工艺矿物学矿物的偏光显微镜鉴定共88页文档
工艺矿物学
工艺矿物学知识在有效使用铁矿石方面的应用随着钢铁生产行业的不断发展，地球上的矿石资源越来越少，易选铁矿石日益减少，难选矿石慢慢会成为选矿石的主要研究对象。
工艺矿物学与选矿工艺有着密切的联系，矿石的矿物成分、元素的分布和赋存状态、矿物嵌布特征、粒度大小等是选择合理选矿工艺流程预计选别指标的重要依据。
因此，选矿试验前，必须进行详细的工艺矿物学研究，查清各种元素的状态，才能对症下药，选择合理的工艺流程。
工艺矿物学作为地质、选矿、冶金的一门边缘学科来说，它的任务及其应用范围是比较广泛的，可分为选矿工艺矿物学和冶金工艺矿物学。
对铁矿矿石工艺矿物学的研究涉及的内容有：矿石的化学组成和有益、有害元素的赋存状态和分布；有用矿物和脉石或杂志矿物的嵌布粒度、存在形态，在碎磨过程的解离特性以及矿石或矿物的物化性质等。
综合这些方面的研究，一般能从工艺矿物学角度提出对磨矿细度的选择和工艺流程的制定、合理指标的确定等有指导作用的建议。
含铁矿物种类繁多，目前已发现的铁矿物和含铁矿物约300余种，其中常见的有170余种。
但在当前技术条件下，具有工业利用价值的主要是磁铁矿、赤铁矿、磁赤铁矿、钛铁矿、褐铁矿和菱铁矿等。
其中褐铁矿、菱铁矿等弱磁性含铁矿石为较难选别的铁矿石。
工艺矿物学分析是指导矿物加工试验研究和工业生产的一项基础性工作，对于矿物加工工艺方法的选择、工艺故障的分析和资源综合利用评级等方面具有重要意义。
采用的方法，有透射偏光、反射偏光显微镜鉴定，化学多元素分析、化学物相分析、重力分析、磁力分析、热差分析、红外光谱分析、X衍射结构分析；用电子探针或离子探针进行矿石的微屈化学成分分析；用扫描电子显微镜分析矿物之间的嵌镶关系；用电子显微镜观察超微细矿物的赋存状态并研究其分布规律；用穆斯堡尔仪研究铁的存在形式、价态、占位化学键性质；用中子衍射法进行矿物磁畴结构的测定；用俄歇电子能谱进行矿物表面状态分析以及用图象分析进行矿物粒度的测定等。
工艺矿物学
工艺矿物学知识在有效使用铁矿石方面的应用随着钢铁生产行业的不断发展，地球上的矿石资源越来越少，易选铁矿石日益减少，难选矿石慢慢会成为选矿石的主要研究对象。
工艺矿物学与选矿工艺有着密切的联系，矿石的矿物成分、元素的分布和赋存状态、矿物嵌布特征、粒度大小等是选择合理选矿工艺流程预计选别指标的重要依据。
因此，选矿试验前，必须进行详细的工艺矿物学研究，查清各种元素的状态，才能对症下药，选择合理的工艺流程。
工艺矿物学作为地质、选矿、冶金的一门边缘学科来说，它的任务及其应用范围是比较广泛的，可分为选矿工艺矿物学和冶金工艺矿物学。
对铁矿矿石工艺矿物学的研究涉及的内容有：矿石的化学组成和有益、有害元素的赋存状态和分布；有用矿物和脉石或杂志矿物的嵌布粒度、存在形态，在碎磨过程的解离特性以及矿石或矿物的物化性质等。
综合这些方面的研究，一般能从工艺矿物学角度提出对磨矿细度的选择和工艺流程的制定、合理指标的确定等有指导作用的建议。
含铁矿物种类繁多，目前已发现的铁矿物和含铁矿物约300余种，其中常见的有170余种。
但在当前技术条件下，具有工业利用价值的主要是磁铁矿、赤铁矿、磁赤铁矿、钛铁矿、褐铁矿和菱铁矿等。
其中褐铁矿、菱铁矿等弱磁性含铁矿石为较难选别的铁矿石。
