产品测量管理规范[模板]

产品测量管理规范
1.目的
为确保我司提供的测量报告能够满足客户的需求真实、有效，提高测量数据的准确性、测量速度、书写规范及测量样品的可追溯性，特制定本作业指导书。

2.概述
适用于品质/项目部送检的FAI&CPK及验证尺寸测量。

3.术语
名称定义
FAI First Article Inspection（首次样品检测）。

CPK 制程能力指数，用一个数值来表达制程的水准。

4.内容
4.1FAI和CPK尺寸测量送样
4.1.1DQE/项目部填写测量登记表、提供足数样品；
4.1.1.1产品送样时需填写《FAI/CPK测量登记表》，填写内容需与送样产品当前生产情况完全相符，测量内容必须明确，以便测量及报告处理，填写完成后送检人需签名并留手机号码或短号，便于测量时出现异常可及时沟通及后续报告发送；
4.1.1.2送检人提供被测样品时，CPK样品必须用吸塑盘包装，每个模号不少于客户规定数量；FAI用袋装，每个模号最少送样3-5PCS。

样品要求要良品，长宽需在规格范围内，且外观不允许有缺陷，如批锋、变形、缺胶、缩水等；
4.1.1.3送检人提供CPK样品时，样品需根据取样间隔按组进行标示，如第一次取样组的标示为：1-1，1-2，1-3…。

（此处1-1中前面的“1”为理解为第一次取样，后面的“1”理解为第一个产品）；第二次取样组的标示为2-1，2-2，2-3…（此处2-1中前面的“2”为理解为第二次取样，后面的“1”理解为第一个产品）依次类推；或者按顺序01,02,03,04，05,06……进行编号取样。

4.2受控图纸要求：文控室提供的图纸,必须要盖印章,必须要有签字，必须要有版本号，必须要有更新
日期，图面必须要清晰。

4.3测量实施：
4.3.1报告前处理员接到FAI、CPK样品及尺寸验证样品后，核对样品与受控图纸及电子档图纸是否相符，
测量技术员确认是否需要测量定位治具治具是否验收合格，困难测量点示意图和测量方案是否已制定及测量程序是否已编写等，核对无误后方可安排测量执行；
4.3.2测量技术员根据《FAI/CPK测量登记表》依登记先后顺序安排测量，有加急测量项目需经测量工程
师同意后方可插队排测；T0阶段FAI 2.5天之内完成，其他阶段FAI 3天内完成;CPK需2天内完成，加急测量产品必须经工程师或上级领导同意方可插队优先测量。

4.4报告前期处理：根据2D图纸和测量内容制定测量报告，将图面尺寸所测量的样品结构及属性一描述
于报告属性栏内，如下图：
4.5FAI测量要求：
4.5.1测量员接收测量技术员的工作安排后，根据《测量方案》，《测量工具选用准则》正确选择测量工
具及运用《产品测量取点准则》对产品进行FAI测量；
4.5.2检查精密测量室温湿度是否符合要求，温度23±3℃,湿度50±20%RH；
4.5.3使用经校验合格的仪器/量具进行测量；
4.5.4测量仪器的选用，及注意事项：
4.5.5外形尺寸选用影像测量仪测量；①外形长度尺寸取最大点至最大点。

②外形宽度尺寸测量分二种情
况：若外形宽度尺寸图纸显示为直边的，测量数据超出公差要求，此时分两段测量；比较两边最大点，至垂直点处的宽度，记录时，记录两段测量数据的最大值（如图①）。

如外形宽度为弧形的，取最大点至最大点（如图②）。

4.5.6内形尺寸选用影像测量仪测量；内形尺寸取最小点至最小点尺寸，若图纸形状为直边的，当测量数
据超出公差要求，此时进行分两段测量；记录两边最小点，至垂直点处的宽度，以最小值为准。

4.5.7通孔、盲孔、转轴孔、螺母孔、圆槽、方槽使用PG针规测量，并记录T通/Z止二组数据；
4.5.8柱子外径选用千分尺进行测量；
4.5.9软胶产品应使用非接触测量或低测力高度规测量；
4.5.10当图纸标数是M1.4×6H时,选用螺纹塞规进行测量；
4.5.11槽宽度、长宽尺寸用块规测量；
4.5.12平面度、变形度用塞尺测量；
4.6测量仪器的选择原则：
4.6.1精度:所选之仪器必须满足零件之精度要求。

通常是视零件之尺寸公差决定,一般以取工件公差的
1/10为宜。

如:图纸上某一尺寸为Φ20±0.04,要测量此尺寸时,需选精度是0.008mm之量测仪器进行测量，比如(数显千分尺)。

图纸外形长度尺寸为30±0.10，选精度为0.02mm之量测仪器进行测量,比如(卡尺)；
4.6.2经济: 在同等精度条件下,即满足被测工件之精度要求下,测量还要选低成本,容易操作的测量仪器。

