基于I2C接口访问的光模块性能的测试装置[实用新型专利]

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专利名称:基于I2C接口访问的光模块性能的测试装置专利类型:实用新型专利
发明人:贺海诚
申请号:CN201820177635.2
申请日:20180201
公开号:CN207732773U
公开日:
20180814
专利内容由知识产权出版社提供
摘要:本实用新型公开的一种基于I2C接口访问的光模块性能的测试装置,旨在提供一种方便快捷的测试环境。

本实用新型通过下述技术方案予以实现:PC机通过USB数据线相连光模块I2C测试板,USB转I2C芯片通过I2C总线的SDA和SCL线连接微控制器MCU,微控制器MCU通过SDA和SCL 两条线连接金手指插槽,光模块通过金手指插槽接入测试板,微控制器MCU根据PC机指令类别模拟出通信设备对光模块的I2C接口的异常操作。

告警灯可以直观地显示光模块的I2C接口是否能够正常地从某种异常操作中恢复过来。

本实用新型解决了在生产光模块过程中,很难通过模拟光模块的I2C接口的使用环境来评估基于I2C接口访问的光模块性能的问题。

申请人:四川泰瑞创通讯技术股份有限公司
地址:610000 四川省成都市锦江区工业园火炬动力港A区1栋201
国籍:CN
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