工艺矿物学分析是指导矿物加工试验研究和工业生产的一项基础性工作，对于矿物加工工艺方法的选择、工艺故障的分析和资源综合利用评级等方面具有重要意义。
采用的方法，有透射偏光、反射偏光显微镜鉴定，化学多元素分析、化学物相分析、重力分析、磁力分析、热差分析、红外光谱分析、X衍射结构分析；用电子探针或离子探针进行矿石的微屈化学成分分析；用扫描电子显微镜分析矿物之间的嵌镶关系；用电子显微镜观察超微细矿物的赋存状态并研究其分布规律；用穆斯堡尔仪研究铁的存在形式、价态、占位化学键性质；用中子衍射法进行矿物磁畴结构的测定；用俄歇电子能谱进行矿物表面状态分析以及用图象分析进行矿物粒度的测定等。
9-矿物的偏光图
偏光图中的两类色散：椭圆色散（DE）和反射旋转色散（DR r）
三、非均质矿物的偏光图
非均质矿物光面消光位聚敛白光入射正交偏光下的偏光图
旋转上偏光镜或物台，“黑十字”分解成双曲线 45º位置双曲线分离度最大
旋转物台一周，出现四次“黑十字” 四次双曲线；
矿物在45º位置时，旋转上偏光镜使 “双曲线”变化成为“黑十字”，上偏 光镜旋转的角度指示了Arβ 或 Ar。
第九讲 矿物的偏光图
偏光图是聚敛光正交偏光下矿物的
光学性质；
与前面学习的正交偏光下的性质不
同，是平面偏光倾斜入射于矿物光 面所出现的光学性质。
一、反射旋转
垂直入射于均质矿物光面和非均质矿物均 质切面的平面偏光，被反射时，反射光不 发生振动方向和偏光性质的变化；
但平面偏光倾斜入射于均质矿物光面时： 反射光振动方向旋转 反射光椭圆偏化
四、矿物偏光图的观测
矿物偏光图是反射聚敛正交偏光下的
光学性质，需使用高倍物镜，观测时 应准确校正高倍物镜中心；
观测时推入勃氏镜，或摘下目镜； 旋转物台通过偏光图的形态和变化以
鉴定矿物的均质性与非均质性。
偏光图的观测
偏光图出现三种类型
均质性： 完全正交偏光下，矿物黑十字偏光图 在旋转物台时不发生任何变化中垂直
入射面振动的 直线偏光大于
平行入射面振
动的直线偏光
R⊥ ＞ R∥
平面偏光倾斜入射均质矿物光面和非均质矿物均质 切面反射光振动方向的分布规律
二、均质矿物的偏光图
正 交 偏 光 下
聚 敛 白 光 入 射
非 正 交 偏 光 下
聚 敛 白 光 入 射
反 射 旋 转 色 散
光学显微镜鉴定矿物
遇到此公，作为此公同乡的书在引见前问我是否认识他，看着这身材矮
和裂理、双晶、环带构造、连晶、粉末颜色、硬
度、塑性、颜色及多色散、反射率、双反射效应、
均质性和非均质性、偏光色、内反射、旋转性质 以及对标准浸蚀试剂的反应和各种元素的显微
透明，而大多数重要的金属矿物经常是不透明的。
在鉴定和研究透明矿物工作中，应用最广泛且成
熟而有效的方法就是根据透明矿物晶体光学原 理，利用偏光显微镜进行研究。这种研究法是将
矿石或岩石磨成 0．03mm 厚的薄片，在镜下观察
可见光通过晶体时所发生的折射和干涉现象，测
定矿物晶体的光性常数，如晶形、颜色、解理、 突起、干涉色、双折ቤተ መጻሕፍቲ ባይዱ率、消光类型和消光角、
根据矿物的光学性质，利用显微镜鉴定矿物
的方法。绝大多数矿石是多种矿物紧密连生的混
合物，在手标本上鉴别较困难，往往不可能全部 识别清楚。因此，矿石中矿物的鉴定、矿物粒度
测定、矿物解离度测定、矿石结构分析以及选矿
产物的矿物学分析等工作常用显微镜来完成。 在选矿过程中大部分脉石矿物在可见光中
