短波红外特点

短波红外特点

短波红外（SWIR）是一种光谱范围在900至1700纳米的红外波段。与长波红外（LWIR）和中波红外（MWIR）相比，SWIR 对某些应用具有特殊优势和特点。

首先，SWIR具有很好的透过性。它的波长比LWIR和MWIR要短得多，因此相位受到的干扰较少、深度穿透能力强，且能准确传输到显像系统。同时，SWIR的折射率要低于可见光，因此能够对非均匀性物质进行“透视”，并在耀斑等高能情况下得到高清晰度的成像。

其次，SWIR具有很好的分辨率。在现代成像技术中，SWIR成像系统可以实现微米级的准确成像，比LWIR和MWIR更加精细。这种敏锐性可以直接用于区分物体表面材质、判定化学品种类和检测隐藏的缺陷和弱点等应用。此外，SWIR还可以较为精准地检测和研究微小结构和化学反应的表现和特性。

此外，SWIR具有很好的环境适应性。由于LWIR和MWIR感应器不能穿透雾气、悬浮粒子、有机物质等干体杂质，而SWIR是一种对杂质敏感程度相对较低的光谱。在大气自然环境中，SWIR能比其他红外段表现更加稳定，能够获取更为真实的图像和数据。

最后，SWIR还有其独特的光物理特性，例如热释电效应、光脱漂效应、光学失真等，这些特性对调制和控制流明和亮度等方面的更高精度要求起到了关键作用。此外，SWIR还可以较好地识别具有锐度和剧烈反射性的物体，在成像和识别中提供了更高的安全性和准确性。

总之，SWIR的特点包括了高透过性、高分辨率、良好的环境适应性以及卓越的光物理特性等方面。这使得它在激光红外成像、荧光成像、远程地面观测、卫星地球观测、医学体内检测等方面都有广泛应用。