01实验一逻辑门的使用

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实验01 基本逻辑门电路实验(1)

实验01 基本逻辑门电路实验(1)

实验一基本逻辑门实验(1)一、实验目的1、通过实验学习掌握Quartus II软件的基本操作流程。

2、通过实验理解全加器电路的设计方法,并掌握在Quartus II软件中通过绘制电路图的形式进行芯片设计的过程。

3、学习Quartus II软件的“仿真”功能。

二、实验步骤1、在“我的电脑”中新建一个目录。

(注意:目录尽量建立在自带的U盘上,以防实验工程被还原)2、打开QuartusII软件,点击菜单中的“File->New Project Wizard”选项,启动新建工程向导程序,新建一个Quartus II工程。

工程文件保存在第1步创建的目录中,工程命名为:“Exp01”。

图1 新建工程向导启动图2 向导开始直接点击“Next”按钮图3 向导第1步,设置工程的路径和工程名向导第2步的设置是向新建工程中导入已经存在的设计文件,这里不用导入所以直接点击“Next”按钮跳过这一步。

向导第3步选择FPGA芯片,这里要按照实验箱上的芯片型号选择:Family选择“Cyclone II”,Available devices 选择“EP2C5T144C8”,其它地方保持默认选择。

图4 向导第3步设置工程用芯片向导程序第4、5步不用做设置,直接点击完成按钮就可以完成工程的建立了。

图5 工程建立完成,Project Navigator出现工程列表3、点击菜单“File->New”选项,打开新建文件窗口,选择“Design Files->Block Diagram/Schematic File”,再点击“OK”按钮,创建一个电路图设计文件。

图6 新建文件窗口4、点击菜单“File->Save As”选项,将新建的电路图设计文件保存在工程目录中,注意:文件名要与工程名保持一致:Exp01.bdf。

图7 新建文件保存图8 文件名与工程名保持一致5、点击设计文件窗口上的“Symbol Tool”工具按钮,如图所示:。

实验一逻辑门电路的逻辑功能及测试

实验一逻辑门电路的逻辑功能及测试

实验一逻辑门电路的逻辑功能及测试逻辑门电路是数字电子电路中常用的一种电路,用于实现逻辑运算。

逻辑门电路由逻辑门和逻辑门之间的连接组成。

不同的逻辑门具有不同的逻辑功能,如与门、或门、非门等。

下面将对常见的逻辑门电路的逻辑功能和测试方法进行详细介绍。

一、与门(AND Gate)与门是最基本的逻辑门之一,它的逻辑功能是输入信号同时为高电平时输出高电平,否则输出低电平。

与门的通用符号是一个带有两个输入引脚和一个输出引脚的长方形。

常用的与门有两输入与门、三输入与门等。

测试方法:1.连接电路:将与门的输入引脚与一个电源和一个接地电路连接,将输出引脚连接到一个LED灯。

2.输入测试:将输入引脚分别连接到电源和接地,检查LED灯的亮灭情况。

当输入引脚都为高电平时,LED灯应该亮起;否则,LED灯应该熄灭。

二、或门(OR Gate)或门是另一种常见的逻辑门,它的逻辑功能是只要有一个输入信号为高电平,输出就为高电平;只有所有输入信号都为低电平时,输出才为低电平。

或门的通用符号也是一个带有两个输入引脚和一个输出引脚的长方形。

测试方法:1.连接电路:将或门的输入引脚与一个电源和一个接地电路连接,将输出引脚连接到一个LED灯。

2.输入测试:将输入引脚分别连接到电源和接地,检查LED灯的亮灭情况。

当任意一个输入引脚为高电平时,LED灯应该亮起;否则,LED灯应该熄灭。

三、非门(NOT Gate)非门是较为简单的逻辑门之一,它的逻辑功能是输出与输入相反的电平信号。

非门的通用符号是一个带有一个输入引脚和一个输出引脚的长方形。

测试方法:1.连接电路:将非门的输入引脚与一个电源和一个接地电路连接,将输出引脚连接到一个LED灯。

2.输入测试:将输入引脚分别连接到电源和接地,检查LED灯的亮灭情况。

当输入引脚为高电平时,LED灯应该熄灭;否则,LED灯应该亮起。

以上是常见的逻辑门电路的逻辑功能及测试方法。

通过对逻辑门的测试,可以确保电路正常工作并实现所需的逻辑功能。

实验一 逻辑门电路的逻辑功能及测试

实验一 逻辑门电路的逻辑功能及测试

实验一逻辑门电路的逻辑功能及测试实验一逻辑门电路的逻辑功能及测试一.实验目的1.掌握了解TTL系列、CMOS系列外形及逻辑功能。

2.熟悉各种门电路参数的测试方法。

3. 熟悉集成电路的引脚排列,如何在实验箱上接线,接线时应注意什么。

二、实验仪器及材料a)TDS-4数电实验箱、双踪示波器、数字万用表。

b)1)CMOS器件:CC4011 二输入端四与非门 1 片CC4071 二输入端四或门 1片2)TTL器件:74LS86 二输入端四异或门 1 片74LS02 二输入端四或非门 1 片74LS00 二输入端四与非门 1片74ls125 三态门 1片74ls04 反向器材 1片三.预习要求和思考题:1.预习要求:1)复习门电路工作原理及相应逻辑表达式。

