贴片三极管-来料检验规范
三极管来料检验标准
三极管来料检验标准
三极管是一种常见的半导体器件,广泛应用于电子设备中的放大、开关、稳压等功能。
为了确保生产出质量稳定的三极管产品,对来料进行严格的检验是非常重要的。
本文将介绍三极管来料检验的标准和方法,以帮助文档创作者更好地了解和掌握这一过程。
首先,对于三极管来料检验,我们需要关注以下几个方面:
1.外观检查。
外观检查是最基本的检验步骤之一。
我们需要检查三极管的外壳是否完整,有无损坏或变形,引脚是否齐全,焊接是否良好等。
同时,还需要检查产品标识是否清晰可见,以确保产品的可追溯性。
2.封装参数检查。
三极管的封装参数对其性能有着重要的影响,因此需要对封装参数进行检查。
这包括对封装材料、尺寸、引脚布局等进行检验,以确保符合相关标准要求。
3.电性能检查。
电性能是三极管最重要的指标之一。
在来料检验中,需要对三极管的电参数进行检查,包括静态特性和动态特性。
静态特性包括漏极电流、饱和电压等参数,而动态特性包括开关特性、频率响应等参数。
4.可靠性检查。
可靠性是三极管产品质量的重要保证。
在来料检验中,需要对三极管的可靠性进行检查,包括对温度、湿度、振动等环境条件下的性能进行测试,以确保产品在各种条件下都能正常工作。
综上所述,三极管来料检验标准涉及外观检查、封装参数检查、电性能检查和可靠性检查等多个方面。
只有严格按照相关标准进行检验,才能保证生产出质量稳定的三极管产品。
希望本文能够帮助文档创作者更好地了解和掌握三极管来料检验的标准和方法,以提高产品质量和生产效率。
三极管来料抽样检验规范
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(ISO9001-2015)
1.0目的
本检验规范的目的是保证本公司所购三极管的质量符合要求。
2.0定义
2.1缺陷类别分为:严重缺陷缺陷(CR )、主要缺陷(MA )和次要缺陷(MI );
2.2严重缺陷(CR ):不符合安全规范或可能对使用者、维护者造成人身危害的缺陷;
2.3主要缺陷(MA ):关键质量特性不合格,影响生产并可能导致故障或降低产品性能的缺陷;
2.4次要缺陷(MI ):一般质量特性不合格,但不影响使用功能及性能的缺陷。
3.0检验条件
3.1光照度:300-400LX(相当于40W 日光灯500mm~600mm 距离的光源)
3.2检验距离:550mm-650mm
3.3检验人员视力要求在0.8以上
4.0抽样方案与判定标准
外观检验抽样方案按GB/T2828.1-2013标准,正常检验一次抽样方案,一般检验水平Ⅱ,AQL:致命缺陷(CR )=0 重缺陷(MA )=0.65 轻缺陷(MI )=1.5。
尺寸及其他特性测试5-10PCS ,0收1退。
取样方式:采取分散取样方式,5箱以内,每箱都应取样;超出10箱,按(5+总箱数÷5)箱进行分散取样。
三极管来料抽样检验规范
数量检验
MA
可接受; 实际来料数量与送检单上的数量是否吻合,若不吻合
目检 点数
不可接 受。
Marking 错或模糊不清难以辨认不可接受;
来料品名错,或不同规格的混装,均不可接受;
本体变形,或有肉眼可见的龟裂等不可接受;
目检
检验时,必
外观检验
MA
组件封装材料表面因封装过程中留下的沙孔,其面积 10 倍以上的 须佩带静电
b) 截止电流 Icbo:在常温条件下,设定好各参数后
进行测试,其截止电流要符合产品规格书的要求。
c) 饱和电压 Vces:在常温条件下,设定好各参数后
进行测试,其饱和电压要符合产品规格书的要求。
d) 集电极-发射极的击穿电压 Vceb:在常温条件下, 晶体管测试
设定好各参数后进行测试,其击穿电压要符合产品规 仪
三极管来料抽样检验规范
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(ISO9001-2015)
1. 目的
作为 IQC 人员检验三极管类物料之依据。
2. 适用范围 适用于本公司所有三极管之检验。
3. 抽样计划 依 MIL-STD-105E,LEVEL II 正常单次抽样计划;具体抽样方式请参考《抽样计划》。
4. 允收水准 (AQL)
严重缺点(CR): 0; 主要缺点(MA): 0.4; 次要缺点(MI): 1.5.
