xrf光谱仪原理及维护
帕纳科xrf原理-概述说明以及解释
帕纳科xrf原理-概述说明以及解释1.引言1.1 概述帕纳科XRF原理（即帕纳科X射线荧光光谱仪原理）是一种非常重要的分析技术，它利用X射线荧光光谱仪进行物质的分析与检测。
X射线荧光光谱仪（XRF）是一种基于X射线的分析技术，能够快速、无损地分析样品的元素成分及其含量。
帕纳科XRF原理通过将样品暴露在高能量的X射线辐射下，激发样品中的原子发生内层电子跃迁，从而产生特定能量的特征X射线。
这些特征X射线与样品中元素的种类和含量密切相关。
X射线荧光分析原理基于这个原理，通过测量样品中发射出的特征X射线的能量和强度来确定样品的元素成分。
帕纳科XRF原理在许多领域都有广泛的应用。
在材料分析方面，它可以用于合金分析、陶瓷成分分析、矿石成分分析等。
在环境监测方面，它可以用于土壤中重金属含量的检测、水中有害物质的检测等。
在文物保护方面，它可以用于非破坏性地分析文物的元素成分，以了解其制作材料和年代等信息。
帕纳科XRF原理具有许多优点。
首先，它非常快速和高效，能够在几分钟内完成样品的分析。
其次，它是一种无损检测技术，不需要破坏样品，适用于各种形态的样品。
此外，它还具有高准确性和重复性，并且可以同时分析多个元素。
然而，帕纳科XRF原理也存在一些局限性。
首先，它对于低能量X射线不敏感，因此无法检测低原子序数元素。
其次，样品的尺寸和形态对分析结果可能产生影响。
最后，它对于元素的定量分析相对有限，通常只能得到元素的相对含量。
随着科学技术的不断发展，帕纳科XRF原理也在不断进步和完善。
未来，我们可以期待更加精确和灵敏的X射线荧光光谱仪的研发，以及更加全面和准确的元素分析方法的开发。
综上所述，帕纳科XRF原理是一种重要的分析技术，具有广泛的应用领域和许多优点。
随着技术的不断进步，帕纳科XRF原理将在各个领域发挥更大的作用。
文章结构部分的内容如下所示：1.2 文章结构本篇长文主要围绕帕纳科XRF原理展开，文章的主要部分分为引言、正文和结论三个部分。
XRF光谱仪原理和维护
X光管原理图
电流 灯丝
电子
Be窗口
阳极 X射线光子
Axios仪器的荧光激发源 X射线管
Hale Waihona Puke 最佳激发电压的选择1. 最佳激发电压应高于元素临界激发电位的 4 ～ 10 倍；
2. 激发轻元素时,选择低电压,高电流; 3. 激发重元素时,选择高电压,低电流;
最佳工作电压的选择
KV/KeV
轻元素选择低电压, 高电流; 重元素选择高电压,低电流
AXioS 仪器的准直器系统
粗 高强度 低分辨率 中 分辨率及强度一般
细 高分辨 低强度
准直器/狭缝应用范围
准直器 100/150 mm
300 mm 700 mm
L - spectra U - Pb U - Ru Mo - Fe
K - spectra Te - As Te - K Cl - O
准直器 150 mm 550 mm 4000 mm
晶体分光原理与布拉格定律
入射波长
布拉格定律
准直器系统
1. 前级准直器的作用在于：控制入射光束的强度及分辨性能
2. 探测器准直器的作用在于降低杂散背景,提高灵敏度
3. 3. 通常具有两种准直器系统：
4.
平面晶体/准直器色散系统－非聚焦系统,用于顺序式仪器
5.