遇到此公，作为此公同乡的书在引见前问我是否认识他，看着这身材矮
反两用，并附有许多供定量测定使用的附件。反
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光显微镜的主体结构和基本原理与偏光显微镜
相同，但前者带有一个垂直照明器。 用反光显微镜鉴定矿物，要将矿石磨制成光
片，置于镜下，光源通过照明器内的反射器，将
光线向下反射到矿石光片表面上，再从光片表面
遇到此公，作为此公同乡的书在引见前问我是否认识他，看着这身材矮
偏光显微镜在岩矿鉴定工作中的使用技巧和方法
偏光显微镜在岩矿鉴定工作中的使用技巧和方法
偏光显微镜是一种常用的显微镜，它可以用来鉴定和研究岩石结构和化学组成，为内部构造及其成因分析提供重要信息。
偏光显微镜的使用技巧和方法有很多，主要有以下几点：
1、准备显微镜和样品：准备好偏光显微镜，确保偏光显微镜的物镜清晰可见，然后从样品中搜集样本。
2、静态显微镜观察：将样品放在偏光显微镜上，通过改变照射光的方向和颜色，进行静态观察。
判断岩石的晶体形状，晶形，晶界宽度和光反射吸收等。
3、钻孔显微镜观察：首先根据样品自身特性钻取小孔，再将磨碎的岩石粉末取出，在偏光显微镜下观察。
以此可以获取到晶间空隙的尺寸变化，晶粒的内部构造和晶粒的组合多样性等信息。
4、化学分析：对岩石样品进行水解或用其它方法提取里面的晶体，使用电子显微镜或X射线物相聚焦技术，确定岩石中物质含量和元素成分，区分各种晶体材料。
5、透射电子显微镜观察：通过将偏光显微镜结合电子显微镜技术，可以清晰地观测到岩石中微小元素的表面结构，有利于更准确地鉴定岩石结构。
总之，偏光显微镜是一种重要的矿物鉴定显微镜，它能够发挥重要作用，帮助我们准确鉴定岩石的结构，物质含量和元素成份，帮助我们更准确地探讨岩石的组成成分及其成因，从而为我们更多的实际应用提供支撑。
工艺矿物学反光显微镜下的矿物鉴定
3.1.2 反射器示意图
3.1.2 反光显微镜的调节使用 与保养
反光显微镜的调节使用主要包括 中心校正、偏光系统校正和垂直系统 校正 中心校正与透射一样。
偏光系统校正一方面要调整东西方 向，二要调整正交方向（四明四暗） 垂直系统校正主要是调节反射器、 视野光圈和孔径光圈。
3.1.2光片的安装
3. 1. 2 反 光 显 微 镜
3.1.2
3.1.2
3.1.2
光源聚光镜---位于入射光管最前端，靠近光源。 （ 2， 3） 准直透镜---能调整光线的方向，将来自孔径光 圈中每一点的光线变成一束平行的光柱。（4） 校正透镜---消色镜，能将视野光圈可挡去有害 的杂乱反射光，降低耀光的影响，使视野内对 比度提高，物像清晰度提高。（5）
3 反光显微镜下的矿物鉴定
前 言
对于不透明的和透反光显微镜下 鉴定。反光显微镜也叫矿相显微镜， 主要用于金属矿物的研究。
3.1 光片
概念：是从矿石标本切割下来，有1 个面被磨光供镜下观测的矿样，切 成30mm×25mm×10mm的矩形 块。
鉴定矿物之前，必须先擦净光片的 的表面。
再用胶泥将光片黏在载玻片上，然 后用压平器将光片压平。 操作顺序：先粘片，后擦净，再压 平。
3.2矿物的反射与双反射
反射率与双反射的概念
R I r / Ii 100%
IR-反射光强度 Ii-入射光强度