2)常用TTL门电路和CMOS门电路的功能、特点。

3)三态门的功能特点。

4)熟悉所用集成电路的引线位置及各引线用途。

5)用multisim软件对实验进行仿真并分析实验是否成功。

2.思考题1)TTL门电路和CMOS门电路有什么区别?2)用与非门实现其他逻辑功能的方法步骤是什么?四.实验原理1.本实验所用到的集成电路的引脚功能图见附录。

2.门电路是最基本的逻辑元件,它能实现最基本的逻辑功能,即其输入与输出之间存在一定的逻辑关系。

TTL集成门电路的工作电压为“5V±10%”。

本实验中使用的TTL集成门电路是双列直插型的集成电路,其管脚识别方法:将TTL集成门电路正面(印有集成门电路型号标记)正对自己,有缺口或有圆点的一端置向左方,左下方第一管脚即为管脚“1”,按逆时针方向数,依次为1、2、3、4············。

如图1—1所示。

具体的各个管脚的功能可通过查找相关手册得知,本书实验所使用的器件均已提供其功能。

图1—13.图1—2分别为基本门电路各逻辑功能的测试方法。

最新实验1逻辑门电路功能测试-实验报告

最新实验1逻辑门电路功能测试-实验报告

最新实验1逻辑门电路功能测试-实验报告实验目的:1. 理解并掌握基本逻辑门电路的工作原理。

2. 学习如何使用实验设备测试逻辑门电路的功能。

3. 验证不同逻辑门电路的真值表。

实验设备:1. 数字逻辑实验板2. 逻辑门电路元件(如与门、或门、非门等)3. 示波器4. 电源5. 连接线实验步骤:1. 准备实验设备,确保所有设备正常工作。

2. 根据实验要求,设计逻辑门电路,并在实验板上搭建。

3. 连接电源,确保电压稳定且符合逻辑门电路的要求。

4. 使用示波器探头连接到逻辑门的输入和输出端,观察并记录波形。

5. 根据真值表,改变输入信号,逐一测试逻辑门的所有可能输入组合。

6. 记录每个输入组合下的输出结果,并与理论值进行对比,验证电路功能。

实验结果:1. 列出所有测试的逻辑门类型及其对应的真值表。

2. 展示每个逻辑门在不同输入下的输出波形图。

3. 对比实验结果与理论真值表,总结实验中发现的任何偏差及其可能的原因。

实验分析:1. 分析实验中观察到的波形,解释其与逻辑门功能的关系。

2. 讨论实验中出现的任何异常情况及其解决方案。

3. 探讨如何通过改进电路设计来提高逻辑门的性能。

实验结论:1. 总结实验结果,确认逻辑门电路是否符合预期的功能。

2. 评估实验过程的有效性和准确性。

3. 提出可能的改进措施,以优化未来的实验设计和执行。

注意事项:1. 在操作实验设备时,务必遵守实验室安全规则。

2. 在连接电路前,仔细检查电路设计是否正确,避免短路或错误连接。

3. 记录数据时要准确无误,以确保实验结果的可靠性。

实验1-门电路的逻辑功能及测试

实验1-门电路的逻辑功能及测试
❖ 多余输入端的处理:所有输入端都不允许悬空,不使用的 输入端应按逻辑电平要求直接接VDD或VSS;
❖ 输出端的处理 :输出端不允许直接与VDD或VSS连接,同 一芯片上的 输出端可以并联使用;
❖ 严禁带电操作。
TTL与非门的特性和技术参数-1
1、电压传输特性:
①输出高电平UOH、输出低电平UOL UOH 2.4V、UOL 0.4V 便认为合格。 典型值UOH=3.4V UOL=0.3V 。 ②阈值电压UT Ui<UT时,认为Ui是低电平。 Ui>UT时,认为Ui是高电平。 UT =1.4V
实验原理
FA
A&
B
F
A B
FA
1
F
A B
F
A
B
A F
A
F F
A B
A FB
F A
F
门电路常见符号
与非门
或非门
F A•B
F AB
实验原理
OC门 (两输入与非)
A&
B
F
A
B
F
A
B
F
A B
A& FB
F
A
B
A FB
F
A B
F
A
F
B
国标
门电路常见符号
实验原理
三态门 (两输入与非)
与或非门
AB CD
A& A
与非门的传输延迟时间tpd是tPHL和tPLH的平均值。一般TTL与
非门传输延迟时间tpd的值为几纳秒~十几个纳秒。
CMOS逻辑门电路主要参数
实验原理
(1)VOH(min)=0.9VDD; VOL(max)=0.01VDD。所以 CMOS门电路的逻辑摆幅(即高低电平之差)较大。

