元器件的测量方法
各种元器件的检测方法
万用表测量电子元件的方法万用表具有用途多,量程广,使用方便等优点,是电子测量中最常用的工具。
它可以用来测量电阻,交直流电压和电流。
万用表还可以测量晶体管及电容器的电容量等。
掌握万用表的使用方法是电子技术的一项基本技能。
下面介绍几种电子元件的检测。
一、万用表电阻档检测电解电容器电解电容器的两根引线有正、负之分,在检查它的好坏时,对耐压较低的电解电容器(6V或者10V),电阻档应放在R×100或R×1K档,把红表笔接电容器的负端,黑表笔接正端,这时万用表指针将摆动,然后恢复到零位或零位附近。
这样的电解电容器是好的。
电解电容器的容量越大,充电时间越长,指针摆动得也越慢。
一些耐压较低的电解电容器,如果正、负引线标志不清时,可根据它的正接时漏电电流小(电阻值大),反接时漏电电流大的特性来判断。
具体方法是:用红、黑表笔接触电容器的两引线,记住漏电电流(电阻值)的大小(指针回摆并停下时所指示的阻值),然后把此电容器的正、负引线短接一下,将红、黑表笔对调后再测漏电流。
以漏电流小的示值为标准进行判断,与黑表笔接触的那根引线是电解电容器的正端。
这种方法对本身漏电流小的电解电容器,则比较难于区别其极性。
二、万用表电阻档检测电感检测电感线圈直流电阻和绕组内部有无开路现象。
万用表调至电阻档,并将表笔接绕组两端头,这时绕组呈现一定的电阻值,这个电阻值就是绕组的直流电阻。
若测得某一绕组的直流电阻是无限大,则说该绕组内部导线已断;若已知绕组的正常直流电阻值,而测得电阻值比该绕组正常直流电阻值小得多,说明绕组有严重匝间短路。
对于多个绕组的电感器,用万用表测电阻的方法判测各绕组的端头间的直流电阻,找出哪两个或几个端头属于同一个绕组。
正常情况下各绕组间、绕组与屏蔽层间的绝缘电阻都应是无限大。
三、万用表电阻档检测二极管测量时,选用万用表的“欧姆”档。
一般用R×100或R×1K档,而不用R×1或R×10K档。
电子元器件的检测方法
电子元器件的检测方法
1.外观检查:外观检查是最基本的电子元器件检测方法之一,通过目
视观察和仪器测量等手段检查元器件的形状、尺寸、表面质量和引线等外
观特征。
主要检查项包括器件封装形式、引脚排列与间距、引线长度与弯
曲度、焊盘和焊接质量、器件表面缺陷等。
2.物理性能检测:物理性能检测是用来检验电子器件内外部物理特性
的方法,包括尺寸、重量、密度、硬度、磁性、热特性等。
常用的方法有
测量封装尺寸、引脚间距、焊盘尺寸等;利用显微镜观察元器件表面形貌,配合金相显微镜来观察器件的金属结构和应力分布;测量元器件的质量、
密度和强度等指标。
3.电气性能检测:电气性能检测是检验元器件电性能的方法,主要包
括静态参数测试、动态特性测试和电容、电感、电阻等电性能参数测试。
常用的方法有使用万用表、示波器、信号发生器等测量工具,对元器件的
电压、电流、频率、响应时间、电阻值等进行测试。
同时,还可以利用射
频信号源、功率测量器等专用设备对射频器件的性能进行测试。
4.可靠性测试:可靠性测试是用来预测和评估电子元器件在特定条件
下的可靠性能的方法,包括环境可靠性测试、应力可靠性测试和可行性试
验等。
常用的方法有温度循环试验、高低温试验、湿热循环试验、振动试验、冲击试验、可靠性寿命试验等。
通过这些测试,可以评估元器件在不
同环境和应力条件下的工作能力和寿命,为设计和生产提供可靠性参考。
总结起来,电子元器件的检测方法包括外观检查、物理性能检测、电
气性能检测和可靠性测试等多个方面,通过综合运用这些方法,可以全面
评估和验证电子元器件的质量和性能,确保其符合设计要求、可靠工作。
半导体元器件的测试方法
半导体元器件的测试方法半导体元器件的测试方法是指对各类半导体器件(如晶体管、二极管、集成电路等)进行功能、可靠性和质量测试的方法。
这些测试方法可以得出元器件的参数、特性和性能信息,以确保元器件在正常使用条件下的可靠性和正确性。
以下是一些常见的半导体元器件测试方法:1.参数测试:参数测试是最常见的测试方法之一,通过测量元器件的输入、输出参数来确定元器件的性能和规格。
这些参数包括电流、电压、功率、频率等。
例如,对于晶体管,可以测试其基极电流、集电极电流和电压,以及放大倍数和射级、发射极电阻等。
2.静态和动态特性测试:静态和动态特性测试用于评估元器件的工作性能。
静态特性测试着重于元器件在不同输入条件下的直流响应,如电流-电压曲线、转移特性曲线等。
动态特性测试则是针对元器件在不同频率和工作条件下响应的测试,如开关速度、响应时间等。
3.可靠性测试:可靠性测试是评估元器件在不同环境条件下的可靠性和寿命的测试方法。
这些测试可以包括温度循环测试、热老化测试、高低温和高温湿热测试等。
这些测试旨在确定元器件在不同温度、湿度和应力下的长期可靠性。
4.敏感性和噪声测试:敏感性测试用于测量元器件对输入信号的灵敏度和响应范围。
噪声测试则是测量元器件噪声引入的测试,要求测试设备具有高信噪比和低噪声级。
这些测试可用于评估元器件的信噪比、动态范围和输入输出失真等。
5.故障分析和故障模拟测试:故障分析和故障模拟测试用于确保元器件的设计和制造质量。
故障分析可以通过使用不同的测试设备和方法对元器件进行故障定位和分析。
故障模拟测试是通过模拟特定故障条件来测试元器件的可靠性和性能。
6.高压和高频测试:对于一些高性能和高频率的半导体器件(如射频器件),需要进行高压和高频测试。
这些测试用于评估器件在高频或高压工作条件下的性能和可靠性。
总之,对于半导体元器件的测试方法应根据元器件的类型、应用场景和需求进行选择。