5. 参考文件 无
检验项目
缺陷属性 缺陷描述
检验方式
备注
根据来料送检单核对外包装或 LABEL 上的 P/N 及实物
包装检验
MA
是否都正确,任何有误,均不可接受。
目检
包装必须采用防静电包装,否则不可接受。
实际包装数量与 Label 上的数量是否相同,若不同不
三极管检验规范
1.0目的
规范三极管检验标准及检验方法,确保来料符合要求。
2.0范围
适用于小功率三极管的来料品质验证。
3.0定义
Na
4.0责任
4.1IQC负责来料检验;
4.2MRB负责异常物料的处置。
5.0参考:
QP-B-002品质管制程序
6.0程序
6.1抽样方案
依据MIL—STD—105E按LEVELⅡ级标准抽样,样品必须是随机从不同的最好
包装单元中抽取规定数量的样品,不允许只在一个包装单元中抽取样品,除非只
有一个包装单元。
特殊要求另有说明除外。
6.2检验项目及检验标准:
检验目
检验标准
AQL
检验方法
外
观
1、包装内(外)均须有正规标签,且标识一致;
2、表面平整光滑,无破损现象,封装牢固;
3、丝印标识清晰且与外标鉴一致,符合BOM要求;
4、引脚光洁平直,无弯曲、断痕、氧化脱皮现象。
1.0
20cm处目视检测
尺
寸
1、管身尺寸与样品相符,厚度允差±0.05mm;
2、引脚尺寸与样品相符,长度允差±0.1mm,
直径允差±0.05mm,间距允差±0.5mm
0.4
游标卡尺检测
特
性
1、电流放大系数β符合订单要求;
※2、极间反向电流,符合分供方技术资料(Icbo、Iceo);
※3、极限参数符合分供方技术资料
(pcm)集电极最大耗散功率
(Icm)集电极允许过最大电流
U(br)ceo C-E极击穿电压
4、管脚可焊性良好。
0.4
△精确万用表测量β
△可焊性试验用锡炉检测
带※号表示此项暂不检测
三极管检验规范
QA-WI-578
版本
A/0
页序
3of3
检验
项目
检验标准
缺陷判定
检验方法
Min
Maj
Cri
特性
1.电路良好,无损坏,(断路或短路)
2.引脚极性分布正确,符合零件规格书要求
3.集电极-发射极和集电极-基极击穿电压,集电极-发射极饱和压降,集电极-发射极穿透电流,额定工作电流,电流放大系数均符合零件规格书要求
5.引脚无变形、压痕、披锋等迹象
×
×
×
×
×
以内臂长在70%左右对照样品目视检验
尺寸
1.体长、宽、厚符合国际标准件要求
2.引脚尺寸规格符合零件规格书要求
3.允许公差按零件规格书要求检测,若无要求时则
*一般情况下,尺寸公差:±0.1mm
×
×
×
参照样品检验,用游标卡尺、千分尺测量
制定
审核
批准
标准
三极管检验规范
标准
三极管检验规范
文件编号
QA-WI-578
版本
A/0
页序
1of3
版本
首版发行
制定
审核
日期
A/0
版本变更
批准:生效-578
版本
A/0
页序
2of3
1.0目的
规范三极管的检验内容与方法,以确保来料品质符合产品生产要求。
2.0范围
仅适用于非贴片型三极管的一般检验。
×
×
×
用晶体管特性图示仪、万用表、晶体管测试仪测量