如何正确使用逻辑门

如何正确使用逻辑门

如何正确使用逻辑门逻辑门,作为数字电路设计的基本组件,扮演着连接与决策的重要角色。

正确使用逻辑门是确保电路功能正常运作的关键。

本文将从基本概念和逻辑门的分类开始,介绍如何正确使用逻辑门,包括逻辑门的符号、真值表和逻辑运算等方面。

一、基本概念和逻辑门的分类逻辑门是由多个晶体管组成的电路,在数电领域广泛应用。

它能接受一组逻辑输入信号,并根据预定的规则处理这些输入,产生一个逻辑输出。

逻辑门按照其功能和实现方法可分为与门、或门、非门、异或门等。

在正确使用逻辑门之前,了解逻辑门的工作原理是必要的。

二、逻辑门的符号和真值表在设计与分析电路时,逻辑门的符号和真值表起到了重要的作用。

每种逻辑门都有一个特定的符号表示它的输入和输出,同时真值表展示了逻辑门的输入输出关系。

在正确使用逻辑门过程中,理解和熟悉逻辑门的符号和真值表是至关重要的一步。

三、逻辑运算及其组合逻辑门的输入可以是不同的逻辑信号,如0或者1,逻辑运算则决定了逻辑门如何对输入信号进行处理,最终得出逻辑输出。

常见的逻辑运算有与运算、或运算、非运算等。

在正确使用逻辑门过程中,我们需要善于灵活运用逻辑运算的规则,根据具体情况进行逻辑门的搭配和组合,以实现特定的功能需求。

四、逻辑门的级联与层次逻辑门可以通过级联和层次的方式进行组合,从而实现更复杂的功能。

在正确使用逻辑门过程中,需要根据实际需求和电路设计要求,将不同的逻辑门按照一定的层次进行连接,确保信号传输和逻辑处理的准确性。

此外,合理的层次结构有助于简化电路设计和提高整体的性能。

五、优化逻辑门电路在正确使用逻辑门过程中,优化电路设计以提高电路的效率和性能是应该被考虑的。

常见的优化方法包括减少逻辑门的使用数量、减少逻辑延迟、简化逻辑表达式等。

通过合理的优化措施,可以提高电路的工作速度、降低功耗和减少硬件成本。

六、逻辑门的故障排除逻辑门在使用过程中可能会出现故障,例如输出错误、短路和开路等问题。

因此,正确排除逻辑门故障也是使用逻辑门的重要一环。

实验一基本逻辑门逻辑功能测试及应用

实验一基本逻辑门逻辑功能测试及应用

实验一基本逻辑门逻辑功能测试及应用一、实验目的1. 掌握TTL集成逻辑门的逻辑功能及其测试方法。

2. 掌握TTL器件的使用规则。

3. 熟悉数字电路实验仪的结构、基本功能和使用方法。

4. 练习熟练使用DS1052E型数字示波器。

二、实验原理门电路是构成各种复杂数字电路的基本逻辑单元,掌握各种门电路的逻辑功能和电器特性,对于正确使用数字集成电路是十分必要的。

目前应用最广泛的集成电路是TTL和CMOS。

TTL集成逻辑门电路根据其型号的不同,有不同的内部结构和引脚,在本实验中我们只选取了常用的与非门、与或非门来进行测试。

与非门是门电路中应用较多的一种,与非门的逻辑功能为,当输入端中有一个或一个以上是低电平时,输出为高电平;只有当输入全部为高电平时,输出才为低电平。

而与或非门的逻辑功能为,当同一个与门端组的输入端全部为高电平时,输出为低电平;当同一个与门端组中有一个或一个以上的输入端为低电平时,输出即为高电平。

实验前请认真阅读TTL集成电路使用规则。

数字系统中有时需要把两个或两个以上集成逻辑门的输出端直接并接在一起完成一定的逻辑功能。

对于普通的TTL门电路,由于输出级采用了推拉式输出电路,无论输出是高电平还是低点平,输出阻抗都很低。

因此,通常不允许将它们的输出端并接在一起使用。

集电极开路门和三态输出门是两种特殊的TTL门电路,它们允许把输出端直接并接在一起使用。

三、实验仪器及器件1. DS1052E型示波器2. EL-ELL-Ⅳ型数字电路实验系统3. DT9205数字万用表4.器件:集成电路芯片74LS00 74LS10 74LS51四、实验内容及步骤1.与非门逻辑功能测试(1)选用三输入端与非门74LS10,按图1-1连接实验电路,即将与非门的三个输入端A、B、C分别接至逻辑电平开关的电平输出插口,与非门的输出端Y接至显示逻辑电平的发光二极管的电平输入插口,同时将数字万用表调至直流电压档连接到门电路的输出端,测量输出电压值。

实验1 逻辑门电路功能测试

实验1 逻辑门电路功能测试

实验报告模板实验一逻辑门电路功能测试一、实验目的1、熟悉常用逻辑门电路的功能。

2、了解集成电路引脚排列的规律及其使用方法二、实验仪器与设备1.数字电路实验箱。

2.数字万用表。

3.集成电路芯片74LS08、74LS32、74LS04、74LS00及74LS86各一片。

三、实验步骤1.与逻辑功能测试图1-7所示芯片74LS08为四2输入与门。

图中管脚7为接地端,管脚14为电源端,管脚1、2为两个与输入端,它的输出端是管脚3,同样管脚4、5为输入端,管脚6为它的输出端,以此类推。

图1-774LS08管脚图(1)打开数字电路试验箱,选择芯片74LS08并按图1-7所示接线,将其中任一门电路的输入端接逻辑开关,它的输出端接发光二极管。

(2)按表1-8要求完成实验,每改变一次输入开关状态,观察并记录输出端的状态。

表1-874LS08功能测试输入状态输出状态U A U B Y0000101001110悬空01悬空0悬空00悬空10悬空悬空02.或逻辑功能测试图1-8所示芯片74LS32为四2输入或门。