这些测试方法可用于确定元器件的参数、特性和可靠性,并提供有关元器件质量和性能的关键信息,有助于提高元器件的性能和可靠性。
电子元器件识别与检测方法大全
电子元器件识别与检测方法大全1.目视检查:通过肉眼观察元器件的外部特征,如封装形状、引脚数量和排列等,可以初步判断元器件的类型、性能和规格等。
2.五线谱法:使用顶针、伏打仪等测量设备,在元器件的引脚上测量电阻、电容、电感等参数,通过比对测试结果和标准参数来识别元器件类型。
3.输电线圈法:通过对元器件的线圈进行输入电流测量和电压测量,计算出得到元器件的电阻、电感、互感等参数,进行元器件的类型识别。
4.X射线检测法:通过使用X射线设备扫描和照射元器件,可以观察元器件的内部结构和焊接情况,用来检测元器件是否存在异常情况,如焊接虚焊、焊接不良等。
5.红外线检测法:通过红外线热成像技术,可以发现元器件在工作过程中的热点、温度异常等问题,对于散热不良的元器件可以快速识别。
6.环境湿度检测法:通过检测元器件周围的湿度情况,可以判断元器件是否存在潮湿等问题,避免电子元器件受潮而影响正常工作。
7.剩余温度检测法:通过检测元器件在使用过程中的温度,可以判断元器件是否存在过热情况,及时调整工作状态,避免元器件温度过高损坏。
8.电磁兼容性测试法:通过电磁兼容性测试设备,对元器件的辐射和抗辐射能力进行测试,判断元器件是否能够满足相关的电磁兼容性要求。
9.声音检测法:通过对元器件进行敲击、振动等操作,观察元器件的声音特征,可以初步判断元器件是否存在内部损坏情况。
10.玻璃绝热检测法:通过对元器件封装外壳的玻璃绝热特性进行检测,可以判断元器件的密封性能是否良好,防止外界湿气、灰尘等物质进入并影响元器件的正常工作。
总之,元器件的识别与检测方法多种多样,需要根据具体的元器件类型、性能和规格等特点,选择合适的检测手段和测试设备,进行全面的评估和检测,以确保元器件的正常工作和使用安全。
元器件的检测方法与经验
元器件的检测方法与经验1.外观检查:元器件的外观检查是最基本的检测方法之一、通过仔细观察元器件的外观,包括颜色、形状、尺寸等,可以初步判断元器件的质量。
2.焊接质量检测:对于需要进行焊接的元器件,焊接质量的检测非常重要。
常用的检测方法包括目测、外观检查、X光检测等。
3.电气性能测试:元器件的电气性能测试可以通过测量其特定的电气参数来进行。
例如,对电解电容进行漏电流测试、直流电阻测试和容量测试等。
4.台阶测试:通过阶跃波形的激励,观察元器件输出的波形来判断其稳定性和响应速度。
常见的台阶测试包括上升边沿、下降边沿、上升时间、下降时间等。
5.温度测试:温度对一些元器件的性能有很大影响。
因此,进行温度测试可以帮助判断元器件是否能够在高温或低温环境下正常工作。
6.老化测试:为了检测元器件的可靠性和寿命,在正常工作条件下进行长时间的老化测试是必要的。
常见的老化测试方法包括高温老化、低温老化和恒定温度老化。
7.可靠性测试:可靠性是评估元器件质量的一个重要指标。
通过进行可靠性测试,如振动测试、冲击测试、温湿循环测试等,可以评估元器件在特定环境下的可靠性。
8.环境适应性测试:对于在特殊环境下工作的元器件,如防水、防尘、防腐等,需要进行相应的环境适应性测试,以确保元器件能够正常工作。
除了上述的检测方法,以下是一些元器件检测经验:1.针对不同类型的元器件,需要使用适当的检测仪器和设备。
例如,对于电容的测试,应选择电容测试仪;对于电阻的测试,应选择万用表或电阻测试仪等。
2.在进行元器件测试之前,应对测试仪器进行校准,以确保测试结果的准确性。
3.在测试过程中,应严格按照相关的测试标准和测试步骤进行操作。
4.需要重视测试数据的记录和分析,在测试结束后对数据进行统计和总结,以便找出潜在的问题和改进措施。
5.需要培养技术人员的专业知识和经验,不断学习新的检测方法和技术,以应对不断发展的元器件技术。
总之,元器件的检测方法与经验是确保电子产品质量的重要环节。
电子元器件的测量
常用电子元器件的测量1、普通二极管的测量①用万用表的R×100档或R×1K档,分别与二极管的两极相连,测出两次阻值,阻值较小的这一次,与黑表笔相接的一端即为二极管的正极,另一极则为二极管的负极。
②如图所示的二极管带有银环的一端是负极,另一端是正极。
2、发光二极管的测量①用万用表的R×10K档,测其正向电阻一般小于50K,反向电阻大于200K以上为正常,测正向电阻时有微光。
②从两只管脚的长度判别:稍长一点的为正极,稍短一点的为负极。
③从发光二极管的内部看,内部面积较小的一端为正极,内部面积较大的一端为负极。
②3、稳压二极管的测量①用MF47型万用表的R×10K档,测其反向电阻,若实测为R1,则稳压二极管的稳压值Vz=(9×R1)/(R1+150000)伏。
如果实测电阻接近∞,表示被测管的稳压值大于9伏,如果实测电阻值很小,可能接反了,将表笔互换再进行测量。
②4、三极管的测量(一)NPN型或PNP型、以及b极的判断:①用黑表笔接触一管脚,红表笔分别接触另外两个脚,如电阻较小,则此管为NPN 型,与黑表笔接触的管脚是基极。
②用红表笔接触一管脚,黑表笔分别接触另外两个脚,如电阻较小,则此管为PNP型,与红表笔接触的管脚是基极。
(二)c极和e极的判断:NPN管发射极与集电极的判断:方法一:确定了三极管的基极后,用万用表的R×10K档,交换测量三极管的另两个极,阻值较大的这一次,黑表笔接的是三极管的集电极,红表笔接的是三极管的发射极。
如果两次测得的阻值都接近∞,则用方法二。