实验
可焊性:*表面光泽,无毛刺/凹凸点
*表面着锡均匀,无发黑或不沾锡
×
锡槽法可焊性实验(温度380℃±20℃)
贴片三极管IQC来料检验作业指导书
类别
1
外观
2
尺寸
3
特性
4 焊接性能
检验项目
外观质量
结构尺寸 ★附着力 可焊性
电子元器件评价检验标准
物料类别
名
称
技术要求
检验方法
1.盘式结构的支架应完好无破损,器件保护带整洁完好; 2.支架上应有(供应商名称.产品名称.规格型号.数量.生产日期)。且应符合确认书要求; 3.元器件无损伤,引出端镀层无氧化、无锈迹、无污物. 4.对应的三个脚正确. 5.元器件上丝印应与样品一致. 6.附有供应商的出厂检验报告,报告内容必须与实物一致。 7.要求用防静电包装,|静电电压|≤0.2KV。 8.外包装及最小包装要求贴有 RoHS 标记,并提供合格 RoHS 报告。
5
电气性能
★★放大倍数 Cpk 值
放大倍数 Cpk 值≥1
饱和电压 Vces
Ices 应符合产品规格书要求(见附表)
按其规格书要求取其放大倍数范围,算 Cpk 输入条件 Ie,Ic 后,用万用表测出 Vces.
耐压测试仪 晶体管测试仪
万用表
B AQL=0.4
Ⅱ
放大倍数 hFE
hFE 应符合产品规格书要求(见附表)
B AQL=0.4
B (5;0,1)
S-4 特殊
将贴片三极管用红胶粘贴在专用的实验板,先过一次回流焊,然后再过波峰焊。沾锡面积应大于总 沾锡面积的 90%。
波峰焊 放大镜
B (5;0,1)
特殊
集电极-基极截止 电流 Icbo
ICBO 应符合产品规格书要求(见附表)
输入测试条件 Vcb,Ie=0 后,用耐压测试仪测出截止 电流 Icbo.
编制/日期
来料检验作业指导书-三极管来料检验作业指导.doc
二极管来料检验作业指导芯片来料检验作业指导2.4引脚长短一致,封装无松动。
2.5可焊性良好。
3、性能检验放大倍数,反向击穿电压应符合供方产品手册。
4、引出端强度引脚弯Illi、扌II转、拉力应无松动,无可见损伤,测试性能仍符合允许值范围。
四、检验方法8、所用仪器、仪表、工具:YB4810A半导器管特性图示仪、万用表、卡尺、稳压源一台、电烙铁等。
9、以设计文件提供的型号、规格或样品件为准,参照产品手册逐项检验。
10、外观质量以目测为主。
11、外形尺寸用卡尺测量。
12、引脚用手轻扳两下,目测松动与否。
13、可焊性采用手工烙铁焊法则。
14、性能测试7.1用半导体管特性图示仪测试发射板疋向电流传输电的静态值,符号HFE。
电流放大系数用0表示:3=ATC/ATB7.2集电极发射极反向击穿电压VCEO。
8、引出端强度:电容来料检验作业指导•、检测依据电阻来料检验作业指导2.4引脚长短一致,封装无松动。
2.5可焊性良好。
3、性能检验标称电阻值和允许偏差应符合供方产品手册。
4、引出端强度引脚弯Illi、扌II转、拉力应无松动,无可见损伤,测试性能仍符合允许值范围。
5、检验方法1、所用仪器、仪表、工具:万用表,电烙铁等2、以设计文件提供的型号、规格或样品件为准,参照产品手册逐项检验。