柱面弯曲晶体/狭缝色散系统－聚集系统,用于同时式仪器
XRF光谱仪原理及维护
一.X射线荧光仪概论
➢.炼钢炉前分析的发展
手动湿法分析 手动仪器分析 自动快速分析
➢.快速分析的几种模式
进样 制样（铣床）
试样归类存储
火花光谱
X荧光
机械手
➢X射线荧光仪分类
XRF光谱仪通常分成两大类： 能量色散光谱仪<EDXRF> 2. 波长色散光谱仪<WDXRF>
XRF光谱仪操作指导书
一）、使用注意：
1、向样品腔内放样品时，一定要注意清洁，不可使样品尘粒掉入其中，否则会污染X光管和探测器窗口，造成测量失准和探头损坏。
2、样品盖需要用酒精棉球做好清洁工作。
3、仪器只允许经培训的人员才能操作，其他人员一律不能操作。
二）、常规保养：
1、为了保持仪器的良好外观，需经常对仪器表面做清洁工作，用软布擦拭灰尘。
2、使用、保存和搬动中，要特别小心，以免磕碰、损伤外表、损坏内部线路。
3、为使仪器能长期工作正常，需定期对各项参数进行测试，并进行调整。
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XRF光谱仪操作指导共1页
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工作树07RoHS专刊02绿色制造管理规定02品检
内容：
一、目的：掌握正确地操作使用和保养维护方法。
二、适用人员：XRF光谱仪操作员。
三、操作使用方法：
1、首先确定仪器和计算机以及电源之间的边线正确无误。
2、开机预热
打开总电源后，先开光谱仪主机电源，然后打开计算机主机电源。预热30分钟或任意放入一个样品，将测量时间设定为2000秒。（刚打开仪器状态还不稳定，测量的结果不可靠）。
3）、为了保证测量的效果，一般将初始化的过程进行2至3遍。
4、设置测量时间
选择菜单“参数设置”下的“测量时间”项，在出现的对话框中输入预时间，按下“OK”即可。根据经验，RoHS测试时间一般设置为：200秒。
5、选择测量曲线（测试类型）
点击“工作曲线”中的“选择工作曲线”，在出现的对话框中进行选择，然后“确定”即可。
6、测量开始
点击工具栏的开始图标，会弹出一个提示窗口：“请更换X号准直器”按照这个提示换上合适的准直器。（准直器的选定，由选择工作曲线确定）点击“OK”即可。
X荧光光谱仪(XRF)的基本原理
X荧光光谱仪是根据X射线荧光光谱的分析方法配置的多通道X射线荧光光谱仪，它能够分析固体或粉状样品中各种元素的成分含量。
X射线荧光（XRF）能够测定周期表中多达83个元素所组成的各种形式和性质的导体或非导体固体材料，其中典型的样品有玻璃、塑料、金属、矿石、耐火材料、水泥和地质物料等。
凡是能和x射线发生激烈作用的样品都不能分析，而且要分析的样品必须是在真空（4~5pa）环境下才能测定。
X荧光光谱仪（XRF）由激发源（X射线管）和探测系统构成。
X射线管通过产生入射X射线（一次X射线），来激发被测样品。
受激发的样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。
探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。
然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。
元素的原子受到高能辐射激发而引起内层电子的跃迁，同时发射出具有一定特殊性波长的X射线，因此,只要测出荧光X射线的波长或者能量,就可以知道元素的种类，这就是荧光X 射线定性分析的基础。
此外,荧光X射线的强度与相应元素的含量有一定的关系，据此，可以进行元素定量分析。
近年来，X荧光光谱分析在各行业应用范围不断拓展，广泛应用于冶金、地质、有色、建材、商检、环保、卫生等各个领域，特别是在RoHS检测领域应用得zui多也zui广泛，是一种中型、经济、高性能的波长色散X射线光谱仪。
X荧光光谱仪具有以下优点：a）分析速度高。
测定用的时间与测定精密度有关，但一般都很短，2～5分钟就可以测完样品中的全部待测元素。
b）X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关，而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。
大多数分析元素均可用其进行分析，可分析固体、粉末、熔珠、液体等样品，分析范围为Be到U。