测量应有一定效率，仪器选用结构简单、可靠、操作方便灵活,容易维护，对操作者技术水平和熟练程度要求低之仪器；
4.6.3丝印位置尺寸测量，选平面做Z向定位，Y基准统一按最远P.L分型线及点进行测量。

4.6.3.1测量注意事项：
4.6.3.2针对小产品的线性尺寸测量时，如SIM卡座、软胶产品，要求放大50-80倍测量；
4.6.3.3测量时，取点避开披锋及毛刺，并在报告上注明：避开披锋测量。

当产品结构与图纸不符时，
就不用测了，在报告的备注栏注明：产品与图纸结构不符；当图纸标注线条指示不明
确，不需测量，在报告的备注栏注明：图纸标注有误。

4.6.3.4用二次元和2.5次元测量机测量时，测量根部或口部位置必须备注清楚；
4.6.3.5当R角≤0.3时,目视结构OK。

书写报告时就写0.3；
4.6.3.6当C角≤0.5时,目视结构OK。

书写报告时就写0.5；
4.6.3.7图纸注明的剖面尺寸,能剖开测量的就一定要剖开测量。

剖产品时，禁止用剪钳剪产品避免变形，
要使用工具：超声波切割刀；
4.6.3.8厚度很薄的装饰件一定要选用装配测量。

如面壳装饰件要装配在面壳上测量；
4.6.3.9当产品外观有披锋，书写报告时，要注明：产品有披锋，避开披锋测量；
4.6.4形位公差的测量及计算：
4.6.4.1右图丝印字体“SIEMENS”与基准“A”有0.15的对称度要求。

丝印字体“SIEMENS”与基准“A”
有0.15的垂直度要求。

这两个尺寸无法在
三坐标上测量，而且投影机上也没有计算对称度和垂
直度的功能，所以只能根据坐标点来计算。

在计算之
前先了解对称度和垂直度的定义及其公差带的形状和
了解这两个尺寸所控制的内容；
4.6.4.2对称度定义：指两平行平面（或平行直线）相对于基
准中心平面（或中心线、轴线）不对称的变动量；
4.6.4.3公差带：距离为公差要求t，中心平面(中心线.轴线)
与基准中心要素(中心平面.中心线或轴线)重合的两平
行平面(或两平行直线)之间的区域；
4.6.4.4垂直度定义：垂直于基准要素的平面（或线、轴线）与理想要素的允许变动量；
4.6.4.5公差带：距离为公差要求t，垂直于基准线（或平面）的两平行平面（或平行线）之间的区域；
4.6.4.6平行度定义：平行于基准要素的平面（或线、轴线）与理想要素的允许变动量；
4.6.4.7公差带距离为公差要求t，平行于基准线（或平面）的两平行平面（或平行线）之间的
区域；
4.6.4.8位置度定义：实际要素与具有确定位置的理想要素的允许变动范围；
4.6.4.9公差带：根据被测要素的不同,位置度公差可以分为点的位置度公差,线的位置度公差
和面的位置度公差.如图,各孔的中心线必须位于直径为位置度公差0.25,轴线位于由
基准A.B.C和理论正确尺寸所确定的理想位置上的圆柱面公差带內；
计算公式：
4.6.5 FAI程序命名：机型+产品名称+样品颜色+定位治具，程序完成命好名后放入指定文件夹内，以便
对班也能应用及后序验证程序；
4.6.
5.1制作FAI报告时，测量员将数据导入报告后，需认真核对测量数据是否存在笔误，在测
量值与规格上下限超出0.10mm以上的，需重新测量确认，确认无误后在数据后面备注
“已确认”字样（测量员备注）。

对于产品有多处相同规格与结构需测量时，需根据
2D图对结构的命名清楚地备注填写于备注栏内，若图纸没有对结构命名，则剖视线从
哪里剖就从哪里开始顺时针或逆时针计录测量数据，备注时用专业术语备注；
4.6.
5.2测量复制模和NG+重点尺寸时报告备注栏有备注时要注意备注信息，若需备注内容与报
告已有的备注信息一致时，可用原来的备注内容，若备注需备注信息与报告已有的备
注信息不符或有结构变更的，需重新备注或测量；
4.6.
5.3FAI测量完后，将样品根据不同客户、穴号、批次进行装袋保存，并用《样板标签纸》
贴在样品袋上，以便后续确认。