图中管脚7为接地端,14为电源端,管脚1、2为两个或输入端,它的输出端是管脚3,同样管脚4、5为输入端,管脚6为它的输出端,以此类推。

图1-874LS32管脚图(1)打开数字电路试验箱,选择芯片74LS32并按图1-8所示接线。

(2)按表1-9要求完成实验,每改变一次输入开关状态,观察并记录输出端的状态。

表1-874LS32功能测试输入状态输出状态U A U B Y0000111011110悬空01悬空1悬空00悬空11悬空悬空03.非逻辑功能测试(1)用电脑或手机打开网络搜索引擎,查到芯片74LS04功能和管脚图。

(2)打开数字电路试验箱,选择芯片74LS04连接一个非逻辑功能测试实验电路。

(3)按表1-9要求完成实验,观察并记录输出端的状态。

表1-974LS04功能测试输入状态U IN输出状态Y0110悬空04.与非逻辑功能测试(1)用电脑或手机打开网络搜索引擎,查到芯片74LS00功能和管脚图。

实验1-门电路逻辑功能及测试

实验1-门电路逻辑功能及测试

实验1-门电路逻辑功能及测试实验一门电路逻辑功能及测试一、实验目的1、熟悉器件外形和管脚引线排列。

2、熟悉与非、异或门电路逻辑功能。

3、设计用与非门组成其它门电路并测试验证。

二、实验器件74LS86 四二输入端异或门1片74LS00 四二输入端与非门2片74LS20 四输入端双与非门1片三、预习要求1、复习与非、异或门电路工作原理。

2、熟悉所用集成电路的引线位置及各引线用途。

四、实验内容及步骤实验前先检查实验箱电源是否正常。

然后对所选实验用的集成电路进行连线,特别注意Vcc 及地线不能接错。

实验中改动接线须先断开电芯片引脚图如下所示:74LS86 四二输入端异或门 74LS00 四二输入端与非门74LS20 四输入端双与非门实验报告上此部分可不画图,其他部分需画图填写源,接好线后再通电源。

1、测试门电路逻辑功能(1)选用四输入端双非门74LS20一只,插入设计板,按图1接线,输入端a、b、c、d接S1—S4(电平开关输出插口),输出端L接电平显示发光二极管(D1—D8任意一个)。

图1.1(2) 将电平开关按表1置位,分别测出输出逻辑状态。

将输出结果填入表1中。

表1.1输入输出a b c d L1 1 1 1 00 1 1 1 10 0 1 1 10 0 0 1 10 0 0 0 12、异或门逻辑功能测试(1)选四二输入端异或门74LS86,按图2接线,输入端a、b、c、d接电平开关,输出端A、B、Y接电平显示发光二极管。

(2)将电平开关按表2置位拨动,将输出结果填入表2中。

图2表2输入输出a b c d A B Y0 0 0 0 0 0 01 0 0 0 1 0 11 1 0 0 0 0 01 1 1 0 0 1 11 1 1 1 0 0 00 1 0 1 1 1 03、分析并验证逻辑电路的逻辑关系(1)用74LS00按图3、图4接线,将输入输出关系分别填入表3、表4中。

