第二章 半导体中的杂质和缺陷e
合集下载
- 1、下载文档前请自行甄别文档内容的完整性,平台不提供额外的编辑、内容补充、找答案等附加服务。
- 2、"仅部分预览"的文档,不可在线预览部分如存在完整性等问题,可反馈申请退款(可完整预览的文档不适用该条件!)。
- 3、如文档侵犯您的权益,请联系客服反馈,我们会尽快为您处理(人工客服工作时间:9:00-18:30)。
受主杂质 受主能级
受主杂质 受主能级
受主杂质或p型杂质: Ⅲ族杂质,在硅、锗中电离时,能够接受电子而 产生导电空穴,并形成负电中心。 受主电离:空穴挣脱受主杂质束缚的过程。 受主杂质未电离时是中性的,称为束缚态或中性态; 电离后成为负电中心,称为离化态。
受主杂质 受主能级
受主杂质电离能
2.2 III-V族化合物中的杂质能级
III—V族化合物: IIIA族元素硼、铝、镓、铟、铊 VA族元素氮、磷、砷、锑、铋 组成 二元化合物,成分化学比都是1:1 由铝、镓、铟和磷、砷、锑形成的九种化合物(AlP, AlSb,AlAs,GaP,GaAs,GaSb,InP, InAs, InSb) 都结晶成闪锌矿型结构,与硅、锗的金刚石型结构很 相似。 每个原子有四个最近邻原子,该原于处于正四面 体中心时,四面体四个顶角为其最近邻的四个另一类 原于所占有。 即闪锌矿型结构与金刚石型结构不同处:金刚石 型结构中全由一种原子组成,闪锌矿型结构中由两种 不同的原子交替占据晶格点位置。
第二章 半导体中的杂质和缺陷
2.1 硅、锗晶体中的杂质能级 半导体中的杂质,施主和受主,类氢模型, 杂质的补偿作用,深能级杂质
2.2 Ⅲ-Ⅴ族化合物中的杂质能级
2.3 缺陷、位错能级
半导体中的杂质和缺陷
在实际应用的半导体材料晶格中,总存在 偏离理想情况的各种复杂现象。 1、原子并非静止在严格周期性晶格格点 位置,而是在其平衡位置附近振动;
:
使空穴挣脱受主杂质束缚成为导电空穴所需要的能量。
受主杂质 受主能级
受主杂质的电离过程
受主杂质 受主能级
受主杂质的电离过程 实际上是电子的运动,是价带中的电子得到能量 后,跃迁到受主能级上,和束缚在受主能级上的空穴 复合,并在价带中产生了一个可以自由运动的导电空 穴,同时也就形成一个不可移动的受主离子。
修正后,施主杂质电离能
受主杂质的电离能
计算得到:锗中
=0.0064eV,硅中
=0.025eV
与实验测量值具有同一数量级。
束缚电子或空穴的轨道半径
杂质的补偿作用
杂质补偿:施主和受主杂质之间的互相抵消作用(在半导体中, 同时存在着施主和受主杂质) 假设施主和受主杂质全部电离 ND :施主杂质浓度 NA :受主杂质浓度 n :导带中电子浓度 p :价带中空穴浓度 1、当ND NA时
在Ge中掺Au Au的电子组态是:5s25p65d106s1:
Ge ‖ — Au — ︱ Ge
Ge
Ge
1、Au失去一个电子—施主
电离过程为 Au = Au+ +(-e)
Ec
Ge ︱ + — Au ︱ Ge
Ge
—
Ge
ED=Ev+0.04ev
ED Ev
2.Au获得一个电子—受主 Au + (-e) = Au- Ec
杂质能级小结
杂质能级的位置 硅、锗中的III 、V族杂质的电离能都很小,所以受 主能级很接近于价带顶,施主能级很接近于导带底。 浅能级:上述杂质能级。 浅能级杂质:产生浅能级的杂质。 室温下杂质状态 晶格原子热振动的能量会传递给电子,可使硅、锗 中的III 、V族杂质几乎全部离化。
浅能级杂质电离能的简单计算
III-V族化合物中的杂质
III-V族化合物中的杂质,可以是间隙式,也可以是替位 式,情况比硅、锗复杂 例如,替位式杂质可能取代III族原子,也可能取代V族 原子 间隙式杂质如果进入四面体间隙位置,则杂质原子周围 可能是四个III族原子或四个V族原子
III-V族化合物中的杂质能级
III-V族化合物中的杂质能级
以GaAs中的杂质为例,一般而言: ♦ Ⅱ族元素-倾向于占据Ga的位置,是受主 ♦ Ⅵ族元素-倾向于占据As的位置,是施主 ♦ Ⅳ族元素-占据As的位置,是受主 占据Ga的位置,是施主