方法二:确定了三极管的基极后,用手指把三个电极捏起来(但电极间不能相碰),用万用表的R×10K档或R×1K档,交换表笔测量三极管的CE两个极,记下两次的阻值,阻值较小的这一次,黑表笔接的是三极管的集电极C,红表笔接的是三极管的发射极E。
PNP管发射极与集电极的判断:方法一:确定了三极管的基极后,用万用表的R×10K档,交换测量三极管的另两个极,阻值较大的这一次,红表笔接的是三极管的集电极,黑表笔接的是三极管的发射极。
电子元器件的检测方法
电子元器件的检测方法1.外观检查:检查元器件的外观是否有损伤、变形或氧化等情况。
这可以通过目视检查或借助显微镜来进行。
2.尺寸检测:使用合适的测量工具,比如卡尺或显微镜进行尺寸检测。
这样可以确保元器件的尺寸符合设计要求。
3.焊接检测:对于焊接的元器件,可以通过目视检查或借助显微镜来检查焊接的质量。
焊接点需要有均匀的焊接和无明显的虚焊或接触不良。
4.电阻检测:使用万用表或特殊的电阻测量仪器来测量电子元器件的电阻值。
将待测电阻连接到仪器上进行测量,并与标准电阻值进行比较。
5.电容检测:使用电容测试仪测量电子元器件的电容值。
将待测电容连接到测试仪器上进行测量,并与标准电容值进行比较。
6.漏电流检测:对于需要承受一定电压的元器件,可以使用漏电流测试仪器来测量其漏电流值。
通过与标准值进行比较,可以评估元器件的绝缘性能是否符合要求。
7.连通性检测:使用电子元器件测试仪器,如万用表或逻辑分析仪,检测元器件的引脚之间的连通性。
通过这种方法可以判断元器件是否损坏或引脚焊接是否正确。
8.器件寿命测试:使用特定的测试设备对元器件进行长时间的工作负载测试,以验证其作为电子装置组成部分的可靠性和寿命。
9.环境适应性测试:将电子元器件置于不同的温度、湿度或振动等环境条件下,检测其在不同条件下的性能。
这可以帮助确定元器件的适应性和可靠性。
10.X射线检查:使用X射线检查仪器来检查元器件内部的焊接、连接和结构。
通过X射线检查可以发现隐藏在外观下的缺陷或损伤。
总之,电子元器件的检测方法非常多样化,需要根据具体的元器件类型和检测需求进行选择。
每种检测方法都有其优缺点,综合使用可以提高检测的准确性和可靠性。
电子元器件常见检测经验和方法
电子元器件常见检测经验和方法
在电子元器件的生产和使用过程中,常见的检测经验和方法有很多。
下面将介绍一些常见的检测经验和方法。
1.外观检查:包括外壳是否完整,引脚是否完好,是否有明显的磨损或氧化等。
可以使用肉眼或放大镜进行检查。
2.尺寸检测:使用测量仪器,如千分尺、游标卡尺等,对元器件的尺寸进行精确测量,以核实是否符合规格要求。
3.焊接质量检测:通过目视检查、X射线检测、红外热成像等方法,来检测焊点是否均匀、牢固,并且没有裂纹、气泡等缺陷。
4.引脚电性参数检测:使用测试仪器,如万用表、示波器等,来检测元器件的引脚电性参数,如电压、电流、频率等。
5.漏气检测:对于封装型元器件,可以使用氩气检测仪器,来检测元器件的外包装是否存在漏气现象。
6.温度循环测试:通过连续暴露元器件在高温和低温环境下,观察元器件的外观和性能是否发生变化。
7.高温老化测试:将元器件暴露在高温环境下,持续一段时间,观察元器件的性能是否受到影响。
8.电磁兼容性测试:通过放射性测试和抗干扰测试,检测元器件在电磁环境下的性能和可靠性。
9.可靠性测试:包括寿命试验、高低温交变湿热试验、振动试验等,以评估元器件的可靠性和寿命。
10.功能性测试:根据元器件的设计功能,通过电路连接和信号输入,来验证元器件是否正常工作。
以上是一些常见的电子元器件检测经验和方法,但并非全部。
在实际
应用中,根据具体的元器件类型和使用环境,可能需要结合不同的检测方
法和仪器,以保证元器件的质量和可靠性。
除了上述方法外,还可以根据
不同元器件的特点,自行设计相应的检测方法,以适应不同的检测需求。
半导体元器件的测试方法
半导体元器件的测试方法1.电压测试:电压测试是最常见的半导体元器件测试方法之一、通过将正常工作电压施加到元器件的引脚上,观察其电压响应和电流波形,以确定元器件是否正常工作。
常用的电压测试设备包括数字万用表、示波器等。
2.电流测试:电流测试用于测量元器件引脚上的电流消耗。
通过将测试电流施加到元器件上,并测量其输出电流或引脚电流来判断元器件是否符合规格。
电流测试设备包括电流源、电流表等。
3.频率测试:频率测试常用于测试振荡器、时钟芯片等元器件。
通过输入一个特定的频率信号,并测试元器件的输出频率是否在规格范围内。
4.速度测试:速度测试用于测试元器件的响应时间和动态性能。
常用的测试方法包括上升时间、下降时间、传输延迟等。
5.温度测试:温度测试用于测试元器件在不同温度条件下的性能。
通过控制元器件周围的温度,并进行一系列测试来判断元器件在不同温度下的工作稳定性和可靠性。
常用的温度测试设备包括温度控制箱、热电偶等。
6.受限条件测试:受限条件测试用于测试元器件在不同电压、电流和温度等受限条件下的性能。
通过设定不同的工作条件,并对元器件进行测试,以确定元器件是否能够在不同条件下正常工作。
7.可靠性测试:可靠性测试用于测试元器件在长时间使用中的性能和可靠性。
通过将元器件在一定的环境条件下进行长时间运行,并进行一系列测试,包括寿命测试、高温老化测试等,来评估元器件的寿命和可靠性。
除了上述常见的测试方法外,还有一些特殊的测试方法,例如ESD (静电放电)测试、EMC(电磁兼容)测试、射频测试等,这些测试方法主要针对特定类型的元器件以及特定的应用领域。
综上所述,半导体元器件的测试方法多种多样,根据具体的元器件类型和应用场景选择适当的测试方法是保证元器件质量和性能的重要环节。
