RoHS测试流程及XRF使用手册

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ROHS测式方法

ROHS测式方法

ROHS测式方法

ROHS指的是限制使用一些有害物质指令(Restriction of Hazardous Substances directive),它是一项旨在限制电子电气设备中有害物质使

用的欧盟指令。为了确保产品符合ROHS指令,有必要进行相应的测量和

测试。本文将介绍ROHS测试方法之一:XRF光谱筛选法。

XRF光谱筛选法是一种非破坏性的测试方法,也是目前最常用的ROHS

测试方法之一、它基于X射线荧光光谱技术,通过检测样品中元素的辐射

来分析样品中有害物质的含量。

XRF光谱筛选法的工作原理是:将待测物放置在X射线源下方,然后

通过X射线照射样品。样品中的元素受到X射线的激发后,会发出荧光辐射。这些辐射将被通过X射线谱仪来检测和分析。

在ROHS测试中,我们主要关注六种有害物质,即铅(Pb)、汞(Hg)、

镉(Cd)、六价铬(Cr6+)、多溴联苯(PBBs)和多溴二苯醚(PBDEs)。XRF光

谱筛选法可以对这些物质进行检测和定量。

进行XRF光谱筛选法测试的样品应该是充分准备的:首先,需要将样

品进行破碎、混合和粉碎,以确保样品中的有害物质能够充分释放。然后,取一小部分样品放置在测试装置中,进行测试。

在测试过程中,使用X射线谱仪来获取样品辐射的光谱信息。光谱可

以显示出样品中不同元素的特征峰,根据这些特征峰可以判断样品中是否

存在有害物质。根据特征峰的强度和峰位,可以对有害物质的含量进行定

量分析。

XRF光谱筛选法具有准确、迅速、非破坏性等特点。它可以在较短时

间内完成大量样品的测试,并且对样品没有破坏性,可以保留样品的完整性。另外,该方法不需要使用化学试剂,可以降低对环境的污染。

rohs检测步骤及注意事项

rohs检测步骤及注意事项

rohs检测步骤及注意事项

ROHS检测是指对电子电器产品中的有害物质进行检测,确保其符合欧盟《限制使用某些有害物质指令》(Restriction of Hazardous Substances Directive,简称ROHS)的要求。ROHS指令规定了电子电器产品中禁止使用和限制使用的有害物质,包括铅、汞、镉、六价铬、多溴联苯(PBB)和多溴二苯醚(PBDE)等。

ROHS检测步骤主要包括样品准备、样品分析和结果判定三个阶段。首先,进行样品准备。将待测样品按照一定的规则切割或拆解,以便于后续的化学分析。在这一步骤中,需要注意避免样品的污染和损坏,确保样品的完整性和代表性。

接下来是样品分析。样品分析主要通过化学分析方法来确定有害物质的含量。常用的分析方法包括X射线荧光光谱仪(XRF)、液相色谱-质谱联用仪(LC-MS)和气相色谱-质谱联用仪(GC-MS)等。这些分析方法具有高灵敏度、高准确度和高选择性,可以有效地检测出样品中的有害物质。

最后是结果判定。根据ROHS指令对有害物质的限制要求,将样品中有害物质的含量与指令中规定的阈值进行比较。如果样品中的有害物质含量低于阈值,那么该样品符合ROHS指令的要求;如果有害物质含量超过阈值,那么该样品不符合ROHS指令的要求。同时,还需要注意结果判定的准确性和可靠性,避免误判。

在进行ROHS检测时,还需要注意以下几点。首先,确保检测设备的准确性和可靠性。检测设备应经过校准和验证,以确保其结果的准确性。其次,要保证样品的代表性。样品的选择要具有代表性,能够真实反映产品中的有害物质含量。此外,还需要注意样品的存储和运输,避免样品受到污染或损坏。另外,还需要注意数据的保密性和安全性,确保检测结果不被泄露或篡改。最后,ROHS检测应由专业的检测机构进行,以确保检测结果的准确性和可靠性。ROHS检测是确保电子电器产品符合环保要求的重要手段。在进行ROHS检测时,需要按照一定的步骤进行,确保样品的准备、分析和结果判定的准确性和可靠性。同时,还需要注意样品的代表性、设备的准确性、数据的保密性和安全性等方面的问题。只有这样,才能保证ROHS检测结果的准确性,并为保护环境和人类健康做出贡献。