（气体密封在容器内也可分析）但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。
特别是在超软X射线范围内，这种效应更为显著。
X荧光分析仪的原理
荧光光谱仪及其原理什么是XRF?一台典型的X射线荧光（XRF）仪器由激发源（X射线管）和探测系统构成。
X射线管产生入射X射线（一次X射线），激励被测样品。
样品中的每一种元素会放射出二次X射线，并且不同的元素所放射出的二次X射线具有特定的能量特性或波长特性。
探测系统测量这些放射出来的二次X射线的能量及数量。
然后，仪器软件将探测系统所收集到的信息转换成样品中各种元素的种类及含量。
利用X射线荧光原理，理论上可以测量元素周期表中的每一种元素。
在实际应用中，有效的元素测量范围为11号元素（Na）到92号元素（U）。
X射线荧光的物理意义：X射线是电磁波谱中的某特定波长范围内的电磁波，其特性通常用能量（单位：千电子伏特，keV）和波长（单位：nm）描述。
X射线荧光是原子内产生变化所致的现象。
一个稳定的原子结构由原子核及核外电子组成。
其核外电子都以各自特有的能量在各自的固定轨道上运行，内层电子（如K层）在足够能量的X射线照射下脱离原子的束缚，释放出来，电子的逐放会导致该电子壳层出现相应当电子空位。
这时处于高能量电子壳层的电子（如：L 层）会跃迁到该低能量电子壳层来填补相应当电子空位。
由于不同电子壳层之间存在着能量差距，这些能量上的差以二次X射线的形式释放出来，不同的元素所释放出来的二次X射线具有特定的能量特性。
这一个过程就是我们所说的X射线荧光（XRF）。
标准样品标准样品在国际上有规定,就是一个样品送过7家权威的测试中心进行定值后,取其平均值,这样样品里面元素的含量就是已知的情况下,可以作为标样.仪器的工作原理是通过Ｘ光管激发Ｘ射线照射到样品上,样品中元素受激发产生X射线荧光,被探测器接收,荧光的波长对应特定的元素,荧光的强度就对应元素的含量.。
XRF选购基础知识1.仪器品牌&公司实力这点和购买其他商品一样,我们都会注意到这点,购买XRF 我们要看这个品牌是不是在RoHS指令执行期间才冒出来的,大家都知道仪器技术都是要靠积累和沉淀的,还有大家关心的是会不会这个公司应为RoHS而生,因为RoHS而亡.如果这个公司赚够钱,突然蒸发了,那用户怎么办,售后服务由谁来负责呢.2.仪器的功能有的XRF除了测试RoHS指令所测的那几个元素,还有没有其他功能呢,据我所知,有的XRF还具有测厚功能.这里说点题外话,XRF的类别:a.便携式荧光能谱仪，它是以同位素源为激发源，优点是体积小巧，便于携带，适用现场分析或野外和大型.主要缺点是不能达到大型荧光能谱的分析精度。
XRF光谱仪维护
用TCM软件检查仪器参数 TCM软件检查仪器参数
仪器参数保存及上传
1. 光标选择 Pup/download Parameter bank, 然后回车。 然后回车。
U P / D O W N L O A D P A R A M E T E R B A N K 12-Dec12-Dec-2003 12:50:02
光谱仪外围系统故障。 光谱仪外围系统故障。
真空变坏： 真空变坏： 检查流气系统是否漏气； 检查流气系统是否漏气；比较真空及空气状态下气体流量的变 化，确定漏气部位。 确定漏气部位。 检查真空油。 检查真空油。观察真空泵是否漏油 压缩空气报警？ 压缩空气报警？ 检查空压机压力是否正常。 检查空压机压力是否正常。 谱仪机箱温度报警： 谱仪机箱温度报警： 检查风扇，检查水路电磁阀； 检查风扇，检查水路电磁阀；检查水冷单元水温调节是否正常 外循环水温度报警： 外循环水温度报警： 检查外循环水的温度设定，如有必要，测量温度。 检查外循环水的温度设定，如有必要，测量温度。
仪器参数下载
检查显示仪器动态参数