施主杂质
施主能级
施主杂质或n型杂质: V族杂质,在硅、锗中电离时,能够释放电子而产生导电电子 并形成正电中心。
施主电离:施主杂质释放电子的过程。 施主杂质未电离时是中性的,称为束缚态或中性态;电离后成为 正电中心,称为离化态。
施主杂质
施主能级
施主杂质的电离过程
施主能级ED:被施主杂质束缚的电子的能量状态。
intrinsic semiconductor
发光波长与带隙
hc 6.626 10343 108 Eg Eg (eV ) 1.6 1019 1240 109 ( m) Eg (eV ) 1240 (nm) Eg (eV )
760nm 550 380 1.63eV 2.25 3.26
施主杂质电子先跃迁到NA个受主能级上, ND - NA个电子在施主能级,跃迁到导带, 成为导电电子
n =ND – NA
半导体是n型的
ND
杂质的补偿作用
2、当NA
ND时
施主能级上的全部电子跃迁到受主 能级后,受主能级上还有NA - ND个 空穴,它们可以跃迁入价带成为导 电空穴
p = NA–ND NA
间隙式杂质
间隙式杂质原子一般比较小,如离子锂(Li+)的半径很小,为0.068nm, 在硅、锗、砷化镓中是间隙式杂质。 一般形成替位式杂质时,要求替位式杂质原子的大小与被取代的晶格原 子的大小比较相近,还要求它们的价电子壳层结构比较相近。如硅、锗 是IV族元素的族元素,与III、V族元素情况比较相近,所以III、V族元 素在硅、锗晶体中都是替位式杂质 。 Si:r=0.117 nm B:r=0.089 nm P:r=0.11 nm
半导体是p型的
有效杂质浓度:经过补偿之后,半导体中的净杂质浓度
杂质的补偿作用
利用杂质补偿作用,就能根据需要用扩散或离子注入方法 来改变半导体中某一区域的导电类型,以制成各种器件。
但是,若控制不当,会出现 的现象,这时,施主电 子刚好够填充受主能级,虽然杂质很多,但不能向导带和价带 提供电子和空穴,这种现象称为杂质的高度补偿。 这种材料容易被误认为高纯半导体,实际上含杂质很多, 性能很差,不能用来制造半导体器件。
半导体中的杂质和缺陷
杂质和缺陷重要影响的原因
由于杂质和缺陷的存在,使周期性排列 的原子所产生的周期性势场受破坏,有可能 在禁带中引入允许电子具有的能量状态(即能 级)。 由于杂质和缺陷可在禁带中引入能级, 对半导体的性质产生决定性影响。
2.1 硅、锗晶体中的杂质能级
替位式杂质
间隙式杂质
杂质进入半导体如何分布? 金刚石结构中,一个晶胞内的原子占晶体原 胞的34%,空隙占66%。
深能级杂质
在半导体硅、锗中,除了III 、V族杂质在禁带中产 生浅能级以外,掺入其它各族元素也会在禁带中产生 能级。
深能级杂质
深能级杂质
非III 、V族杂质在硅、锗中产生能级的特点:
深能级杂质
深能级杂质
深能级杂质
深能级杂质
深能级杂质
深能级杂质—在Si,Ge中的非Ⅲ,Ⅴ族杂质属于深能级杂质 ♦ ① 产生的电子能级距离导带底,价带顶都比较远 ♦ ② 大多能在Si,Ge中产生多重能级 一些杂质,在同一半导体中,既可起施主作用,又可起受主作用— 两性杂质 ♦例如,Au在Ge中,除形成三重受主能级外,还产生一个施主能级
受主杂质、施主杂质小结
III族杂质在硅、锗晶体中是受主杂质 V族杂质在硅、锗晶体中是施主杂质
杂质在禁带中引入能级: 受主能级比价带顶高 施主能级则比导带底低 杂质可以处于两种状态: 未电离的中性态或束缚态 电离后的离化态
杂质处于离化态时, 受主杂质向价带提供空穴而成为负电中心 施主杂质向导带提供电子而成为正电中心
替位式杂质
间隙式杂质
杂质原子进入半导体硅以后,只可能以两种方式存在。 间隙式(interstitial)杂质:杂质原子位于晶格原子间的间 隙位置。 替位式(substitutional)杂质:杂质原子取代晶格原子而位 于格点处。 杂质进入其它半导体材料中,也是这两种方式。
替位式杂质