中国rohs2.0测试方法 -回复

中国rohs2.0测试方法 -回复

中国rohs2.0测试方法-回复

中国ROHS2.0测试方法

ROHS(有害物质限制指令)是由欧盟制定的一项针对电子电气产品中有害物质的使用限制的法规。ROHS2.0是对ROHS进行了修订,对于有害物质的限制要求更加严格。在中国,所有销往欧盟市场的电子电气产品都必须遵守ROHS2.0指令。本文将详细介绍中国ROHS2.0测试方法。

一、ROHS2.0测试范围

ROHS2.0指令针对的有害物质包括铅(Pb)、汞(Hg)、镉(Cd)、六价铬(Cr6+)、多溴联苯(PBBs)和多溴二苯醚(PBDEs)。测试的产品范围包括电气与电子设备、大型家用电器、交通工具、医疗设备、工具、玩具及儿童产品等。

二、ROHS2.0测试方法

ROHS2.0测试方法主要包括两个方面,一是材料测试,二是成品测试。

1. 材料测试

材料测试是对产品的材料进行分析和测试,以确定是否超过了ROHS2.0的有害物质限制要求。

(1)取样

首先,从产品的各个部件(例如电子元件、线缆、塑料件等)中选择典型样品进行取样。确保样品表示了整个产品中使用的不同类型材料。

(2)样品制备

将取样得到的材料样品进行切割、粉碎等处理,以便后续的分析和测试。

(3)测试方法

目前,常用的材料测试方法包括X射线荧光光谱分析(XRF)、原子吸收光谱分析(AAS)和火焰原子吸收光谱分析(FAAS)等。这些方法能够准确测定材料中是否含有超过ROHS2.0要求的有害物质。

2. 成品测试

成品测试是对整个产品进行测试,以确认产品是否符合ROHS2.0有害物质限制要求。

(1)取样

从产品的不同批次或多个样品中进行取样。取样时要保证取自产品各个部分,以确保整个产品都符合ROHS2.0要求。

ROHS测试要求及检测方法

ROHS测试要求及检测方法
• 电感耦合等离子体原子发射光谱法(ICP-AES法) ① 适用范围:塑料部件、金属部件、电子元件中铅、汞、镉、总铬 的含量测试。 ② 主要仪器:电感耦合等离子体原子发射光谱 仪; ③ 技术要点:选择采用微波消解、湿法消解、干法消解等 手段溶解样品,一次性同步测定铅、汞、镉、总铬的含量。
ROHS的测试方法
ROHS的测试方法
• 液相色谱法(HPLC法) ① 适用范围:塑料部件及电子元件中PBB、PBDE阻燃剂的定量分 析。 ② 主要仪器:液相色谱仪;③ 技术特点:适用于十溴联苯和 十溴二苯醚等难挥发性阻燃剂的测试,弥补GC-MS法的弱点。
• 分光光度分析法 ① 适用范围:六价铬的含量测试 ② 主要仪器:紫外分光光度 计; ③ 技术特点:该方法是六价铬测试的经典方法,可参考多项国 内外标准,如EPA3060A等。
ROHS测试要求及检测方法
RoHS2.0检测方法
检测方法 测试内容
精度
操作方法
仪器成本
X射线荧 光光谱法 (XRF)
Na-U中间 的元素
ppm级(百万 分之一)
无损检测;不需制样;测试成本低; 操作简单快速
中等
水煮法 (UV)
Cr6+
ppb级(十亿 样品需前处理,需要制样和溶剂,操
wk.baidu.com
分之一)
作复杂
GC-MS
• 2、液相色谱法(LC)精密度高,分离效果好,可检测物质比较 多,结合衍生实验可以检测绝大多数化合物,作为RoHS2.0管控 办法中补充手段用来检测四项邻苯物质(DIBP、DEHP、DBP、 BBP)。

