370A测试仪操作指导书

370A测试仪操作指导书
福建捷联电子有限公司编号：OPE- 30 版本：A 主题：370A测试仪操作指导书
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起草者: 薛小华日期: 09 年 3 月 4 日
审查: 日期: 年月日
核准: 日期: 年月日
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本程序根据实际需要作如下更改，已经相关部门会签并呈报核准，签核意见及变更具体内容见附页《文件新建/更改申请单》。

主题：370A 测试仪操作指导书
1.目的：确保仪器设备的正确使用及测试结果的准确性，防止仪器设备的误操作。

2.适用范围：适用于公司内所使用各类分立半导体电参数测量。

3.仪器主要功能：用于测量晶体二、三极管击穿电压、正向压降、漏电流、放大倍数等电性参数。

4.面板说明:
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①“OUTPUTS”开关：测试时，需将开关上拔向“ENABLED”。

测量完毕，将“OUTPUT”开关
下拔置于“DISABLED”。

②电源开关。

③测试夹具的插孔。

④选择测试夹具的位置按键:如测试夹具插在左边，则按左边的按键，使之指示灯亮。

⑤电压或电流大小的微调旋钮。

⑥“CURSOR”指针按键，测试时置于“DOT”.
⑦输出为曲线或点的选择键，一般置于“LONG”或“SHORT”，防止晶体管过热，引起测试损
坏。

除非需要确认曲线状况，则置于“OFFSET”。

（短时间确认）。

⑧最大电压和功率量程选择键：为防止对零件的破坏，需视具体功率大小设置最大量程。

⑨输入波形选择键：视测试参数选择。

⑩波形上的测试点选择位置：若测试输出曲线时，需将曲线上的“亮点”移到曲线的最上端，以确保测试参数的正确性。

“HORIZONTAL”“VERTICAL”的刻度值旋钮。

输入“电压”或“电流”选择按钮：测试二、三极管等电流控制元件，选择为“电流”，测试MOSFET压控元件，选择为“电压”。

“STEP GENERATOR ”产生合适的STEP输出特性图.
5.具体操作步骤说明：
5.1开机
5.1.1 检查“OUTPUTS”开关，使之置于“ENABLED”位置。

5.1.2 打开电源开关，经10秒钟自检后，370A处于初始化状态。

5.1.3 为了后续测量的方便，按“SAVE”键，供后续测量状态参考。

5.1.4 选择夹具，依据SPEC. 正确安装待测器件，并正确选择测量功率、电压及测量波形。

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5.1.5 依据夹具插的位置，选择“LEFT、STANDBY、RIGHT”于
LEFT或RIGHT位置。

5.1.6 置“CURSOR”于“DOT”。

5.1.7 依所测晶体管按照下面的2、3、4点进行设置。

5.1.8 按照晶体管的具体SPEC.设置“HORIZONTAL”“VERTICAL”的刻度值。

5.1.9 将测量体置于测试夹具中，开始测量。

5.1.10 若为了测量方便可按“SAVE”键储存入E区，若须再测时可按“RECALL”键.
5.1.11 测量完毕，将“OUTPUT”置于“DISABLED”。

5.2 二极管参数的测量
5.2.1 V F(正向电压)的测量
设置：CONFIGURATION：COLLECTOR=COLLECTOR SUPPLY
BASE=OPEN(EXT)
EMITTER=COMMON
COLLECTOR SUPPLY POLARITY：+
HORIZONTAL：COLLECTOR
VERTICAL：COLLECTOR
将“OUTPUTS”开关置于“ENABLED”，慢慢旋动“COLLECTOR SUPPLY”使 COLLECTOR 值慢慢增大，当正向电流IF 满足SPEC要求时，HORIZONTAL CURSOR 即指示正向电压V F。