前述类型杂质,电离能很低,电子或空穴受到正电中心或负电中心 的束缚很微弱,可利用类氢模型来估算杂质的电离能。 当硅、锗中掺入V族杂质如磷原子时,在施主杂质处于束缚态的情 况下,这个磷原子将比周围的硅原子多一个电子电荷的正电中心和 一个束缚着的价电子。用氢原子模型估计 的数值。 氢原子中电子的能量
EA3 EA2
Ec
=
Ge
EA1 ED
Ev
EA3=Ec-0.04ev
深能级杂质,一般情况下含量极少,且能级较深, 对半导体的载流子浓度(导电电子浓度、导电空穴 浓度)和导电类型的影响比浅能级杂质小。 深能级杂质,对于载流子的复合作用比浅能级杂质 强,也称为复合中心。 金是一种典型的复合中心,在制造高速开关器件时, 常掺入金以提高器件的速度。
3、面缺陷(层错、多晶体中的晶粒间界)
半导体中的杂质和缺陷
杂质和缺陷的影响
半导体材料中极微量杂质和缺陷,能对 材料的物理性质和化学性质产生决定性影响, 也会严重影响器件的质量。 在硅晶体中,若以105个硅原子中掺入一 个杂质原子的比例掺入硼原子,室温电导率 将增加103倍。 用于生产一般硅平面器件的硅单晶,要 求控制位错密度在102 cm-2以下,若位错密度 过高,则不 能生产出性能良好的器件。
受主杂质 受主能级
纯净半导体中掺入受主杂质后,受主杂质电离,使价 带中的导电空穴增多,增强半导体的导电能力。 p型半导体(空穴型半导体) 主要依靠空穴导电的半导体。
掺施主的半导体的导带电子数主要由施主决定,半导 体导电的载流子主要是电子(电子数>>空穴数),对 应的半导体称为n型半导体。称电子为多数载流子, 简称多子,空穴为少数载流子,简称少子。 掺受主的半导体的价带空穴数由受主决定,半导体导 电的载流子主要是空穴(空穴数>>电子数),对应的 半导体称为p型半导体。空穴为多子,电子为少子。
杂质浓度:单位体积中的杂质原子数。 表示半导体晶体中杂质含量的多少。
施主杂质
施主能级
III、V族元素在硅、锗晶体中是替位式杂质 以硅中掺磷为例讨论V族杂质的作用
施主杂质
施主能级
施主杂质
施主能级
杂质电离: 电子脱离杂质原子的束缚成为导电电子的过程。 杂质电离能 :多余价电子挣脱束缚成为导电电子所需要的能量。
2、半导体材料并非纯净的,而含有杂质, 即在半导体晶格中存在着与组成半导体材 料的元素不同的其他化学元素的原子; 3、实际半导体晶格结构并非完整无缺, 而存在各种形式的缺陷。在半导体中的某 些区域,晶格中的原子周期性排列被破坏, 形成各种缺陷。
半导体中的杂质和缺陷
缺陷分为三类:
1、点缺陷(空位、间隙原子) 2、线缺陷(位错)
例如:Si 在室温下,本征载流子浓度为1010/cm3, 掺入P (ND=1016/cm3) : Si的原子浓度为1022~1023/cm3
P的浓度/Si原子的浓度=10-6
施主向导带提供的载流子
1016~1017/cm3>>本征载流子浓度
受主杂质 受主能级
以硅晶体中掺硼为例讨论Ⅲ族杂质的作用
Ge ‖ Au- — Ge ︱ Ge
Ge
=
EA1 ED
EA1= Ev + 0.15ev
Ev
3.Au获得第二个电子
Ec
Ge ‖ -Ge = Au — Ge ‖ Ge - Au + (-e)=Au
EA2 EA1
ED
Ev
EA2=Ec-0.2ev
4.Au 获得--Au ‖ Ge
n=1,2,3,… ,为主量子数
基态能量
电离态
电离能
浅能级杂质电离能的简单计算
修正考虑 1、晶体内存在的杂质原子,正、负电荷是处于介电常数为 的介质中,则电子受正电中心的引力将减弱 倍, 束缚能量将减弱 倍; 2、电子不是在自由空间运动,而是在晶格周期性势场中运动,所 以电子的惯性质量 要用有效质量 代替。
施主杂质
施主能级
在纯净半导体中掺入施主杂质
杂质电离以 后,导带中的导电电子增多,增强 半导体的导电能力。
n型半导体(电子型半导体) 主要依靠导带电子导电的半导体。
杂质向导带和价带提供电子和空穴的过程 (电子从施主能级向导带的跃迁或空穴从受 主能级向价带的跃迁)称为杂质电离或杂质 激发。所需要的能量称为杂质的电离能。 电子从价带直接向导带激发,成为导带的自 由电子,称为本征激发。 只有本征激发的半导体称为本征半导体。