基于ATE的MCU芯片工程化量产测试关键技术

基于ATE的MCU芯片工程化量产测试关键技术
毛景雄;岳龙;邓艺华;陆裕东;李汝冠;江雪晨
【期刊名称】《中国集成电路》
【年(卷),期】2022(31)12
【摘要】微控制单元(Microcontroller Unit,MCU)是嵌入式系统的重要组成部分,渗透到消费、工业和汽车电子等行业中,遍布生活中各行各业。

MCU的工程化量产过程包括设计、制造、封装、测试等多个环节,其中芯片的测试贯穿所有环节。

本文对MCU测试过程中,对测试方法在各环节中的应用,测试平台设备的选择、测试软硬件开发、测试数据收集与分析三大环节中的关键技术性问题进行了简述。

【总页数】6页(P84-89)
【作者】毛景雄;岳龙;邓艺华;陆裕东;李汝冠;江雪晨
【作者单位】广州广电计量检测股份有限公司
【正文语种】中文
【中图分类】TP3
【相关文献】
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