(2)写出上面两个电路的逻辑表达式。

实验01门电路逻辑功能及参数测试

实验01门电路逻辑功能及参数测试

实验01门电路逻辑功能及参数测试实验01门电路逻辑功能及参数测试是一种常见的数字电路实验,旨在了解门电路的逻辑功能和参数测试方法。

本实验主要涉及与门、非门、或门、异或门以及与非门电路的测试。

下面将对每个门电路的逻辑功能和参数测试进行详细介绍。

一、与门(AND gate)与门是最常见的逻辑门之一,它具有两个输入和一个输出。

当两个输入同时为高电平(1)时,输出为高电平;否则,输出为低电平(0)。

逻辑功能测试:1.输入全为0,验证输出是否为0。

2.输入全为1,验证输出是否为13.输入一个为0,一个为1,验证输出是否为0。

参数测试:1.输入电压的最小值测试:逐渐减小输入电压,观察输出是否保持为低电平。

2.输入电压的最大值测试:逐渐增大输入电压,观察输出是否保持为高电平。

3.输入电流的最小值测试:逐渐减小输入电流,观察输出电压的变化。

4.输入电流的最大值测试:逐渐增大输入电流,观察输出电压的变化。

二、非门(NOT gate)非门也叫反相器,只有一个输入和一个输出。

当输入为高电平时,输出为低电平;当输入为低电平时,输出为高电平。

逻辑功能测试:1.输入为0,验证输出是否为12.输入为1,验证输出是否为0。

参数测试:1.输入电压的最小值测试:逐渐减小输入电压,观察输出是否保持为高电平。

2.输入电压的最大值测试:逐渐增大输入电压,观察输出是否保持为低电平。

3.输入电流的最小值测试:逐渐减小输入电流,观察输出电压的变化。

4.输入电流的最大值测试:逐渐增大输入电流,观察输出电压的变化。

三、或门(OR gate)或门具有两个输入和一个输出。

当两个输入中至少有一个为高电平时,输出为高电平;否则,输出为低电平。

逻辑功能测试:1.输入全为0,验证输出是否为0。

2.输入全为1,验证输出是否为13.输入一个为0,一个为1,验证输出是否为1参数测试:1.输入电压的最小值测试:逐渐减小输入电压,观察输出是否保持为低电平。

2.输入电压的最大值测试:逐渐增大输入电压,观察输出是否保持为高电平。

逻辑门电路实验报告

逻辑门电路实验报告

逻辑门电路实验报告逻辑门电路实验报告引言逻辑门电路是数字电路中的基础组成部分,它们通过接收输入信号并产生输出信号来实现逻辑运算。

在本次实验中,我们将探索不同类型的逻辑门电路,并通过实验验证其功能和性能。

实验一:与门电路与门电路是最简单的逻辑门之一,其输出信号仅在所有输入信号均为1时为1,否则为0。

我们首先搭建了一个与门电路,并通过给定的输入信号进行测试。

实验结果表明,当输入信号为1和1时,输出信号为1;而当输入信号为1和0、0和1、0和0时,输出信号均为0。

这验证了与门电路的逻辑运算规则。

实验二:或门电路或门电路是另一种常见的逻辑门,其输出信号仅在至少有一个输入信号为1时为1,否则为0。

我们接着搭建了一个或门电路,并进行了相应的测试。

实验结果表明,当输入信号为1和1时,输出信号为1;而当输入信号为1和0、0和1、0和0时,输出信号均为0。

这再次验证了或门电路的逻辑运算规则。

实验三:非门电路非门电路是最简单的逻辑门之一,其输出信号与输入信号相反。

我们接下来搭建了一个非门电路,并进行了测试。

实验结果表明,当输入信号为1时,输出信号为0;而当输入信号为0时,输出信号为1。

这进一步验证了非门电路的逻辑运算规则。

实验四:异或门电路异或门电路是一种特殊的逻辑门,其输出信号仅在输入信号不同时为1,否则为0。

我们继续搭建了一个异或门电路,并进行了测试。

实验结果表明,当输入信号为1和0、0和1时,输出信号为1;而当输入信号为1和1、0和0时,输出信号均为0。

这验证了异或门电路的逻辑运算规则。

实验五:与非门电路与非门电路是结合了与门和非门的功能的电路,其输出信号与与门电路的输出信号相反。

我们最后搭建了一个与非门电路,并进行了测试。

实验结果表明,当输入信号为1和1时,输出信号为0;而当输入信号为1和0、0和1、0和0时,输出信号均为1。

这验证了与非门电路的逻辑运算规则。

结论通过本次实验,我们成功搭建并测试了不同类型的逻辑门电路,包括与门、或门、非门、异或门和与非门。

逻辑门实验报告

逻辑门实验报告

一、实验目的1. 理解并掌握基本逻辑门(与门、或门、非门、异或门)的工作原理和逻辑功能。

2. 熟悉TTL逻辑门电路的组成和特性。

3. 学会使用逻辑门搭建简单的组合逻辑电路。

4. 通过实验加深对数字电路理论知识的理解。

二、实验原理逻辑门是数字电路中最基本的组成单元,它们通过输入信号产生输出信号,实现逻辑运算。

本实验主要涉及以下逻辑门:1. 与门(AND Gate):当所有输入信号都为高电平时,输出信号才为高电平,否则输出为低电平。

2. 或门(OR Gate):当至少一个输入信号为高电平时,输出信号为高电平,否则输出为低电平。

3. 非门(NOT Gate):将输入信号取反,即输入为高电平时输出为低电平,输入为低电平时输出为高电平。

4. 异或门(XOR Gate):当两个输入信号不同时,输出为高电平,否则输出为低电平。

三、实验仪器与设备1. 数字电路实验箱2. TTL逻辑门芯片(如74LS00、74LS02、74LS04、74LS08等)3. 信号发生器4. 示波器5. 电压表6. 万用表7. 连接线四、实验内容1. 验证与门、或门、非门、异或门的逻辑功能。

2. 使用逻辑门搭建半加器电路。

3. 使用逻辑门搭建全加器电路。

4. 使用逻辑门搭建编码器电路。

5. 使用逻辑门搭建译码器电路。

五、实验步骤1. 验证与门、或门、非门、异或门的逻辑功能:(1)将输入信号接入与门、或门、非门、异或门的输入端;(2)使用示波器或电压表观察输出端信号;(3)根据输入信号组合和输出信号,验证逻辑门的功能。

2. 使用逻辑门搭建半加器电路:(1)将两个输入信号接入与门和或门的输入端;(2)将与门和或门的输出端接入异或门的输入端;(3)使用示波器或电压表观察输出端信号,验证半加器电路的功能。

3. 使用逻辑门搭建全加器电路:(1)将三个输入信号接入与门、或门、非门、异或门的输入端;(2)将两个与门和两个或门的输出端接入全加器的两个输入端;(3)使用示波器或电压表观察输出端信号,验证全加器电路的功能。