在进行测试时,需要注意从试验设计、测试仪器选型、测试条件设定、数据分析等方面进行全面、准确的测试,以提高测试的可靠性和有效性。
元器件测试规范与方法
元器件测试规范与步骤目录一、电阻二、电位器三、电容四、晶体管五、MOS管六、可控硅七、感应器八、光耦合器九、LCD及LED十、电感及滤波器十一、连接座十二、导光板十三、电源线与连接线十四、变压器十五、阿达特一、电阻电阻在电路中用“R”加数字表示,如:R1表示编号为1的电阻。
电阻在电路中的主要作用为:分流、限流、分压、偏臵等。
1.参数识别:电阻的单位为欧姆(Ω),倍率单位有:千欧(KΩ),兆欧(MΩ)等。
换算方法是:1兆欧=1000千欧=1000000欧电阻的参数标注方法有3种,即直标法、色标法和数标法。
a、数标法主要用于贴片等小体积的电路,如:472 表示 47×100Ω(即4.7K);104则表示100Kb、色环标注法使用最多,现举例如下:四色环电阻五色环电阻(精密电阻)2.电阻的分类:固定电阻、可调电阻、热敏电阻、光敏电阻等。
注:当色环电阻为四环电阻时,第三位有效数值不使用。
测试步骤:1.首先核对产品规格书内容是否送样品规格相符。
(如:0603、0805)2.样品是否含铅,如果是无铅样品请供应商提供无铅报告(SGS)。
3.用万用表欧姆档或R、L、C测量仪电阻档量测实际测量阻值是否有标识阻值相符,并把测试数据填入测试表格内。
4.用电烙铁在PCB板实际焊接,确认电阻的上锡性及核对电阻PIN的尺寸是否与实际尺寸相符。
5.以上事项核对测试完成后,做成电子确认书并发到相关单位签合确认。
测试工具:1.万用表2. R、L、C测量仪3.电烙铁二、电位器电位器是—种机电组件,它靠电刷在电阻体上滑动,取得与电刷位移成—定关系的输出电压及输出电阻值。
1.电位器的分类如右图所示。
2.电位器输出特性的函数关系电位按输出特性的函数关系可分为线性电位器和非线性电位器两类型。
输出比Uc /Ur与行程比ψ/θ(ψ为转角,θ为总转角)成直线关系的电位器称线性电位器(X式)不成直线关系的电位器称非线性电位器。
非线性电位器又分为指数电位器(Z式)、对数电位器(D式)及其它特殊函数电位器(S式)、如正弦、余弦电位器。
万用表测量元器件的正负极的方法
万用表测量元器件的正负极的方法
要测量元器件的正负极,可以使用万用表的直流电压测量功能。
以下是测量方法:
1. 将万用表的旋钮旋转到直流电压测量档位(通常用V字母
表示)。
2. 确保万用表的测试引线正确连接。
将一个测试引线连接到“COM”(通常是黑色插口)插孔上。
3. 连接另一个测试引线到“VΩmA”(伏欧毫安)插孔上。
4. 注意元器件的标志。
通常,元器件上会标有正极(例如+)
和负极(例如-)的符号。
5. 将第一个测试引线连接到元器件的一个极上,将第二个测试引线连接到元器件的另一个极上。
如果连接正确,万用表将显示一个正数电压值,表示测试引线连接的是元器件的正极;如果连接反了,万用表将显示一个负数电压值。
注意事项:
- 测量前确保万用表的电池有足够电量,以保证准确测量。
- 在连接测试引线时,确保良好的接触,并避免短路。
- 如果元器件没有明确标记正负极,可以通过反复尝试连接测
试引线,然后观察万用表的读数来确定。
在测量时需谨慎操作,以免损坏元器件或万用表。
元器件的检测方法
元器件的检测方法一、电容器的检测一.固定电容器的检测1.检测10pF以下的小电容因10pF以下的固定电容器容量太小,用万用表进行测量,只能定性的检查其是否有漏电,内部短路或击穿现象。
测量时,可选用万用表R×10k挡,用两表笔分别任意接电容的两个引脚,阻值应为无穷大。
若测出阻值(指针向右摇摆)为零,则说明电容漏电损坏或内部击穿。
2.检测10PF~0.01μF固定电容器是否有充电现象,进而判定其好坏。
万用表选用R×1k挡。
两只三极管的β值均为100以上,且穿透电流要些可选用3DG6等型号硅三极管构成复合管。
万用表的红和黑表笔分别与复合管的发射极e和集电极c相接。
由于复合三极管的放大作用,把被测电容的充放电过程予以放大,使万用表指针摆幅度加大,从而便于察看。
应注意的是:在测试操作时,特别是在测较小容量的电容时,要反复调换被测电容引脚接触A、B两点,才能明显地看到万用表指针的摇摆。
3.对于0.01μF以上的固定电容,可用万用表的R×10k挡直接测试电容器有无充电过程以及有无内部短路或漏电,并可依据指针向右摇摆的幅度大小估量出电容器的容量。
二.电解电容器的检测1.由于电解电容的容量较一般固定电容大得多,所以,测量时,应针对不同容量选用合适的量程。
依据阅历,一般情况下,1~47μF间的电容,可用R×1k挡测量,大于47μF的电容可用R×100挡测量。
2.将万用表红表笔接负极,黑表笔接正极,在刚接触的瞬间,万用表指针即向右偏转较大偏度(对于同一电阻拦,容量越大,摆幅越大),接着渐渐向左回转,直到停在某一位置。
此时的阻值便是电解电容的正向漏电阻,此值略大于反向漏电阻。
实际使用阅历表明,电解电容的漏电阻一般应在几百kΩ以上,否则,将不能正常工作。
在测试中,若正向、反向均无充电的现象,即表针不动,则说明容量消失或内部断路;假如所测阻值很小或为零,说明电容漏电大或已击穿损坏,不能再使用。
元器件的参数测量步骤
元器件的参数测量步骤1.引言1.1 概述在元器件领域中,参数测量是一项至关重要的工作。
无论是在电子设备的制造、维修还是研究开发过程中,准确地获取和理解元器件的参数都是不可或缺的。
元器件的参数测量可以帮助我们评估其性能、可靠性和适用范围,从而确保电路设计和系统工作的效果和稳定性。
在进行元器件参数测量之前,我们首先需要了解概念和定义。