A N ADC 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 12 A L O G S E Name CABTMP: TMPPWR: ARFLOW: ARPRES: GASOFS: GASABS: GASPRS: VACANA: SPNANA: +5V: -5V: -12V: N S O R I N P U T S Value 29.92 C 仪器内部温度 1.17 V P10气流量 1.11 l/h P10气流量 P10气压力 769 hPa P10气压力 7.15 V 321 hPa 381 hPa 2.04 Pa 真空度 4.89 V 4.90 V 电压 -5.13 V -11.96 V ADC 13 14 15 16 17 18 19 20 21 22 23 24 Name +12VSB: +12V: +24V: +24Va: WTRCND: WTRTMP: WTRFLW: PRWTMP: CATFLW: HTVOLT: HTCUR: HTFRQ: Value 11.99 V 11.91 V 23.74 V 23.79 V 13 鍿/m 20.50 C 3.87 l/min 17.66 C 3.25 l/min 20.01 kV 9.91 mA 3.24 kHz
X荧光光谱、XRF(能量色散型X荧光光谱仪)设备安全技术措施
X荧光光谱、XRF(能量色散型X荧光光谱仪)设备安全技术措施近年来，随着科技的不断发展，X荧光光谱及XRF(能量色散型X荧光光谱仪)设备在工业、环保、矿业等领域被广泛应用。
这类设备在各行各业中扮演着举足轻重的作用。
然而，由于X荧光光谱及XRF设备的高能射线和高电压的存在，这些设备也存在一定的安全隐患。
为了维护工作场所和工作人员的安全，需要采取一系列安全技术措施。
X荧光光谱设备安全技术措施1. 设备防护措施X荧光光谱设备具有较高的能量，辐射量较大，因此在使用过程中需要采取防护措施。
一般情况下应保持设备正常运行状态，使用时保持间隔距离，并使用专门的防护屏幕来隔离辐射源和人员。
同时，在对样品进行分析时，还应尽量将样品放置在透射材料下或采用样品配件进行防护。
2. 人员防护在进行样品分析时，人员必须配备专业的防护设备，如带顶盔、防射线眼镜、防辐射手套等。
操作人员应接受培训并获得相应的资格证书，了解操作规程和安全注意事项，确保安全使用设备。
在使用X荧光光谱设备的工作场所，应明显标识辐射危险区域和安全禁止区。
同时，对设备也应设置相应的警示标识，以便人员随时了解到设备的安全状态。
4. 检修维护设备在长期的使用过程中需要进行检修维护，确保设备的完好性和稳定性。
检修维护工作应由专业技术人员进行，以确保设备的可靠性和安全性。
XRF设备安全技术措施1. 安全训练必须在设备操作前，对相关操作人员进行安全培训，确保操作人员熟悉设备使用规程，并能够正确操作设备。
2. 样品准备样品准备过程中需要注意将样品放入密封容器中进行加工，以防止辐射物质的释放。
同时，操作人员在样品处理过程中应该尽量少接触样品。
3. 设备安装和检修对于XRF设备的安装和检修，需要由专业技术人员进行。
在设备的安装和检修过程中，操作人员必须佩戴防护用品，严格按照安全规定操作。
对于XRF设备，需要设置相应的警示标识，提醒人员随时了解设备的安全状态。
结论X荧光光谱及XRF设备在各领域均扮演着重要的角色，但在设备的应用过程中安全问题必须引起我们的重视。
【X射线荧光光谱仪】X射线荧光光谱仪的构成与维护使用 X射线荧光光谱仪维护和修理保养
【X射线荧光光谱仪】X射线荧光光谱仪的构成与维护使用 X射线荧光光谱仪维护和修理保养X射线荧光分析技术（XRF）作为一种快速分析手段，为相关部门供应了一种可行的、低成本的并且适时的检测、筛选和掌控有害元素含量的有效途径。
相对于其他分析方法，XRF具有无需对样品进行特别的化学处理，快速、便利、测量成本低等明显优势，特别适合用于各类相关部门作为过程掌控和检测使用。
X射线荧光光谱仪的维护保养：1、X射线荧光光谱仪中最昂贵的部分是高压X射线光管，它是仪器的核心部件。
X射线光管对冷却水的温度、压力、电导率都有严格的要求，其较佳冷却水温为22℃～24℃，一般不能超过30℃，超过35℃则使用寿命会大大降低。
内部循环水用于冷却阳极靶相近的光管头部分，因此要求内部循环水为电导率很低的去离子水（必需保证该冷却水的电导率＜2μs／cm），以防高压击穿导致x射线光管损坏。
2、分光晶体是具有把X射线荧光按波长次序分开成光谱作用的晶体。
影响分光晶体稳定性的因素有：温度、湿度、酸碱度等。
3、探测器性能一般用波高分布曲线的半宽高来衡量，若半宽高增大则说明辨别本领下降，检测器品质变坏。
4、真空系统是X射线荧光光谱仪的紧要构成部分。
对于真空泵，紧要是应当定期检查真空泵油的油质和油量，检查油质时假如有白色或黑色，就说明油质不正常，应当立刻更换泵油。