3、外观质量以目测为主。
4、外形尺寸用卡尺测量。
5、引脚用手轻扳两下,目测松动与否。
6、可焊性采用手工烙铁焊法则。
7、性能测试用万用表测出电阻阻值,符号用R表示引脚弯曲、扭转、拉力应无松动,无可见损伤,测试性能仍符合允许值范围。
四、检验方法-、检测依据。
作业指导书(贴片三极管)
本检验规范的目的是保证本公司所购贴片三极管的质量符合要求本检验规范适用于汉王制造有限公
司无特殊要求的贴片三极管。
2参照文件:
本作业规范参照本公司程序文件《进货检验控制程序》,《可焊性、耐焊接热实验规范》《电子产品(包括元器件)外观检查和尺寸检验规范》以及相关可靠性试验和相关技术、设计
参数资料及GB2828和GB2829抽样程序。
3规范内容:
3.1测试工量具及仪表:半导体管特性图示仪X J4810,游标卡尺,恒温铬铁,浓度不低于95%的
酒精
3.2缺陷分类及定义:
A类:单位产品的极重要质量特性不符合规定,或者单位产品的质量特性极严重不符合规定B类:单位产品的重要质量特性不符合规定,或者单位产品的质量特性严重不符合规定。
C类:单位产品的一般质量特性不符合规定,或者单位产品的质量特性轻微不符合规定。
3.3判定依据:抽样检验依GB2828标准,取特殊检查水平S-3 ;AQL : A类缺陷为0,
B类缺陷为0.4, C类缺陷为1.0。
标有♦号的检验项目抽样检验依GB282标准,规定RQL 为30, DL 为III,抽样方案为:n = 6,Ac = 0,Re = 1。
3.4检验项目、标准、缺陷分类一览表
批准人签名审核人签名制定人签名
批准日期审核日期制定日期。
贴片三极管检验指导书
修改次数
日期
内容
参考文件
供应商器件确认书、检验规范
文件编号
编制:
日期:
版本
审核:
日期:
受控印章
批准:
日期:
电压,观察击穿电压有无在相应的电压范围内.
6、判定/标识:
将不良品标识清楚并及时隔离,以物料检验报告单的形式交由上级处理。将PASS好的物料做好标识放入指定区域,并做好相关记录。
注意事项
1、物料送检时要及时检验。
2、检验时要重点检查来料标示是否与确认书一致。
3、检测时,测量资料是否在规格标准的误差范围内。
检验指导书
ห้องสมุดไป่ตู้机型
适用于通用产品
工序时间
无
工序名称
贴片三极管检验
工序编号
无
测试工具/仪器:万用表/半导体特性图示仪
检验员
IQC
图示:
电气图
实物图
检验步骤及内容
2)与(0,4)之间为OK。(具体波形图示参照相应规格承认书或样板).
。集电极和发射极击穿电压V(BR)CEO测试:将电压/电流级旋钮调节到最小电流值,打到相应电压档,调节峰值
来料检验规范
来料检验规范
1.目的:
控制上线物料质量,规定物料接收的检验标准,使检验时有据可依,确保生产使用的物料都是合格品。
2.范围:
本检验标准适用于原材料、辅料、半成品或成品等的进入公司的所有物料。
3.检验方式:
若无特别规定,检验采用抽检方式。
4.缺陷类别:
5.检验内容:
电气性能和外观检验.
