集成电路知识产权司法鉴定——商业秘密

集成电路知识产权司法鉴定——商业秘密
范兵
【期刊名称】《中国集成电路》
【年(卷),期】2010(019)003
【摘要】本文所讨论的范围主要集中在与集成电路芯片技术相关的案件,这些与芯片技术相关的案件中涉及最多的是专利和商业秘密的问题.本文将对集成电路领域有关商业秘密类型案件的司法鉴定问题进行介绍和探讨.
【总页数】3页(P90-92)
【作者】范兵
【作者单位】工业和信息化部软件与集成电路促进中心知识产权司法鉴定所,北京,100038
【正文语种】中文
【相关文献】
1.知识产权鉴定意见的证据能力研究——以涉专利和商业秘密案件司法鉴定为视角[J], 王强之
2.集成电路知识产权保护及司法鉴定探讨 [J], 王桂海;罗苏平
3.我国知识产权司法鉴定的思考——以"富比"案中知识产权司法鉴定为视角 [J], 江波;张金平
4.助力软件与集成电路产业，关洼商业秘密保护——第七届中国软件与集成电路知识产权论坛在北京隆重召开 [J],
5.司法鉴定与集成电路的知识产权保护 [J], 范兵;谢学军
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