X射线荧光光谱仪属于大型分析仪器，它紧要由以下几部分构成：（1）X射线系统（X射线光管、高压变压器、管压管流掌控单元）；（2）水循环冷却系统（内外部冷却水单元、温度、电导率掌控监测单元）；（4）真空系统（真空泵、样品室）；（5）检测系统（光谱室、分光晶体、衰减器、狭缝、测角仪、晶体交换器等）；（6）检测记录系统（流〈充〉气正比计数器和闪亮计数器、脉冲高度分析器等）；（7）数据处理系统。
首先，我们必需注意的是X射线荧光光谱仪对四周环境的要求较高，试验室内要保证恒温、恒湿（22度左右、湿度60%以下），特别是在南方潮湿的天气环境下，更要特别注意。
波长色散x射线荧光光谱仪工作原理
波长色散x射线荧光光谱仪工作原理波长色散X射线荧光光谱仪（WDXRF）是一种常用的分析仪器，广泛应用于材料科学、地质学、环境保护等领域，用于元素分析和组分分析。
它的工作原理基于X射线与样品相互作用后产生的荧光辐射，通过波长色散技术实现光谱分析。
WDXRF光谱仪主要由射线源、样品支架、能谱仪（色散器）、荧光探测器组成。
其中射线源是由X射线管产生的，通常采用连续或称为白线辐射的X射线。
样品支架用于固定样品，并确保样品与射线之间的准直关系。
当射线源照射在样品上时，样品中的原子会吸收射线并激发到高能级，随后通过荧光放射回到基态。
这些荧光辐射的能量与样品中的元素类型相关，因此通过测量荧光辐射的能谱可以确定样品中的元素组成。
能谱仪（色散器）是WDXRF光谱仪关键的部分，它用于将不同波长的荧光辐射分离开来。
在能谱仪中，通常采用一系列的晶体或多层衍射片来实现波长色散。
这些晶体或衍射片的入射面和出射面都有倾角，使得入射的X射线和出射的荧光辐射有不同的入射角度和出射角度，从而实现波长分离。
具体来说，当荧光辐射通过能谱仪时，不同波长的荧光辐射由于经过晶体或衍射片后入射角度不同，会在晶体或衍射片中发生不同程度的衍射，进而出射角度和波长也会有差别。
通过调整晶体或衍射片的角度，可以选择不同的入射角度和出射角度，从而实现波长的选择性分散。
最后，荧光辐射被聚焦到荧光探测器上进行测量和分析。
荧光探测器通常采用多道光电二极管（PMT）或半导体探测器，可以高效地测量荧光辐射的强度。
将荧光辐射的能谱与已知元素的荧光辐射能谱进行比较，可以确定样品中含有的元素种类和浓度。
总之，波长色散X射线荧光光谱仪通过射线源产生X射线，并将其照射在样品上，样品中的元素吸收射线并发出荧光辐射。
通过波长色散技术将荧光辐射进行分散，最后荧光辐射被探测器测量并分析，从而实现元素分析和组分分析。
光谱仪的保养维护及工作原理
光谱仪的保养维护及工作原理光谱仪作为一款将成分多而杂的光分解为光谱线的科学仪器，其通过测量物体表面反射的光线，对物质进行显示与分析。
那么作为一款专业的仪器，对其进行维护和修理保养是特别紧要的。
以下依据网上资料，整理了部分光谱仪日常维护的注意事项：1.花火台的清理。
在使用光谱仪进行测量分析时，测量样品或者校正样品在激发时会在火花台内产生黑色的沉淀物，这些沉淀物可能影响测量结果和污染透镜，为避开这种情况，火花台应作定期的清理，做好每次换班前清理。
同时注意在进行清理之前，需要将电火花按钮关闭，当指示灯熄灭时再进行操作。
在对光谱仪花火台进行清理后，即可将火花台板装好，进行数次空白样激发。
以上步骤便完成清理花火台的工作。
2.透镜的清洁。
在光谱仪使用中，透镜也是一块简单受污染的区域，因此除了注意在日常对透镜使用时的操作规范，也应时常对透镜进行清洗，一般选用高浓度乙醇进行清洁。
3.电极的更换，电极作为光谱仪紧要的部件也需要时常检查。
当光谱仪进行工作时，电极会随着放电的加添而产生一些损耗，为避开因电池问题对使用操作产生影响，需要对电极进行更换或者保养。
在进行电计更换与打磨时要注意操作规范，防止因操作不当导致电极使用寿命削减。
注意：光谱仪的电极下部有一弹簧，拆卸和安装过程中防止其将电极弹出。
以上便是对光谱仪保养维护的注意事项，维护保养的方法操作得当，能够大大提高光谱仪的寿命。
光谱仪作为一款前沿的科学仪器，其价格是多少呢？实际上，光谱仪不仅功能强大，而且型号繁多。
目前，依据不同的检测环境与要求，显现了真空紫外光谱仪，近红外光谱仪、元红外光谱等分类，在各行各业都有广泛的运用。
因此，在不了解光谱仪的情况下，光谱仪的价格较难了解。
但与其他产品一致，功能越强大、做工越精细、售后越完善的光谱仪价格自然会较高。
建议依据实际需求以及试验条件选择合适的光谱仪，而不是重视对光谱仪价格高处与低处。
