0212IC可靠性测试项目及参考标准[001]

版本创建 试用 用文件使 ⅢⅡ Ⅰ） 就是产品性能的测量，它回答了一个产品是否合乎规格（）解决的是一段时间以后的问题。

知道了两者的区别，）的要求，是否符合各项性能指标的问题。

可靠性（的问题解决方法往往比较直接，设计和制造单位在产品生产出来后，通）则是对产品耐久力的测量，它回答了一个产品生命周期有多长，简单说，它能用多久的问题。

所以说质量（测试在 ）解决的是现阶段的问题，可靠性（而言 我们发现，产品 保证 过简单的测试，就可以知道产品的性能是否达 到 准 的标 的要求， 这种的设计和制造单位就可以 进行 。

相 对 ，的问题 似 乎就 变 的 十分棘手 ， 这 个产品能用多久， 谁 能 今天 能用， 明天 就一定能用 ？为 了解决 这 个问题， 人 们制定了各 种 各 样 ， 如 : 、介绍 ， 注： 为流行 （，我们 之前 的测试方法 ） 电子 设 备工 程 联 合 委员会 ,， 著名国际电子行业 标 准化组织之 一。

条浴缸曲线 ：日本电子工业协会 ， 著名国际电子行业 标 准化组织之 一。

在 一 些目前 较 的先 来 认识 一 下产品的生命周期。

典型 的产品的生命周期可以用一 （）来 表示 。

质量（产品的生命。

）在一定程度上可以说是 ）和可靠性（质量（ ( )产品的质量与可靠性测试版本创建试用 用文件使准：标 参考 玷污等子 离 定性， 稳 不 ， 互扩散 相 ， 层破裂 化 氧 ， 迁移 ：电子 制 机 失效 测试动态 ,，℃ : 条件测试 一段时间的耐久力 下 压情况 电 超 和 超热 在 件 评估器 : 的 目）低温操作生命期试验（ ：高 ②准：标 下 以 参考 可 估算结果 和 条件 的测试 具体 。

失效 的 成生产造 于 玷污等由 子 离 ， 金属刻镀 ， 缺陷 层 化 氧 如 包括诸 ， 缺陷 的 艺 工 材料或 ： 制 机 失效 测试进行 对产品 压 电 度和 内动态提升温 定时间 特 在 :条件 测试 的产品。

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失效原因 的 成 出现的问题所造 面 方 存储等 ， 封装 生产， 是在 尤其 ，原因 的 到 并且找 用期， 使 计产品的 预 ， 去除并估算其良率 的产品 期 于早夭 图将处的问题就是要力， 到 看 产品的生命周期，我们就可以 典型 了 认识 。

等 化 老 的 成 用所造 使 就是产品长期 原因 的 失效 ， 升高 会快速个阶段这 在 ）期（ 磨耗 被称为 ()。

等等 变化 度 温 如 的，比 机 随 往往是 原因 的 失效 定， 持稳 保个阶段产品的 这 ）在 用期（ 被称为使() 。

缺陷 的 中设计和生产过程于在 原因 的 成失效 ，造 快速下降 个阶段产品的 这 ）期（被称为早夭()版本创建试用 用 文件使 ( ℃ ) ( )）浸泡 ℃ : 烘烤 （ ）都没关系 时间多久 储运 ℃: （ : ℃ （回 （ ） : ℃℃ ℃（ 储运 时间一 年 左右 ） : ℃ ℃℃（ 储运 时间一周 左右 ）: 流 焊 ） ( ℃ ) () () ( ℃) () ()*： 超声扫描仪 ( )）（ 高低温循环 : ( )超声扫描仪 : :）程（ 流 测试 的可靠性。

存储 间 之 用 到使生产 从就是 也 的耐久力， 存储 条件下 度 温 度， 湿 在一定 之前 用 使 在模拟 : 的 目 ）预处理测试（ : ① , , , , , , , , ）环境测试项目（二、准 标 下 以 参考 可 估算结果 和 条件 的测试 具体。

年用 保证使 时 小，年用 保证使 时测试通过 小℃。

年用 使 续 持 时测试 小，年用 使 续 保证持 可以时测试通过小 条件下 ℃用文件使过 必须经 之前 用 件使 元 ， 级于 对 (命 寿 间 车 时 小 ° 试用 版本创建于 或等 于 小级命 寿 间 车 时 小 °于 或等 于 小 级命 寿 间 车 时 小 ° 于 或等 于 小 级命 寿 间 车 时 小 ° 于 或等 于 小 级命 寿 间 车 时 小 ° 于 或等 于 小 级命 寿 间 车 周 四 ° 于 或等 于 小 级命 寿 间 车 年 一 ° 于 或等 于 小 级命寿 间 无限车 ° 于 或等 于 小 级。

