不合格品入库单
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低良□其他□
12产品状态：工序1□ 工序2□ 工序3□ 工序4□ 工序5□工序6□ 工序7□
尺寸：Wafer Size
良率指标：
Yeid Standard
晶片数量：Quantity
片号：Wafer ID 产品型号：Cust Name
客户批号：Cust Lot 扣留时间：
仓库确认:W Confirm
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不合格品入库单
不合格原因：
测试机:Tester
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89存放位置：备注：
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