3.1 光片
制作过程：
（1）切割成多余部分，使其初步成形。 （若标本疏松易碎，则切割前要用胶处 理，称为煮胶）
（2）研磨，分成粗磨、细磨、精磨。 （3）抛光。在帆布或木盘上加抛光剂抛磨，然 后在毛呢磨盘上加氧化镁等抛光剂精抛。
3.1 光片
砂光片：粒状砂矿
十二矿物的光学显微镜鉴定
电气石的兰色
角闪石的绿色和淡黄色
多色性
• 多色性是指矿片的颜色随振动方向不同而发生 改变的现象
• 均质体矿物只有1种颜色，而且颜色深浅无变化
• 非均质体矿物的颜色和颜色深浅是随方向而变 化的。
• 颜色的变化与折射率有关
电气石的蓝色 No=深蓝
电气石的浅紫色 Ne=浅紫色
单击开始播放影片或单击停止 电气石多色性
透光材料，由于相邻晶粒 对光的折射率不同，对光的吸 收性不同，而表现出衬度差别， 显示出不同晶粒的形貌。
1.1 晶 体 的 形 态
• 根据晶体的发育完好程度将晶 体分为三级：
• 自 形 晶：黑云母、四钛酸钡、 磷灰石
• 半自形晶：角闪石 • 他 形 晶：石 英
黑云母自形晶
石英它形晶
角闪石半自形晶
两者折射率值相差愈大，矿
物的边缘愈粗，糙面愈明显，因
而使矿物显得突起很高，否则相
反。
• 所以矿物的突起高低，实际 上是矿物边缘与糙面的综合反映。
• 树胶的折射率等于1.54，折射率大 于树胶的矿物属正突起；折射率小于树 胶的矿物属负突起。
• 区别矿物突起的正负必须借助于贝 克线。当矿物与树胶接触时，提升镜筒， 贝克线向矿物内移动时属于正突起；贝 克线向树胶移动属于负突起。
1.6.3 矿物的突起
•
在薄片中，各种不同的矿物表面好
像高低不相同，某些矿物显得表面高一些，
某些矿物则显得低平一些，这种现象称为
突起。
•
矿物的突起现象仅仅是人们视力的
一种感觉，在同一薄片中，各个矿物表面
实际上是在同一平面上。所以会产生高低
的感觉，主要是由于矿物折射率与树胶的
折射率不同所引起的。
矿物的偏光图
第六章矿物的偏光图一、聚敛光下偏光图的基本概念前面几章介绍了金属矿物的垂立入射、垂直反射光下研究的情况，本章再介绍一下金属矿物在斜入射、斜反射下研究的光学效应。
考虑到地质类专业的需要和当前教学实验室的条件，本教程只对聚敛偏光下光学效应最基本的原理和主要光学现象作简要的阐述。
关于详细的测量方法和测定结果可参阅有关专门著作和参考书。
众所周知，非均质透明矿物于透射偏光显微镜下在直射正交偏光条件下显示全视域均匀的干涉色，在聚敛正交偏光条件下则显示不均匀的干涉图(高重折率一轴晶矿物在消光位呈带彩色环带的黑十字，二轴晶矿物呈更复杂的干涉偏光图)。
强双反射非均质不透明矿物于反射矿相显微镜下在直射正交偏光条件下显示全视域均匀亮度和偏光色，在聚敛正交偏光条件下则显示亮度和颜色不均匀的偏光图。
与透明矿物的聚敛偏光图可以区分二轴晶矿物的正、负光性相似，不透明矿物的聚敛偏光图可以提供更多的光性鉴定特征鉴别矿物(如鉴别软猛矿和硬锰矿——软锰矿的正交聚敛偏光双曲线暗带偏光图暗带凹部显蓝色、凸部显红色；而硬锰矿则是凹部显红色、凸部显蓝色。
再如一般光学性质很相似的金、银碲化物类矿物也可用聚敛偏光图加以区别)。
因此，不透明矿物在聚敛光下的偏光图具有实际意义，它受到不少矿相学家的重视。
对其复杂的形成机理，已有一些专著的论文在理论上作了比较深入的探讨和基本的论述。