逻辑门功能测试及其应用研究实验报告

逻辑门功能测试及其应用研究实验报告

逻辑门功能测试及其应用研究实验报告1. 引言说到逻辑门,可能有的小伙伴觉得这是啥高大上的玩意儿,其实不然,它们就像咱们日常生活中的开关一样,简单却又无处不在。

逻辑门主要有“与”、“或”、“非”这几种,听上去是不是有点像我们日常生活中的选择题?只不过这些门的选择方式稍微复杂点,但没关系,咱们慢慢来,肯定能理解。

1.1 逻辑门的基本概念简单来说,逻辑门就是根据输入信号的不同组合,来决定输出信号的结果。

就像我们在路口的红绿灯,红灯停、绿灯行,没别的意思。

举个例子,假设有个“与”门,只有在A和B两个开关都打开的时候,它的输出才会是“开”,否则就是“关”。

是不是特别简单?而“或”门就更宽松了,只要有一个开关是开的,它就能亮起来。

这些门看似简单,但却是现代电子设备的基础,真是“看似平常,实则深藏玄机”啊。

1.2 实验目的咱们这次实验的目的,简单来说,就是想通过实际操作,搞清楚这些逻辑门是如何工作的。

你别小看这个实验,它不仅能让我们理解基本的逻辑概念,还能培养我们的动手能力,简直是“实践出真知”嘛!而且,这个过程还会让我们明白逻辑门在各种电子设备中的应用,真是一箭双雕啊。

2. 实验过程首先,我们得准备好各种器材,比如电源、逻辑门芯片、万用表,还有一堆连接线。

就像做菜前要把材料备齐一样,不然后面就得忙得不可开交。

接下来,我们按步骤连接电路,这一步可是非常关键,不然就会像是把盐和糖搞混一样,麻烦大了。

接着,我们一个个测试这些逻辑门的功能。

比如,先来测试“与”门。

我们给它输入两个信号,结果是,只有当两个开关都打开时,输出才会亮灯。

哇,真是“万事俱备,只欠东风”!然后是“或”门,它可有意思了,随便一个开关打开,灯就会亮,真是“热闹非凡”啊!最后,测试“非”门时,我们只需要反转输入信号,输出就会恰恰相反,这个有点像我们日常生活中的“翻转”嘛,真是让人忍不住笑出声。

2.1 数据记录与分析实验结束后,我们认真记录每一个测试的结果。

逻辑门实训报告

逻辑门实训报告

一、实训目的本次逻辑门实训旨在使学生掌握逻辑门的基本原理、功能及应用,提高学生对数字电路基本元件的理解和动手能力,为后续学习数字电路打下坚实的基础。

二、实训环境1. 实验室:电子技术实验室2. 实验设备:数字电路实验箱、逻辑门芯片、连接线、电源、示波器等3. 实验软件:Multisim仿真软件三、实训原理逻辑门是数字电路中最基本的单元,它根据输入信号的不同,输出相应的逻辑结果。

常见的逻辑门有与门(AND)、或门(OR)、非门(NOT)、与非门(NAND)、或非门(NOR)等。

这些逻辑门通过逻辑运算符实现,如与运算符“∧”、或运算符“∨”、非运算符“¬”等。

四、实训过程1. 实验一:与门(AND)实验(1)连接实验箱上的与门芯片,并按照实验指导书的要求连接好输入和输出端。

(2)使用示波器观察输入信号和输出信号的变化,记录数据。

(3)分析实验结果,验证与门的功能。

2. 实验二:或门(OR)实验(1)连接实验箱上的或门芯片,并按照实验指导书的要求连接好输入和输出端。

(2)使用示波器观察输入信号和输出信号的变化,记录数据。

(3)分析实验结果,验证或门的功能。

3. 实验三:非门(NOT)实验(1)连接实验箱上的非门芯片,并按照实验指导书的要求连接好输入和输出端。

(2)使用示波器观察输入信号和输出信号的变化,记录数据。

(3)分析实验结果,验证非门的功能。

4. 实验四:与非门(NAND)实验(1)连接实验箱上的与非门芯片,并按照实验指导书的要求连接好输入和输出端。

(2)使用示波器观察输入信号和输出信号的变化,记录数据。

(3)分析实验结果,验证与非门的功能。

5. 实验五:或非门(NOR)实验(1)连接实验箱上的或非门芯片,并按照实验指导书的要求连接好输入和输出端。

(2)使用示波器观察输入信号和输出信号的变化,记录数据。

(3)分析实验结果,验证或非门的功能。

五、实训结果通过本次实训,学生们掌握了以下内容:1. 逻辑门的基本原理和功能;2. 逻辑运算符的应用;3. 逻辑门在实际电路中的应用;4. 使用示波器观察和分析实验结果的方法。