6.取样:
检验样品从待检的批量中随机抽取。
7.合格与不合格的判定:
7.1.每个样品统计出检验不合格数量:A或B;
7.2.没有任何缺陷的样品为OK;
7.3.根据样品检验结果,对照抽样方案判定合格数量是否达到要求数
量,若在样品中不合格品大于或等于抽样方案对应的不合格判定数,则该批物料为不合格。
8.不合格品的存放:
在抽检过后,此批物料需退回供应商,应将抽到不合格的样品,另外包装并作明确标识,放回原包装内,以便日后供应商复核。
9.检验报告的填写:
填写好报告上对应的栏目,检验无缺陷只需在检验栏填写OK或检验
无不良,有缺陷就在品质状态栏填写缺陷原因。
发光二极管LED,三极管-来料检验规范
5.本检验规程未尽项目,需检验可参照国标要求。当检验规范的检验项目在技术要求中未作规定时,可不作检验要求。
6.来料规格型号与BOM或封样不符时,缺陷类别为重缺陷(MA)。
7.“★”表示选定项目。
检验
项目
品质现象描述
检验手段
及工具
缺陷类别
备注
CR
MA
MI
包
装
1.包装无标识,外标识与实物不一致。
目测
★
2.包装箱破损及严重脏污,包装不良。
★
3.不同规格型号混装。
★
外
观
1.有黑点,表面划伤。
目测
★
色点大小不超过0.25mm,(未作特殊要求时)。
2.表面破损、变形,脚断。
★
3.引脚脏污、氧化,有毛刺。
★
4. LED引脚极性不符要求,LED负极与缺口不一致。
★
5.胶体颜色不一致。
★
6.底部封装不平。
★
7.数码管字符与要求不符,笔划粗细不均匀。
★
8.数码管保护膜翘起,破损。
★
9.混料,混有其它规格型号。
★
尺寸
外形尺寸不符要求(每批抽10PCS检验,判定标准AC=0)。
游标卡尺
★
见技术要求及测试架操作规程
性
能
1.不发光。
测试架
★
2.亮度不符要求(参照封样)。
★
3.亮度不一致。
★
4.数码管显示缺划、多划。
★
5.数码管显示漏光。
★
6.ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ光颜色不符要求(参照封样)。
★
电子类材料检验标准
1.目的规范元器件的检验方法、检验项目及质量要求,确保所验收的物料品质符合公司及相关国家标准。
2.适用范围适用于元器件的检验、试验、验收。
客户另有要求或另有规定时,依客户规定执行。
3.职责3.1.品质部检验员负责对来料物品进行检验和判定。
3.2.仓管员负责对进仓的物品进行数量清点和防护。
4.内容:4.1.检验面定义A面:指物品在使用状态时可直接看到的区域。
如:物品的正面。
B面:不在直视范围内,但暴露在外的面。
如:物品的两侧面、背面。
C面:正常使用时看不见的面,需拆开面板才可见的面。
4.2.检验条件要求4.2.1.检验光源:普通日光灯源300-500 lux。
4.2.2.检验角度:产品与水平成30度角。
4.2.3.外观检验距离:眼睛与被检物距离30cm±10cm。
4.2.4.外观检验时间:每个面10s。
4.3.抽样标准:4.3.1.外观按GB/T2828.1正常检查单次抽样水平Ⅱ级,AQL允收水平:MI=1.5 / MA=0.65 / C=0(AC=0 / RE=1,抽样方案主要以0.65抽取数量),尺寸、电性能按GB/T2828.1正常检查单次抽样水平S-1级,以0收1退为判定标准。
4.3.2.全检时,按合格数接收。
4.3.3.抽样原则:物品每箱上中下随机抽取。
4.4.免检、验证:对于以下有固定形式封装的电子元器件,进料检验时只需对包装、性能(阻值、容量等)进行验证即可,相关尺寸抽检1-5 Pcs进行核对,检验报表无需记录。