二、聚敛光下偏光图的形成机理(一)反射旋转及其色散在矿相显微镜下，物镜产生—束圆锥形入射光。
光线投射到矿物光片表面再反射出去。
物镜中心(即视域中心)的光线为垂直入射、垂直反射。
物镜(视域)其他位置则系成各种不同角度的斜入射、斜反射。
入射光和反射光组成的面为“入射面”，入射面与光片表面垂直。
入射面中与光片表面垂直的线为“入射法线”，入射光与入射法线所夹的角度即为光线的“入射角”。
按物理光学定律，入射角与反射角相等。
斜入射光为平面偏光时，斜反射光的振动面(图5－1的R线)将与原入射光的振动面(图5-1的东西向的P线)不同，此即为“反射旋转”。
显微镜下矿物的鉴别特征
偏光显微镜下的矿物光学性质及鉴定方法简述非均质体矿物在偏光显微镜下的鉴定程序（1）在偏光显微镜下，对整个岩石薄片，按从左到右。
从上到下的顺序对所要鉴定的鉴定的矿物扫描一遍，初步了解矿物的晶形、解理、颜色、多色性、干涉性、干涉色、消光类型、双晶、轴性等特征，以确定需要鉴定描述的内容（2）选择垂直OA切面，该切面的特征是单偏光镜下无多色性，即使是有色矿物也无多色性，正交偏光镜下全消光，锥偏光镜下垂直OA切面干涉图。
选好切面后，首先在锥偏光镜下确定矿物的轴性和光性符号，若为二轴晶，估计出2V大小；然后在单偏光镜下观测No(一轴晶)或Nm（二轴晶）的突起等级以确定折射率大小范围，若为有色矿物，在测定No Nm的颜色（3）选择平行OA（一轴晶）或平行OAP（二轴晶）切面，此种切面的特征是单偏光镜下无色矿物闪突起最明显，有色矿物多色性最明显，正交偏光镜下干涉色最高，锥偏光镜下为闪图。
选好切面后，在轴性已知时，首先在锥偏光镜下测定光性符号，然后退出锥偏光镜光系统，在相应的光路系统下测定其他光学性质。
（4）选择垂直解理面的切面，确定解理的完善程度。
如具有两组解理，选择同时垂直两组解理面的切面，测定解理夹角。
（5）选择垂直解理面的切面，测定消光角的公式。
单斜晶系矿物一般选择平行OAP切面进行测定，三斜晶系矿物要具体矿物而定。
（6）对一向延长或二向延长的矿物，要一向延长切面，测定延性符号。
（7）若矿物具有双晶，要确定其双晶类型。
在矿物颗粒较好的情况下，选择垂直双晶结合面的切面，尽量确定出双晶面、双晶轴的名称和双晶率。
（8）观察其他特征，如矿物所含包裹体特征，此生变化产物（9）归纳奠定结果，查有关光性鉴定图表，尽可能定出矿物种属和亚种名称，画出光性方位图，写出鉴定报告简述透明矿物光学性质的描述内容和顺序矿物光学性质的描述顺序和鉴定顺序不同。
鉴定顺序一般是在锥偏光镜下选好定向向切面后，先测定锥偏光镜下的光学性质，然后返回到正交偏光镜和单偏光镜下测定其他光学性质；而光学性质的描述一般是按单偏光镜下光性、正交偏光显微镜下光性、锥偏光镜下光性的顺序进行。
偏光显微镜下透明矿物的鉴定
偏光显微镜下透明矿物的鉴定偏光显微镜下透明矿物的鉴定2010年12月31日岩石磨成厚约0.03mm 的薄片，置于偏光显微镜下观察，我们可以发现有的矿物是透明的（绝大多数硅酸盐、碳酸盐矿物和部分氧化物），有的矿物是不透明的（金属硫化物及部分氧化物）。
鉴定不透明矿物需要反光显微镜，将在本书的下篇介绍，这里只介绍透明矿物在偏光显微镜下的鉴定方法。