元器件的参数包括电阻、电容、电感、电流、电压、功率等等。
这些参数反映了元器件在工作状态下的一些特性和限制。
通过测量这些参数,我们可以对元器件的性能进行评估,并在设计和应用过程中选择合适的元器件。
在进行元器件参数测量时,通常需要一些专用的测量设备和方法。
这些设备可以通过不同的测量方法来获取和分析元器件的参数。
常见的测量方法包括直流电压法、交流电压法、恒流法等等。
同时,为了确保测量的准确性和可靠性,我们还需要注意测量环境的稳定性、测量设备的精度和校准、测量电路的准备等方面的问题。
元器件参数测量的步骤一般包括以下几个方面:准备工作、测量设备的选择和配置、测量电路的搭建和连接、测量数据的采集和分析等。
在每个步骤中,我们需要根据具体的测量对象和要求来选择合适的方法和设备,并确保操作的准确性和规范性。
总结而言,元器件参数测量是电子领域中不可或缺的一项工作。
通过准确地测量和理解元器件的参数,我们可以更好地评估和应用元器件,从而提高电路设计和系统的性能和可靠性。
未来,随着科技的发展和需求的变化,元器件参数测量技术也将不断创新和发展,为电子领域的发展提供更强大的支持和保障。
文章结构部分的内容可以写成如下形式:1.2 文章结构本文共包含三个主要部分,即引言、正文和结论。
在引言部分,将对元器件参数测量的概述进行介绍,说明本文的目的和重要性。
同时,引言部分还将展示文章的整体框架和结构安排,为读者提供一个整体的预览。
接下来是正文部分,主要包括两个小节:元器件参数测量的重要性和元器件参数测量的基本步骤。
常见元器件的检测方法
1、电阻的检测调零:选择合适的档位,两表笔短接。
选择正确的量程读出示值。
滑动变阻器、电位器的检测2、电解电容的检测用万用表估测电解电容的漏电电流用万用表的黑表笔接正极,红表笔接负极指针迅速向右摆动在慢慢回到原来的位之置指针不动时指示的电阻越大,漏电流越小测量点解电容的正负极假设某个端为正极用黑表笔接,另一端用红表笔去接观察表针摆动幅度并记录。
把电容放电,两表笔对接观察指针的摆动幅度并记录,比较两次指针摆动的幅度,摆动幅度小的假设正确. 方法二1)测量电解电容器的漏电电阻依照上述介绍的量程选择方法,选择万用表的合适量程,将红表笔接电解电容的负极,黑表笔接电解电容的正极,此时,表针向R为零的方向摆动,摆到一定幅度后,又反向向元穷大方向摆动,直到某一位置停下,此时指针所指的阻值便是电解电容器的正向漏电电阻,正向漏电电阻越大,说明电容器的性能越好,漏电流也越小。
然后进行放电(用万用表表笔将电容器两引线短路一下即可)在将万用表的红、黑表笔对调(红表笔接正极,黑表笔接负极),再进行测量,此时指针所指的阻值为电容器的反向漏电电阻,此值应比正向漏电电阻小些。
如测得的两漏电电阻值很小(几百千欧以下),则表明电解电容器的性能不良,不能使用。
检测电解电容器的方法如图1所示。
电解电容器的检测因为电解电容的容量较一般固定电容大得多,所以,测量时,应针对不同容量选用合适的量程。
根据经验,一般情况下,1~47μF间的电容,可用R×1k挡测量,大于47μF的电容可用R×100挡测量。
对于正、负极标志不明的电解电容器,可利用上述测量漏电阻的方法加以判别。
即先任意测一下漏电阻,记住其大小,然后进行放电(用万用表表笔将电容器两引线短路一下即可)在交换表笔再测出一个阻值。
两次测量中阻值大的那一次便是正向接法,即黑表笔接的是正极,红表笔接的是负极。
(a)测量正向漏电阻;(b)测量反向漏电阻2)电解电容器正、负电极的判别电解电容器的正、负电极的判别方法主要是根据上列所述测量漏电电阻的方法。
如何检测常用电子元器件
如何检测常用电子元器件常用电子元器件是电子设备中最基本的组成部分,可以分为被动元器件和主动元器件两大类。
被动元器件包括电阻、电容、电感和变压器等,主动元器件包括二极管、三极管、场效应管、集成电路等。
为了检测这些常用电子元器件,我们可以采用以下几种方法:1.测试电阻:-使用万用表的电阻档位测量,将被测电阻两端接入电路,测量其电阻值。
-通过电阻色环上的彩色环带,可以判断电阻的阻值范围和精度。
2.测试电容:-使用LCR电桥或LCR万用表测量,将被测电容两端接入电桥或万用表,可以测量电容的容值、电感和电阻等参数。
-使用示波器观察电容的充放电曲线,根据充电时间常数可以计算电容的容值。
3.测试电感:-使用LCR电桥或LCR万用表测量,将被测电感两端接入电桥或万用表,可以测量电感的电阻、电容和电感等参数。
-使用示波器观察电感对交流信号的响应特性,可以判断电感的质量和参数。
4.测试变压器:-使用交流电源和示波器,将待测变压器的输入输出端分别接入电源和示波器,观察输出信号的变化情况,并比较输入输出信号的电压变化比,可以判断变压器的电压变换比和效率。
5.测试二极管:-使用万用表的二极管测试档位,将二极管的正负极分别接入万用表的测试端,根据测试结果可以判断二极管的导通、正向压降、反向电流和反向击穿电压等参数。
-使用示波器观察二极管对交流信号的整流特性。
6.测试三极管或场效应管:-使用万用表的二极管测试档位或特殊的三极管测试装置,将三极管的引脚按照正确的顺序接入测试装置,可以通过测试装置的指示灯或显示屏上的参数值判断三极管的类型、正常工作与否、电流放大倍数等参数。
7.测试集成电路:-使用万用表或逻辑分析仪等设备,根据集成电路的引脚定义和功能手册,将集成电路的引脚接入相应的测试设备,可以对集成电路的电流、电压、时序等参数进行测试,判断其功能是否正常。
在进行电子元器件检测时,需要注意以下几点:-了解被测元器件的参数范围和测试方法,根据具体情况选择合适的测试设备和方法。