4.6.6CPK测量要求：
4.6.6.1测量员接到样品后根据2D图确定需要做CPK的尺寸，请注意所有华为CPK一律用投影测
量，当测量尺寸位置为软胶时，请注意一定要将软胶贴平后测量；
4.6.6.2CPK程序命名方式:机型+产品名称+样品颜色+定位治具，程序完成命好名后放入指定文
件夹内，以便对班应用及后序验证程序；
4.6.6.3制作CPK报告时，测量员可先用联懋报告将数据导出，正确填写规格及公差，表头部分
必须按提示要求填写完整，在报告下方署名；
4.6.7报告审核：
4.6.7.1测量技术员对FAI报告进行审核，需对测量NG尺寸用颜色笔标注，还需对与规格相差
0.10mm以上的尺寸和对报告中备注结构异常、结构不符、轮廓不清、无结构等要重新
确认，确认无误后再在该组数据后面备注“已确认”字样（审核员备注）；
4.6.7.2对不是测量FAI的报告，需注意工具是否有改动，若有改动说明此份报告的测量员和上
次测量的测量员所选用的工具有分歧，需确认到底此尺寸该用哪个仪器，确认后告知
错误使用仪器的测量员，该选用哪个仪器测量是正确的，以便实现测量工具能统一的
目的；
4.6.7.3CPK报告审核时，测量技术员需对尺寸相差最远的两个样品进行确认，无误后，再对尺
寸规格、公差和表头信息栏进行确认。

4.6.8FAI报告处理：
4.6.8.1FAI报告整理时，核对使用各工具测量出来的数据应有的小数位数是否合理，如卡尺、
针规、塞尺只有两位小数，高度规、投影仪、千分尺有三位小数；
4.6.8.2核对备注是否完整，明确。

且核对报告表头信息是否正确，如机型、版本（最新版本）、
模号、产品颜色、产品状态、测量人员、测量日期等……
它疑惑不解时，需及时向测量技术员及对应测量员提出并解决；
4.6.8.4报告完成后将报告发送给样品送检人，并抄送给相应项目工程师及相关人员等；发送
完毕后将报告按客户分类/项目分类将报告存档在相应文件夹中。

4.6.8.5FAI报告输出格式、专业术语及位置备注术语
4.6.9CPK报告处理：
4.6.9.1CPK报告整理时，需将测量报告转成华为的专用报告，其中也包括能力分析图片，所以
先要利用minitab评估出尺寸是隶属“正态”还是“非正态”，再根据评估使用软件中
的不同命令制定尺寸过程能力分析图，并将图片复制于报告指定位置处；
4.6.9.2对报告中公差分析出来，CP值、CA值及CPK值说明处理措施；
4.6.9.3数据处理完后，需将报告表头内容正确填写完整，注明样品阶段如下图；
4.6.9.4审核报告中是否还有遗漏处未填，核对规格，公差及测量工具是否有误，无误后，将
报告下方核准、审核及制作如实填写后，把报告转为PDF文档盖上当天日期章后，将文
档加密保护（仅设置只读权限）；
4.6.9.5报告完成后将报告的PDF档及附上测量所用2D图档一并发送给测量组长，测试组长审核
电子档CPK报告，审核完毕后由测量组长发送给样品送检人，并抄送给经理和报告前处
理以示报告已完成发出。

4.6.10样板保存：FAI样品保留至签样后三个月，CPK样品由QE及项目保留至下一批试产，以此类推直至签
样完成后三个月。

4.6.11报告验证：
4.6.11.1应华为客户要求，需对项目FOT(T0)时，至测量现场核对测量手法，且欲签样时（VN1）
对报告进行验证，故工程送检时，一定要注意送检单是否填写清楚，因为每段时期所
需测量的尺寸要求都不同；
4.6.11.2因每阶段都需对电池盖卡扣尺寸进行复测，为方便复测时能快速找出，所以需在报告
“尺寸属性”栏中备注出来，那么对于需复测的扣位尺寸就都要有一个辨别标准（可
标注颜色）针对有修改过的扣位进行复测。

4.6.11.3华为客户在项目进行至FOT及VN1阶段时,会先通知测量管理人员及测量技术员，测量工
程师接到客户需验证报告通知后，先调配好机台，QE需要准备好验证产品、测量工程
师调出原测量报告、2D图及定位治具，供客户来验证。

客户验证完后，测量工程师需
对客户的验证数据和测量员相差0.03mm的尺寸进行复测核对，并分析和总结差异原因，
与客户讨论解决差异方法，回复验证报告中差异尺寸，再更新差异报告，一并发于客
户；
4.6.11.4客户验证报告只会对部件的一个模号进行，而报告更新时，此部件的所有模号也都需
产品测量管理规范文档密级：内部公开5. 支持文件
6. 相关文件
7. 记录的保存
8. 文件拟制/修订记录
2021-07-24 第11页, 共11页。