RoHS环保测试仪作业指导书

RoHS环保测试仪作业指导书

RoHS环保测试仪作业指导书

一、仪器测试作业流程:

(一)目的

确保仪器正确使用,避免因不当使用导致仪器损坏,确保仪器使用寿命及测试准确度。

(二)适用范围:

用于来料检验、出货阶段的原物料、辅材、半成品、成品等环境有害物质检测分析。

(三)职责:

3.1. 品质部负责仪器保养与维护。

3.2. 测试人员必须为接受过相关仪器操作培训合格的品质人员。

(四)仪器开机与关机顺序:

4.1. 开机顺序: 开稳压电源开测试仪及外部设备开关(绿灯亮) 开电脑主机打开测试程序软件

4.2. 关机顺序: 退出测试程序软件关电脑主机关测试仪及外部设备开关关稳压电源(五)指示灯说明:

5.1. 绿灯-[电源指示灯]:打开仪器电源开关此灯亮。

5.2. 黄灯-[运行指示灯]:仪器测试运行时此灯亮,测试结束此灯自动熄灭。

(六)分析项目

6.1.测塑胶原料及产品、五金来料等中的各RoHS成分含量是否符合要求。

6.1.1塑胶原料及产品选用测量档案:测塑胶及其它

6.1.2五金件选用测量档案:测钢铁中CrCdPbHg或测有色金属中CrCdPbHg或测焊锡中CrCdPbHg

或测镁铝中CrCdPbHg,具体根据五金种类来选择。

6.2.测塑胶原料及产品中卤素含量是否符合要求。

6.2.1测溴含量选用测量档案:测塑胶及其它

6.2.2测氯含量选用测量档案:测塑料中CrCl

(七)操作流程:

7.1. 每次开机时,首先需对仪器进行预热30分钟,具体预热步骤如下:

7.1.1将仪器配置的干燥袋放入测试工作台 点击[样品图]查看摆放位置 点击

仪器进入

预热状态 待1800秒测试时间终止黄灯熄灭,即本次预热完成。

XRF仪器操作作业指导书V1.0

XRF仪器操作作业指导书V1.0

6.6 然后根据材质选取正确的测试方法(P、M、C等)(如图七)检测,
再输入检测物品信息,点确定即可开始测试;
6.7 观察道址,单道计数,计数率(计数率如果小于100则要增加检测物品
的厚度及可测试面积)(如图八)。
6.8 在测试中可使用快捷键查询检测数据; 至测试时间终止(仪器设置
为200秒),保存测试报告于电脑指定文件夹中,测试不合格的报告
6.2仪器预热:
6.2.1每天开机通电半个小时后,打开测试软件(如图二),在软件上选
择左下角的预热按钮(如图三),点击测量,预热十分钟即可(10分
钟是预设的固定时间);
6.2.2若经过了2个工作日(含两个工作日)以上的时间没有使用,请先
开机通电2个小时,然后在软件上选择左下角的预热按钮,点击测量,
预热十分钟即可(10分钟是预设的固定时间);
文件编号 工序编号
对应产品书
(型号)
T02
工序名称
ROHS物料 高分基本板
生产
日期 页码
作业步骤和要求
6.4 将待检测物品放置在有效的待测区域上(如图五),可打开软件界
编制 刘亿华
审核
批准
版本号 V1.0
第 2 页,共 2 页
图解说明(解释图像)
来历记事 首版发布
日期
面下方的摄像头确认(如图六),十字区域为有效区;