元器件的检测方法
元器件的检测是家电维修的一项基本功,如何准确有效地检测元器件的相关参数,判断元器件的是否正常,不是一件千篇一律的事,必须根据不同的元器件采用不同的方法,从而判断元器件的正常与否。
特别对初学者来说,熟练掌握常用元器件的检测方法和经验很有必要,以下对常用电子元器件的检测经验和方法进行介绍供对考。
一、电阻器的检测方法与经验:1 固定电阻器的检测。
A 将两表笔(不分正负)分别与电阻的两端引脚相接即可测出实际电阻值。
为了提高测量精度,应根据被测电阻标称值的大小来选择量程。
由于欧姆挡刻度的非线性关系,它的中间一段分度较为精细,因此应使指针指示值尽可能落到刻度的中段位置,即全刻度起始的20%~80%弧度范围内,以使测量更准确。
根据电阻误差等级不同。
读数与标称阻值之间分别允许有±5%、±10%或±20%的误差。
如不相符,超出误差范围,则说明该电阻值变值了。
B 注意:测试时,特别是在测几十kΩ以上阻值的电阻时,手不要触及表笔和电阻的导电部分;被检测的电阻从电路中焊下来,至少要焊开一个头,以免电路中的其他元件对测试产生影响,造成测量误差;色环电阻的阻值虽然能以色环标志来确定,但在使用时最好还是用万用表测试一下其实际阻值。
2 水泥电阻的检测。
检测水泥电阻的方法及注意事项与检测普通固定电阻完全相同。
3 熔断电阻器的检测。
在电路中,当熔断电阻器熔断开路后,可根据经验作出判断:若发现熔断电阻器表面发黑或烧焦,可断定是其负荷过重,通过它的电流超过额定值很多倍所致;如果其表面无任何痕迹而开路,则表明流过的电流刚好等于或稍大于其额定熔断值。
对于表面无任何痕迹的熔断电阻器好坏的判断,可借助万用表R×1挡来测量,为保证测量准确,应将熔断电阻器一端从电路上焊下。
若测得的阻值为无穷大,则说明此熔断电阻器已失效开路,若测得的阻值与标称值相差甚远,表明电阻变值,也不宜再使用。
在维修实践中发现,也有少数熔断电阻器在电路中被击穿短路的现象,检测时也应予以注意。
常用电子元器件检测方法
常用电子元器件检测方法引言在电子元器件的生产、维修和使用过程中,常常需要进行各种检测来确保其质量和稳定性。
本文将介绍一些常用的电子元器件检测方法,旨在帮助读者了解电子元器件检测的基本原理和方法。
1. 电容器检测方法1.1 电容器电容值测量方法电容器的电容值是其重要的参数之一,常用的电容值测量方法有以下几种:•万用电表测量法:将电容器分别与正负极接触电表的两个测量槽,读取电容值。
•示波器法:通过观察充电或放电电容器的波形,计算出电容器的电容值。
•桥式测量法:使用LCR(电感、电容和电阻)桥,通过比较电容器与标准电容器的电压和电流,计算电容值。
1.2 电容器损耗角正切测量方法电容器的损耗角正切是衡量其损耗能力的参数,常用的测量方法有:•桥式测量法:利用LCR桥,通过比较被测电容器与标准电容器的相位差,计算损耗角正切。
•示波器法:观察电容器放电过程中的波形,通过波形分析计算损耗角正切。
2. 电阻器检测方法2.1 电阻器电阻值测量方法电阻器的电阻值是其最基本的参数,测量电阻值的方法有以下几种:•万用电表测量法:将电阻器两端接在电表的测量槽上,读取显示的电阻值。
•桥式测量法:利用LCR桥,通过比较被测电阻器与标准电阻器的电压和电流,计算电阻值。
•示波器法:观察电阻器上的电压波形,通过波形分析计算电阻值。
2.2 电阻器功率测量方法电阻器的功率是其可以承受的最大功率,常用的测量方法有:•万用电表测量法:将电阻器两端接在电表的测量槽上,读取显示的功率值。
•桥式测量法:利用LCR桥,通过比较被测电阻器与标准电阻器的电压和电流,计算功率值。
3. 二极管检测方法3.1 二极管正向电压测量方法二极管的正向电压是其正常工作的重要参数,测量正向电压的方法有以下几种:•万用电表测量法:将电源正负极分别接在二极管的两个引脚上,读取显示的正向电压值。
•示波器法:在二极管信号路径上接入示波器,观察正向导通过程的波形,通过波形分析计算正向电压。
半导体元器件的测试方法
半导体元器件的测试方法1.外观检查:包括检查元器件的表面状态、引脚形状、标记、包装等外观特征,以确保元器件没有明显的物理损伤或污染。
2.尺寸测量:使用显微镜、光栅等工具对元器件的尺寸进行测量,以验证尺寸是否符合规格要求。
3.引脚电性测试:通过恢复到终端引脚以测试引脚间的电性。
常用的引脚电性测试包括接触电阻、引脚电容和导通测试。
4.功能测试:对元器件进行功能测试,以验证元器件是否按照设计要求正常工作。
功能测试可以使用模拟测试、数字测试或混合信号测试等不同方法,取决于元器件的类型。
5.静电放电测试:通过静电放电模拟静电对元器件的破坏。
在此测试中,元器件暴露在静电电流或高压脉冲下,以确定元器件的静电抗性。
6.温度环境测试:通过将元器件置于高温、低温等极端环境中,并在不同温度下执行功能测试,以测试元器件的性能稳定性和温度特性。
7.可靠性测试:通过在扩展时间和条件下对元器件进行电压应力、温度应力和振动等测试,以评估元器件的长期可靠性和寿命。
这些测试可以是加速寿命测试(ALT)或可靠性验证测试(RVT)。
8.电气参数测试:对元器件的电流、电压、功耗和频率等电性能参数进行测试,以验证元器件是否满足性能要求。
9.故障分析:当元器件未通过测试或出现异常时,进行故障分析以确定故障原因和位置。
故障分析可以使用X射线检测、显微镜观察、电子显微探针等技术。
10.封装测试:对元器件的封装进行测试,以验证封装的机械强度、密封性和封装的电学性能是否良好。