4.4.1.贴片电阻、电容、二极管、三极管类;4.4.2.IC类;4.4.3.MOS管;4.5.检验内容4.5.1.LED(发光二极管)备注:如来料有分Bin,取样方式参考如下:4.5.2.色环电阻4.5.3.插件电容4.5.4.保险电阻、保险丝管4.5.5.压敏电阻4.5.7.二极管检验4.5.9.MOS管4.5.10.变压器4.5.11.PCB、铝基板4.5.12.PCBA检验(贴片、插件半成品)4.5.13.IC(集成电路)4.5.14.电子线、端子线4.5.15.电源、驱动成品检验批准/日期:审核/日期:制定/日期:。
三极管进料检验规范
不能弯曲,或轻易折断。
MAJ
放大倍数
万
用
表
8050放大倍数在280—350之间。
9014放大倍数在300—400之间。
超出BOM要求放大倍数。
MAJ
CEU/CBU
直接装机板作实验,不击穿,正常。
工作不正常,烧毁。
MAJ
ห้องสมุดไป่ตู้制订:
审核:
批准:
文件编号
YXD-WI-PZ-009-18
制定日期
2008-3-20
文件名称
三极管进料检验规范
页次
1
版本
A/1
1.目的用途:严格检验,控制不良品使用,保证来料满足产品质量要求。
2.适用范围:本厂所用的三极管8050、9014等。
3.抽样依据:按《抽样作业办法》正常Ⅱ级水准,CRI=0 , MAJ=0.65 , MIN=1.5。
4.作业内容
项目
内容
工具
检验标准、技术要求
缺陷描述
阶层
包
装
标识
目视
外包装有明确的标贴,注明产品名称、规格、数量、日期等。
标识不清楚,不能辩认。
MIN
物料
目视
包装统一,干净整洁,无破损,不影响搬运、储存,无错装、混装、少装。
包装不统一,有脏污、潮湿、破损,影响搬运、储存。
MIN
外
观
印字
目视
印字清楚,型号、规格,放大倍数范围能辩认。
不能辩认规格、型号,放大倍数范围。
MIN
针脚
目视
针脚光亮,无生锈,平直。
不光亮,生锈,弯曲。
MIN
结
构
针脚
三极管来料检验标准
三极管极性区分: 使用指针万用表判别基极,将档位调至 Rx1 档位,用红黑表笔任一表笔作定点,另一支 注意事项:
表笔分别接触另外两个元件引脚,导通有数字显示,此时表笔所定的点为基极。(如果 测试时手尽量不
测量不到,则反复寻找定点测量)。
要接触元件引脚 部分,以免人体对
元件测试精准度
产生偏差
NPN 型发射极箭头朝外,内部集电极电流方向是由 C 到 E,使用指针万用表 Rx1 档位, 黑表笔接集极,若此时导通,则说明三极管的集极为 NPN 型材料。
C 集电极
B 基极 E 发射极
PNP 型发射极箭头朝内,内部集电极电流方向是由 E 到 C,使用指针万用表 Rx1 档位, 红表笔接集极,若此时导通,则说明三极管的集极为 PNP 型材料。
C 集电极 B 基极
E 发射极
性能测试 检测放大倍数:将万用表置于 hFE 档,按来料三极管的极性及电极,相对应插入万用 表 hFE 测试孔,万用表显示数字即为该元件的放大倍数。 饱和压降测试:在相应技术规格书要求电流下,测试其 c,e 脚的饱和压降。测试图如下: 图示为 NPN 型三极管测试连线图,PNP 型测试时,连接极性与此相反。
尘是可被接收的;
5、 可调直流电 源
4、 使用恒温洛铁 235±5℃,时间 2±0.5 秒检测引脚上锡焊料是否能自由流动或 2 秒内
流动。
三、 尺寸:
参照文件:
1、 使用游标卡尺测量三极管的长度、直径、等相关尺寸是否满足我司要求,尺寸参数 样品规格承认书
详见样品承认书。
进料检验抽样方 案
四、 性能:
来料检验标准作业指导书(非本人作品)
类 别:电子类
一、目的
完善公司质量作业标准,规范物料的进料检验方式,确保进料质量满足公司及客户质量要求。 二、适用范围
三极管来料检验标准
File No.