注：当感觉到测量体在发热时，应使用“PULSE”中“LONG”或“SHORT”。

5.2.2 反向电流IR
设置：CONFIGURATION：COLLECTOR=COLLECTOR SUPPLY
BASE=OPEN(EXT)
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EMITTER=COMMON
COLLECTOR SUPPLY POLARITY：-LEAKAGE(功率二极体选-DC) HORIZONTAL：COLLECTOR
VERTICAL：COLLECTOR
将“OUTPUTS”开关置于“ENABLED”，慢慢增大“COLLECTOR SUPPLY”当所加的反向电压VR满足SPEC要求时，VERTICAL CURSOR即指示反向电流IR
5.2.3 ZENER二极体的ZENER电压VZT
设置：CONFIGURATION：COLLECTOR=COLLECTOR SUPPLY
BASE=OPEN(EXT)
EMITTER=COMMON
COLLECTOR SUPPLY POLARITY：
HORIZONTAL：COLLECTOR
VERTICAL：COLLECTOR
将“OUTPUTS”开关置于“ENABLED”，慢慢增大“COLLECTOR SUPPLY”当反向电流满足SPEC要求时，HORIZONTAL CURSOR 即指示ZENER电压VZT。

5.3 三极体主要参数的测量
以NPN三极体为例进行说明：
5.3.1 HFE的测试
设置：CONFIGURATION：COLLECTOR=COLLECTOR SUPPLY
BASE=STEP GEN
EMITTER=COMMON
COLLECTOR SUPPLY POLARITY：：
HORIZONTAL：COLLECTOR
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VERTICAL：COLLECTOR
STEP GENERATOR：CURRENT
将“OUTPUTS”开关置于“ENABLED”，慢慢增大“COLLECTOR SUPPLY”同时调节“STEP GENERATOR ”，产生合适的输出特性图，移动光点，调节“OFFSET”，
使光点处电压VCE及电流IC满足SPEC要求，则指示出HFE的值。

注：若测量体发热或测量大功率时，应使用“PULSE”中的“LONG”或“SHORT”。

的测试
5.3.2 V CE(sat
)
设置：CONFIGURATION：COLLECTOR=COLLECTOR SUPPLY
BASE=STEP GEN
EMITTER=COMMON
COLLECTOR SUPPLY POLARITY：：- )
HORIZONTAL：COLLECTOR
VERTICAL：COLLECTOR
依据 SPEC. 给定的 IB 选择合适的 STEP 的数目和每个 STEP 的数值，调节“COLLECTOR SUPPLY”使IC满足SPEC.要求。

之值。

当IB和IC满足SPEC.要求时，HORIZONTAL CURSOR即指示 V CE(sat)
注：若测量体发热或测量大功率时，应使用“PULSE”中的“LONG”或“SHORT”。

的测试
5.3.3 V
BE(sat)
按3.2节步骤调节IB、IC，在IB、IC满足SPEC条件下，将“HORIZONTAL”置
之值。

BASE/EMITTER，则HORIZONTAL CURSOR 即指示 V
BE(sat)
注：若测量体发热或测量大功率时，应使用“PULSE”中的“LONG”或“SHORT”。

5.3.4 Icbo的测试
设置：CONFIGURATION：COLLECTOR=COLLECTOR SUPPLY
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BASE=COMMON
EMITTER=OPEN(EXT)
COLLECTOR SUPPLY POLARITY：+LEAKAGE(PNP：-LEAKAGE)
HORIZONTAL：COLLECTOR
VERTICAL：EMITTER
当光点处VCB满足SPEC之规定时，VERTICAL CURSOR 即指示Icbo。

5.3.5 Iebo的测试
设置： CONFIGURATION： COLLECTOR=OPEN
BASE=COLLECTOR SUPPLY
EMITTER=COMMON
COLLECTOR SUPPLY POLARITY：-LEAKAGE(PNP：+LEAKAGE) HORIZONTAL：COLLECTOR
ERTICAL：EMITTER
当光点满足VEB值时，VERTICAL CURSOR即指示Iebo。

