单粒子烧毁、栅穿效应的电路模拟与测试技术

单粒子烧毁、栅穿效应的电路模拟与测试技术
唐本奇;王燕萍;耿斌;杜凯
【期刊名称】《电力电子技术》
【年(卷),期】2000(034)004
【摘要】建立了功率MOS器件单粒子烧毁、栅穿效应的等效电路模型,介绍了模型参数提取方法.采用PSPICE电路模拟程序,对单粒子烧毁、栅穿效应机理进行了模拟和分析,建立了利用Cf-252裂片源模拟空间重离子单粒子烧毁、栅穿效应的测试装置.实验结果表明,本文建立的模拟方法、测试系统和实验方法是可行的和可靠的.
【总页数】4页(P56-59)
【作者】唐本奇;王燕萍;耿斌;杜凯
【作者单位】西北核技术研究所,西安,710024;西北核技术研究所,西安,710024;西北核技术研究所,西安,710024;西安电力电于技术研究所,西安,710061
【正文语种】中文
【中图分类】TN7
【相关文献】
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晓华
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