中国rohs测试方法

中国rohs测试方法

中国rohs测试方法

中国ROHS测试方法

一、引言

中国ROHS(Restriction of Hazardous Substances)测试方法是指中国国家标准GB/T 26572-2011《电子电气产品有害物质限制要求》中规定的测试方法。该标准要求电子电气产品中的有害物质含量必须符合一定的限制要求,以保护人类健康和环境安全。

二、测试对象

中国ROHS测试方法适用于各类电子电气产品,包括家用电器、通信设备、电子工具、电子玩具、医疗设备等。测试对象必须符合标准中规定的范围和要求。

三、测试项目

中国ROHS测试方法主要包括以下几个测试项目:

1. 有害物质限制要求测试:测试电子电气产品中六种有害物质的含量是否符合标准要求。这六种有害物质分别是铅、汞、镉、六价铬、多溴联苯(PBBs)和多溴二苯醚(PBDEs)。

2. XRF测试:采用X射线荧光光谱仪对电子电气产品进行非破坏性测试,检测其中的有害物质元素含量。

3. 原材料供应商调查:通过与电子电气产品原材料供应商沟通,了

解其原材料是否符合有害物质限制要求。

4. 高温烘箱测试:将电子电气产品置于高温烘箱中进行加热,测试其在高温环境下是否会释放出有害物质。

5. 高温蒸汽测试:将电子电气产品置于高温蒸汽中进行暴露,测试其在高温湿热环境下是否会释放出有害物质。

6. 持久性有机污染物(POP)测试:测试电子电气产品中是否含有持久性有机污染物,如多氯联苯(PCBs)和多氯二苯醚(PCDFs)等。

四、测试流程

中国ROHS测试方法的测试流程如下:

1. 收集样品:从市场或生产线上收集代表性的电子电气产品样品。

XRF测试样品

XRF测试样品

XRF样品测试注意事项:

一、Rohs分析

1、选用30mm样品盒,当样品小于30mm时,用导电胶固定在样品盒底盖板上,表面应和样品盒表面齐平。

2、X射线不能照射到样品盒底盖板,当测试样品小于30mm时,应把样品垫高至离样品盒底盖板3-5cm。

3、样品盒应保持整洁,粉末样品压制成型装入样品盒后应用洗耳球吹掉灰尘。

二、S,Cl分析

1、选用30mm样品盒,当样品小于30mm时,用导电胶固定在样品盒底盖板上,表面应和样品盒表面齐平。

2、X射线不能照射到样品盒底盖板,当测试样品小于30mm时,应把样品垫高至离样品盒底盖板3cm。

3、样品盒应保持整洁,粉末样品压制成型装入样品盒后应用洗耳球吹掉灰尘

三、成分分析

1、根据被测样品大小,选择合适的测量方法,当选用20mm样品盒时,禁止选用照射光为30mm的测试方法,选用测试样品应与样品盒表面齐平。

2、X射线不能照射到样品盒底盖板,当测试样品小于30mm时,应把样品垫高至离样品盒底盖板3cm。

xrf作业指导书

xrf作业指导书

1.PURPOSE目的

在成品出货前建立XRF测试规程,确保产品符合欧盟包装指令和RoHS指令,以及其它国家或地区的类似RoHS指令。

2.GENERAL OR SCOPE 概述或适用范围

成品及其包装材料。

3.Defination 定义

3.1欧盟(Eu)成员国

目前欧盟成员国包括27个国家:比利时、赛普勒斯、捷克、丹麦、德国、希腊、西班牙、爱沙尼亚、法国、匈牙利、爱尔兰、意大利、拉脱维亚、立陶宛、卢森堡、马尔他、荷兰、奥地利、波兰、葡萄牙、斯洛伐克、斯洛文尼亚、芬兰、瑞典、英国、罗马尼亚及保加利亚。

3.2欧盟包装指令(PPWD)

包装及包装废弃物指令(P ackaging and Packaging Waste Directive)94/62/EC及其增订指令2004/12/EC分别于1994.12.31与2004.02.18经欧盟公告。PPWD要求:包装中重金属浓度总和不超过100ppm。

