第一讲数字集成电路质量评价

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T大规模集成电路(TLSI):电路等校门:>1000G
继续呢?
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集成电路的分类
❖ 按生产目的分类
▪ 通用集成电路(如CPU、存储器等)
▪ 专用集成电路(ASIC)
❖ 按实现方法分类
▪ 全定制集成电路
▪ 半定制集成电路
▪ 可编程逻辑器件
❖功耗、噪声和电迁移的分析工具。
❖针对大规模芯片的阻、容、感提取工具。
❖复杂芯片的验证与测试。
❖良率。
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数字设计的质量评价
1
集成电路的成本
2
功能性和稳定性
3
性能(performance)
4
功耗和能耗
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门阵列电路,其完成的逻辑功能可以由用户通过对其可编
程的逻辑结构单元(CLB)进行编程来实现。
❖ 可编程逻辑器件主要有PAL、CPLD、FPGA等几种类型,
在集成度相等的情况下,其价格昂贵,只适用于产品试制
阶段或小批量专用产品。
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设计复杂度及费用比较
❖门海(SOG:Sea-of-Gate)——无通道门阵列
(Channellessgate array):也是采用母片结构,它
可以将没有利用的逻辑门作为布线区,而没有指定固定
的布线通道,以此提高布线的布通率并提高电路性能供
更大规模的集成度。
❖门阵列生产步骤:
❖(1)母片制造
❖(2)用户连接和金属布线层制造
V(y)=V(x)
VM
开关阈值电压
VOL = f (VIH)
VIL
VIH
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V(x)
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逻辑电平映射到电压范围

可接受的高电平和低电平区域分别由VIH和VIL电平来界定
,代表了VTC曲线上增益为-1的点
"1"
VOH
VIH
V(y)
斜率= -1
VOH
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3
课程介绍
❖ 联系方式: shizaifeng@
❖ 课程讨论区 : ——超大规模集成电路设计
❖ 不选课者不得参加听课和考试 !!
❖ 国外大学该课程名称:CSE477
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TJIC
第一章 集成电路分类
与数字设计的质量评价
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集成电路的分类
——集成电路有如下几种分类方法:
➢ 按功能分类:
数字集成电路
模拟集成电路
数、模混合集成电路
➢ 按结构形式和材料分类:
半导体集成电路
膜集成电路(二次集成,分为薄膜和厚膜两类)
4
课程目标
❖ 了解数字集成电路设计的一般方法和流程
❖ 掌握传输线理论和建模分析的方法
❖ 学会设计基本的CMOS组合逻辑和时序逻辑电路,并进行
仿真(Simulation),学会使用设计和仿真用的EDA工具
❖ 掌握数字系统的时序分类和同步异步设计
❖ 掌握简单运算功能模块的设计
❖ 培养学习数字集成电路设计相关知识的兴趣
单位面积缺陷率

芯片面积
1

芯片成品率


❖ α 取决于制造工艺的复杂性的参数,大约为3
❖ 单位面积缺陷率典型为0.5~1 个/平方厘米
❖ 芯片成本与芯片面积的四次方成正比
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集成电路的成本
❖ 固定成本:设计等
❖ 可变成本:部件、封装、测试等
▪ 中规模集成电路(MSI):电路等效门:50~1K
▪ 大规模集成电路(LSI) :电路等效门:1K~10K
▪ 超大规模集成电路(VLSI) :电路等效门:
10K~1000K
▪ 甚大规模集成电路(ULSI):电路等效门:
1000K~1000M
吉(极)大规模集成电路(GLSI)电路等效门:
>1G
以一定阵列的形式排列在一起,阵列间有规则布线通道,
用以完成门与门之间的连接。
❖ 未进行连线的半成品硅圆片称为“母片”。
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半定制集成电路的 “母片”
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门海(SOG:Sea-of-Gate)
6
学习方式
❖ 课堂讲授,认真听讲
❖ 课后自学,完成作业
❖ 课件原则上不散发,不对外拷贝
遵德性而道问学
致广大而尽精微
极高明而道中庸
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大规模集成电路的设计流程(1)
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8
大规模集成电路的设计流程(2)
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全定制集成电路
❖ (Full-Custom Design Approach)——即在晶体管的层次上进行
每个单元的性能、面积的优化设计,每个晶体管的布局/布线均由人
工设计,并需要人工生成所有层次的掩膜(一般为13层掩膜版图)。

❖ 优点:
26
SoC片上系统
❖System-on-a-Chip,系统级芯片 出现在20世
纪90年代末,采用电子设计自动化(EDA)技术
进行芯片设计,将完整计算机所有不同的功能块
一次直接集成于一颗芯片上。
❖公认的SOC特点:
▪ 由可设计重用的IP核组成
▪ IP核应采用深亚微米以上工艺技术
▪ 有多个MPU、DSP、MCU或其复合的IP核及存储模
▪ 所设计电路的集成度最高
▪ 产品批量生产时单片IC价格最低
▪ 可以用于模拟集成电路的设计与生产
❖ 缺点:
▪ 设计复杂度高/设计周期长
▪ NRE费用高(Non-Recurring
Engineering