逻辑门的应用实验原理

逻辑门的应用实验原理

逻辑门的应用实验原理1. 引言逻辑门是数字电路中最基本的组件之一,广泛应用于计算机、通信设备和其他数字系统中。

通过逻辑门的组合和连接,我们可以实现各种复杂的逻辑功能。

本文旨在介绍逻辑门的应用实验原理,包括其基本原理、实验步骤和实验结果的分析。

2. 逻辑门的基本原理逻辑门是由多个晶体管或其他电子器件组成的电路,用于处理和操作二进制信号。

常用的逻辑门包括与门(AND)、或门(OR)、非门(NOT)、异或门(XOR)等。

不同的逻辑门有不同的功能和特性,但它们都是基于布尔代数的基本运算进行设计和实现的。

3. 实验步骤为了更好地理解逻辑门的应用原理,我们进行了以下实验步骤:步骤 1:准备实验材料和仪器在进行实验前,我们需要准备以下实验材料和仪器: - 逻辑门(如AND、OR、NOT、XOR门) - 连接线 - 电源 - 开关 - LED灯步骤 2:搭建逻辑门电路根据实验需求,搭建相应的逻辑门电路。

将逻辑门按照电路图连接起来,并使用连接线将其与电源、开关和LED灯等其他元件连接起来。

步骤 3:设置输入信号根据实验需要,设置逻辑门的输入信号。

可以使用开关控制输入信号的开关状态,通过改变输入信号的组合,观察逻辑门的输出变化。

步骤 4:观察实验结果打开电源,观察逻辑门的输出变化。

根据不同的输入信号,逻辑门的输出状态会发生相应的变化。

可以使用LED灯等指示灯来观察逻辑门的输出状态。

4. 实验结果的分析通过实验,我们可以观察到逻辑门的输入和输出之间的关系。

当输入信号满足逻辑门的运算规则时,输出信号会发生变化;否则,输出信号保持不变。

通过观察实验结果,我们可以推断逻辑门的逻辑功能和特性。

5. 实验应用逻辑门的应用非常广泛。

在计算机领域,逻辑门被用于构建和实现各种数字电路,如加法器、寄存器和微处理器等。

在通信设备领域,逻辑门可以用于信号处理和电路控制。

此外,逻辑门还可以应用于自动化控制和电路设计等领域。

6. 总结通过本次实验,我们深入了解了逻辑门的应用原理,并通过观察实验结果对逻辑门的功能和特性进行了分析。

1 实验一基本逻辑门逻辑实验

1 实验一基本逻辑门逻辑实验

实验一、基本逻辑门实验
一、实验目的
1、掌握TTL与非门、与或非门和异或门输入与输出之间的逻辑关系;
2、熟悉TTL中、小规模集成电路的外型、管脚和使用方法;
3、掌握数字电路实验系统的使用方法。

二、实验使用仪器和芯片
1、二输入四与非门74LS00 1片
2、二输入四或非门74LS28 1片
3、二输入四异或门74LS86 1片
4、TEC-5实验系统 1台
三、实验内容
1、测试二输入四与非门74LS00中一个与非门的输入和输出之间的逻辑关系;
2、测试二输入四或非门74LS28中一个或非门的输入和输出之间的逻辑关系;
3、测试二输入四异或门74LS86中一个异或门的输入和输出之间的逻辑关系;
*4、综合设计:请自行设计一个综合利用三个芯片的逻辑电路。