手持式光谱仪的原理手持式光谱仪紧要由X光管、探测器、CPU以及存储器构成，由于其便携具有高效、便携、精准等特点，使其在合金、矿石、环境、消费品等领域有侧紧要的应用。
XRF的原理介绍
XRF的原理介绍X射线荧光光谱分析（X-ray fluorescence spectroscopy，简称XRF）是一种非破坏性的化学分析技术，常被用于确定样品中的元素组成和含量。
XRF使用X射线的荧光现象来分析样品，可以分析固体、液体和气体等多种不同形态的样品。
首先，X射线通过产生高能电子来激发样品中的原子。
X射线源通常由一些高能电子产生装置来产生，例如阴极射线管（CRT）或放射性源。
这些高能电子被加速到特定能量，并直接照射在样品上。
当X射线照射到样品上时，它们会与样品中的原子相互作用。
这种相互作用会产生两种类型的辐射：散射辐射和荧光辐射。
散射辐射是由于硬正在散射中散射的原子所产生的。
散射辐射主要是由于X射线与低Z元素（如碳、氧、氮等）发生相互作用而散射出去。
荧光辐射是当X射线激发样品中的原子时，原子的电子会被激发到高能级。
当电子从高能级返回到低能级时，会释放出能量，产生荧光X射线。
这些荧光X射线的能量和强度与样品中的元素种类和含量有关，通过测量荧光辐射的能谱，就可以确定元素的组成和含量。
荧光辐射的能谱是通过一个能量依赖的检测器来测量的，常用的检测器包括硅探测器和多道计数器。
当荧光X射线通过检测器时，它们会与探测器中的原子相互作用，产生能量电子。
通过计数器记录流过的电子数目，就可以得到荧光辐射的能谱。
1.X射线源产生高能电子并照射在样品上。
2.X射线与样品中的原子相互作用，产生散射辐射和荧光辐射。
3.测量荧光辐射的能谱，获得样品中元素的组成和含量信息。
XRF具有许多优点，例如非破坏性、高效、多元素分析和广泛适用于不同类型的样品。
它常被应用于地质、环境、材料科学、金属制品、制药和化工等领域。
但是，XRF也有一些限制，例如不能确定同位素比例和灵敏度相对较低等。
总而言之，XRF利用X射线的荧光现象来确定样品中的元素组成和含量。
通过激发样品中的原子，产生荧光辐射，并测量其能谱，就可以得到样品的化学信息。
光谱仪的维护和修理技巧及工作原理
光谱仪的维护和修理技巧及工作原理光谱仪又称分光仪，是一种将成分多而杂的光分解为光谱线的科学仪器，由棱镜或衍射光栅等构成。
操可以通过光谱仪，做到对光信息的抓取，并以照相底片显影或电脑化自动显示数值仪器显示和分析。
目前，光谱分析的技术在空气污染、水污染、食品卫生、金属工业等的检测中都有确定的运用。
不过，光谱仪作为一款精密的分析仪器，碰到问题也在所难免，今日，我就为大家列举光谱仪的8个维护和修理技巧。
1. “先易后难”：仪器发生故障时，尤其是发生比较多而杂的综合性故障，应当先从比较简单解决的故障入手，再渐渐处理比较扎手的问题。
2. “先简后繁”：在维护和修理电路时，依据仪器的电路原理，先从简单的电路开始进行。
在此基础上进一步维护和修理多而杂的而繁琐主电路或线路。
3. “先软后硬”：随着科学技术水平的进展，电脑在光谱仪中应用，使仪器的检测水平大幅度的提高，功能更趋近于智能化，很多故障都是通过电脑自带的故障诊断程序，进行综合全面的检测，所以检测时应当先检查软件程序运行是否正常，再分析硬件运行是否有问题。
这样可以很快的找到故障的根源，缩短维护和修理时间，提高工作效率。
4. “先内后外”：仪器蓦地整机停电不工作了，首先检查仪器的外围情况，然后再找寻仪器本身内部的问题。
5. “先辅后主”：大型仪器往往是一套完整的体系，有很多辅佑襄助设备为其服务，当仪器系统显现故障时，应当在先检查仪器辅佑襄助设备问题。
在辅佑襄助设备完好的前提下，再解决仪器主机问题，这样才能保证整个仪器系统的完整正常的运行。
6. “先人后机”：任何仪器都是靠人来操作的，所以在仪器显现数据出错或是异常时，首先判定是否存在人为的问题。
在严格按操作程序操作，并排出人为误操作的基础上，再分析仪器自身运行是否存在问题。
7. “先主后次”：先解决紧要问题，让仪器工作起来，再解决次要问题，完善仪器各项功能。
8. “先静后动”：有些器件及参数是工作在静态的，如开关通断、电阻值、电容容量、电路工作点、限压阀触点、过压过流保护触点等，这些器件及参数可以直接测量的，检查比较简单，所以可以先进行直观检查。
XRF光谱仪原理
2.荧光发射源(样品)
X光管 光管
原级辐射Iλ