3.3欧盟RoHS指令

Restriction of Hazardous Substance 电子电气设备中有害物质的限制使用指令

自2006年7月1日起,禁止进入欧盟市场的电子电器产品中含有超过设定水平的下列

3.4均匀材质(Homogeneous Materials)

是指各部分的成分均匀,不可以旋开、切断、压碎、磨碎和研磨等机械的方法进一步拆分的材料。

3.5XRF:X-ray Fluorescence 荧光X射线法

3.6ICP:Inductively Coupled Plasma 电感耦合等离子体法

3.7Spot Test:用化学反应液定性检验Cr6+的化学试验

ROHS测式方法(XRF光谱筛选法)

ROHS测式方法(XRF光谱筛选法)

ROHS测式方法

XRF光谱筛选法

1 范围

该文件描述了应用XRF对电工产品中的限用物质进行筛选的程序。它包括了所有类型的材料如聚合物、金属及其他电子组装设备。

这个方法描述了用XRF筛选样品的特征。应该注意的是,筛选测试应该在控制一定条件下进行。对于电工业来说,虽然XRF技术具有快而方便的优点,但其测试结果的运用却有一定的限制。

筛选分析可用下面两种方法的一种进行:

•无损测试—直接测试样品

•有损测试—分析前经机械制样。

通常,一个有代表性的样品或均质材料(如塑料)可以进行无损测试,而其它样品(如组装的印刷线路板)必须经过机械制样。XRF技术要求样品具有均匀组成。

筛选分析允许任何人在三个基本类别上对样品之间进行辨别。

•合格—样品含有一定量,但浓度低于允许值。

•不合格—样品含量明显高于允许值。

•待定—由于非决定的分析结果,样品还需要进一步的检测。

必须指出的是X射线荧光光谱测定分析方法仅能够提供在它的测量元素范围内的校准物质的信息。对于铬和溴应特别注意,这里的结果将反映样品中的总铬量和总溴量而不仅只是规定的六价铬、PBB和PBDE。因而如果发现有铬和溴存在时,必须采用其它测试程序来确定是否含有六价铬、PBB或PBDE。另一方面,如果没有发现铬和溴,那么样品中就不可能含有六价铬、PBB 或PBDE。(注:在测涂层或薄膜这样特殊的情况下,应该确保XRF有足够的灵敏度,见附录A)

既然XRF光谱测定是一个相对的技术,它的性能取决于校准的好坏。而校准又取决于所校准设备的精确性。XRF分析非常灵敏,这意味着必须考虑测试中光谱及基体的干涉(例如吸收和增强现象),特别是对于一些形状复杂的样品如聚合物和电子元器件更要考虑。

ROHS测试要求及检测方法

ROHS测试要求及检测方法

ROHS测试要求及检测方法

ROHS(Restriction of Hazardous Substances)是指在电子电气设

备中限制使用有害物质的欧洲指令。其目的在于减少电子设备的环境污染

和对人体的危害。ROHS测试要求及检测方法主要包括以下几个方面:

1.测试物质范围:ROHS指令限制使用六种有害物质,包括铅(Pb)、汞(Hg)、镉(Cd)、六价铬(Cr6+)、多溴联苯(PBBs)和多溴二苯醚(PBDEs)。测试物质范围根据不同的产品类型可能有所不同,但通常会

