一种新型的测试探针和指状测试器[实用新型专利]

专利名称：一种新型的测试探针和指状测试器专利类型：实用新型专利
发明人：金章
申请号：CN201721872646.4
申请日：20171227
公开号：CN207937488U
公开日：
20181002
专利内容由知识产权出版社提供
摘要：本实用新型公开了一种新型的测试探针，用在指状测试器上，用于测试电路板，所述测试探针具有带测试尖端的测试针，所述测试针通过两对弹性定位臂而枢转接合于座架；其中至少一对弹性定位臂由导电材料制成，并电连接所述测试针；每对弹性定位臂设置在一个平面内，一端固定在所述测试针上，另一端固定在座架上；所述座架下端设一固定板，所述固定板的前端设一开口，所述测试针穿过所述开口，所述测试针上套设一弹簧，所述弹簧的下端焊接固定在所述测试针上，所述弹簧的上端抵顶在所述固定板上；测试过程中，当所述测试针被顶起时，所述弹簧进入压缩状态。

该测试探针通过加装弹簧，增加了压力和稳定性，提高了持久性，延长了使用寿命。

申请人：深南电路股份有限公司
地址：518000 广东省深圳市南山区侨城东路99号
国籍：CN
代理机构：深圳市深软翰琪知识产权代理有限公司
代理人：徐翀
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