基于NIOS II嵌入式系统的芯片自动测试系统设计

基于NIOS II嵌入式系统的芯片自动测试系统设计
刘忠超
【期刊名称】《电子质量》
【年(卷),期】2016(0)12
【摘要】随着国内芯片产业的不断发展，芯片供货需求大，但是批量测试无法满足供货要求，为此，该文提出一种基于NIOS II嵌入式系统的芯片自动测试系统设计。

NIOS II是Altera公司推出的一种高效、灵活的可编程片上系统，由内置NIOS II软核处理器[1]、存储器、通信接口以及自定义外设构成，编写下位机自动测试控制程序并下载进FPGA，使用串口进行上下位机通信，从而完成芯片自动测试系统设计。

%With the constant development of integrated circuit industry in domestic,the problem of chip batch testing becomes prominent,which can not meet the demand of mass
production.Therefore,this paper prop-oses a chip automatic testing system based on NIOS II embedded system,which is an efficient and flexible programmable system on chip introduced by Altera company.The system include an internal NIOS II soft p-rocessor,memory,communication interface and the customization of peripherals,through writing the low ma-chine control program and download into FPGA,and communicating with PC through Serial port,it can reali-ze the automatic testing system.
【总页数】4页(P84-87)
【作者】刘忠超
【作者单位】连云港杰瑞电子有限公司，江苏连云港222006
【正文语种】中文
【中图分类】TP2
【相关文献】
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