涵盖上述六种物质。

3.检测样品准备:在进行ROHS测试之前,需要对样品进行适当的准备。首先,应确定测试的样品部位。通常,选择含有有害物质较为集中或

易释放的部位进行测试,例如连接器、焊点等。接下来,将样品进行清洗,去除表面的污物和杂质。最后,将样品切割、研磨或剥离以获得测试所需

的尺寸。

4.测试流程:ROHS测试的流程包括以下几个步骤。首先,将测试物

质分散到适当的试剂中,并加热。其目的是溶解样品中的有害物质,使其

在分析过程中更易检测。然后,使用XRF仪器对样品进行扫描,获取元素

含量的分析结果。最后,将得到的分析结果与ROHS指令中规定的限制值

进行比较,以确定样品是否符合要求。

5.结果判定:根据ROHS指令的限制值,对测试结果进行判定。如果

样品中含有的有害物质超过了规定的限制值,那么该样品将被认定为不合格。反之,如果样品中的有害物质含量低于限制值,那么该样品将被认定

为合格。

总之,ROHS测试要求及检测方法主要涉及测试物质范围、测试方法、检测样品准备、测试流程和结果判定。通过这些步骤,可以准确地评估电

XRF操作指引

XRF操作指引

XRF操作指引

X射线荧光光谱仪(XRF)是一种非破坏性的分析仪器,广泛应用于材料分析、环境检测、地质勘探、工业生产等领域。本文将为您介绍XRF 操作指引,以帮助您正确、高效地操作这一仪器。

一、准备工作

1.确认XRF仪器的工作状态,检查电源和仪器各部件是否正常。

2.准备待分析的样品,并将其拆解成小颗粒。如果样品是固体,可使用研磨机对其进行研磨;如果样品是液体,可进行溶解处理。

3.初始化仪器并校准。校准仪器前需要使用标准样品进行测试,确保仪器能够准确分析样品。

二、操作步骤

1.打开XRF仪器电源,等待仪器初始化完成后,将待测试样品放入样品槽中。

2.选择合适的分析程序,不同样品需要选择不同的程序,确保分析的元素和参数正确。

3.根据样品类型和尺寸,调整XRF仪器的参数,如电压、电流、分析时间等。确保参数的选择足够精确,以保证测量结果的准确性。

4.点击“开始测量”按钮,仪器开始工作。这个过程中需要保持样品的稳定性,避免样品的颗粒移动或高温熔化等情况发生。

5.等待测量过程完成,仪器会自动显示分析结果,包括样品中各元素的含量及相对误差。根据实际需要,可将结果存储到计算机或打印出来。

三、注意事项

1.在操作XRF仪器前,必须佩戴防护眼镜、手套等个人防护设备,以

确保使用安全。

2.仪器需要定期维护和保养,及时清理样品槽和探测器表面等部件,

防止杂质积聚影响测量结果。

3.在使用XRF仪器时,应避免将样品暴露在高温、高湿度等环境下,

以免对样品造成损害。

4.样品的制备过程需要注意,避免样品中掺杂杂质对测量结果的干扰。若样品复杂,建议进行预处理,如溶解、稀释等。

27.RoHS与卤素物质XRF测试合格与否判定流程

27.RoHS与卤素物质XRF测试合格与否判定流程

宁波博禄德电子有限公司

NINGBO BROAD TELECOMMUNICATION CO .,LTD 文件类别三阶文件文件编号BD-QA3C-0027文件名称环境管理物质管理标准版次V7页次 13/13

13.RoHS物质及卤素物质XRF测试合格与否判定流程

<部品(材质)合格与否判定Process>

RoHS测试流程及XRF使用手册

RoHS测试流程及XRF使用手册

RoHS 测试流程及XRF 使用手册

测定样品后出现的波形

【测定顺序]用XRF 测定样品:检测出Pb,再使用ICP 进行分析 [定量结果]

测定元素 荧光X 射线的测定值

ICP 的测定值 Pb

538.3ppm

524ppm

[结论均质材料测试结果较准确

测定事例2 (塑料+金属复合品1)

检测出Pb =>

只测定被包材料:下列是Pb 的定量结果

[定量结果]

测定元素

荧光X 射线的测定值 样品整体 荧光X 射线的测定值 只测定被包材料 Pb

75.4ppm

2.7ppm

[结论]关于复合样品的测量,要得到准确的测量值,有必要将样品按材质拆分后分析

塑料部品 【测定顺序]:测定样品整体, 测定样品

乙稀

测定样品整体后出现的波形

只测定被包材料后出现的波形

测定事例3 (塑料+金属复合品2)