5.3.6 V(BR)CBO的测试
设置：CONFIGURATION：COLLECTOR=COLLECTOR SUPPLY
BASE=COMMON
EMITTER=OPEN(EXT)
COLLECTOR SUPPLY POLARITY：：
HORIZONTAL：COLLECTOR
VERTICAL：COLLECTOR
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调节COLLECTOR SUPPLY，使漏电流IC达到SPEC规定值，此时HORIZONTAL CURSOR 指示为V(BR)CBO。

5.3.7 V(BR)CEO的测试
设置：CONFIGURATION：COLLECTOR=COLLECTOR SUPPLY
BASE=OPEN(EXT)
EMITTER=COMMON
COLLECTOR SUPPLY POLARITY：：
HORIZONTAL：COLLECTOR
VERTICAL：COLLECTOR
调节COLLECTOR SUPPLY，使漏电流IC达到SPEC规定值，此时HORIZONTAL CURSOR 指示为V(BR)CEO。

5.3.8 V(BR)EBO的测试
设置： CONFIGURATION： COLLECTOR=OPEN
BASE=COLLECTOR SUPPLY
EMITTER=COMMON
COLLECTOR SUPPLY POLARITY：：
HORIZONTAL：COLLECTOR
VERTICAL：COLLECTOR
调节COLLECTOR SUPPLY，使漏电流IE达到SPEC规定值，此时HORIZONTAL、 CURSON 即为 V(BR)EBO。

5.4 MOS管主要参数的测试
以N沟道为例进行测试说明，P沟道则“COLLECTOR SUPPLY POLARITY”与 N沟道相反。

5.4.1 BVDSS的测试
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设置：CONFIGURATION：COLLECTOR=COLLECTOR SUPPLY
BASE=SHORT(EMITTER)
EMITTER=COMMON
COLLECTOR SUPPLY POLARITY：
HORIZONTAL：COLLECTOR
VERTICAL：COLLECTOR
STEP GENERATOR:VOLTAGE
调节COLLECTOR SUPPLY，当ID满足SPEC时，此时HORIZONTAL CURSOR 指示为BVDSS。

5.4.2 IDSS的测试：
设置：CONFIGURATION： COLLECTOR=COLLECTOR SUPPLY BASE=SHORT(EMITTER)
EMITTER=COMMON
COLLECTOR SUPPLY POLARITY：+ LEAKAGE
HORIZONTAL：COLLECTOR
VERTICAL：COLLECTOR
STEP GENERATOR:VOLTAGE
调节COLLECTOR SUPPLY，当VDS满足SPEC时，此时
VERTICAL CURSOR指示为IDSS。

5.4.3 VGS(th)的测试
设置：CONFIGURATION：COLLECTOR=COLLECTOR SUPPLY BASE=OPEN
EMITTER=COMMON
COLLECTOR SUPPLY POLARITY：+
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HORIZONTAL：COLLECTOR
VERTICAL：COLLECTOR
STEP GENERATOR：VOLTAGE
调节COLLECTOR SUPPLY，当满足SPEC所规定的VDS、ID时CURSON即指示出VGS(th)。

注：若测量体发热或测量大功率时，应使用“PULSE”中的“LONG”或“SHORT”。

5.4.4 Igss的测试
设置： CONFIGURATION： COLLECTOR=OPEN
BASE=COLLECTOR SUPPLY
EMITTER=COMMON
COLLECTOR SUPPLY POLARITY：+ LEAKAGE
HORIZONTAL：COLLECTOR
VERTICAL：EMITTER
STEP GENERATOR：VOLTAGE
外部将DS极短路，当VGS满足SPEC要求时，CURSOR即指示出Igss。