阅 参 请 ( )命 寿 间 车 和 级 分 湿 潮 耐 种 八 ： 评估结果准标 下 以 参考 可 估算结果 和 条件 的测试 具体 层分 ， 封装破裂 :制 机 失效 。

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施 措 等 及放置干燥剂 封包装 密 用 采 中 输 运 和在 境 装环 组 制 仔细控 、 选择 封装材料 的 智 进行明 必须。

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方法是通过 良率 触 的接 面 界 间的 之 金属 的 膨胀系数 热 同 不 有 具 中 产品评估:的 目 ）高低温冲击试验（ :⑥ 准 标 下 以 参考 可 估算结果 和 条件 的测试 具体 层 分 的 面 界 同 不 ， 裂 断 的 体 绝缘 和 体 导 ， 裂 断 质的 ：电介 制 机 失效 ℃℃:℃℃ : 条件测试 。

变化 重复 低温 到 从高温 空气 的 动 流 循环。

方法是通过 良率 触 的接 面 界 间的 之 金属 的 膨胀系数 热 同 不 有 具 中 产品评估 : 的 目 ）高低温循环试验（ : ⑤。

增大 度 湿 但 ， 压 偏 不加 则而， 缩短 时间可以 实验 ， 素 因 力 压 到 虑 并且考 ， 高 更 度 温 于 的区别在与 *准标 下 以 参考 可 估算结果 和 条件 的测试 具体 性封 密 封装 ， 腐蚀 金属 学 ：化 制 机 失效 ）（，, ，℃ : 条件测试 过程 失效 其 速 加 能力， 抵抗 度的 湿 对 条件下 压 气 高 ， 高湿 ， 高温 产品在 评估 : 的 目 ( )高压蒸煮试验: ④准标 下 以 参考 可 估算结果 和 条件 的测试 具体 性 封 密 封装 ， 腐蚀 离 ：电 制 机 失效，, ,，℃ : 条件测试 程版本创建试用 用 文件使准 标 下 以 参考 可 估算结果 和 条件 的测试 具体 良率 ％至少 ： ）（ 准 标 失效秒中 锡盆 ℃ 入 浸 ： 时小 化 老 蒸汽 ： :测试方法的可靠度中 过程 粘锡 在评估 : 的 目 ）可焊性试验（⑧准标 下 以 参考 可 估算结果 和 条件 的测试 具体 应效 金 共， 应 效 扩散 和 学 ：化 制 机 失效 ℃:条件测试 的生命时间。

条件下 作 工 年不 几 条件下保持 高温 在 之前 用 际使 实 产品在 评估 : 的 目 ）高温储存试验（: ⑦ 的测试晶园 于 偏重而的测试， 于偏重 于的区别在 与*准： 形变 械 体机 导 ,） 如 : ℃ ℃:℃℃失效 机 制 ：电介 质的 断 裂 ， 材料 的 老 化 （ 具体 的测试 条件 和 估算结果 可 参考 以 下 标 : 条件测试 。

变化 重复 低温 到 体从高温 液 的 动 流可研文件版本创建试用 用 文件使产品的质量和可靠度。

制 控 效 有 而 从， 成本 测试的时间和低 降 度的 最大限 的测试方法， 适 合 选择 的， 目 要测试的 需 及 以 途 产品的性能，用同不 根据 要 需 就 商 的设计制造后，之 测试方法 的述 在了解上准：标 下 以 参考 可 估算结果 和 条件 的测试 具体 ℃：制 机 失效 据数 的 中 元 单 证 验 取 次读 后，多 元 单 存储入写 据 数 将 条件下 高温 在 : 条件 测试 失损 荷 电 的 节点 存储 件 器 发性 非挥 速 加 后 之 读写 重复 在 : 的 目 ）数据保持力测试（ ② 准 标 下 以 参考 可 估算结果 和 条件 的测试 具体到达 数 读写次 的 据 数 个 每 ， 高 更 者 或 ， 温 室 :条件 测试 次 个过程多这 重复 ， 据 数 除 擦 ，在 元 单 存储 的入写 据 数 将 : 久性能持 后的 算 次读写 在多 件 器 发性非挥 评估 : 的 目 ）周期耐久性测试（ ① ,）耐久性测试项目（三、准标 下 以 参考 可 估算结果 和 条件 的测试 具体 结果测试 电 根据 ： ）（ 准 标 失效 秒中锡盆 ℃ 侵入: 测试方法 度敏感 的 高温 间 瞬 对 评估: 的 目 ）焊接热量耐久测试（: ⑨。