荧光辐射Ii
探测器
ψ1
t dt
ψ2
由于原级辐射激发和共存元素互致激发样品发射的荧光由一 由于原级辐射激发和共存元素互致激发样品发射的荧光由一 次、二次、三 次荧光组成。 二次、 次荧光组成。
3.光学(分光) 3.光学(分光)系统 光学
样品 准直器 探测器
阳极
1. 阴极发射电子在电场作用下飞向阳极,与阳极靶原子相遇突然停止运动， 阴极发射电子在电场作用下飞向阳极 与阳极靶原子相遇突然停止运动， 与阳极靶原子相遇突然停止运动 转移能量,发射 射线光子 转移能量 发射X射线光子； 发射 射线光子； 2. 高速电子的能量 高速电子的能量99%以热能释放，仅有1 ％ 的能量转变成 射线光子 以热能释放，仅有 的能量转变成X射线光子 以热能释放 3. 由阳极、阴极、Be窗 口、真空室、陶瓷绝缘、HT插座、灯丝联结 由阳极、阴极、 窗 真空室、陶瓷绝缘、 插座 插座、 冷却水管、 冷却水管、管壳组成。
二次靶片振光激发） 三维光学 （二次靶片振光激发）
amplifier and 放大器及多道分析器 multi-channel analyser
探测器 Detector 二次靶 Secondary target
channel counts
energy (KeV)
EPSON5
X-ray tube X光管 光管 Sample 样品
L - spectra U - Ru Mo - Fe -
K - spectra Te - K Cl - F O -Be
光学系统滤光片的作用 光学系统滤光片的作用
1. 消除光管靶线干扰； 消除光管靶线干扰； 2. 降低散射背景，提高峰/背比及灵 降低散射背景，提高峰 背比及灵 敏度（LLd）； 敏度（ ）； 3. 衰减谱线强度，防止探测器饱和 衰减谱线强度， 4. 抑制光管杂质光谱的干扰。 抑制光管杂质光谱的干扰。
X射线荧光光谱仪(XRF)维护校正方法
5.1.9 X射线管及X射线检测器均使用由铍制成的隔膜,正是由于这层隔膜的存在,分析仪不能被以常规方法处理,若需要处理检测器,一定要联系最近的HORIBA销售处或服务中心；5.1.10 XGT-1000WR软件应该被授权“管理者”的用户使用；5.1.11 本设施使用特殊滤光片,专用于分析有害元素,可以定性分析元素表中14号元素Si(硅)至92号元素U(铀),由于滤光片的原因,轻元素的测定可能不会太准确；配有直径0.1mm光管(可选)的仪器,可以通过将光管抽真空而完成从11号元素Na(钠)到92号元素U(铀)的分析；由于X光管的靶极使用了Rh(铹)元素,因此,氯（17Cl）、钌（44Ru)以及铑（45Rh)的分析受到限制。
5.2 清冼过滤网5.2.1 在仪器正前方底部和仪器背后各有一块空气过滤网,为保证仪器内空气的净化,过滤网必须每三个月清洗一次；5.2.2 取下空气过滤网之前,必须先关闭仪器。
6.0 如何应用样品池液体样品、粉末样品以及尺寸小于仪器样品光孔的试样必须使用样品池进行测量。
由于建立曲线的标准样品为固体,因此想要精确测定液体和粉末是比较困难的,如果备有液体或粉末的标样并制定标准曲线即可对此类样品进行准确的定量分析。
6.1 聚四氟乙烯样品池6.1.1 随仪器附带有聚四氟乙烯样品池框架的附件（塑料）；6.1.2 随仪器附带有安装/拆卸样品池专用的夹具，金属材料和塑料材料各一件；6.1.3 随仪器附带有样品池窗（薄膜）；6.1.4 使用夹具将聚四氟乙烯池拆开为两件；6.1.5 将池窗(薄膜)盖在池框2上,再将池框1置于池框2上,使用夹具压紧。
6.2 一次性样品池6.2.1 使用与聚四氟乙烯样品池相同的框架附件；6.2.2 使用安装/拆卸聚四氟乙烯样品池相同的夹具；6.2.3 将一次性样品池(另购)套在池框上；6.2.4 尽可能满的置入样品,覆盖一层聚四氟乙烯薄膜并用夹具压紧；6.2.5 一次性样品池适合测试液体和粉末样品,如:油漆、油脂、色粉等。
XRF光谱仪基本原理及结构
1.2 X射线荧光光谱仪的种类（按原理分）：
类型 WDRXRF:波长X 线荧光光谱仪 EDXRF：能量色 散X射线荧光光 （EDX3000B即为 此能量色散型） TXRF:全反射X射 线荧光光谱仪 样品种类 固体，粉末，液体 特点 定性分析和无需工 作曲线的FP法定量 分析 多种样品的定性分 析 商业用途，科研， 学术需要 应用领域
滤波器的作用