❖ 应用范围
▪ 集成度极高且具有规则结构的IC(如各种类型的存储器芯片)
▪ 对性能价格比要求高且产量大的芯片(如CPU、通信IC等)
门海和标准单元等。
1
门阵列
(GA:
Gate
Array)
2
3
门海
(Sea-ofGate)
标准单元
(Standa
rd-Cells)
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门阵列(GA:Gate Array)
❖ 门阵列(GA:Gate Array)——有通道门阵列
Channeled gate array):就是将预先制造完毕的逻辑门
▪ 模拟IC/数模混合IC TJU. ASIC Center---Arnold Shi
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半定制集成电路
❖ 半定制集成电路(Semi-Custom Design Approach)—
—即设计者在厂家提供的半成品基础上继续完成最终的设
计,只需要生成诸如金属布线层等几个特定层次的掩膜。
根据采用不同的半成品类型,半定制集成电路包括门阵列、
➢ 按有源器件及工艺类型分类
双极集成电路(TTL,ECL,模拟IC)
MOS集成电路(NMOS,PMOS,CMOS)
BiMOS集成电路——双极与MOS混合集成电路
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集成电路的电路规模
❖ 按集成电路的电路规模分类
▪ 小规模集成电路(SSI) :电路等效门:10~50
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9
数字电路设计的抽象模型
系统级SYSTEM
模块级MODULE
+
门级GATE
电路级CIRCUIT
Vin
Vout
器件级DEVICE
G
S
n+
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D
n+
10
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无布线通道的门海 (SOG)
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半定制集成电路
❖ 标准单元(Standard-Cells):是指将电路设计中可能经
常遇到的基本逻辑单元的版图按照最佳设计原则,遵照一
定外形尺寸要求,设计好并存入单元库中,需要时调用、
不确定区
VIL
"0"
VOL
斜率= -1
VOL
VIL VIH
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V(x)
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电容耦合举例
Crosstalk vs. Technology
Pulsed Signal
0.12m CMOS
0.16m CMOS
黑线 quiet
红线 pulsed
0.25m CMOS
Perspective >>
▪ Jan M.Rabey著 ,PRENTICE HALL 清华大学出版
社影印版
❖《REUSE METHODOLOGY MANUAL
FOR SYSTEM -ON-A-CHIP DESIGNS
(THIRD EDITION)》
▪ Michael Keating, Pierre Bricaud,Synopsys, Inc.
参考资料
❖Neil H. E.Weste & Kamram. Eshraghian:第二
版《Principles of CMOS VLSI Design》,
Addison Wesley. Second Edition.
❖<<Digital Integrated circuits A Design
拼接、布线。各基本单元的版图设计遵循“等高不等宽”
的原则。•目前标准单元的单元集成度已经达到VLSI的规
模,用这些单元作为“积木块”,根据接口定义可以“搭
建”成所需的功能复杂的电路
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可编程逻辑器件
❖ 可编程逻辑器件——这种器件实际上也是没有经过布线的
25
专用集成电路(ASIC)的设计要求
对ASIC的主要设计要求为:
❖ 设计周期短(Time-to-Market)
❖ 设计正确率高(One-Time-Success)
❖ 速度快
❖ 低功耗、低电压
❖ 可测性好,成品率高
❖ 硅片面积小、特征尺寸小,价格低
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SoC 的结构
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28
典型的多媒体处理SoC
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29
VLSI设计业面临的关键问题
❖设计方法学的研究:理论和设计流程。
❖IP核的复用。
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功能性和稳定性
电压传输特性
噪声容限
再生性
方向性
功能性
稳定性
扇入和扇出
理想的数字门
抗噪声能力
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电压传输特性

表示了输出电压与输入电压的关系
V(x)
V(y)
V(y)
f
VOH = f (VIL)
Glitches strength vs technology
0.35m CMOS
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❖ 承担起中华民族伟大复兴的神圣使命,为大力发展中国集
成电路产业贡献力量。
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5
课程安排
❖集成电路质量评价
❖导线
❖CMOS反相器
❖CMOS组合逻辑电路
❖时序逻辑电路
❖数字电路的时序问题
❖运算功能模块的设计
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❖几种集成电路类型设计复杂度及费用比较




Full Custom
Standard Cell
Gate Array
Programmable Logic Device
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不同产量时成本与设计方法的关系
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固定成本
每个集成电路成本
可变成本

产量
芯片成本
测试成本
封装成本
可变成本

最终测试成品率
晶圆成本
芯片成本
每个晶圆的芯片数 芯片成品率
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1
集成电路的成本
2
功能性和稳定性
3
性能(performance)
4
功耗和能耗
31
晶圆( Silicon Wafer )
Single die
Wafer
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32
一个集成电路常称为Die
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芯片成品率
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