偏光显微镜下鉴定矿物，分为单偏光、正交偏光、聚敛光下观察三个步骤，其原理在晶体光学中有详尽的论述，这里只介绍和岩石薄片观察描述有关的部分，而形成这些光性特征的光学原理就不详细说明。
单偏光镜下观察1 晶形晶形对识别典型的表现有良好晶面的矿物很有用。
如石榴子石在薄片中常为自形的六边形，白榴石常呈八边形，磷灰石横断面常为六边形而纵断面为柱状，榍石常为菱形，白云石常为信封状，电气石横断面呈弧状三角形而纵断面为柱状，锆石常常呈四方柱状或两端为锥形的长柱状。
需要注意的是，由于薄片切面的随机性，上述矿物的斜切面也可以表现为其他的形状，如石榴石和白榴石还可以出现正方形、长方形甚至三角形的晶形，磷灰石也可以表现为正方形或长方形晶形。
2 解理和裂理某些解理特征明显的矿物，能根据其解理很快确定，如云母具有一组细密、平直而不间断的解理，角闪石的两组解理以56 度相交，辉石、红柱石、方柱石的两组解理近于正交。
但与解理斜交的切面上所表现的角度要比其最大交角要小。
具两组解理的矿物，在其纵断面上只表现一组解理，如角闪石、辉石在薄片中经常只出现一组解理。
由于切面的限制，具有三6组以上解理的矿物在薄片上常常只显示一组或两组解理，甚至表现出没有解理。
如方解石和白云石有三组解理，但在薄片中一般只能看到两组。
裂理和解理很相似，但它们的成因不同，薄片中的特征也有所不同。
解理往往是沿着矿物晶体中面网间化学键力最弱的方向产生，而裂理面一般是沿双晶结合面或某种细微包裹体的夹层而产生；在形态上，裂理的宽度也明显比解理大，而且大多数情况也没有解理平直。
图文：用偏光显微镜观察矿物晶体的干涉色
图文：用偏光显微镜观察矿物晶体的干涉色
把两个平行放置的偏振片（或其他起偏器）调到其透光方向互相垂直而消光。
然后把一光轴平行于表面的单轴晶片放在正交的偏振片P1与P2之间，以平行的自然光垂直入射第一个偏振片P后变成线偏振光，其振动方向与P1的透光方向一致，并与晶片的光轴有一定夹角。
继续射入晶片后产生双折射的o光和e光，二者传播方向相同但速度不同，它们的电矢量振动方向也分别与光轴垂直和平行。
与这两种振动相对应的光到达第二个偏振片P2时，只有在P2透光轴上的分量才能通过。
通过P2的光中包含两种振动，它们频率相同，振动方向一致，并且由同一振动分解出来有固定的相位差，符合光的干涉条件，于是就产生相干叠加。
光之所以能部分地通过正交的偏振片，是由插入的晶片的双折射作用造成的。
这里的相位差与晶片的厚度、双折射以及光波波长有关，改变任一因素，都会改变相位差，从而改变干涉结果。
如果用白光光源，则不同波长的光形成的干涉图样叠加呈现出一定的色彩，这种现象称为显色偏振，所呈现的颜色叫干涉色。
一定的干涉色与晶片中一定的光程差相对应。
所以，只要观察并准确判断对干涉色，则可通过查表求得相应的光程差和其他一些有价值的数据。
偏振光的干涉对于研究矿物晶体的光学性质、鉴别各种矿物已成为重要手段。
图中是用偏振光显微镜观察到的矿物晶体的电矢量振动面及其产生的干涉色分布，旁边刻度是已知长度的测微尺，借以度量晶体的干涉条纹。
2003-10-16 选自：《中学物理实验彩图册》。
工艺矿物学矿物的偏光显微镜鉴定