物料名称:三极管(如图示)
P/N :TR-PDTC114EU P/N :TR-BC847
P/N: TR-BC807 P/N: TR-BC857
2.2、根据三极管不同结构(NPN 或PNP),将晶体管测试仪调节到对应区域所需测试档位.晶体管测试
仪引出排线插根据不同测试参数选择P1~P5插座中相应插座位。
(如图1-2)
图1-2
三、贴片三极管参数测试步骤: 3.1、hFE (放大倍数)测试:
3.1.1、将晶体管测试仪开关旋转到hFE 档.测试仪外接插头连接到测试架P4插座中. 3.2.2、直接在显示屏上显示测试参数。
(hFE 测量由小量程到大量程)
3.2、 BVces (基极与发射极短路,集电极和发射极之间的反向击穿电压)测试:
3.2.1、将晶体管测试仪开关旋转到 V(BR)区域,测试仪外接插头连接到测试架P5插座。
3.2.2、按下TEST 键,高压指示红灯亮.显示屏上显示测试参数。
(V(BR)量程由大到小,正常情况下
200V 档与1000V 档测量结果应非常接近)
拟定/日期 审核/日期 批准/日期 浅蓝色部分:NPN 测试区
深蓝色部分:PNP 测试区
测试架P1插座
测试架P3插座
测试架P4插座 测试架P5插座
测试架P2插座 Test 高压测试按钮
HV 高压指示灯
LCD 显示读数屏
开关旋钮。
电子元器件来料检验标准
三极管PMBS3906 *=w:Made in China
版本
A0 页次 3/6
制作日期:2016-11-24
AQL CR MAJ MIN
∨
∨
1)二极管:万用表负极接有标识点一边,正极接
另一边,导通则OK,反过来接不导通则OK(规格上
有要求的按照规格上测试)
2)NPN和PNP型三极管测试:万用表选择二极管档
制作日期:2016-11-24
AQL CR MAJ MIN
∨
∨ 陶瓷电容
尺寸测试
目视/卡尺
按照规格书要求,测试尺寸在要求范围内
∨
性能测试
数字电桥(LCR 仪)
选择电容测试档,测试电容的容值在规格范围内
∨
※※※资料文件版权为WI-QC所有,不得私自打印、复印※※※
文件编 制号作部
门
LJN-QA-WI-032 品质部
二极管
位测试,三极管三个脚其中一个脚红笔对其他两个
性能测试
数字万用表 脚黑笔都导通的为NPN型;其中一个脚黑笔,另外
∨
两个脚点红笔,都导通的为PNP型,红(黑)笔选中
的这个点叫B(基)极,另外两个则是C(集电)极
和E(发射)极3)卷盘编带测试:反向45度拉盖带
无粘料现象,盖带与载带成15度角时力度为60g -
6.5 IC芯片检验
检查项目
检查工具
电子元器件来料检验标准
允收标准
包装/ 标识
目视
1)来料外包装应无受损,包装有标识,标示内容 包含品名规格、数量或重量、生产厂家、生产日期 、生产批号及品质合格标识,且其品名规格、数量 与报检单上的要求相一致,包装不能破损,抽真空 良好 2)最小包装贴纸上制作商描述与BOM、规格书或承 认书上描述一致,包装和封装方式与要求一致(散 装或编带装) 3)卷盘编带或包装管或托盘无散乱、变形,包装 内IC方向一致 4)有MSL防潮等级要求的,开封或包装漏气的不能 超过要求时间,变色卡不能变色,封真空良好
IQC来料检验标标准
IQC来料检验标准一看采购订单,二看物料,三看标准,四才检,五出报告一、贴片类1)PCB板检验比例:每批次10片检验方发:目视检验项目:1)PCB丝印是否正确2)焊盘是否氧化3)P CB是否变型2) 电容、电阻、电感抽检比例:5PCS/盘检验方法:测试(万用表、电容表)及目视检验项目:1)检测料件实际数值与料盘标示数值是否相同或在误差范围内2)料件焊盘是否氧化3)料件表面有无断裂4)是否是按BOM要求的允许及供应商品牌。
