自动测试设备开关矩阵之研究
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接 口插针 上 ； （ ）将 自动 测试设 备 信号 源 分 系统输 出的 信号转 ２
２ 现有技术及存在问题 ［ １ ］
在 自动测 试设 备 中，开 关矩 阵的 作用 是 实现 自动 测试 设 备 与 各 种 不 同
的 被 测 单 元 的 连 接 （ 图 １所 示 ） 具 体 如 ，
Ａ ｔ ｄ ｆ ｔ ｅ Ｓ ｔ ｈ Ｍ ａ ｒｘ ｆ ｒ Ａｕ ｏ ａ ｉ ｓ Ｓ ｕ ｙ ｏ ｈ ｗｉｃ ｔ ｉ ｏ ｔ ｍ ｔｃ Ｔｅ ｔＥｑｕ ｐｍ ｅ ｔ ｉ ｎ
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Ｌ ｒ１
要按 几百伏 的工 作 电压 ，近 １Ａ 的工作 电流的最 高要 ０ 求来 设计 ，其设 备 资源浪 费将 很大 。其 次 ，现 代 电子 设备 的 电路 单 元 通 道 数 很 多 ， 一般 一 、二 百 路 很 常 见，大量 的信号 通 道 对 ＡＴ Ｅ的 开 关 矩 阵 的设 计 提 出 了严 峻的 挑战 。假 设某一 电子 设备 的 电路 单 元最 多需 要 同时提 供 １０个 数 字 输 入／ 出通 道 ，９个 模 拟 信 ０ 输 号激 励通 道 ，２ ４个 模 拟 信号 测 量 通 道 ，８个 电源 通 道 ，被测单 元 插座最 多 １８个插针 ， 那么从 全 交换 的 ６ 角度来 看 ，开 关矩 阵需提 供 （０ ＋９＋２ ＋８ ×１８ １０ ４ ） ６
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维普资讯
计算 机 测量 与 控 制 ． ０ ２ １ ２ ２ ０ ． ０（ ）
Ｃｏ ｐｕｅ Ｍ ｅ ｓ ｒ ｍ ｅ ｍ ｔｒ ａ ｕ ｅ ｎｔ ＆ Ｃｏ ｒｏｌ ｎｔ
— —
文章编号 ：６ １ ４９ （０ ２０ ０ ７ —０ １ ７ ５ ８ ２ ０ ）２— ０ ８ ３
￣１ ￣ ，ｔ １
－ ｉＰ０ ８ Ｔ ２６ －
文献标识码 Ｂ
自动 测 试 设 备 开 关 矩 阵 之研 究
枋 江平 ， 肖文 杰
（ 军 雷 达 学 院 雷 达 系统 工 程 系，湖 北 武 汉 空 ４０ １） ３０ ０
摘要 ：对 自动测试 设备开关矩阵的各种设 计方案进行 了全面分 析 比较 ．提 出了一种 高适配 能力 的设计方 案，基 于 此方案设计 的混合 式智 能型开关矩阵，解决 了自动测试设 备与各种被测单 元适 配难的问题 ，并已蓰国家发 明专利 。 关键 词 ：自动测试设备 ；开关矩阵 ；适 配器
１ 弓 言 Ｉ
随 着科 学技 术的发 展 ， 自动测试 设 备 （ ＴＥ Ａ ）在 接 至 被测 电路单 元要求 的接 口插 针上 ； 军事 、航 空 航天 以及 工业 部 门运 用越来 越 广泛 ， 然而 （ ）将 被测 电路单 元输 出的信号 转 接至 自动测试 ３ 在 电路 单 元 （ 般 为插件板 ）测试 领域 中． 由于 被测 一 设备测 量分 系统 中的适 当测 量通 道 ； 单元 （ ｕＵＴ）种类 很 多 ，往 往 一 台 ＡＴ Ｅ要 测试 几 百 （ ） 为被测 电路单 元提 供 必要 的外接 元 件 ，如 负 ４ 甚至几 千种 被 测单元 ，而 被测 单元 的接 口形式 千 差万 载 、调整旋 钮 、大体 积器件 等 。 别，这就 出现 了标 准 的 ＡＴ Ｅ与 非 标 准 的被 测单 元 之 问题的 难点 在于 ：首先 ，对 于 不同 的被 测单 元 其 间适配 难 的 问题， 该 问题 严 重影 响 了 Ａ Ｅ 在 电路 单 Ｔ 边缘连 接 器 的每个插针 定 义完 全不 一样 ，每 个插 针 都 元测试 领 域的应 用效 果。 本文 首先 全面 分 析 了传 统开 可能被 定 义为 电源 、输 入 信号 、输 出信 号 、外接 元 件 关矩 阵 的各种解 决方 案之优 缺 点 ，然后 提 出 了一种 实 端子之 一 。并且 信号 幅度也 不一 样 ，低 的几 毫 伏 ，高 用的解 决方 案 ，并给 出了使 用效果 。 的几 百伏 ，如 果不 采取一 定 的方法 ，那 么每 个 通道 都
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接 口插针 上 ； （ ）将 自动 测试设 备 信号 源 分 系统输 出的 信号转 ２
２ 现有技术及存在问题 ［ １ ］
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自动 测 试 设 备 开 关 矩 阵 之研 究
枋 江平 ， 肖文 杰
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摘要 ：对 自动测试 设备开关矩阵的各种设 计方案进行 了全面分 析 比较 ．提 出了一种 高适配 能力 的设计方 案，基 于 此方案设计 的混合 式智 能型开关矩阵，解决 了自动测试设 备与各种被测单 元适 配难的问题 ，并已蓰国家发 明专利 。 关键 词 ：自动测试设备 ；开关矩阵 ；适 配器
１ 弓 言 Ｉ
随 着科 学技 术的发 展 ， 自动测试 设 备 （ ＴＥ Ａ ）在 接 至 被测 电路单 元要求 的接 口插 针上 ； 军事 、航 空 航天 以及 工业 部 门运 用越来 越 广泛 ， 然而 （ ）将 被测 电路单 元输 出的信号 转 接至 自动测试 ３ 在 电路 单 元 （ 般 为插件板 ）测试 领域 中． 由于 被测 一 设备测 量分 系统 中的适 当测 量通 道 ； 单元 （ ｕＵＴ）种类 很 多 ，往 往 一 台 ＡＴ Ｅ要 测试 几 百 （ ） 为被测 电路单 元提 供 必要 的外接 元 件 ，如 负 ４ 甚至几 千种 被 测单元 ，而 被测 单元 的接 口形式 千 差万 载 、调整旋 钮 、大体 积器件 等 。 别，这就 出现 了标 准 的 ＡＴ Ｅ与 非 标 准 的被 测单 元 之 问题的 难点 在于 ：首先 ，对 于 不同 的被 测单 元 其 间适配 难 的 问题， 该 问题 严 重影 响 了 Ａ Ｅ 在 电路 单 Ｔ 边缘连 接 器 的每个插针 定 义完 全不 一样 ，每 个插 针 都 元测试 领 域的应 用效 果。 本文 首先 全面 分 析 了传 统开 可能被 定 义为 电源 、输 入 信号 、输 出信 号 、外接 元 件 关矩 阵 的各种解 决方 案之优 缺 点 ，然后 提 出 了一种 实 端子之 一 。并且 信号 幅度也 不一 样 ，低 的几 毫 伏 ，高 用的解 决方 案 ，并给 出了使 用效果 。 的几 百伏 ，如 果不 采取一 定 的方法 ，那 么每 个 通道 都
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