四、实验提示
1、将被测器件插入实验台上的14芯插座中。

2、将器件的引脚7与试验台的“地(GND)”连接,将器件的引脚14与实验台的+5V连接。

3、用实验台的电平开关(k15-k0)输入作为被测器件的输入。

拨动开关,则改变器件的输入电平。

开关打到上面为“1”,下面为“0”。

4、将被测器件的输出引脚与实验台上的电平指示灯(发光二极管)连接。

指示灯亮表示输出电平为1,指示灯灭表示输出电平为0。

五、实验报告要求
1、画出三个实验的接线图;
2、用真值表表示出实验结果;
*3、画出综合设计的逻辑电路图、接线图、真值表,并说明此逻辑电路的功能。

逻辑门实验报告

逻辑门实验报告

逻辑门实验报告逻辑门实验报告引言:逻辑门是数字电路中的基本组成单元,用于处理和操作逻辑信号。

通过逻辑门的组合可以实现各种复杂的逻辑功能。

本实验旨在通过实际搭建逻辑门电路,验证其逻辑功能,并进一步理解数字电路的原理和应用。

实验目的:1. 掌握逻辑门的基本原理和功能;2. 学会使用逻辑门搭建简单的数字电路;3. 理解数字电路在信息处理中的应用。

实验器材和材料:1. 逻辑门芯片(与、或、非门等);2. 电路连接线;3. 电源供应器;4. 示波器(可选)。

实验步骤:1. 准备工作:将逻辑门芯片、电路连接线等器材整理好,确保电源供应器正常工作。

2. 搭建与门电路:将两个输入端分别与逻辑门芯片的两个输入端相连,并将输出端连接到示波器上,以观察输出信号的变化。

3. 搭建或门电路:将两个输入端分别与逻辑门芯片的两个输入端相连,并将输出端连接到示波器上,以观察输出信号的变化。

4. 搭建非门电路:将输入端与逻辑门芯片的输入端相连,并将输出端连接到示波器上,以观察输出信号的变化。

5. 测试逻辑门的功能:通过输入不同的逻辑信号,观察输出信号的变化,并记录实验结果。

实验结果:1. 与门电路:当输入信号都为高电平时,输出信号为高电平;否则,输出信号为低电平。

2. 或门电路:当输入信号都为低电平时,输出信号为低电平;否则,输出信号为高电平。

3. 非门电路:当输入信号为高电平时,输出信号为低电平;当输入信号为低电平时,输出信号为高电平。

实验分析:1. 与门电路:通过与门电路的实验结果可以看出,只有当所有输入信号都为高电平时,输出信号才为高电平。

这符合与门的逻辑功能,即只有当所有输入条件满足时,输出才为真。

2. 或门电路:通过或门电路的实验结果可以看出,只有当至少一个输入信号为高电平时,输出信号才为高电平。

这符合或门的逻辑功能,即只要有一个输入条件满足,输出就为真。

3. 非门电路:通过非门电路的实验结果可以看出,输出信号与输入信号正好相反。

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二、实验预备知识
1、指导书第九章(P302—P305) 、指导书第九章( ) 2、指导书第四章(P66—P82) 、指导书第四章( )
3、示波器 、
4、函数发生器 、
5、实验箱介绍
6、集成芯片介绍 、
74LS00四二输入与非门(P241) 四二输入与非门( 四二输入与非门 )
F = AB
(4)严禁带电操作。 )严禁带电操作。
三、实验仪器及器件
1、数字逻辑电路实验箱 2、74LS00 四二输入与非门(TTL)P305 3、74LS20 二四输入与非门(TTL)P306 4、74LS04 六非门(TTL)P305
四、实验任务
1、测试74LS00和74LS20逻辑功能,列出真值 表,写出逻辑表达式; 2、完成指导书P77任务7,即图4.23-5(a)、 b)、(c),列出真值表,根据真值表写 出逻辑表达式。
实验一
常用电子仪器与逻辑门的使用
一、实验目的: 实验目的
1、掌握常用电子仪器和SAC-DS4数 、掌握常用电子仪器和 数 字逻辑实验箱的使用方法; 字逻辑实验箱的使用方法; 2、掌握常用集成电路(TTL和CMOS) 、掌握常用集成电路( 和 ) 使用规则; 使用规则; 3、掌握常用逻辑门的使用方法和功 、 能测试。 能测试。
五、实验基本步骤
1、课前预习画出实验电路图; 、课前预习画出实验电路图; 2、辨别芯片并插好; 、辨别芯片并插好; 3、先接好芯片地和电源; 、先接好芯片地和电源; 4、根据电路图连接电路; 、根据电路图连接电路; 5、静态检查线路,确认无误后再打开实验箱电源; 、静态检查线路,确认无误后再打开实验箱电源; 6、实验过程中需要改接线时,应关断电源后才能拆、接线 ; 、实验过程中需要改接线时,应关断电源后才能拆、 7、实验时应注意观察,若发现有破坏性异常现象(例如有元 、实验时应注意观察,若发现有破坏性异常现象 例如有元 件冒烟、发烫或有异味),应立即关断电源,保持现场, 件冒烟、发烫或有异味 ,应立即关断电源,保持现场,报 告指导教师。找出原因、 告指导教师。找出原因、排除故障并经指导教师同意才能再 继续实验。 继续实验。
CMOS: : (1)工作电压 : ) CC4000 : +3V--+18V , C000 : +7V--+15V; (2)多余输入端的处理 : ) 所有输入端都不允许悬空( 所有输入端都不允许悬空(悬空则 状态不定) 不使用的输入端应按 状态不定),不使用的输入端应按 逻辑电平要求直接接VDD或VSS ; 逻辑电平要求直接接 或 (3)输出端的处理 : ) 输出端不允许直接与VDD或VSS连 输出端不允许直接与 或 连 接,同一芯片上的 输出端可以并联 同一芯片上的 使用 ; (4)严禁带电操作。 )严禁带电操作。
七、实验预习要求
预习指导书P95实验二 MSI译码器及 其应用
与非门多余引脚处理:

F = AB
中的B接高电平(5V电源),则有
F = AB = A • 1 = A
F = ABCD
中C和D接高电平,则有
同理:
F = ABCD = AB •1 • 1 = AB
返回
实验箱芯片封装
74LS20二四输入与非门 二四入与非门P242 二四输入与非门
F = ABCD
集成电路使用规则和方法: 集成电路使用规则和方法:
TTL: : (1)工作电压 :5V+10%; ) ; (2)多余输入端的处理 : ) 悬空为高,但不稳定,需按 悬空为高,但不稳定, 逻辑要求接入电路; 逻辑要求接入电路; (与门 接1;或门—接0) 与门-接 ;或门 接 ) 与门 (3)输出端的处理 : ) 不允许并联使用, 不允许并联使用,不允许直 接接地或接5V电源 电源; 接接地或接 电源;
六、实验报告要求
1、每次实验后每人必须独立完成一份实验报告。 2、实验报告封面上应写明实验名称、班号、实 验者姓名、学号、实验日期和完成实验报告 日期等,按任课教师指定的时间上交。 3、实验报告一般应包括以下内容: (1)原始记录(数据、波形、现象)。 (2) 画出实验电路图,列出真值表,写出逻辑 表达式,并简述所做实验内容及结果。 (3) 对原始记录进行必要的分析、整理。
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