[测定顺序]

测定样品整体:检测出Pb —►只测定被包材料:检测出Pb 1定量结果I

测定元素 荧光X 射线的测值: 测定样品整体

荧光X 射线的测定值: 只测定样品的被包部分

I c P 测定值: 只测定样品

的被包部分 Pb 196.2ppm

240.2ppm

249ppm

测定事例4金属部品(无表面处理)

金属部品(无表面处理)中含有Pb 的事例

[定量结果]

测定元素 荧光X 射线测定值: I c P 测定值: Pb

3O32Oppm

29870ppm

测定样品整体后出现的波形

只测定被包材料后出现的波形

> 使用ICP 进行分析

金属插头

测定^料

测定样品

样品就那样测定后的波峰

【测定顺序]

样品就那样测定:检测出Pb ------------- ► 使用ICP 分析

rohs合规性测试和风险评估流程

rohs合规性测试和风险评估流程

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Rohs测试流程及XRF使用手册

Rohs测试流程及XRF使用手册

目录

Rohs检测流程及测试指引----------------------------------------------------第3页

术语和定义

电子电气产品中限用的六种物质的测定程序

均质材料的定义

电子产品的拆解

电子产品测试的实践指引

RoHS 指令豁免清单

XRF 光谱筛选法介绍

X射线萤光分析仪的有害物质分析----------------------------------------第30页

什么是X射线电磁波的种类

X射线的安全性什么是荧光X射线

XRF测量原理X射线的统计波动

萤光X射线分析仪器的构成

荧光X射线分析仪的测量条件

干扰波峰

定性分析方法

定量分析方法

荧光X射线分析仪的测量条件

关于塑料测定的补正结构

用语说明

SEA1000A台式荧光X射线分析仪器有害物质测定简易手册------第55页

1.分析条件的区别使用

2.分析线的设定

3.测定上的注意点

4.测定前的准备·结束

5-1.根据常规程序进行样品测定的程序

5-2.根据块体标准曲线进行样品测定的程序

5-3.根据块体FP进行样品测定的程序

6.装置的校正

7.标准曲线的确认和更新

8.管理值的登记和变更

9.在常规测定程序下的波形保存

10.在块体标准曲线程序下的能谱输入

应用篇-实际样品测量及测定实例-----------------------------第64页

RoHS对象元素的波峰的位置

在实际样品测定中的注意点

关于荧光X射线的测定实例

容易混淆的波峰和区别方法

简易拆分实例

测定时的注意事项

测量分析须知

样品摆设方向的影响

复合部品测量

电线等的被覆材料的测量

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测定事例1(纯塑料)

塑料部品

测定样品 测定样品后出现的波形

[测定顺序]用XRF 测定样品:检测出Pb ,再使用ICP 进行分析 [定量结果]

[结论]:均质材料测试结果较准确

测定事例2(塑料+金属复合品1)

乙稀

测定样品

测定样品整体后出现的波形

只测定被包材料后出现的波形

[测定顺序]:

只测定被包材料:以下是Pb 的定量结果 [定量结果] [结论]对于复合样品的测量,要得到准确的测量值,有必要将样品按材质拆分

后分析

测定事例3(塑料+金属复合品2)

金属插头

测定试料测定样品整体后出现的波形只测定被包材料后出现的

波形

[测定顺序]

测定样品整体:检测出Pb只测定被包材料:检测出Pb使用ICP进行分析

[定量结果]

测定事例4 金属部品(无表面处理)

金属部品(无表面处理)中含有Pb的事例

测定样品样品就那样测定后的波峰

[测定顺序]

样品就那样测定:检测出Pb ICP分析

[定量结果]

测定事例5 金属部品(无表面处理)

金属部品(无表面处理)中含有Cd 的事例

测定样品

样品的波形

[测定顺序]

