石英晶体老化率及真空退火应用的探讨
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关 键 词 :老化 率 ; 高真 空 退 火 ; 应用
Ke y wo r ds :ag i n g r a t e ; h i g h v a c uu m a nn e a l i ng ; a pp l i c a t i o n
中 图分 类 号 : T N 7 5 2
b y ma n y e l e me n t s ,h o w t o s t a b l e a n d i mp r o v e t h e a g i n g r a t e t a r g e t i s a d i f f i c u l t p r o b l e m f o r e a c h ma n u f a c t u r e r i n t h e i n d u s t y. r T h i s p a p e r
摘要 : 作 为最主要的可靠性之一, 石英 晶体的老化 率是一 项非常重要的参数 , 作 为频率元件 , 老化率直接体现着石英 晶体 的稳 定
性。 而石 英晶体振 荡器的老化是一个影响 因素众多的系统 问题 , 如何稳定 并提 高老化率指标是行业 内各 厂家生产 中的难题 。 本文主要
讨论 关于老化的改善手段 , 并且主要介绍关于高真空退火对老化率影响的试验 。
ma i n l y d i s c u s s e s a b o u t t h e i mp r o v i n g me t h o d o f a g i n g a n d i n t od r u c e s t h e o n t e s t o f h i g h v a c u u m a n n e a l i n g e f f e c t o n t h e r a t e o f a g i n g .
Ab s t r a c t : As o n e o f t h e mo s t i mp o r t a n t r e l i a b i l i t y ,q u a t r z c ys r t a l a g i n g r a t e i s a v e y i r mp o r t a n t p a r a me t e r ,a s t h e  ̄ e q u e n c y c o mp o n e n t s , t h e a g i n g r a t e d i r e c t l y r e f l e c t s t h e s t a b i l i t y o f q u a tz r c r y s t a 1 . An d t h e p r o b l e m o f t h e a g i n g o f q u a  ̄z c ys r t a l o s c i l l a t o r i s a f f e c t e d
文 献标 识码 : A
文章编号 : 1 0 0 6 — 4 3 1 1 ( 2 0 1 4) 3 6 ~ 0 0 3 4 — 0 2
1 老化率的定义及失效机理
1 . 1老化率 的定 义及其考核方法 众所周知 ,虽然石 英晶体元件 的频率稳定性 非常优 良, 但仍然 会随着 存放时 间、工作时间 的延长及激励功率和工作 温度 变化而变化。 频率随时 间的变化称 为老化 , 因 自然存放 时间而引起 的频 率相 对变化称 为 自然老化 ; 因工作 时间引起的频率相对 变 化称 为负荷 老化 , 总称 为频率 老化 , 简称 老化。 老化是 在恒定 的环境 条件下测量晶体 频率时 , 晶体频 率和 时间之间的关系。 这种长期频率漂移是 由晶体 元件和 振荡 器 电路元件的缓慢变化造成 的 , 可用规定时 限后 的最 大变化 率 ( 如± 1 0 p p b / 天, 加电 7 2小时 后 ) , 或 规定 的时 限 内最大的总频率变化( 如: + _ 3 p p m / ( 第一年 ) ) 来表示。 1 . 2老化率 的失效机理 引起振荡器参数 变化的原 因 是极为复杂 的, 也是 多方面 的。 首先 , 石英材料本身就存在 老化 效应 , 虽说 水晶是一种 物理 、 化 学性 能均 十 分稳定 的 材料 , 石英材料 的任何微 小的变化都 会引起可观的频率漂 移 。石英材料 的变化是指材 料中杂质原子 、 填隙原子和 晶 格 空位 等缺 陷的重新分布 , 缺 陷的重新分布引起振荡器频 率弹性系数的变化 , 从而导致频率的漂移。 当前就石英 晶体 元件 的贮存年老化率来看 , 其 失效模 式主要是频率 变化 , 而频率变化 的失效机理 主要是质量吸 附效应和应力驰豫效应 。具体 到石 英晶体 元件 , 根据其频 率 变化情 况可分为三 种 , 如图 1 所示 。 图 1中曲线① , 其 频率变化率 A( T) = B I n ( c t + 1 ) , 其失 效 机理 是应 力驰豫效应 , 由于应 力释放 , 频率 向正 方 向变 化。为了减 小加工过程中造成 的应力 , 就应针对性 的采取 措施 , 予以减 小或消除。 图1 中曲线② , 其频率变化 B ( T) =一 B ’ I n ( C ’ t + 1 ) , 其 失效机 理主要是质量吸附效应 ,其 频率变化 向浮想 变化。
李冬强 L I Do n g — q i a n g ; 高志祥 GAO Z h i — x i a n g
( 南 京 中 电熊 猫 晶体 科 技 有 限公 司 , 南京 2 1 0 0 2 8 0
( N a n j i n g C h i n a E l e c t r o n i c s P a n d a C C o o p o r a t i o n , N a n j i n g 2 1 0 0 2 8 , C h i n a )
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价 值 工 程
石英晶体 老化 率及真 空退火应用 的探讨
A g i n g R a t e o f Qu a r t z C r y s t a l a n d t h e A p p l i c a t i o n o f V a c u u m A n n e a l i n g