5.4.5 RDS(ON)的测试
设置： CONFIGURATION：COLLECTOR=COLLECTOR SUPPL BASE=STEP GEN
EMITTER=COMMON
COLLECTOR SUPPLY POLARITY：+
HORIZONTAL：COLLECTOR
VERTICAL：COLLECTOR
STEP GENERATOR：VOLTAGE
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调整VDS、ID，使之满足SPEC给定条件，置“CURSOR”于“LINE”，此时 VERTICAL CURSOR即指示出跨导RDS(ON) 之值。

注：若测量体发热或测量大功率时，应使用“PULSE”中的“LONG”或“SHORT”。

5.5 可控硅/晶闸管主要参数的测试[A→C；G→B；K→E]
5.5.1 IDRM：晶闸管加上断太重复峰值电压时的峰值电流的测试
设置：CONFIGURATION：COLLECTOR=COLLECTOR SUPPLY BASE=OPEN（EXT）
EMITTER=COMMON
COLLECTOR SUPPLY POLARITY：+ LEAKAGE
HORIZONTAL：COLLECTOR
VERTICAL：COLLECTOR
将“OUTPUTS”开关置于“ENABLED”，慢慢增大“COLLECTOR SUPPLY”，当所加的VAK满足SPEC要求时，VERTICAL CURSOR即IDRM值。

5.5.2 IRRM：晶闸管加上反向重复峰值电压时的峰值电流
设置：CONFIGURATION：COLLECTOR=COLLECTOR SUPPLY BASE=OPEN（EXT）
EMITTER=COMMON
COLLECTOR SUPPLY POLARITY：- LEAKAGE
HORIZONTAL：COLLECTOR
VERTICAL：COLLECTOR
5.5.3 VTM：晶闸管通以n倍或其他规定倍数的额定通态平均电流时的瞬态峰值电压
设置：CONFIGURATION：COLLECTOR=COLLECTOR SUPPLY
BASE=STEP GEN
EMITTER=COMMON
COLLECTOR SUPPLY POLARITY：
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HORIZONTAL：COLLECTOR
VERTICAL：COLLECTOR
STEP GENERATOR：VOLTAGE
调节“COLLECTOR SUPPLY”，当纵坐标电流IATM达到SPEC 值时，水平坐标对应点即VTM。

注：读数时用点扫描。

5.5.4 IGT：使晶闸管由断态转入通态所必须的最小G极电流。

设置：CONFIGURATION：COLLECTOR=COLLECTOR SUPPLY BASE=STEP GEN
EMITTER=COMMON
COLLECTOR SUPPLY POLARITY：
HORIZONTAL：COLLECTOR
VERTICAL：STEP GEN
STEP GENERATOR：CURRENT
调节“COLLECTOR SUPPLY”，当第一个触发线，则格数*STEP GENERATOR值即为IGT。

5.5.5 VGT：产生G极触发电流所必须的最小控制极电压。

设置：CONFIGURATION：COLLECTOR=COLLECTOR SUPPLY BASE=STEP GEN
EMITTER=COMMON
COLLECTOR SUPPLY POLARITY：
HORIZONTAL：STEP GEN
VERTICAL：COLLECTOR
STEP GENERATOR：VOLTAGE
调节“COLLECTOR SUPPLY”，当第一个触发线，则格数*STEP GENERATOR值即为VGT。

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6.注意事项
6.1 测试每种器件之前，须熟悉其SPEC. 。

6.2 测量时，要戴防静电手环。

6.3 每种器件测试之前，须检查器件与夹具间的接线关系正确无误及二脚间是否有短路现象。

6.4 每次测试完毕关机前须将“OUTPUTS”开关置于“DISABLED”位置。

6.5 出现异常情况，及时报告技术人员。

6.6 测试过程中，需避免在电压电流未调零时，用手抓待测的零件本体，尤其是大功率器件，
以免零件发热，烫伤手。

6.7 需避免将功率设置过大，造成对零件的破坏。

6.8 测试完零件，需避免混料。