样品就那样测定:检测出 Cd 使用ICP 分析 [定量结果]

测定事例6(被镀金属部品1)

金属部品(镀品):铁(Fe )–素材中含有Pb 的事例

测定样品

样品就那样测定后的

波形

测定样品(除去镀

层)

除去镀层测定后的

波形

[测定顺序]

样品就那样测定:检测出Pb 除去镀层的样品:检测出Pb 使用ICP 分析 [定量结果]

[结论]:镀品有必要将镀除去后再测定

该样品的铅存在于钢基材,镀层不含有铅,而Rohs对钢的含铅最大允许值为3500ppm,故该样品符合Rohs要求

测定事例7(被镀金属部品2)

金属部品(镀品):镀有含有Cd 的事例

测定样品

样品就那样测定后的波形

测定样品(除去镀) 除去镀测定后的波

[测定顺序]

样品就那样测定:检测出Cd 除去镀的样品:检测出Cd [测定结果]

[备注]

ICP 测定因为在有镀的状态下测定,所以浓度降低。因为X 射线测定从镀品中射出来的X 射线较强,所以测定值升高。

测定事例8 (被镀金属部品3)

金属部品(镀品):铁(Fe )–素材中含有Pb 的事例

测定样品

样品就那样测定后的波形

除去镀测定后的波

[测定顺序]

样品就那样测定:检测出

Pb

使用ICP 分析

[定量结果]

[结论]:该样品的铅存在于钢基材,镀层不含有铅,而Rohs对钢的含铅最大允许值为3500ppm,故该样品符合Rohs要求

测定事例9(被镀金属部品4)

金属部品(镀品):黄铜素材中含有的Pb的事例

测定样品样品就那样测定后的波形除去镀测定后的波形

[测定顺序]

样品直接测定:检测出Pb除去镀的样品:检测出Pb使用ICP分析

[定量结果]

测定元素荧光X射线的测

定值:测定样品整

体荧光X射线的测定

值:除去镀的样品测

ICP测定

值:

测定样品整

Pb 4431ppm 29496ppm 30398ppm

[结论]:该样品的铅存在于铜基材,镀层不含有铅,而Rohs对桶的含铅最大允许值为40000ppm,故该样品符合Rohs要求

测定事例10(被镀金属部品5)

金属部品(镀品)黄铜素材中含有的Cd的事例

测定样品样品就那样测定后的波形除去镀测定后的波形

[测定顺序]

样品直接测定:检测出Cd除去镀的样品:检测出Cd使用ICP分析

[定量结果]

测定元素荧光X射线的测荧光X射线的测定ICP测定

[结论]:该样品的铬存在于铜基材,由于直接测量时,基材中的Cd的X荧光受到镀层的吸收,使Cd的测量结果偏低,而去镀测量后,可较准确的测量出基材Cd含量。该样品不符合Rohs要求

XRF与其它检测仪器对电镀材料的分析差异

[XRF分析]

⏹电镀层的材质,由于电镀层的部分只占样品基材的千分之一或是万分之一[X射

线对金属的穿透力约只有100m m左右],检测器收集的荧光X射线与其穿透的深度有关系。所以,如果待测样品上有电镀层,而XRF作为表面分析主要反映的是镀层的信息[电镀层的厚度将会引响不同检测仪器之间的差异]

⏹处理方式将镀层部分磨除后再测试,可分清电镀层或基材超出ROHS规范,从而

减少与其它检测仪器的差异。

[ICP分析]

⏹ICP处理方式:需破坏,现将样品裁剪、称重、强酸消化溶解,使得待测样品达

到均一状态,待测样品含有电镀层,会因为ICP处理的方式,将[电镀层和基材溶解达到均一状态],造成无法分辨电镀层或是基材超出ROHS规范,造成检测上与XRF的差异。

⏹处理方式:[镀层部分与基材部分单独测试]

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仪器校正及参考物质说明分析方法与材料种类对照XRF分析要素

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