综上所述,半导体元器件的测试方法包括外观检查、尺寸测量、引脚电性测试、功能测试、静电放电测试、温度环境测试、可靠性测试、电气参数测试、故障分析和封装测试等。
这些测试方法旨在确保元器件符合质量和性能要求,以提供可靠的半导体元器件给客户。
电子元器件测量方法
C
合适的测量设备,注意安全操
作,避免损坏被测电阻
直流电阻测量结果分析:根据
D
测量结果,判断电阻性能和品
质,为后续电路设计提供依据
交流电阻测量
1
交流电阻测量原理:通过交流 电压和电流的比值来测量电阻
2
交流电阻测量方法:使用交流 电压表和电流表进行测量
3 交流电阻测量注意事项:注意 安全,防止触电
4 交流电阻测量结果分析:根据测 量结果,判断电阻的性质和性能
演讲人
目录
01. 电子元器件测量概述 02. 电阻测量方法 03. 电容测量方法 04. 电感测量方法
测量目的
04
确保电子元器件在
电路中的正常工作
03
指导电子元器件的
选型和采购
02
评估电子元器件的
质量和可靠性
01
确定电子元器件的
性能参数
测量方法分类
01
直接测量法:直接测量元器件的物理参数,如电压、电流、电阻等
交流电容测量方法: 使用交流电压表和 电流表,分别测量 电容两端的电压和 电流,然后根据公 式计算电容值。
交流电容测量注意 事项:测量过程中, 要确保电压和电流 的频率相同,避免 误差。
交流电容测量应用: 适用于测量各种类 型的电容Байду номын сангаас,如电 解电容、陶瓷电容、 薄膜电容等。
电容特性测量
电容值测量:使用 电容表或数字万用 表测量电容值
品质因数测量:通 过测量电感两端的 电压和电流,计算 品质因数,反映电 感的稳定性和抗干 扰能力
电感测量注意事项: 选择合适的测量仪 器,注意测量环境, 避免干扰因素影响 测量结果
03
的精度和量程,避免测量误差 交流电感测量结果分析:根据测量结果, 04 判断电感的性能和参数是否符合要求
- 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性,平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
- 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
- 3、如文档侵犯您的权益,请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间:9:00-18:30)。
万用表的构成
万用表由表头、测量电路及转换开关等三个主要部分组成。万用表 是电子测试领域最基本的工具,也是一种使用广泛的测试仪器。万 用表又叫多用表、三用表(A,V,Ω也即电流,电压,电阻三用)、复 用表、万能表,万用表分为指针式万用表和数字万用表,还有一种 带示波器功能的示波万用表,是一种多功能、多量程的测量仪表。 一般万用表可测量直流电流、直流电压、交流电压、电阻和音频电 平等,有的还可以测交流电流、电容量、电感量、温度及半导体 (二极管、三极管)的一些参数。数字式万用表已成为主流,已经 取代模拟式仪表。与模拟式仪表相比,数字式仪表灵敏度高,精确 度高,显示清晰,过载能力强,便于携带,使用也更方便简单。
表头上还设有机械零位调整旋钮,用以校正指针在左端零位。
选择开关
万用表的选择开关是一个多档位的旋转开关。用来选择测量项目和量程。一般的万用表测量项目包括: “mA”;直流电流、“V(-)":直流电压、“V(~)”:交流电压、“Ω”:电阻。每个测量项目又 划分为几个不同的量程以供选择。
表笔和表笔插孔
表笔分为红、黑二只。使用时应将红色表笔插入标有“+”号的插孔,黑色表笔插入标有“-”号的插孔。
测量,将万用表的表笔分别稳定接触电阻器的两个电极,在显示 屏上会显示一个数字。该数字即为电阻器的阻值。 判断好坏,若 所测结果与该电阻器的标称阻值相近,则说明该电阻器是好的, 若相差太大,则说明有问题。 在测量时,若显示“1”(表示“溢 出”),则是量程选 得低了,可选 一个高量程档重测。若无讹用 哪个量程测量,显示屏都显示“1”,则表明该电阻器已开路。若 显示“00.0”,则可能是量程选 得太大了,可选一个更低的量程重 测。对于高值电阻器,可能会出现数字跳变的现象,这时读取一 个最小值即可,若数字大范围跳变,则说明该电阻器不可靠、不 能再用。
表头(数字式)
数字万用表的表头一般由一只A/D(模拟/数字)转换芯片+外围元件+液晶显示器组成,万用表的精度受 表头的影响,万用表由于A/D芯片转换出来的数字,一般也称为3 1/2位数字万用表,4 1/2位数字万用表 等等。最常用的芯片是ICL7106(3位半LCD手动量程经典芯片,后续版本为7106A,7106B,7206,7240等 等),ICL7129(4位半LCD手动量程经典芯片),ICL7107(3位半LED手动量程经典芯片)。测量线路
(4)万用表在使用时,必须水平放置,以免造成误差。同时, 还要注意到避免外界磁场对万用表的 影响。 (5)万用表使用完毕,应将转换开关置于交流电压的最大挡。如果长期不使用 ,还应将万用表内部的 电池取出来,以免电池腐蚀表内其它器件。
欧姆挡的使用 一、选择合适的倍率。在欧姆表测量电阻时,应选适当的倍率,使指针指示在中值附近。最好不使用刻度左边三分
三极管的测量方法
用万用表的表笔接触它的任意两只脚,当有阻值 的两只脚出现时,就说明这里面已经找到了一个 B脚.如果是PNP管的话,这时你的黑不动,用红笔 接触另一只脚,读出阻值,两次阻值比较,阻值小 的一次红笔所接是E极,阻值大的一次红笔所接 的是C极,黑笔所接是B极.
