑料混合，用适当的溶剂溶解后，使其干固，然后再磨碎成粉。
所得粉末可按常规的压片法或涂片法制成试片。
无择优取向粘土试片的制作方法，可参考C.S.Huthison，1974《Laboratory Handbook of Petrographic Techniques》P226，上面介绍了四种重现性较好的方法。