研究：脑室造口相关感染(VAI)的新定义

研究：脑室造口相关感染（VAI）的新定义
脑室造口术能够监测ICP，引流脑脊液，是现代神经外科学的治疗基础。

感染是脑室造口术最棘手的并发症。

脑室造口相关感染（VAI）的发病率不同文献报道不同，从2-24%，平均为8.8%。

不同研究发病率差别较大，其原因可能为采取的VAI诊断标准不同。

目前尚无明确的VAI诊断标准，这将阻碍VAI的诊治。

辛辛那提大学医学院Yair M教授依据CDC的装置相关感染指南重新制订了VAI的诊断标准，并报道了他们中心4年期间VAI的发病率。

Yair M教授对VAI的定义：单次CSF培养阳性，至少符合下面标准的一项：
（1）发热（体温超过38.6°C），
或（2）脑脊液CSF葡萄糖水平<50mg/dl或脑脊液CSF葡萄糖水平<50%同期（24h内）血糖水平。

该研究共纳入498例患者，4673脑室造口天。

结果发现CDC-compliant感染率为2.14/1000脑室造口天。

共发生10例VAI，感染率为2%，低于以前感染率8.8%的报道。

脑室造口的平均持续时间为9.4天。

在这组患者中，他们没有使用抗感染导管，围手术期也没有使用预防性抗生素。

制定的VAI定义和CDC的标准有利于将来的研究，促进指南的发展。

按照Yair M教授等制定的无菌置入导管和护理方案，以及他们的感染率控制在2%以内，他们建议感染率目标应该控制在<=5/1000装置天。

他们还认为使用抗生素或抗生素浸润导管的作用还不清楚。