如果是NPN管的话,红笔不动,用黑笔接触另一只 脚,读出阻值,两次阻值比较,阻值小的一次黑笔 所接是C极,阻 值大的一次黑笔所接的是E极,红 笔所接是B极 还有用的是数字万用表,指针式的 红黑笔跟数字式的正好相反要注意。
电阻器的测量方法
万用表测量电阻的方法
电阻器:电阻器,又称电阻,其在电子电路中的主要用来限 流 分压。
首先选择测量档位及量程。一般200Ω以下的电阻器选择 “200Ω”量程,200Ω-2KΩ的电阻器选择“2KΩ”量程,2Ω-200Ω 的电阻器选择“200KΩ”量程,大于200KΩ的电阻器选择“2MΩ” 量程,大于2MΩ的电阻器选择“20MΩ”量程,大于20MΩ的电阻 器选择“200MΩ”量程。
电感的测量
万用表电阻法检测
用万用表的欧姆挡测线圈的直流电 阻。电感的直流电阻值一般很小,匝 数多、线径细的线圈能达几十欧;对 于有抽头的线圈,各引脚之间的阻值 均很小,仅有几欧姆左右。若用万用 表R×1Ω挡测量线圈的直流电阻,阻 值无穷大说明线圈(或与引出线间) 已经开路损坏;阻值比正常值小很多, 则说明有局部短路;阻值为零,说明 线圈完全短路。。
之一的部分,这部分刻度密集很差。 二、使用前要调零。 三、不能带电测量。 四、被测电阻不能有并联支路。 五、测量晶体管、电解电容等有极性元件的等效电阻时,必须注意两支笔的极性。 六、用万用表不同倍率的欧姆挡测量非线性元件的等效电阻时,测出电阻值是不相同的。这是由于各挡位的中值电
阻和满度电流各不相同所造成的,机械表中,一般倍率越小,测出的阻值越小。
测量线路是用来把各种被测量转换到适合表头测量的微小直流电流的电路,它由电阻、半导体元件及电 池组成
它能将各种不同的被测量(如电流、电压、电阻等)、不同的量程,经过一系列的处理(如整流、分流、 分压等)统一变成一定量限的微小直流电流送入表头进行测量。
转换开关
其作用是用来选择各种不同的测量线路,以满足不同种类和不同量程的测量要求。转换开关一般是一个 圆形拨盘,在其周围分别标有功能和量程。
四、注意被测电量极性。
五、正确使用刻度和读数。
六、当选取用直流电流的2.5a挡时,万用表红表笔应插在2.5a测量插孔内 ,量程开关可以置于直流电 流挡的任意量程上。
七、如果被子测的直流电流大于2.5a,则可将2.5a挡扩展为5a挡 。方法很简单,使用者可以在“2.5a” 插孔和黑表笔插孔之间接入一支0.24欧姆的电阻 ,这样该挡位就变成了5a电流挡了。接入的0.24a电阻 应选取用2w以上的线绕电阻,如果功率太小会使之烧毁。
万用表的注意事项
(1)在使用万用表之前,应先进行“机械调零”,即在没有被测电量时 ,使万用表指针指在零电压或 零电流的位置上。
(2)在使用万用表过程中,不能用手去接触表笔的金属部分 ,这样一方面可以保证测量的准确,另 一方面也可以保证人身安全。
(3)在测量某一电量时,不能在测量的同时换档,尤其是在测量高电压或大电流时 ,更应注意。否 则,会使万用表毁坏。如需换挡,应先断开表笔,换挡后再去测量。
场效应管的测量
怎样快速判断场效应管的好坏
将指针式万用表拨至“RX1K”档,并电调零。场 效应管带字的一面朝着自己,从左到右依次为: G(栅极),D(漏极),S(源极)。先将黑表 笔接在G极上,然后红表笔分别触碰D极和S极, 然后再对换表笔,再测,如这两次测得的结果, 都使万用表的指针不动,那么,初步判断这个 场效应管是好的。最后,在将黑表笔接在D极, 红表笔接在S极上,此时,万用表指针应不动; 然后再对换表笔,再测,此时,万用表指针应 向右摆动。
经过这两次判断,这个场效应管就是好的。如 果所测的结果与上述不符,则这个场效应管就 是坏的。要么是击穿了,要么是性能不好了。
晶振的测量
静态测量电阻方法 用万用表RX10K档测量 石英晶体振荡器的正,反向电阻值,正常时 应为无穷大,若测得石英晶体振荡器有一定 的阻值或为零,则说明该石英晶体振荡器已 漏电或击穿损坏。
二极管的测量
使用数字万用表二极管档,将红表笔插入VΩ孔黑表笔插 入COM孔,我们知道在数字万用表里红表笔接触内部电池 正极,黑表笔接触内部电池负极,而在指针万用表里电 阻挡是红表笔接触内部电池负极黑表笔接触内部电池正 极,将数字万用表红表笔接触二极管正极,黑表笔接触 二极管负极,(测量正向电阻值)正常数值为300-600Ω 然后将红表笔接触二极管负极,黑表笔接触二极管正极 (测量反向电阻值),正常数值为“1”,如果两次测量 都显示001或000并且蜂鸣器响,说明二极管已经击穿, 如果两次测量正反向电阻值均为“1”说明二极管开路, 如果两次测量数值相近,说明管子质量很差,反向电阻 值必须为“1”或1000以上,正向电阻值必须为300600Ω。则为二极管是好的。
电容器的测量
一、用电容档直接检测 某些数字万用表具有测量电容的功 能,其量程分为2000p、20n、200n、2μ和20μ五档。测量时可 将已放电的电容两引脚直接插入表板上的Cx插孔,选取适当的 量程后就可读取显示数据。 2000p档,宜于测量小于 2000pF的电容;20n档,宜于测量2000pF至20nF之间的电容; 200n档,宜于测量20nF至200nF之间的电容;2μ档,宜于测量 200nF至2μF之间的电容;20μ档,宜于测量2μF至20μF之间的 电容。 经验证明,有些型号的数字万用表(例如DT890B+) 在测量50pF以下的小容量电容器时误差较大,测量20pF以下电 容几乎没有参考价值。此时可采用串联法测量小值电容。方法 是:先找一只220pF左右的电容,用数字万用表测出其实际容量 C1,然后把待测小电容与之并联测出其总容量C2,则两者之差 (C1-C2)即是待测小电容的容量。用此法测量1~20pF的小 容量电容很准确。
第一课 元器件的测量方法
万用表
• 万用表是一种带有整流器的、可以测量交、 直流电流、电压及电阻等多种电学参量的 磁电式仪表。对于每一种电学量,一般都有 几个量程。又称多用电表或简称多用表。 万用表是由磁电系电流表(表头),测量电路 和选择开关等组成的。通过选择开关的变 换,可方便地对多种电学参量进行测量。其 电路计算的主要依据是闭合电路欧姆定律。 万用表种类很多,使用时应根据不同的要求 进行选择。
如果是高频变压器除测试开路外用万用表测试就无能 为力了,因为高频变压器的初次级电阻都很小(比如: 次级侧有的在1欧以下),不容易测出内部是否有短 路,只有借助电桥测试其电感或漏感才能准确判断是 否存在短路或磁芯破坏现象。
集成电路的测量
表头
万用表的表头是灵敏电流计。表头上的表盘印有多种符号,刻度线 和数值。符号A一V一Ω表示这只电表是可以测量电流、电压和电阻 的多用表。表盘上印有多条刻度线,其中右端标有“Ω”的是电阻刻 度线,其右端为零,左端为∞,刻度值分布是不均匀的。符号“-” 或“DC”表示直流,“~”或“AC”表示交流,“~”表示交流和 直流共用的刻度线。刻度线下的几行数字是与选择开关的不同档位 相对应的刻度值。