消除或降低来自X射线管发射的原级X射线谱，尤其是靶材的特征X射线对待测元 素的干扰，可改善峰背比，提高分析的灵敏度。 滤波片的位置： 激发源与样品之间（初级滤波片） 样品与检测器之间（次级滤波片） 滤波片的分类： 初级滤波片：置于X射线管与样品之间，是为了得到单色性更好的辐射和降低分 析元素谱感兴趣区内的原级谱散射引起的背景。 次级滤波片：置于样品与检测器之间，主要用于非色谱仪，有得于对试样中产 生的多元素X射线荧光谱线进行能量选择，提高待测元素的测量精度。
初级滤光片作用一：抑制Rh的谱线
作用二：降低背景
利于滤波器（特定的金属薄片）使背景大幅度减少
滤波器1 无滤波器则难检测出 可以检测出PE中 5ppm Pb
滤波器2
可以检测出 PE中2ppm Cd
3.1.6 探测器的作用： 将X射线荧光光量子转变成一定形状和数量的电脉冲，表征X射线荧 光的能量和强度。 常用探测器种类： 正比计数器（流气式或封闭式，PC） 闪烁计数器（SD)
2.被散射---X射线衍射：
利用散乱X射线得到物质的结晶信息(构造） 3.被吸收从而产生荧光X射线---X射线荧光： 元素组成和镀层厚度等信息 2.2 X射线荧光的产生： 当能量高于原子内层电子结合能的高能X射线与原子发生碰撞时，驱逐一个内层电 子而出现一个空穴，使整个原子体系处于不稳定的激发态
XRF的原理介绍
XRF的原理介绍X射线荧光光谱分析（X-ray Fluorescence Spectroscopy，XRF）是一种常用的非破坏性、全元素分析技术，可用于分析样品中的元素成分。
它基于样品在受到高能X射线照射时，会产生荧光辐射的原理。
本文将对XRF的原理进行详细介绍。
XRF的原理主要包括两个方面：荧光辐射和波长分散。
荧光辐射指的是当样品受到高能X射线照射时，样品中的原子会发生电离或激发，进而释放能量。
这些释放的能量被称为荧光辐射。
荧光辐射由两个主要成分组成：特征X射线和连续能谱。
特征X射线是由电子跃迁引起的，每个元素都有特定的特征X射线能量。
连续能谱是由样品中的电子与X射线相互作用产生的。
荧光辐射的强度与样品中元素的含量成正比，因此通过测量荧光辐射的强度可以确定样品中元素的含量。
波长分散是X射线荧光光谱分析中的另一个重要原理。
波长分散是通过将荧光辐射分散成不同的波长，然后使用依波长区分能量的检测器来测量荧光辐射的强度。
常用的波长分散器包括晶体和多层膜滤光器。
XRF的工作原理可以简述为以下几个步骤：1.样品制备：样品首先需要通过适当的方法进行制备，例如固体样品可以研磨成粉末，液体样品可以通过稀释或直接放置在适当的容器中。
2.X射线照射：制备好的样品被放置在X射线照射仪器中，然后受到高能X射线的照射。
这些X射线有足够的能量可以激发样品中的原子。
3.荧光辐射：当X射线照射样品时，样品中的原子会吸收X射线的能量，电子会被激发到更高的能级。
然后，这些电子会重新排列并回到较低的能级，同时释放出能量，形成荧光辐射。
这些释放的能量可以是特征X射线或连续能谱。
4.波长分散：荧光辐射通过波长分散器，分散成不同的波长。
晶体或滤光器可以选择和分离特定的波长区域，然后其余波长被阻挡或过滤。
5.探测器测量：波长分散后的荧光辐射通过探测器进行测量。
探测器可以是固态探测器或气体探测器，如Si-PIN探测器或X射线闪烁探测器。
6.数据分析：探测器测量荧光辐射的强度后，可以根据荧光辐射的强度与元素含量之间的关系来计算样品中各元素的含量。
xrf的工作原理
xrf的工作原理
X射线荧光光谱（X-Ray Fluorescence Spectroscopy, XRF）是一种用于分析样品中元素含量的技术。
其工作原理基于X射线的特性以及元素与X射线的相互作用。
当样品受到高能量的X射线照射时，样品中的原子会吸收部分X射线的能量。
这个能量吸收的过程称为吸收辐射。
吸收辐射的能量取决于样品中元素的种类和其能级的电子结构。
在吸收辐射过程中，被激发的电子会跃迁到更高的能级。
当这些激发态的电子回到基态时，会释放出能量。
这个能量的释放过程称为荧光辐射。
通过测量样品在吸收辐射和荧光辐射过程中产生的能量差异，即可获得样品中元素的信息。
这是因为每种元素都会在特定的能级上吸收和释放特定能量的X射线。
XRF技术通过分析样品的X射线荧光谱图，可以确定样品中各元素的含量。
这种分析方法通常使用非破坏性的方法，样品不需要经过复杂的样品制备过程。
总的来说，XRF技术的工作原理是利用样品中元素对X射线的吸收和释放的特性来分析样品中各元素的含量。