二、调节照明（对光） 装上目镜及中倍物镜以后，轻轻推出上偏光镜及勃氏镜， 打开锁光圈，目视镜筒内，转动反光镜使对准光源，直至视 域最明亮为止(图2-6)。注意不能把反光镜直接对准太阳光。 三、调节焦距（准焦） 1.完成装卸镜头及调节照明之后，将欲测矿片置载物台中心， 并用载物台上的一对弹簧夹把矿片夹紧。必须使薄片的盖玻 璃朝上，否则不能准焦，特别是使用高倍物镜时。 2.从侧面观察，转动粗动调焦螺旋，使镜筒下降或使载物台 上升，至镜筒下端的物镜与载物台上的薄片比较靠近为止(图 2-7)。 3.从目镜中观察，转动粗动调焦螺旋，使镜筒缓缓上升，或 使载物台缓缓下降，至视域内物像基本清楚，再转动微动调 焦螺旋，直至视域内物像完全清晰为止。
2 矿物的偏光显微镜鉴定
前 言
自然界中3300多种矿物（不包括 人造矿物）。 这些矿物有其自身的化学组成、 晶体结构、一定的形态和物理性质。
2.1 晶体光学基本性质
自然光与偏振光
2.1.2光在均质体与非均质体中的传播
光波在透明矿物中传播特点：
光波在透明矿物中传播特点
特定频率的光波在均质体中传播基本上不改变入射 光波的振动特点和振动方向。 特定频率的光波在非均质体中传播时，其传播速 度随光波在晶体中的振动方向而发生改变。 光波入射非均质体，除特殊方向外，都要发生双折 射，分解形成振动方向不同，传播速度不同、折射率 不等的2个偏光，其之差为双折射率。
四
二轴晶光率体
• 二轴晶矿物晶体的三个结晶轴单位不相等（a≠b≠c），表明 它们三度空间方向的不均一性。实验证明，这类矿物都具有 大、中、小三个主折射率值，它们分别与互相垂直的三个振 动方向相当，通常以符号 Ng 、Nm 、Np代表大、中、小三个方 折射率值。当光波沿其它方向振动时，相应的折射率值递变 于Ng 、Nm、 Np之间，一般以符号 Ng′和 Np′表示，它们与Ng 、 Np的相对大小关系是： Ng＞Ng′＞Nm＞ Np′＞Np 。二轴晶光 率体是一个三轴不等的椭球体。即三轴椭球体。
工艺矿物学矿物的偏光显微镜鉴定共88页文档
11、不为五斗米折腰。 12、芳菊开林耀，青松冠岩列。怀此 贞秀姿 ，卓为 霜下杰 。
13、归去来兮，田蜀将芜胡不归。 14、酒能祛百虑，菊为制颓龄。 15、春蚕收长丝，秋熟靡王税。
56、书不仅是生活，而且是现在、过 去和未 来文化 生活的 源泉。 ——库 法耶夫 57、生命不可能有两次，但许多人连一 次也不 善于度 过。— —吕凯 特 58、问渠哪得清如许，为有源头活水来 。—— 朱熹 59、我的努力求学没有得到别的好处， 只不过 是愈来 愈发觉 自己的 无知。 ——笛 卡儿
拉
60、生活的道路一旦选定，就要勇敢地 走到底 ，决不 回头。 ——左
17第十二章 矿物的光学显微镜鉴定
电气石的蓝色 No=深蓝
电气石的浅紫色 Ne=浅紫色
1.5
•
二轴晶矿物
二轴晶矿物有3个主要颜色，分别与光 率体的3个主轴Ng、Nm，Np相当，称三色性 矿物。 • 如二轴晶角闪石的多色性为 Ng＝深绿色、Nm＝绿色、Np＝浅黄绿色。 吸收性公式： Ng>Nm>Np，称正吸收 Np>Nm>Ng, 称反吸收
A
K1
P P
K2
A
•
K1、K2的折射率不等(Nk1>Nk2)，它
们在矿片中的传播速度不同(K1为慢光，
K2为快光)。K1、K2在透过矿片的过程
中，必然产生光程差，以符号R表示。 当Kl、K2透出矿片后，二者在空气中 的传播速度相同，因而它们到达上偏 光镜之前，光程差保持不变。
A
K1
P P
K2
返回目录
A
P
P
A
