应用边界扫描技术提高电路板可测试性的两种优化问题

应用边界扫描技术提高电路板可测试性的两种优化问题
牛春平;常天庆;陈圣俭;任哲平
【期刊名称】《微电子学与计算机》
【年(卷),期】2004(21)11
【摘要】边界扫描测试技术很好地解决了VLSI电路诊断、测试的困难问题,得到了广泛的应用。

作者在查阅大量文献资料的基础上,总结出了边界扫描技术在提高电路板可测试性上的两种优化问题:即设计过程中设计复杂性和测试性改善的优化,以及在测试生成算法中紧凑性与完备性优化的问题,论文详细分析了这两种问题,分析比较了相关的优化算法,并对这两种优化问题未来的发展方向进行了预测。

【总页数】4页(P43-46)
【关键词】可测试性设计;边界扫描;优化;算法
【作者】牛春平;常天庆;陈圣俭;任哲平
【作者单位】装甲兵工程学院
【正文语种】中文
【中图分类】TN402;TN407
【相关文献】
1.边界扫描测试技术在印制电路板测试中的应用展望 [J], 韦双;段知晓;
2.边界扫描技术在电路板故障诊断中的应用 [J], 郑永龙
3.边界扫描技术在高速列车信号控制电路板测试与诊断中的应用 [J], 陆云云;张方;武晓楠
4.边界扫描技术在含DSP电路板测试与诊断的研究与应用 [J], 王启宁;李永红
5.电路板在线测试中应用边界扫描技术的探讨 [J], 何涛
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