3) 二极管、三极管、IC抽检比例:5PCS/盘检验方法:测试(测试架)及目视检验项目:1)性能测试(测试架)2)料件焊盘是否氧化3)料件表面有无断裂4)对照样品丝印.(实物)5)是否是按BOM要求4) CPU(2085.2051)检验比例:5PCS/盘检验方法:测试(测试架)检验项目:功能测试,引脚平整度,垂直度良好,无氧化5)按键、拨动开关、拨轮址抽检比例:每批号抽检5%(总数小于20PCS)检验方法:目视、高温测试(高温箱)及制具测试检验项目:1)焊盘是否氧化2)料件是否手感良好(高温前后)3)料件是否100%可以触发(老化220度、10分钟后,制具测试)6) 贴片USB接头检验比例:每批次10pcs检验方法:目视检验项目:1)焊盘有无氧化2)金手指折弯处是否有明显压痕3)定位柱是否正确4)焊盘引脚平整度是否良好二、手焊类:1)排线、晶振、免检注:如以上物料在生产中出现品质问题则针对问题点连续五批抽检、直至连续三批没有问题方可恢复免检。
2)电池(充电电池)抽检比例:每批号3%检验项目:1)尺寸、(a物料规格,b实际装机)2)电压大于3.7V3)电池充放电时间(按实际情况检测)4) 电池容量3)背光源抽检比例:每包2%(总数小于5PCS)检验项目:1)尺寸(料件使用规格)2)表面有无异物、污垢锡纸折弯是否过长3)发光是否艳丽光亮,七彩是否缺色偏色4)OLED抽检比例:10%检验方法:性能测试,目视检验项目:1)有无缺画、多画、偏暗、偏亮、偏色(测试架检验)2)有无划伤、压伤、焊盘有无氧化5)USB接头抽检比例:每批号2%(总数小于5PCS)检验方法:目视检验项目:1)焊盘有无氧化2)金手指折弯处是否有明显压痕3)尺寸宽12mm±0.30,高4.5mm±0.3,戴帽检查4)用USB线与USB接头进行试插,看是否合适6)耳机扦座:抽检比例:每批号2%检验方法:目视,组装检验项目:1)焊脚有无氧化,缺少,塑皎破裂2)插耳机10次看有无松动,接触不良等现象7)正负极检验比例:每批号10pcs.检验方法:目视实组检验项目:1)有无氧化和镀金不良2)确认是否与样品一致(圈数,软硬度)3)实组后电池是否松动8)LCM抽检比例:每批号:10%检验项目:1)有无缺画,多画2)有无屏划伤,压伤,焊盘有无氧化9)FM模块抽检比例:每批号10%检测项目:1)模块主IC是否按采购订单送货(检查型号规格)2)能自动收台,收台后有无杂音三、装配料1)机壳(塑胶、五金)抽检比例:每批号5%(实组二套)检验方法:目视,实组(装机芯)检验项目:1)外观:看有无划伤,掉油,色差,尘点,氧化不良2)有无变色、断字、漏字、印反(客户特殊丝印由销售部签样确认,IQC一定要用胶带粘扯看)3)实组2套检验缝隙(装配组配合)2)电镀件抽检比例:每批号5%(实组2套)检验方法:目视,实组检验项目:1)外观:有无划伤,漏电度,电度不良,绝缘油多。
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1目的
本检验规范的目的是保证本公司所购贴片三极管的质量符合要求。
2 适用范围
本检验规范适用于本公司生产产品无特殊要求的贴片三极管。
3 规范内容:
3.1测试工量具及仪表:晶体测试特性仪,恒温铬铁,浓度不低于95%的酒精3.2缺陷分类及定义:
A类:单位产品的极重要质量特性不符合规定,或者单位产品的质量特性极严重不符合规定。
B类:单位产品的重要质量特性不符合规定,或者单位产品的质量特性严重不符合规定。
C类:单位产品的一般质量特性不符合规定,或者单位产品的质量特性轻微不符合规定。
3.3判定依据:抽样检验依样品为标准:
3.4检验项目、标准、缺陷分类一览表。