• 在正交偏光间不放任何矿片时，视域 完全黑暗。因为自然光波通过下偏光 镜之后，即变成振动方向平行PP的 偏光，至上偏光镜时，因与上偏光镜 允许透过的振动方向AA垂直，不能 透出上偏光镜，故视域黑暗。
• 在正交偏光镜间的载物台上放置矿片， 则由于矿物性质及切片方向不同，而 显示不同的光学现象。
第十二章
矿物的光学显微镜鉴定
目录
第一节 第二节 单偏光镜下晶体的光学性质 透明矿物在正交偏光镜下的光学性质
第一节 单偏光镜下晶体的光学性质
△只使用下偏振光镜观察，不加上偏光镜、 聚光镜、勃氏镜。 △观察内容 晶体形貌：晶形、解理 光学性质：多色性、吸收性、边缘、 贝克线、糙面、突起等。
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单偏光下显微组织形貌 观察的基本原理
透光材料，由于相邻晶粒 对光的折射率不同，对光的吸 收性不同，而表现出衬度差别， 显示出不同晶粒的形貌。
冶金工艺矿物学显微镜分类
冶金工艺矿物学显微镜分类
根据冶金工艺矿物学的要求，显微镜可以分为以下几类：
1. 光学显微镜（光学放大镜）：用于观察和研究常规的金属和矿物样品。
它通过透射或反射光线来放大样品的细节。
2. 偏光显微镜：适用于对具有双折射性质的岩矿样品进行观察，能够显示材料的光学性质以及晶体的结构特征。
3. 电子显微镜：包括扫描电子显微镜（SEM）和透射电子显微镜（TEM）。
SEM用于观察样品的表面形貌和微观结构，TEM则用于观察样品的内部结构及原子排列。
4. 压电显微镜：利用压电效应产生电荷来实现对样品表面的原子或分子尺度的显微观察。
以上是一些常见的显微镜分类，不同的分类适用于不同的研究对象和观察需求。
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25、学习是劳动，是充满思想的劳动。——乌申斯基
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工艺矿物学矿物的偏光显微镜鉴定
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26、我们像鹰一样 己编织 一个笼 子，然 后把自 己关在 里面。 ——博 莱索
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27、法律如果不讲道理，即使延续时 间再长 ，也还 是没有 制约力 的。— —爱·科 克
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28、好法律是由坏风俗创造出来的。 ——马 克罗维 乌斯
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29、在一切能够接受法律支配的人类 的状态 中，哪 里没有 法律， 那里就 没有自 由。— —洛克
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30、风俗可以造就法律，也可以废除 法律。 ——塞·约翰逊
21、要知道对好事的称颂过于夸大，也会招来人们的反感轻蔑和嫉妒。——培根 22、业精于勤，荒于嬉；行成于思，毁于随。——韩愈